【課題】
欠陥の種類を正確に判別することができる欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】
被検査体を撮像して得られる画像データに基づいて欠陥を検査する方法であって、
被検査体に対して複数の種粳の画像データを取り込み、
これら複数の種類の画像データのそれぞれについて欠陥の検出を行い、
１つの欠陥に対して欠陥を検出した画像データの組み合わせに応じて、その欠陥の種類を判別することを特徴とする、欠陥検査方法。 （もっと読む）

【課題】 光学特徴の欠陥を識別でき、かつ検査工程においてパネル表面の異物を除去でき、また検査中のパネルに電力が供給できる光学検査装置を提供すること。
【解決手段】 第１方向に延伸する検査台と、前記第１方向に被検査物のいずれかを載置する少なくとも１つの載置板を投入口から払出口へ搬送するために用いられる搬送ユニットと、前記検査台に設置され、前記第１方向と垂直な第２方向に延伸する第１スキャナとを有する光学検査装置。前記第１スキャナは、少なくとも１つの載置板に載置される少なくとも１つの物品を検査するために用いられ、前記投入口と前記払出口の間に第２方向に延伸する第１検出器を含む。前記第１スキャナと前記投入口の間に前記第１方向と垂直な第２方向に延伸する第１ローラセットを有し、当該第１ローラセットは少なくとも１つの前記物品の表面に力をかけるために用いられる。 （もっと読む）

【課題】部品数の増加及びコストの増加を招くことなく画面光と環境光の両方を測定することのできる画像表示装置を提供する。
【解決手段】本発明の画像表示装置は、表示パネルと、前記表示パネルを囲むベゼルと、前記ベゼルの一部に設けられた、光を測定可能な測光ユニットと、を有し、前記測光ユニットは、装置の外側を向き、環境光を測定する第１の状態と、前記表示パネルと対向し、画面光を測定する第２の状態との間で回動可能に設けられていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】液晶パラメータ測定の方法及び装置の提供。
【解決手段】第１電気コントローラにより線偏光ジェネレータを調整し、第２電気コントローラにより偏光分析器を調整する。該線偏光ジェネレータは光源からの入射光を受け取り並びに複数の偏光の特徴を抽出し、第１電気コントローラにより制御されて、この複数の偏光を測定サンプルに照射する。該測定サンプルを透過した光は偏光分析器に受け取られる。第２電気コントローラは該偏光分析器を制御して特定の偏光を抽出して後端のデータ処理装置に送る。該データ処理装置は該偏光分析器からの偏光データを受け取り液晶分割層モデルを使用して少なくとも一つの液晶パラメータを得る。 （もっと読む）

【課題】 疑似欠陥が存在しない領域の検査を確実に行い、自動検査での検査結果を利用して、疑似欠陥による負荷の増大と検査精度低下を防ぐことができる欠陥検査装置、欠陥検査方法、プログラムおよび記録媒体を提供する。
【解決手段】 自動検査工程３１では、撮像検査阻害要因判定部は、アライメントエラー、コンタクトエラーおよび付着異物などの撮像検査阻害要因の有無を判定する。撮像検査領域判定部は、判定された撮像検査阻害要因に応じて、検査領域および非検査領域を判定する。画像処理装置１４は、撮像画像に基づいて、撮像検査領域判定部によって判定された検査領域の欠陥を検出し、検査結果を表示制御装置４に送る。目視検査工程３２では、表示部８は、目視検査作業者に自動検査での非検査領域と検出された欠陥とを表示する。目視検査作業者は、表示部８の情報に従って目視検査を行い、検査結果を入力部９で入力する。 （もっと読む）

【課題】設置スペースを抑制した検査ステージを備えたマクロ検査装置を提供する。
【解決手段】基板を目視によって検査する場合に用いられるマクロ検査装置であって、基板を搬送する搬送ラインの横に配置し、少なくとも、基板の１つの基板端を吸着及び吸着解除する基板端吸着及び吸着解除手段と、前記基板端吸着及び吸着解除手段をスライドする手段と、前記基板端が吸着された基板をスライドする際には浮上させ、スライドした後には浮上を解除し吸着する浮上吸着手段と、を有する検査ステージを備えたことを特徴とする基板マクロ検査装置。 （もっと読む）

【課題】液晶用カラーフィルターや有機ＥＬなどのディスプレイに用いられるカラーフィルターの製造工程における、塗膜コーテングでのスリットダイの搬送方向に発生している膜厚ムラを、膜厚ムラ検査装置の測定搬送時に発生している搬送擬似ムラと容易に、区別、判別することができる装置、方法を提供する。
【解決手段】透明基板８に製膜された塗工膜の欠陥を検査する装置、方法であって、撮像用センサーカメラ９と透過照明光源１０を透明基板８の搬送方向と垂直方向にスライトさせながら透明基板８を撮像し、その画像データを短形処理により画像補正処理することによって、透明基板８の搬送方向に発生する疑似搬送ムラを容易に判別でき、膜厚ムラや濃度ムラを的確に検査できる長所を有する。 （もっと読む）

【課題】モアレ発生を抑制した撮影画像を用いて、表示パネルの画質を調整するための画質調整システム及び画質調整方法を提供する。
【解決手段】画質調整装置２０は、撮影カメラ３０、テストパターン発生装置４１、ＲＯＭライタ４２に接続されている。撮影カメラ３０には、ＣＣＤ素子の垂直軸を回転軸として回動させるための回動装置３１が設けられている。また、画質調整装置２０の制御部２１は、モアレ発生を抑制するための回転角度を記憶した回転調整テーブルを備えている。制御部２１は、液晶パネルのサイズを特定し、回転調整テーブルを用いて、カメラの回転角度を特定する。そして、制御部２１は、回動装置３１に対して、特定した角度の回転を指示する。そして、制御部２１は、むら測定処理、補正データ生成処理、補正データの書き込み処理を実行する。 （もっと読む）

【課題】 モニタのバックライトを消すことなく、モニタの表示画面において反射される周囲光（反射光）を含まない画面光を検出する。
【解決手段】
第１偏光フィルタ９３は、反射面で反射されたＰ波および画面光をカットし、反射光センサ９５は、Ｓ波を受光する。第２偏光フィルタ８３は、画面光を透過するがＳ波をカットする。画面光センサ８５は、Ｐ波を受光しないブリュースタ角に設置されているが、一部漏れＰ波を受光する。画面光抽出演算ＬＵＴ（図示せず）は、反射光センサ９５の検出値と画面光センサ８５の検出値との相関を記憶している。このＬＵＴを参照して、反射光を含まない画面光のみの値を演算する。 （もっと読む）

【課題】マニュアルの検査装置を必要とせず、コスト低減及び検査の効率化を図る。
【解決手段】自動化ラインに並設され、当該自動化ラインと連動した自動運転で当該自動化ライン上のパネルを検査する検査装置である。上記パネルの装置内への手動投入又は装置からの手動排出のために手動運転に切り換える切換機構を備えた。検査方法においては、上記パネルの装置内への手動投入の際に、受渡装置のパネル受け機構部が傾斜した状態で手動によりパネルを投入すると、当該パネルを一旦水平状態へ回動して当該パネルの位置決め及び把持を確実にして、再び傾斜させて検査部へ渡す。 （もっと読む）

【課題】撮像した画像を高い精度で高解像化することが可能な画像処理装置を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、被写体と撮像素子の相対位置を異ならせて撮像した複数の画像を合成して高画素化を行う画像処理装置において、相対位置検出手段と、画像合成手段とを備える。相対位置検出手段は、被写体と標本図形の間の相対的な位置を固定した状態が撮影された複数の画像について、前記標本図形が写る部分を比較して、前記複数の画像間の相対位置を検出する。そして、画像合成手段は、相対位置検出手段が検出した相対位置に基づいて、前記複数の画像を合成するするようにしたものである。 （もっと読む）

【課題】表示パネルの調整工程において、表示パネルを的確に評価するためのパネル評価システム及びパネル評価方法を提供する。
【解決手段】画質調整装置２０の制御部２１は、調整対象の液晶パネル１０のバックライトをＯＦＦし、写り込みがあるかどうかについての判定処理を実行する。写り込みがあると判定した場合、制御部２１は、エラー処理を実行する。写り込みがないと判定した場合、むら消し調整を開始し、測定処理、補正データ生成処理を実行する。測定中に明るさの変動があったと判定した場合には、制御部２１は、エラー処理を実行する。一方、調整を終了した場合には、補正回路５０への補正データの書き込みを行なう。 （もっと読む）

【課題】 表示領域の端部近傍に線欠陥が生じている平面表示パネルであっても、表示領域の端部の位置を誤って検出してしまうことを防止する。
【解決手段】 表示領域検出装置は、予め定める複数種類の表示パターンを平面表示パネルにそれぞれ表示させる表示パターン指定部と、各表示パターンを表示させたときの平面表示パネルを撮像した画像の画像データを取得する撮像画像取得部と、撮像画像取得部によって取得された画像データと該画像データに対応する表示パターンとに基づいて、表示領域の端部の位置の座標を推定する端部位置座標推定部と、端部位置座標推定部によって表示パターンごとに個別に推定された各座標を比較して、表示領域の端部の位置の座標を決定する端部位置座標決定部とを含む。 （もっと読む）

【課題】検査装置によって検出された表示パネルの異常が検査装置の異常に起因するのか製造工程の異常に起因するのかを容易にかつ精度よく判別することができる検査装置、検査方法、プログラムおよび記録媒体を提供する。
【解決手段】ピーク幅特徴量算出部２５は、撮像装置１０から受け取った画像データに基づいて、ピーク幅特徴量算出エリアごとに、ピーク幅特徴量および平均輝度を算出する。装置状態判定部２７は、定期的に、ピーク幅特徴量および平均輝度をそれぞれ時系列に表わすピーク幅特徴量変動パターンおよび平均輝度変動パターンを、機種名ごとおよびピーク幅特徴量算出エリアごとに生成し、生成したピーク幅特徴量変動パターンおよび平均輝度変動パターンに基づいて、画像処理検査装置または製造工程に異常があるか否かを判定する。装置メンテナンス指示部２９は、判定結果を判定結果表示部３１に表示する。 （もっと読む）

【課題】 絵素を構成する複数色の画素がマトリクス状に配列された液晶パネルなどの平面表示パネルにおける欠陥を画素ずらしによって検出する場合に、撮像タクトを可及的に短縮することができる欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】 欠陥検出装置１００は、検査対象の液晶パネルＬにおける第１および第２の配列方向Ｘ，Ｙの画素の寸法Ｔｘ，Ｔｙと、エリアセンサ３０の撮像分解能Ｒとに基づいて、第１の配列方向Ｘに関する高解像度化倍率Ｖｘと第２の配列方向Ｙに関する高解像度化倍率Ｖｙとを個別に算出し、算出された各高解像度化倍率Ｖｘ，Ｖｙに基づいて、撮像時に満たすべき液晶パネルＬとエリアセンサ３０との相対的な位置関係を示す複数の撮像位置を、Ｖｘ×Ｖｙ箇所だけ設定する。そして、各撮像位置で撮像された各撮像画像に基づいて、画素ずらしにより高解像度化画像を生成し、その高解像度化画に基づいて液晶パネルＬにおける欠陥を検出する。 （もっと読む）

【課題】表示パネルと光学手段との相対的な位置精度を低コストかつ高速に検出できる、実装精度検査方法及びその検査方法を用いる検査装置を提供する。
【解決手段】検査対象となる表示装置は、複数の画素群が配列された表示パネルと、画素群から複数のＮ（Ｎは２以上の自然数）視点に向けた画像表示を提供するための光学手段と有する。検査装置は、視点毎に異なる画像信号を有する検査パターンを表示装置に出力する画像出力手段と、表示装置から表示された検査画像の境界線分の傾きと位置を抽出する抽出手段とを備え、抽出手段が抽出した傾きと位置に基づいて表示パネルと光学手段との位置精度を検出する。 （もっと読む）

【課題】表示装置の検査を迅速に行うことのできる、表示装置の検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】表示装置の検査装置は、少なくとも１つの表示パネルがロードされる複数のステージと、前記複数のステージの少なくとも１つに配置され、対応するステージで表示パネルの一辺側から対辺側に移動しながら前記表示パネルを撮影して表示パネルの不良を検査する複数のカメラとを含む。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で低コストに発光パネルの発光状態を検査することが可能な発光パネルの検査装置、および発光パネルの検査方法を提供する。
【解決手段】発光パネルの検査装置２０は、発光信号発生部２１と、検査部２２と、比較部２３とを備えている。発光信号発生部２１は、被検査対象である発光パネル、例えば有機ＥＬ装置（発光パネル）の接続部に接続され、有機ＥＬ装置の任意の画素を発光させる発光信号を送出する。比較部２３は各画素の発光を直接受光して、その光量を予め設定された各画素の基準発光光量と比較することで個々の画素の発光不良を検出する。 （もっと読む）

【課題】多点測定の測定領域の設定を容易にかつ短時間で行うことができる色測定装置を提供する。
【解決手段】表示装置２に表示された画像を撮像する撮像部４０と、複数の測定領域が設定された教示画像または色測定用の計測画像を選択して表示装置２に表示させる信号発生部２０と、撮像部４０を制御して表示装置２に表示された画像を撮像させるカメラ制御部５１と、撮像部４０で撮像した教示画像を画像処理して測定領域を認識する測定領域認識部５２と、撮像部４０で撮像した計測画像における測定領域認識部５２で認識した測定領域に対応する計測領域毎の色を測定する色測定部５３と、を備える。測定領域認識部５２は、複数の測定領域と測定領域以外の非測定領域とが異なる色度または輝度で表された教示画像を画像処理し測定領域を認識する。 （もっと読む）

【課題】自動的に物品の欠陥または特徴を検査できる、検査システムを提供する。
【解決手段】検査システム１０は、製品をスキャンして製品のイメージを生成するスキャナ１２と、スキャナ１２に電気的に接続され、製品のイメージを受信して分析する分析装置１６と、を有する。イメージが画素マトリクスを含み、各画素がグレースケール値を有する。分析装置１６がマイクロプロセッサ、メモリ及び比較モジュールを有する。マイクロプロセッサがイメージ中の各画素に関する基準グレースケール値の計算に用いられ、当該基準グレースケール値が各画素の隣に位置する画素のグレースケール値の平均値を含む。メモリは各画素に関する基準グレースケール値と基準グレースケール値に関する閾値の保存に用いる。比較モジュールはイメージ中の各画素のグレースケール値と各画素に関する閾値の比較に用いる。 （もっと読む）