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Fターム[2H097LA09]の内容

フォトレジスト感材への露光・位置合せ (19,491) | 用途(露光、位置合せ) (5,070) | 印刷配線板製造用 (609)

Fターム[2H097LA09]に分類される特許

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【課題】
本発明の目的は、基板に所定パターンの薄膜を精細に塗布することができる薄膜塗布装置を提供することにある。
【解決手段】
xyz直交座標系を定義したとき、z方向に向けて薄膜材料を吐出する複数のノズルがy方向に配列するノズル列を含む複数のノズルヘッドと、前記複数のノズルヘッドを保持するホルダと、を含み、前記ホルダは、前記複数のノズルヘッドを取り付ける際に、前記複数のノズルヘッド各々のy方向に対する配置位置を規定することができる位置決め機構を有する。 (もっと読む)


【課題】感光性フィルムで構成された絶縁層に露光及び現像工程によりチップ内臓のためのキャビティーが形成される埋め込み印刷回路基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は埋め込み印刷回路基板の製造方法に関するものであって、感光性組成物を含む絶縁層を提供する段階;前記絶縁層に露光及び現像工程によってキャビティーを形成する段階;キャビティーにチップを配置する段階;及びチップが配置された絶縁層上にメッキ層を形成し、メッキ層をエッチングしてパターンを形成する段階;を含む。 (もっと読む)


【課題】配線基板の外周部に異物の原因となるガラス繊維や樹脂を露出させない。
【解決手段】配線基板用パネルAを載置するテーブル1と、配線基板用パネルAの外周部を部分的にテーブル1上に押圧して固定する押圧板2と、配線基板用パネルA上に露光用のレーザ光を照射するレーザ照射装置3とを具備して成る露光装置10であって、押圧板2は、レーザ光を透過する透明材料から成る。押圧板2の下の領域を露光することにより、配線基板用パネルAの外周部に導体層12を残すことができる。これにより、配線基板用パネルAの外周部に異物の原因となるガラス繊維や樹脂を露出させない。 (もっと読む)


【課題】
露光工程のタクトタイムを短縮することができる露光装置を提供する。
【解決手段】
搬送中に露光される基板Pが載置されるステージ1と、前記ステージ1の中間に設けられ、前記基板Pを露光する露光手段2と、前記露光手段2より基板1の搬送方向の手前側のステージ12と奥側のステージ13との間を往復し、前記手前側のステージ12上に載置された基板Pを前記奥側のステージ13上に搬送する搬送手段3と、を含んで構成され、前記搬送方向の手前側のステージ12上には複数枚の基板Pが搬送方向と平行な列を成して載置され、前記搬送手段3は、前記手前側のステージ12上に載置された複数枚の基板Pを同時に搬送し、前記露光手段2は、搬送手段3により搬送中の基板Pを露光する露光装置である。 (もっと読む)


【課題】基板表面に対して光ビームを照射して描画する描画装置およびその焦点調整方法において、収束光学系の経時変化に対応することができ、しかも描画時の基板表面に収束光学系の焦点位置を適正に調整することのできる技術を提供する。
【解決手段】観察光学系80のダミー基板801と観察用カメラ803とを一体的に昇降可能とする。ダミー基板801の上面801aをステージ10上の基板Wの表面Sと略同一の高さに設定し、観察用カメラ803により観察されるダミー基板上面801aでの描画光学像が最も小さくなるように、光学ヘッド40aのフォーカシングレンズ431の位置を調整する。このときの光学ヘッド431とダミー基板上面801aとの距離を基準距離として、オートフォーカス部441,442によるオートフォーカス動作を実行する。 (もっと読む)


【課題】部品点数及び制御軸数を削減し、装置の小型化を図る。
【解決手段】基板7を複数の露光領域に分割し、基板7に投影する露光パターンが描かれた投影マスクを基板7の分割された露光領域にそれぞれ対応するよう複数の転写領域に分割し、分割された基板7の露光領域ごとに露光を行う分割露光装置において、投影マスクの上方位置に近接して配置され、投影マスクの面と平行にX方向に往復移動可能な遮光体25と、遮光体25の上方位置に近接して配置され、前記投影マスクの面に平行に前記X方向と直交するY方向に往復移動可能であって、基板7及び投影マスクの位置決めマークを撮像するCCDカメラ13−1〜4を覆うためのカバー57と、を備え、遮光体25及びカバー57をそれぞれ所定の露光領域以外の光を遮蔽する位置に位置決めし、前記所定の露光領域を露光する。 (もっと読む)


【課題】ステージの移動に伴って生じる振動に起因する処理精度の低下を適切に抑制できる技術を提供する。
【解決手段】描画装置1は、基板Wを水平姿勢で保持するステージ10と、ステージ10に保持された基板Wに対して光を照射して基板Wにパターンを描画する光学ユニット40と、ステージ10を光学ユニット40に対して相対移動させるステージ駆動部20と、移動されるステージ10の位置の変動を計測して位置変動情報を取得する位置変動情報取得部301と、ステージ10が移動される際に生じる振動成分のうち振動数が既知である対象振動成分の位相情報を、位置変動情報から特定する位相情報特定部302と、対象振動成分の位相情報に基づいてステージ10の振動状況を予測する振動予測部303と、予測された振動状況に基づいて、光学ユニット40による光の照射位置を補正する描画位置補正部304とを備える。 (もっと読む)


【課題】選択されたパターンにおける特徴領域を示す画像を迅速に、かつ、容易に表示する。
【解決手段】データ変換部811では、各パターンの全体を示すベクトルデータをラスタ変換して描画ラスタデータが生成されるとともに、描画ラスタデータの生成時に当該パターンにおけるパターン識別用の特徴領域を示すラスタデータである部分ラスタデータが生成される。描画ラスタデータおよび部分ラスタデータを含む集合を描画データセット51として、複数のパターンにそれぞれ対応する複数の描画データセット51が記憶部821にて記憶される。表示制御部601は、複数のパターンのうち、選択されたパターンを示す描画ラスタデータと同じ描画データセット51に含まれる部分ラスタデータに基づいて、当該パターンにおける特徴領域を示す画像を迅速に、かつ、容易にディスプレイ602に表示する。 (もっと読む)


【課題】露光装置において、光源の寿命を落とすことなく、適切な光量調整を行なう。
【解決手段】光量調整を行なう場合、DMDの有効ミラーをON状態にして投影光の光量を測定し、測定された光量と目標光量との比である使用率を定める。そして、使用率に基づいて、不使用ミラーの配列を示す調光フィルタデータを生成する。このとき、不使用ミラーが略一様な分布で、かつ不規則に並ぶようにする。DMDを利用した光量調整を行なっている間、放電ランプの出力が徐々に低下し、測定光量が目標光量に達しない状況になると、測定光量が目標光量より所定量多い基準光量に達するまで放電ランプの出力をアップする。 (もっと読む)


【課題】比較的簡単な構成で、マスクの撓みを補正しつつマスクを保持することができ、高精度で露光転写することができる近接露光装置及び近接露光方法を提供する。
【解決手段】マスクステージ1は、マスクMを下面に真空吸着して保持するマスクホルダ26と、マスクホルダ26の上面側に保持されるカバーガラス32と、マスクホルダ26、マスクM、及びカバーガラス32によって画成される空間33内の空気を吸引して該空間33内を減圧させる吸引機構40と、減圧された空間33内に外部から空気を供給する少なくとも1つの空気導入溝35と、を備える。そして、マスクMをマスクホルダ26の下面に真空吸着してマスクMを保持し、また、吸引機構40によって空間33内の圧力を吸引するとともに、空気導入溝35を介して外部の空気を空間33に供給することで、空間33内の圧力を所定の圧力に調整する。 (もっと読む)


【課題】露光装置を用いたフォトリソグラフィ法によって配線パターンを形成してなる配線基板を製造する際に、露光装置におけるマスクパターンの静電破壊を防止するとともに、マスクパターンの除塵を効果的に行って製品不良の割合を低減し、低コストで配線基板を製造する。
【解決手段】露光ステージ上に感光性レジストが配置された基板を設置するとともに、露光ステージと対向するようにして、絶縁性の透明基材上に所定のパターンが描画されてなるマスクパターンを配置し、マスクパターンを介して感光性レジストに対して露光処理を行い、感光性レジストにパターンの潜像を形成する。次いで、マスクパターンに対して除塵ローラを接触及び回転させてマスクパターンの清浄を行い、マスクパターン及び除塵ローラが接触している状態において、マスクパターン及び除塵ローラに対してイオン化装置よりイオンを照射し、マスクパターン及び除塵ローラの除電を行う。 (もっと読む)


【課題】単一パス高解像度高速印刷用途に使用されることが可能な高信頼でしかも高出力である画像形成システムを提供する。
【解決手段】アナモルフィック光学系130Eは、画像形成面162Eから湿し溶液を気化するに足るエネルギーを有するライン画像を発生するために、1つまたは複数の円柱/非円柱レンズ134Eにより全屈折配置に形成される、または円柱/非円柱レンズおよびミラーの組合せによって形成される工程方向サブ光学系137Eを含む。また、本アナモルフィック光学系は、変調光場119Bを工程横断方向に画像化するために1つまたは複数の円柱/非円柱レンズ138Eおよび任意選択の円柱/非円柱視野レンズにより形成される工程横断方向サブ光学系133Eも含む。本アナモルフィック投影光学系は、ライン画像の複数のピクセル画像の同時的発生を容易にし、1200dpi以上での印刷を容易にする。 (もっと読む)


【課題】音響光学変調器で変調される1または複数の光源アレイによるダイレクトイメージングシステムを提供する。
【解決手段】ダイレクトイメージングシステムは、複数本のビームを放射するように構成される複数の光源を有する照明ユニット100と、複数本のビームを整形して位置または角度をそろえる光学系60と、位置または角度の一方がそろった複数本のビームを受けるとともに、音響波が音響方向に伝搬する際に、複数本のビームの異なる部分を連続して回折させるように位置決めされる音響光学変調器70と、音響光学変調器で変調された複数本のビームを用いて、ある走査速度で露光面を走査するように構成される走査素子80とを備え、走査速度は、複数本のビームの上記異なる部分を非コヒーレントに一体化して単一の露光スポットを得るように選択される。 (もっと読む)


【課題】黒色のソルダレジストや膜厚が厚いソルダレジストの仕様に対しても、アンダーカットが生じることのないソルダレジストを形成し、高い解像性を有するプリント配線板を提供することを目的とする。
【解決手段】導体パターン3が形成された絶縁基板2上にソルダレジスト4aを塗布、仮硬化し、露光用マスクフィルム5を介しソルダレジスト4aを紫外線で露光する工程において、ソルダレジスト4aの全面を露光する第1の露光工程と露光用マスクフィルム5を剥離したのち選択的に露光する第2の露光工程を用いてソルダレジストを形成する。 (もっと読む)


【課題】ワーク・アライメントマーク(ワークマーク)の見え方が異なったとしても、ワークマークを正しく検出することができるようにすること。
【解決手段】作業者は、暗視野照明手段である照明手段10cの高さをワークマークがクリアに見える位置に設定し、アライメント顕微鏡10によりワークW上のワークマークWAM像を撮像し、登録パターンとして制御部11の記憶部11bに登録する。ワークマークを検出する際、制御部11のアライメントマーク検出部11cは、照明手段移動手段5により照明手段10cの高さを変化させながら、アライメント顕微鏡10によりワークW上をサーチし、ワークW上のパターンと登録パターンとを比較して一致度を求め、一致度が高いパターンが見つかると、このパターンをワークマークとして検出する。このワークマークを使って位置合わせ制御部11eはマスクMとワークWの位置合せを行う。 (もっと読む)


【課題】基板露光時、偏心発生を最小化することができるとともに、基板製品毎の変形量を予測して、適切な露光領域分割数を予め適用して露光することができる露光システム及び露光方法を提供する。
【解決手段】本発明による露光システム100は、基板120に形成された整列マーク120aを検出するための検出部130と、基板120に配置される基準露光マスクに関する基準座標データ及び基板変形量毎にマッチされる露光領域分割数が保存されている保存部160と、検出部130により検出された整列マーク120aに関する実際座標データを算出し、前記算出された実際座標データと前記基準座標データとを比較して基板変形量を演算し、前記基板変形量とマッチされる露光領域分割数を保存部160から抽出して、前記露光領域分割数だけ分割された露光マスクを生成する制御部150と、制御部150により生成された露光マスクを利用して露光を行う露光部140と、を含む。 (もっと読む)


【課題】高い位置分解能にてパターンを描画する場合において、光軸方向における描画面の位置の許容範囲の減少を抑制する。
【解決手段】1組の固定リボンと可動リボンとの組み合わせである格子要素5を配列した回折格子型の空間光変調器にて空間変調された光を生成し、格子要素5の配列方向に垂直な方向に基板を移動することにより基板上にパターンを描画するパターン描画装置において、格子要素5が、可動反射面を経由する光路と固定反射面を経由する光路との光路長差が光の波長の0倍以上の整数倍に半波長を加えた長さとなるOFF状態、光路長差が光の波長の上記整数倍となるON状態、ON状態とOFF状態との間の中間状態、および、中間状態とON状態との間の不完全ON状態になることが可能である。パターンの描画時には、OFF状態、中間状態および不完全ON状態の格子要素5がこの順で並ぶ。 (もっと読む)


【課題】第1に、マスクパターンのエッジ付近で生じる回折像の波形パターンのスイングを抑制し、露光対象基板上に形成されるパターンのエッジ形成位置のばらつきを低減することができ、第2に、マスクパターンのエッジ付近における回折像の波形パターンのスロープを急峻化することで、パターン線幅のばらつきを抑えることができるアライナ装置を提供する。
【解決手段】斜入射光学系40を駆動させて、少なくとも入射角度±θの2つの照明光で露光対象基板2を露光し、照明光の入射角度±θに応じて露光対象基板2上で略平行にシフトする2つの回折像を重複させ、これら回折像の回折によるスイングを抑制する構成としてある。また、偏光変換光学系20により、照明光の偏光方向を、マスクパターン1Aのエッジ1aと平行な方向に揃えて、露光対象基板2上に形成される回折像の回折によるスロープを急峻化する構成としてある。 (もっと読む)


【課題】 リソグラフィシステムを提供することである。
【解決手段】 パターンをターゲットの表面に転写するマスクレスリソグラフィシステムであって、複数の小ビームを発生するための少なくとも1つのビーム発生装置と、小ビームの大きさを変調するための複数のモジュレータを備えた変調手段と、モジュレータの各々を制御する制御ユニットとを備え、制御ユニットは、それぞれの小ビームの大きさを制御するために、パターンデータを発生し、前記モジュレータにパターンデータを伝送し、この制御ユニットがパターンデータを記憶するための少なくとも1つのデータ記憶装置と、データ記憶装置からパターンデータを読み取るための少なくとも1つの読み取りユニットと、データ記憶装置から読み取られたパターンデータを少なくとも1つの被変調光ビームに変換するための少なくとも1つのデータ変換装置と、少なくとも1つの被変調光ビームを前記変調手段に伝送するための少なくとも1つの光伝送装置とを備えている。 (もっと読む)


【課題】ワークに伸縮変形が生じても、投影露光によりワークに形成するパターンの位置を、それ以前の露光処理により形成されているパターンの位置と、次の工程で行うスクリーン印刷等のマスクパターンの位置との間に大きなずれを生じさせないようにすること。
【解決手段】投影露光装置における位置合わせの際、マスクMのマスクマークMAM1〜4とワークマークWAM1〜4のずれ量dRの総和に、マスクMのマスクマークMAM1〜4の位置と、次の工程で使用するスクリーンマスクのマスクマークSAM1〜4の基準位置のずれ量dMの総和を加えたものが最小になるように、上記マスクMのパターンを拡大または縮小投影する倍率を調整するとともに、マスクMまたはワークWを移動させて、マスクMとワークWの位置合せを行う。 (もっと読む)


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