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Fターム[4K030FA01]の内容

CVD (106,390) | 原料ガスの励起、活性化 (9,777) | プラズマによるもの (4,475)

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【課題】ダイアモンド状炭素膜被覆物品であって、ダイアモンド状炭素膜の物品本体への密着性に優れているダイアモンド状炭素膜被覆物品を提供する。
【解決手段】少なくとも一部が、アモルファス炭化珪素膜からなる中間層を介して形成されたダイアモンド状炭素(DLC)膜で被覆されているダイアモンド状炭素膜被覆物品W。アモルファス炭化珪素膜は、波長532nmのレーザーを用いるレーザーラマン分光分析においてラマンシフト1400cm-1〜1600cm-1の範囲にスペクトル強度のピークを示す膜である。 (もっと読む)


【課題】電気特性が良好な半導体装置を、生産性高く作製する方法を提供する。
【解決手段】第1の条件により、高い結晶性の混相粒を低い粒密度で有する第1の微結晶半導体膜を酸化絶縁膜上に形成した後、第2の条件により混相粒を結晶成長させて混相粒の隙間を埋めるように、第1の微結晶半導体膜上に第2の微結晶半導体膜を積層形成する。第1の条件は、シリコンまたはゲルマニウムを含む堆積性気体の流量に対する水素の流量比を50倍以上1000倍以下にして堆積性気体を希釈し、処理室内の圧力を67Pa以上1333Pa以下とする条件であり、第2の条件は、シリコンまたはゲルマニウムを含む堆積性気体の流量に対する水素の流量比を100倍以上2000倍以下にして堆積性気体を希釈し、処理室内の圧力を1333Pa以上13332Pa以下とする条件である。 (もっと読む)


【課題】巻取り体の端面からのガス供給装置を設置することなく、大気開放時にゴミの流入を防止し、且つ、巻取り部材を非接触状態で維持する非接触巻取り体の製造方法。
【解決手段】5.0×10−4Pa以下の圧力条件に保たれた真空容器の内部で、基板の端部に直接突起形状を複数設ける工程、または、少なくとも片面に突起形状を複数設けたテープ状フィルムを該基板の両端に共巻する工程を有し、次いで、前記真空容器を前記圧力条件〜大気圧条件に大気開放する工程を有する非接触巻取り体の製造方法において、該大気開放する工程が、真空状態から1.0×10−3Pa/秒〜0.1Pa/秒の速度で1Pa〜10Paの圧力範囲に装置内を調整する第1の圧力調整工程と、次いで、1.0×10Pa/秒〜5.0×10Pa/秒以下の速度で大気開放する第2の圧力調整工程を有することを特徴とする非接触巻取り体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】 低コストで、優れた性能をもつシリコン系薄膜を提供するために、タクトタイムが短くて、高速の成膜速度で特性のすぐれたシリコン系薄膜と、それを含む半導体素子。さらにこのシリコン系薄膜を用いた密着性、耐環境性などに優れた半導体素子を提供することを目的とする。
【解決手段】 i型半導体層と前記i型半導体層の下地層である前記p型半導体層またはn型半導体層との界面領域であって前記i型半導体層と前記p型半導体層またはn型半導体層との界面から1.0nm以上20nm以下の界面領域の微結晶が(100)面に優先配向しており、前記i型半導体層の層厚方向における前記微結晶のエックス線または電子線による(220)面の回折強度の全回折強度に対する割合である(220)面の配向性が前記i型半導体層の下地層である前記p型半導体層又は前記n型半導体層側では小さく、前記下地層から離れるに伴って大きくなるように変化する。 (もっと読む)


【課題】結晶性の高い微結晶シリコン膜を作製する方法を提供する。
【解決手段】本発明の微結晶シリコン膜の作製方法は、絶縁膜55上に、第1の条件により第1の微結晶シリコン膜57をプラズマCVD法で形成し、第1の微結晶シリコン膜上に、第2の条件により第2の微結晶シリコン膜59を形成し、第1の条件は、処理室内に供給する原料ガスとしてシリコンを含む堆積性気体と水素が含まれたガスを用い、堆積性気体の流量に対する水素の流量を50倍以上1000倍以下にして堆積性気体を希釈し、且つ処理室内の圧力を67Pa以上1333Pa以下とする条件であり、第2の条件は、処理室内に供給する原料ガスとしてシリコンを含む堆積性気体と水素が含まれたガスを用い、堆積性気体の流量に対する水素の流量を100倍以上2000倍以下にして堆積性気体を希釈し、且つ処理室内の圧力を1333Pa以上13332Pa以下とする条件である。 (もっと読む)


【課題】低摩擦摺動材料用の潤滑油として用いた際に極めて低い摩擦係数を示す潤滑油組成物、及び前記潤滑油組成物とDLC皮膜を摺動面に有する摺動部材とを組み合わせることにより、低摩擦性かつ耐摩耗性に優れた摺動機構を提供すること。
【解決手段】分子内に、窒素(N)原子及び/又は酸素(O)原子を有し、硫黄(S)原子を有してもよい有機モリブデン化合物であって、硫黄含有量が、化合物基準で0.5質量%以下であることを特徴とする有機モリブデン化合物を含む、低摩擦摺動材料用潤滑油組成物、及びこれを用いた摺動機構である。 (もっと読む)


【課題】基材に対する密着力が高いDLC膜を有し、基材の材料選択の幅が広い被覆部材を提供すること。
【解決手段】被覆部材100は、基材200と、基材200の表面を覆う中間層300と、中間層300の表面を覆うDLC膜400とを含む。中間層300およびDLC膜400は、基材200の温度が300℃以下に維持された状態で形成されている。また、中間層300は、金属窒化物を含む。中間層300における硬さH2のヤング率E2に対する比は、基材200における硬さH2のヤング率E2に対する比よりも大きく、DLC膜400における硬さH4のヤング率E4に対する比よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】ポーラスLow−k膜の信頼性を向上させる。
【解決手段】プラズマCVD法によって層間絶縁膜IL2を形成する際にCVD装置内に供給するポロジェンの流量を、ポロジェンおよびメチルジエトキシシランの合計の流量の30%以上60%以下とすることで、層間絶縁膜IL2内に形成される空孔10の大きさを小さくし、プロセスダメージによって層間絶縁膜IL2の表面に変質層CLが形成されることを防ぐ。また、水分を含む変質層CLの形成を抑えることで、各配線を構成するバリア膜および主導体膜の酸化を防ぎ、各配線間の耐圧の劣化を防ぐ。これにより、層間絶縁膜IL2に隣接して形成される配線のEM寿命および前記配線の線間TDDB寿命の劣化を防ぐ。 (もっと読む)


【課題】良質な微結晶半導体膜を形成することが可能な複数の結晶核を生成し、該複数の結晶核を成長させる微結晶半導体膜の作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】微結晶半導体膜の作製に際して、連続放電によりプラズマを発生させて複数の結晶核を生成させる第1の工程と、パルス放電によりプラズマを発生させて前記複数の結晶核の間隙を埋める第2の工程と、を行い、前記第2の工程は前記第1の工程の後に行う。前記第1の工程と前記第2の工程は更に複数回繰り返してもよい。 (もっと読む)


【課題】被処理材のプラズマダメージを低減できるプラズマ雰囲気下で、被処理材上に成膜原料を効率的に成膜できる成膜方法及び成膜装置を提供することにある。特にガスバリア膜の成膜方法及び成膜装置を提供する。
【解決手段】プラズマ雰囲気下でイオン化した成膜原料を被処理材1上に堆積させる成膜方法であって、磁力線2が被処理材1の成膜面3から離れる方向9に向く磁場環境を形成し、その磁場環境で被処理材1の成膜面3に成膜原料を堆積させる。このときの磁力線2の向きは、磁石のN極からS極に向かう磁力線の向きであって、プラズマを構成する荷電粒子4を成膜面3から離れる方向9にはね返す向きである。そうした磁力線2は、永久磁石又は電磁石のN極を成膜原料が供給される側に近い側に配置し、S極を遠い側に配置する等して実現できる。 (もっと読む)


【課題】円筒状内部等へのプラズマ処理にあたって、簡素にかつ詳細にプラズマ状態を計測する方法とそれに用いる電流計測器を提供する。
【解決手段】基材内表面から外面に通じる孔4を設け、円筒状内表面に照射されたイオン3の一部は孔4を通過し、基材表面に平行に設置されたプローブ5に入射し、電流計6によって電流量を計測し、基材内表面とプローブの間隔と前記孔の中心線から電流が計測されたプローブの位置までの間隔との幾何学的関係から、荷電粒子による電流量および荷電粒子のプローブへの入射角を計測する。 (もっと読む)


【課題】 樹脂材の熱伝導率、摺動性、さらには耐熱性、強度、剛性を一層高め、高熱伝導性、剛性、傷つき防止、高摺動性などの特性を付与された積層体を提供する。
【解決手段】 樹脂材と、抵抗値1×107Ωcm以上(100℃)を有する膜厚50nm〜10μmの炭素膜とを積層し、前記炭素膜は、CuKα1線によるX線回折スペクトルにおいて、ブラック角(2θ±0.3°)の41〜42°にスペクトルのピークを備え、かつ前記樹脂材に形成された炭素膜の熱伝導率は、光交流法で測定した値で70〜700W/mKである積層体であって、前記炭素膜は、プラズマの電子密度;0.5〜3.0eVの位置に置かれた樹脂材の上に形成される。 (もっと読む)


【課題】PVD法やCVD法では、膜厚の増加に対しガスバリア性が飽和しやすい問題に対して、更に高いガスバリア性を持った透明、もしくは半透明なガスバリア性積層体の製造方法とガスバリア性積層体を提供する。
【解決手段】プラスチックフィルム基材11の少なくとも一方の面に、物理成膜法もしくは化学気相成長法のいずれか、またはその両方を用いて下地層12を形成する工程と、下地層12の表面に、原子層堆積法を用いてガスバリア層13を形成する工程とを具備する。 (もっと読む)


【課題】成膜処理後の基板上の塵を確実に除去することができる成膜装置提供。
【解決手段】プラズマCVD装置(1)は、トレイ(16)上に載置された基板(17)に薄膜を形成する成膜処理室(12)と、成膜処理済みの基板(17)が載置されたトレイ(16)を搬送する搬送装置(14,15)と、搬送移動しているトレイ(16)の基板載置面に向けてエアを噴出して、トレイ(16)および該トレイ(16)に載置された基板(17)に付着する塵を吹き飛ばすブロア(22A,22B)と、吹き飛ばされた塵をエアとともに吸引するノズル(25)とを備える。ブロア(22A,22B)は、搬送方向下流側に斜めにエアを噴出する噴出口と、搬送方向上流側に斜めにエアを噴出する噴出口とを備え、ノズル(25)にはこれらの噴出口の間に配置されて基板載置面に対向する吸入口が設けられている。 (もっと読む)


【課題】半導体基板処理に用いられる反応チャンバーで用いられるガス供給システムの改良に関する。
【解決手段】半導体基板処理のためのガス供給システムであって、複数のガス供給部16,18,20と、複数のガス供給部からのガスを混合する混合マニホールド30と、混合ガスをチャンバー内の異なったゾーンへ送る複数のガス供給ライン12,14と、コントロールバルブ34とを含む。装置を利用する方法では、半導体基板を反応チャンバーに供給し、混合ガスを第1及び第2のゾーンへ供給し、第1及び第2のゾーンで所望の混合ガス流量比を作るために少なくとも第1のガス供給ライン上及び第2のガス供給ライン上のいずれかの混合ガス流量をコントロールバルブで調節することによって、基板を処理する。 (もっと読む)


【課題】低いプロセス温度で形成でき、高い水蒸気バリア性と高い光透過性とを備え、かつ、プラスチック基板等のフレキシブルな有機材料からなる基板の封止に使用できる、SiNx膜のバリア膜を提供する。
【解決手段】
表面波プラズマCVD装置を用いて、窒素Nと珪素Siの原子比率を表す比率N/(Si+N)が0.60から0.65の間である窒化珪素(SiN)からなるバリヤ膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】基材の内部に空隙を形成するための方法を提供する。
【解決手段】基材を用意する工程;少なくとも1つの犠牲材料前駆体の堆積によって犠牲材料を堆積する工程;複合層を堆積する工程;該複合層中のポロゲン材料を除去して多孔質層を形成する工程;及び積層基材を除去媒体と接触させて前記犠牲材料を実質的に除去し、前記基材の内部に空隙を与える工程を含み、前記少なくとも1つの犠牲材料前駆体が、有機ポロゲン、シリコン、極性溶媒に可溶な金属酸化物、及びそれらの混合物からなる群より選択される方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】大型基板であっても、基板とマスクとを精度良くアライメントを行うことができる技術を提供する。
【解決手段】プラズマCVD装置1は、真空処理槽2内に反応ガスを導入し、サセプタ4上に配置された基板10上にマスク7を介してCVD法で成膜するもので、マスク支持機構58と、駆動部53と、CCDカメラ51と、アライメント制御部6とを備える。真空処理槽2の本体部22には、マスク支持機構58の作動部材55を真空処理槽2の外部から内部へ貫通し且つアライメントの際マスク支持機構58の作動部材55が三次元的に移動可能な形状に形成された動作用孔部23を有する。マスク7を基板10から離間させた状態で、基板10とマスク7との重なり部分の像をCCDカメラ51で取り込み、アライメント制御部6にて得られた結果に基づき駆動部53を動作させ、マスク7のアライメントを行う。 (もっと読む)


【課題】エッチングガスの使用効率の高い洗浄装置、洗浄方法および太陽電池の製造方法を提供する。
【解決手段】トレイクリーニング装置1は、トレイ20を少なくとも1つ収容できる密閉可能な密閉容器2と、密閉容器2内にエッチングガスを供給できるガス供給口10と、密閉容器2内のガスを排気できるガス排気口11と、密閉容器2に収容されたトレイ20の開口部を貫通可能に配設された軸部材3とを備えている。 (もっと読む)


【課題】銅ダマシン配線上への誘電体層の形成において、導電材料と誘電体層間の密着性を向上する半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】オルガノシロキサンからなる第2誘電体層118に、TaNからなる金属バリア層124とCuからなる導電性金属特徴部126を形成する。平坦化後アンモニアプラズマ処理還元により表面の酸化物を除去する。連続して真空を破壊せずに、トリメチルシランからなる有機ケイ素化合物を導入し、プラズマプロセスによりSiCN膜130を形成し、さらに連続してSiC膜132を堆積する。酸化物の除去から誘電体層の形成までインサイチュで行うことが可能である。 (もっと読む)


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