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Fターム[2H052AC34]の内容

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Fターム[2H052AC34]に分類される特許

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【課題】焦点面近傍の散乱体の密度が低い場合であっても、精度よく波面を測定する。
【解決手段】散乱体を含む試料内の焦点面からの戻り光と参照光とを干渉させて発生した試料各部に対応する干渉パターンのコントラストを測定するコントラスト測定ステップS2と、コントラスト測定ステップS2により測定されたコントラストが所定の閾値以上である高コントラスト領域を抽出する領域抽出ステップS3と、領域抽出ステップS3により抽出された高コントラスト領域について、高コントラスト領域に対応する干渉パターンを波面データに変換する波面算出ステップS4とを含む波面測定方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】データの迅速な撮影が可能であって、構成が技術的にできるだけ簡単に実現されるような、ミリメータサイズの生物学的な対象物の高解像度による3次元的な観察に適した顕微鏡を提供する。
【解決手段】顕微鏡100において、試料4を定置に保持することができ、照明光路2と検出光路5とには、この両光路2,5を試料近傍領域において摺動させる装置24,26が設けられている。この装置24,26は例えば、それぞれ1つの傾動可能な鏡を有しているビーム変向ユニットであって良い。両ビーム変向ユニット24,26は、その運動を互いに適合させるために1つの制御装置28の制御下にある。これにより、試料4の、その時点で対象物照明領域20´によって照射される領域が常に、検出光路5によって検出器8に結像されることが保証される。 (もっと読む)


【課題】診断対象部位からレプリカを採取する必要がなく、現場で簡単かつ短時間に金属組織を観察することができる材料組織観察装置を提供すること。
【解決手段】本発明の材料組織観察装置は、画像データ上の結晶粒界を画定する境界線の内部に最初の位置である中心点を指定する中心線指定手段と、上記中心点を含む閉曲線を境界線の近傍に設定する閉曲線設定手段と、上記閉曲線近傍の画像データの濃淡情報に基づいて閉曲線を変形する閉曲線変形手段と、変形した閉曲線が画像データ上の結晶粒界を画定する境界線のすべてと重なった場合に当該閉曲線を結晶粒界とする結晶粒界決定手段と、結晶粒界決定手段により決定された結晶粒界から結晶粒の変形度を求める第一演算処理手段と、記憶手段に予め記憶された同一材料のクリープ損傷度と結晶粒の変形度との検定曲線に基づいて第一演算処理手段で求めた結晶粒の変形度からクリープ損傷度を求める第二演算処理手段を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】複雑な補償機構を設けることなく、群速度分散スロープによる光パルスの時間幅の広がりや波形崩れの影響を低減した高ピークパワーの短光パルスを対象物に照射できる、非線形光学装置を提供する。
【解決手段】非線形光学装置は、短光パルスを発生する短光パルス源10と、短光パルス源から発生した短光パルスを対象物に伝送するための短光パルス伝送系20とを備える。非線形光学装置内で発生する非線形光学効果が実質的に無く、該非線形光学装置内の群速度分散量が実質的に無く、短光パルス源が発生する短光パルスは、変換限界に近く、且つ、パルス時間幅(半値全幅)TFWHMが、T<TFWHM<Tを満たす。ただし、T,Tは、パルス波形に依存して決定されるパラメータkと総群速度分散スロープ量D3dとから算出される。 (もっと読む)


【課題】多光子蛍光観察専用のレーザ顕微鏡に当該レーザ顕微鏡の構成を変更することなくアドオンされてCARS光観察の機能を追加する。
【解決手段】レーザ光源3から発せられたパルスレーザ光に周波数分散を付与する光源光周波数分散手段4と、顕微鏡本体6とを備える多光子蛍光顕微鏡2の光源光周波数分散手段4と顕微鏡本体6との間の光路に挿入可能に構成され、パルスレーザ光の一部を光路から分岐する光路分岐手段15と、パルスレーザ光に周波数分散を付与する分岐光周波数分散手段17と、パルスレーザ光の周波数を変換する周波数変換手段18と、光路に挿入可能に構成され、周波数変換手段18によって周波数を変換されたパルスレーザ光を、光路を通過してきたパルスレーザ光に合波させる合波手段16とを備えるCARS光用ユニット1を提供する。 (もっと読む)


【課題】観察対象の光軸方向に異なる複数点の観察を同時性を維持しつつ鮮明に行うことを可能とする。
【解決手段】パルスレーザ光Lを発生するレーザ光源4と、該レーザ光源4から発せられたパルスレーザ光Lから時間間隔をあけた複数のパルスレーザ光L,Lを生成するパルス分割部5と、該パルス分割部5により生成される1以上のパルスレーザ光L,L毎に、光軸方向に異なる位置に集光するように、該パルスレーザ光L,Lの波面を異ならせる固定式の波面変換部6とを備える光源装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】蛍光画像のSN比を高めつつ、対物レンズと標本とを近づけて標本の深い部分を観察することができる蛍光観察装置を提供する。
【解決手段】励起光を標本Aに照射する一方、標本Aからの蛍光を集光する対物光学系40と、対物光学系40の径方向外側に配置され、標本Aからの蛍光を取り込む付加光学系50と、対物光学系40および付加光学系50により集光された標本Aからの蛍光を検出する光検出器17,23とを備える蛍光観察装置1を採用する。 (もっと読む)



【課題】試料の三次元位置と該試料の蛍光スペクトルとの計測を行うための顕微鏡システムの提供。
【解決手段】光学顕微鏡を用いて、試料の三次元位置と該試料の蛍光スペクトルとの計測を行うための顕微鏡システムであって、試料の明視野像を得るための光源と、試料の蛍光像を得るための光源と、結像側の光路を明視野像の光路と蛍光像の光路とに分けるためのダイクロイックミラーと、明視野像及び蛍光像を取得する画像取得部と、磁場を発生させることにより試料に張力を与える磁場発生部と、画像取得部にて得られた明視野像から試料の三次元位置を算出する解析部とを備える。 (もっと読む)


【課題】コントラストの高いCARS光画像を取得すると同時に、明るい多光子蛍光画像を取得する。
【解決手段】パルスレーザ光Lを発生するレーザ光源4と、レーザ光源4から発せられたパルスレーザ光Lから、所定の周波数差を有する2つのパルスレーザ光L1’,L2’を生成し、生成された2つのパルスレーザ光L1’,L2’を合波して走査型顕微鏡3に入力する第1の光路5と、レーザ光源4から発せられたパルスレーザ光Lをそのまま走査型顕微鏡3に入力する第2の光路6と、これら第1の光路5と第2の光路6とを合流させる合波部7と、走査型顕微鏡3の走査周期に同期して、レーザ光源4からのパルスレーザ光Lを第1の光路5または第2の光路6に時分割に切り替えて入射させる光路切替部8とを備える光源装置2を提供する。 (もっと読む)



【課題】歪のない画像を取得する。
【解決手段】レーザ光を走査する走査ミラーから試料に向かう光路に配置される集光レンズおよび対物レンズの間に形成される一次結像面に校正部材20を配置する。校正部材20は、レーザ光を観察視野内で走査する際に一次結像面をレーザ光が通過する通過範囲に対応して開口する開口部41と、開口部41の近傍に規定の間隔で複数のマークが印された校正用目盛り42−1乃至42−4とを有する。本発明は、例えば、走査型レーザ顕微鏡に適用できる。 (もっと読む)


【課題】2つのパルスレーザ光の周波数差の調整幅を広げることができ、強度の高いコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を得ることができるレーザ顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】パルスレーザ光を発生する波長可変レーザ光源4と、波長可変レーザ光源4から発せられたパルスレーザ光を2つの光路6,7に分岐するビームスプリッタ5と、2つの光路6,7を導光されてきたパルスレーザ光L1’,L2’を合波するレーザコンバイナ8と、レーザコンバイナ8により合波されたパルスレーザ光L1’,L2’を標本Aに照射する顕微鏡本体3と、2つの光路6,7を導光されるパルスレーザ光L1’,L2’に標本A中の分子の特定の振動周波数に略等しい周波数差を与えるフォトニッククリスタルファイバ10と、第1の光路6を導光されるパルスレーザ光L1’の波長を調節可能な波長指示装置21とを備えるレーザ顕微鏡装置1を採用する。 (もっと読む)


【課題】コンパクトで場所をとらない共焦点顕微鏡システムを構成すると共に、調整箇所の少ない共焦点顕微鏡システムを提供する提供する。
【解決手段】
共焦点顕微鏡システムにおいて、
共焦点顕微鏡システムを構成する各装置を一体的に保護筐体に収めると共に、
対物レンズに対向して配置された試料を保護筐体の外側面に移動させ試料の出し入れを行う開口部側を前面としたときに、ニポウ式スキャナ部が対物レンズの奥側に配置されている。 (もっと読む)


【課題】 本発明は,例えば,対象物が細胞中に含まれている場合であっても,対象物への損傷を防ぎつつ,対象物を捕捉でき,対象物に所定の処理を施すことができる光ピンセット装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は,基本的には,パルスレーザーを用いた光ピンセットシステムに関する。パルスレーザーは,連続光に比べて強度が強い。このため,パルスレーザーを用いることで,高い放射圧を得ることができる。よって,本発明の光ピンセットシステムは,対象物が他の物質に吸着している場合や,対象物の周囲に立体障害が存在するような状況においても,効果的に対象物を単離することができる。 (もっと読む)


【課題】媒質に対するレーザ照射位置が深くても、レーザ光の集光度合を高めることが可能な収差補正方法を提供する。
【解決手段】本発明の一実施形態に係る収差補正方法では、光透過性を有する媒質61内部にレーザ光を集光するレーザ照射装置1の収差補正方法において、レーザ照射装置1は、雰囲気媒質60の屈折率が媒質61の屈折率より大きい集光手段50を備え、媒質61の屈折率をn、媒質61の屈折率nが雰囲気媒質60の屈折率に等しいと仮定した場合における媒質61の入射面から集光手段50の焦点までの深さをd、媒質61によって発生する縦収差の最大値をΔsと定義すると、レーザ光の集光点が、媒質61の入射面からn×d−Δsより大きく、n×dより小さい範囲に位置するように、すなわち、収差を補正しないときに媒質61内部で縦収差が存在する範囲の間に位置するように、レーザ光の収差を補正する。 (もっと読む)


【課題】標本中の分子のテラヘルツ振動を利用して標本のイメージングを行うレーザ顕微鏡装置において、特定の分子振動に注目し、かつ高速にイメージングできるレーザ顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】2つの異なる周波数を有するパルスレーザ光を導光する2つの光路6,7と、2つの光路6,7を導光されてきたパルスレーザ光を合波するレーザコンバイナ8と、レーザコンバイナ8により合波されたパルスレーザ光を標本S上で走査するスキャナ12と、標本Sからの光を検出する光検出器16と、2つの光路6,7の一方に設けられ、一方の光路を導光されてきたパルスレーザ光を、標本S内の特定の分子振動の周波数と同じ周波数で繰返されるパルス列に変換するパルス列変換装置30とを備えるレーザ顕微鏡装置1を採用する。 (もっと読む)


【課題】誘導ラマン散乱イメージングおよび多光子励起の蛍光のイメージングを同一の装置において両立することを可能とし、種々のイメージング方法により標本のイメージングを行う。
【解決手段】標本中の分子の特定の分子振動の周波数Ωに略等しい周波数差Ω′を有する2つの異なる周波数を有するパルスレーザ光L1′,L2′を2つの光路L1,L2に導光し、導光されてきたパルスレーザ光106、107を合波する合波手段108と、一方に周波数分散調節手段109と、他方にパルスレーザ光変調手段110と、前記合波手段108により合波された前記2つのパルスレーザ光を標本中に集光し、標本中の分子の特定の分子振動から発生した誘導ラマン散乱を前記パルスレーザ変調部の変調に同期して検出する変調信号検出手段117と、を有することを特徴とするレーザ顕微鏡装置101を提供する。 (もっと読む)


本発明は対象物を走査する装置に関し、この装置は、照明光ビーム(24)を解析対象となる対象物の領域に集束させる集束レンズ系(30)を備える。アクチュエータアセンブリが集束レンズ系(30)に連結され、所定の走査パターンにしたがって、前記集束レンズ系(30)を照明光ビーム(24)の基準位置における照明光ビーム(24)の中心軸に関して横方向に移動させる。前面ガラス(38)が、照明光ビーム(24)の方向に見た場合に集束レンズ系(30)の下流に配置される。内側浸漬剤(40)が集束レンズ系(30)と前面ガラス(38)との間に配される。外側浸漬剤(48)は、前面ガラス(38)と対象物との間に注入することができる。
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【課題】顕微鏡を含む複数の光学装置に対して光源からの光を同時に供給、かつ瞬時にその光量を変更することができる光源装置と、これを有する光学装置を提供すること。
【解決手段】光源11〜14と、複数の光出力部41〜43と、それぞれの傾きが変更可能な複数の反射部材を有する反射光学部材30と、前記複数の反射部材それぞれの傾きを制御する制御部32とを有し、前記反射光学部材は、前記反射光学部材に入射した前記光源からの光束を、前記制御部により前記複数の反射部材それぞれの傾きを調整して前記光束を複数に分割して同時に前記複数の光出力部にそれぞれ射出することを特徴とする光源装置1と、これを有する光学装置。 (もっと読む)


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