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【課題】異種材料の基板上で平坦かつ剥離が容易なGaN基板を低コストで製造することを可能にする製造方法を提供するとともに、そのGaN基板を用いて製造するLEDやレーザダイオード等の半導体デバイスの低コスト化、性能向上や長寿命化を実現することである。
【解決手段】本発明の半導体基板は、基板と、前記基板上に形成された第1の半導体層と、前記第1の半導体層上に所定のパターン形状で形成された金属性材料層と、前記第1の半導体層上及び前記金属性材料層上に形成された第2の半導体層と、前記金属性材料層より下層部分の前記第1の半導体層に形成された空洞と、を有する。 (もっと読む)


【課題】膜厚の低下を図りつつ、エッチング工程を不要として低コスト化を図り、凹凸構造を有する薄膜層が被成膜基板表面に成膜された成膜基板、その製造方法、および成膜装置を提供すること。
【解決手段】成膜基板1は、被成膜基板2表面の平坦部に、凹凸構造を有する薄膜層3が成膜された基板であって、凹凸構造は、酸化インジウムを含んだ薄膜層3が成膜されることで形成されたものとする。また、成膜基板1の製造方法は、被成膜基板2表面の平坦部に、凹凸構造を有する薄膜層3が成膜された基板1を製造する方法であって、被成膜基板2表面に、酸化インジウムを含む薄膜層3を成膜し、この成膜を行うことで凹凸構造を形成する薄膜工程を有するものとする。これにより、凹凸構造を形成するためのエッチィング工程を不要とし、低コスト化を図り、酸化インジウムを含んだ透明導電膜3とすることで、膜厚を低下させる。 (もっと読む)


【課題】帯状可撓性基板の下垂や皺の発生を抑制でき、逆方向への搬送にも対応可能な位置制御装置を提供する。
【解決手段】帯状の可撓性基板1を縦姿勢で横方向に搬送し、搬送経路に設置された処理部にて、処理を行なう処理装置における可撓性基板の位置制御装置100であって、前記基板の上側縁部を挟持する一対の挟持ローラ131,132と、前記一対の挟持ローラを回転可能かつ相互に接離可能に支持する支持機構140と、前記支持機構を介して前記一対の挟持ローラに加圧力を付与する付勢手段150と、前記付勢手段による前記加圧力の調整手段160と、を備え、前記一対の挟持ローラを構成する各ローラが、軸方向に対して傾斜した周面を有する円錐ローラであり、前記各円錐ローラの小径側が前記基板の幅方向中央側に位置しかつ前記基板の挟持面における回転方向が前記基板の搬送方向と同方向になるように、前記支持機構によって支持されている。 (もっと読む)


【課題】励起時の発光能を有するβ−鉄シリサイド薄膜、該薄膜の製造方法及び薄膜の製造装置の提供。
【解決手段】レーザを鉄シリサイドからなるターゲット12に照射して、ターゲット12から発生する飛散粒子をシリコン基板10に付着させるレーザアブレーション法を用いるに際し、ターゲット12及び基板10を略平行となるように配置し、これらの回転軸(C10及びC12(C12’))が重ならないように回転させ、ターゲット12へのレーザ照射部位を変化させると共に、薄膜形成時における薄膜形成部位の位置を変化させつつ、基板10上にβ−鉄シリサイド薄膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】導電体領域から絶縁体領域までの範囲内で所望の電気抵抗値有し、且つ、電気的ストレスに対して安定性の良好なIGZO系アモルファス酸化物薄膜を製造する
【解決手段】IGZO系アモルファス酸化物薄膜を基板上にスパッタ成膜し、その後アニール処理してIGZO系アモルファス酸化物薄膜を製造する方法であって、成膜装置内の水分量とアニール処理の温度の組み合わせを変化させて、導電体領域から絶縁体領域の範囲内の任意の電気抵抗値を有するアモルファス酸化物薄膜を製造する。 (もっと読む)


【課題】Cuを微量添加したターゲットを用いてスパッタ成膜する際に発生するノジュールを抑制し、酸化物半導体膜を安定かつ再現性よく得ることができるスパッタリングターゲットを提供する。
【解決手段】In元素及びCu元素を含み、さらにZn元素を含んでいてもよい金属酸化物焼結体からなるスパッタリングターゲットであって、
前記金属酸化物焼結体中の全金属元素に対するCu元素の原子比Cu/全金属元素が0.001〜0.09の範囲内であることを特徴とするスパッタリングターゲット。 (もっと読む)


少なくとも1つのデバイス(1)の少なくとも1つの表面(11)上にパリレンコーティング(2)を施す方法を提供する。ここでは、パリレンモノマーを有する第1のガス(4)を供給し、前記パリレンモノマーを有する第1のガス(4)を第1のノズル(3)によって、少なくとも1つの表面(11)に供給することによって、前記デバイス(1)の少なくとも1つの表面(11)上にパリレンモノマーを析出する。ここで前記デバイス(1)は大気圧を有する環境内に配置されている。さらに、パリレンコーティングを施す装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】スパッタ法により、TFTの活性層として好適なキャリア密度を有し、且つ、電気的ストレス、及び熱に対して安定性の良好なIGZO系アモルファス酸化物半導体膜を製造する。
【解決手段】IGZO系アモルファス酸化物層を下記式(1)を満足する条件でスパッタ成膜した後に、下記式(2)を満足する条件でアニール処理することにより、IGZO系アモルファス酸化物からなる半導体膜を製造する。
1×10−5≦P(Pa)≦5×10−4 ・・・(1)、
100≦T(℃)≦300 ・・・(2)
(式中、Pは前記スパッタ成膜における背圧,Tは前記アニール処理におけるアニール温度) (もっと読む)


【課題】真空成膜装置で内部応力が大きい薄膜を成膜する際に、成膜工程中に付着する成膜材料の剥離を安定かつ有効に防止し、装置クリーニングや部品の交換などに伴う生産性の低下や成膜コストの増加を抑える。
【解決手段】Ti、Zr、Hf、Nb、Ta、W、Ru、Pd、Ir、Pt、Ag、AuおよびInから選ばれる金属元素の単体、もしくは前記金属元素を含む合金または化合物の薄膜を成膜する真空成膜装置の構成部品1を製造する方法であって、部品本体2の表面に膜厚が300μm以上のCu溶射膜3を形成する工程と、表面に前記Cu溶射膜3が形成された部品を、真空雰囲気中で加熱するアニーリング工程と、前記アニーリング工程後、水素雰囲気中にて前記加熱温度より低い温度で前記部品を還元する還元処理工程とを具備する。 (もっと読む)


【課題】半導体素子の作製の際のパターニング工程に適した酸化物半導体膜、及び半導体膜を成膜できる酸化物焼結体を提供する。
【解決手段】インジウム元素(In)、ガリウム元素(Ga)及び錫元素(Sn)を、下記式(1)〜(3)の原子比で含む酸化物焼結体。
0.10≦In/(In+Ga+Sn)≦0.60 (1)
0.10≦Ga/(In+Ga+Sn)≦0.55 (2)
0.0001<Sn/(In+Ga+Sn)≦0.60 (3) (もっと読む)


【課題】 真性に近い単結晶GaN膜を有し、かつこの膜をn形又はp形に選択的にドープした半導体デバイスを提供する。
【解決手段】 次の要素を有する半導体デバイス:基板であって、この基板は、(100)シリコン、(111)シリコン、(0001)サファイア、(11−20)サファイア、(1−102)サファイア、(111)ヒ化ガリウム、(100)ヒ化ガリウム、酸化マグネシウム、酸化亜鉛、および炭化シリコンからなる群から選択される物質からなる;約200Å〜約500Åの厚さを有する非単結晶バッファ層であって、このバッファ層は前記基板の上に成長した第一の物質を含み、この第一の物質は窒化ガリウムを含む;および前記バッファ層の上に成長した第一の成長層であって、この第一の成長層は窒化ガリウムと第一のドープ物質を含む。 (もっと読む)


【課題】メンテナンス頻度を低減でき、適切なメンテナンス時期を見極めることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置10は、イオンを発生させるイオン源40と、イオン源40からのイオンビーム45を受けるターゲット36と、第一真空容器11内に収容されてターゲット36からのスパッタ粒子46を受けるウエハ1を保持するウエハホルダ18と、第二真空容器22へのスパッタ粒子46の付着を抑制する防着板51と、防着板51へ付着するスパッタ粒子46の付着量を予測する付着量予測部61とを備える。 (もっと読む)


【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の配線と、第2の配線と、第3の配線と、第4の配線と、第1のトランジスタ160と、第2のトランジスタ162と、を有し、第1のトランジスタ160は、半導体材料を含む基板に設けられ、第2のトランジスタ162は酸化物半導体層を含んで構成され、第1のトランジスタ160のゲート電極と、第2のトランジスタ162のソース・ドレイン電極とは、電気的に接続され、第1の配線と、第1のトランジスタ160のソース電極とは、電気的に接続され、第2の配線と、第1のトランジスタ160のドレイン電極とは、電気的に接続され、第3の配線と、第2のトランジスタ162のソース・ドレイン電極の他方とは、電気的に接続され、第4の配線と、第2のトランジスタ162のゲート電極とは、電気的に接続される。 (もっと読む)


【課題】 基板上に成膜される薄膜の面内膜厚の均一性を向上させる。
【解決手段】 イオンを発生するイオン発生部と、ターゲットを複数配列させたターゲット群を保持し、ターゲット群のうち所定のターゲットにイオンが入射するようターゲット群を回動させるターゲット保持部と、所定のターゲットにて発生したスパッタ粒子が入射されるように基板を保持する基板保持部と、スパッタ粒子の基板上への入射を規制する規制部材を複数保持し、所定のターゲットに応じた所定の規制部材を基板と所定のターゲットとの間に挿入させる規制部材保持部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】複雑な作製工程を必要とせず、消費電力を抑えることができる記憶装置、当該記憶装置を用いた信号処理回路の提供を目的の一つとする。
【解決手段】インバータまたはクロックドインバータなどの、入力された信号の位相を反転させて出力する位相反転素子を用いた記憶素子内に、データを保持するための容量素子と、当該容量素子における電荷の蓄積及び放出を制御するスイッチング素子とを設ける。上記スイッチング素子には、酸化物半導体をチャネル形成領域に含むトランジスタを用いる。そして、上記記憶素子を、信号処理回路が有する、レジスタやキャッシュメモリなどの記憶装置に用いる。 (もっと読む)


【課題】 基板上に成膜される薄膜の膜質を向上させる。
【解決手段】 イオンを発生するイオン発生部と、ターゲットを複数配列させたターゲット群を保持し、ターゲット群のうち所定のターゲットにイオンが入射するようターゲット群を回動させるターゲット保持部と、所定のターゲットにて発生したスパッタ粒子が入射されるように基板を保持する基板を保持する基板保持部と、ターゲット保持部に保持され、各ターゲットに対向する部位に第1開口部がそれぞれ形成されると共に、隣接する各ターゲット間を仕切る隔壁を複数有し、所定のターゲットにて発生したスパッタ粒子が他のターゲットに飛散することを抑制する飛散抑制部と、飛散抑制部と基板との間に設けられ、所定のターゲットを露出させるように第2開口部が形成されると共に、他のターゲットに対向する第1開口部を覆うように構成され、所定のターゲットにて発生したスパッタ粒子が他のターゲットに入射することを抑制する入射抑制部と、を備える。 (もっと読む)


基板を取り扱う特にコーティングする装置において、プロセスチャンバ1と、その中で処理される基板12を格納するべく搭載開口6,7を介してプロセスチャンバ1に接続された、又は、処理プロセスで用いるマスク10,10'、10"、10'"を格納する少なくとも1つの格納チャンバ2,3と、搭載開口6,7を通して基板又はマスクをプロセスチャンバ1に搭載し又は取り出す搬送装置13と、開始物質をキャリアガスとともにプロセスチャンバ1に導入するべく温度制御可能なガス入口要素4と、処理される基板12を受容するべくガス入口要素4に対向して位置するサセプタ5と、遮蔽位置にあるときガス入口要素4とサセプタ5又はマスク10の間に位置して基板12又はマスク10をガス入口要素4からの熱の影響から遮蔽する遮蔽プレート11と、遮蔽プレート11を基板12の処理前にガス入口要素4に相対する遮蔽位置から格納位置へ移動させ基板12の処理後に格納位置から遮蔽位置に戻す遮蔽プレート移動装置15,16と、を有する。格納位置では遮蔽プレート11が格納チャンバの内部にある。
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【課題】酸化亜鉛薄膜の結晶性(品質)を維持したまま、キャリアを得るための不純物を添加せずにキャリヤ濃度を制御して、室温において飽和磁化と残留磁化が大きな値の強磁性を発現する酸化亜鉛薄膜からなる磁性半導体とその製造方法及び強磁性発現方法を提供する。
【解決手段】磁性半導体の製造方法は、遷移元素を添加した酸化亜鉛の原料ターゲット19から原料を飛散させて基板20上に薄膜を成膜する薄膜製造装置10を用い、原料ターゲット19と基板20との間にグリッド電極18を設置し、グリッド電極18に電圧を印加し、原料をグリッド電極18を通過させることで基板20上に薄膜を作製する。 (もっと読む)


本発明は、基板(20)を熱加工するための熱処理内側チャンバ(3)であって、壁(10)を備え、該壁(10)は、熱処理内側チャンバ(3)の内室(24)を包囲し、熱加工の間に基板(20)を支承するための支承装置(8)を備え、熱処理内側チャンバ(3)の内室(24)にエネルギを導入するためのエネルギ源(11)を備え、壁(10)の内側面の少なくとも一部は、エネルギ源(11)により導入される出力を反射するように形成されるものにおいて、壁(10)の内側面の少なくとも一部は、少なくとも赤外線高反射性の材料から成ることを特徴とする。さらに本発明は、基板(20)を熱加工するための熱処理内側チャンバ(3)であって、壁(10)を備え、該壁(10)は、熱処理内側チャンバ(3)の内室(24)を包囲し、熱加工の間に基板(20)を支承するための支承装置(8)を備え、熱処理内側チャンバ(3)の内室(24)にエネルギを導入するためのエネルギ源(11)を備えるものにおいて、壁(10)の少なくとも一部を冷却するための冷却装置(14)を設ける。
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【課題】接着層の厚さを増加させることなく、銅の下部層との接着性が向上し、銅が下部層に拡散することを防止することができる薄膜形成方法、表示板用金属配線、及びこれを含む薄膜トランジスタ表示板とその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の薄膜形成方法は、基板上にスパッタリング方法により薄膜を形成する方法であって、薄膜は、電力密度が1.5〜3W/cm、非活性気体の圧力が0.2〜0.3Paで形成する。薄膜は、非晶質構造を有することができ、チタニウム、タンタル、又はモリブデンのうちのいずれか一つで形成することができる。 (もっと読む)


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