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Fターム[4K030GA12]の内容

CVD (106,390) | 基体の支持、搬送 (3,879) | 搬送 (1,186) | 基体の搬送 (1,157)

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【課題】基板に形成された高いアスペクト比の素子分離溝でも、空洞の発生を抑制して当該溝中にシリコン絶縁膜を埋め込むこと。
【解決手段】高いアスペクト比の素子分離溝が形成された基板を処理室に搬入する基板搬入工程と、前記処理室を第一ガスであるヘキサメチルジシラザン(HMDS)含有ガス雰囲気にするシリコン含有ガス雰囲気工程と、前記処理室を第二ガスであるパージガス雰囲気にする第一パージガス雰囲気工程と、前記処理室を第三ガスである酸素ガスであってプラズマ状態の酸素含有ガス雰囲気にする酸素含有ガス雰囲気工程と、前記処理室を第二ガスであるパージガス雰囲気にする第二パージガス雰囲気工程と、前記シリコン含有ガス雰囲気工程、前記第一パージガス雰囲気工程、前記酸素含有ガス雰囲気工程、及び前記第二パージガス雰囲気工程を繰り返す工程と、を有する半導体装置の製造方法、及びそれを実現する基板処理装置である。 (もっと読む)


【課題】再現性良く良好な膜質を得ることができる基板処理装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置は、加熱部を備えた基板載置部と、前記基板載置部を支持し、前記基板載置部と共に回転可能な回転軸部と、前記加熱部に電力を供給する供給線と、前記供給線の一端に接続され、充電器を内蔵する温度制御部と、前記温度制御部に電力を供給する電力供給部とを有し、前記加熱部を所望の温度まで上昇させる際には、前記温度制御部と前記電力供給部を接続し、前記温度制御部を経由して前記電力供給部から前記加熱部へ電力を供給し、前記所望の温度に到達した後、前記温度制御部と前記電力供給部を切り離し、前記充電器から前記加熱部へ電力を供給するよう制御する制御部を有する。 (もっと読む)


【課題】イトロ処理などの燃焼化学気相蒸着で表面改質が行われる被加飾体への異物の付着を防止し、歩留まりを向上させた加飾品の製造装置を提供する。
【解決手段】被加飾体である蓋部材103をワークとして、移動テーブル30がワークをスライダーに沿って移動させる。バーナー21は、移動テーブル30の上方に取り付けられており、下方を移動するワークに向かって、改質剤化合物の入っている火炎をあてる。吸気部40は、移動テーブル30の下方に中空の台座32の開口部32aを有しており、バーナー21及び移動テーブル30の下方に向かってブロアー41により行う。 (もっと読む)


【課題】被処理体に付着する異物粒子数を低減させた半導体製造装置を提供する。
【解決手段】本発明では、被処理体を処理するための処理室と、該処理室にガスを供給するガス供給手段と、被処理体を戴置するための戴置電極と、前記処理室を減圧するターボ分子ポンプと、前記処理室の圧力を調整するために前記ターボ分子ポンプと前記処理室の間に設置されたバタフライバルブとを有する半導体製造装置において、前記バタフライバルブのフラッパーに異物粒子落下防止用のストッパーを設置した。 (もっと読む)


【課題】基材に、プラズマCVDによって連続的に成膜を行う成膜装置において、成膜領域の入り口側および出口側のプラズマ端部の強度を制御して、成膜領域の入り口および出口でのダメージを低減して、目的とする機能を発現できる好適な膜質の機能性膜を安定して形成することができる成膜装置を提供する。
【解決手段】基材の搬送方向において、電極対の上流側の端部および下流側の端部の少なくとも一方の電極間距離が、中央部の電極間距離よりも狭いことにより、前記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】基板上にZnOからなる透明導電膜を高効率で製造するZnO透明導電膜製造装置を提供する。
【解決手段】ZnO透明導電膜製造装置(100)は、真空状態に維持されたチャンバー(110)と、チャンバー(110)内を通過するように基板(50)を一方向(A)に搬送するとともに、任意の箇所において停止可能な基板搬送手段(120)と、チャンバー(100)内に配置されたシャワーヘッド(130)と、を備える。シャワーヘッド(130) は、第一の流路と、第一の流路の周囲に形成された第二の流路と、第一の流路及び前記第二の流路を加熱する加熱手段と、を備え、第一の流路及び第二の流路の一方からはDEZnの気体が、他方からは水蒸気が基板に対して噴霧される。 (もっと読む)


【課題】反応ガスが滞留する空間を低減した成膜装置および成膜方法を提供する。
【解決手段】成膜装置100は、反応ガス4が供給されて成膜処理が行われるチャンバ1と、チャンバ1の内部に設けられた中空筒状のライナ2と、ライナ2の上方に設けられて反応ガスが透過するシャワープレート15とを有する。シャワープレート15がライナ2の上部開口部52を塞ぐ位置から上方に移動することにより、チャンバ1の壁に設けられた基板搬出入口47を介してチャンバ1の外部とライナ2の内部とが連通する。また、成膜装置100は、ライナ2の内部に設けられ、成膜処理が行われる基板7を支持して鉛直方向に移動させる基板支持部50と、基板搬出入口47を通じて反応室に出入するロボットハンド48とを有する。基板支持部50とロボットハンド48との間で基板7の受け渡しが行われる。 (もっと読む)


【課題】基板上にZnO透明導電膜を高効率で製造するZnO透明導電膜製造装置を提供する。
【解決手段】ZnO透明導電膜製造装置(100)は、真空状態に維持されたチャンバー(110)と、チャンバー(110)内を通過するように基板(50)を一方向(A)に搬送するとともに、任意の箇所において停止可能な基板搬送手段(120)と、一方向(A)及びその逆方向(B)に移動可能であるようにチャンバー(100)内に配置されたノズル(130)と、を備え、ノズル(130)から基板(50)に対してDEZnの気体と水蒸気とが噴霧される。 (もっと読む)


【課題】フットスペースの小型化が図られるとともに、対象物を確実に位置決めすることができる位置決め装置を提供する。
【解決手段】位置決め装置は、位置決め対象物を支持する支持部と、位置決めすべき方向と略平行な方向に沿って延びる軸線を回転中心Oとして回動可能に構成されたアーム部12と、アーム部12を回動駆動するモータとを備える。モータは、アーム部12が対象物から退避した退避位置と、アーム部12が当該対象物の外周縁に接触することで当該対象物を位置決め方向に沿って押し出して位置決めを完了させる位置決め完了位置との間を行き来するように、アーム部12を回動駆動する。アーム部12は、アーム部12が退避位置から位置決め完了位置へ回動する際に、接触した対象物の外周縁がその表面に沿って摺動することで対象物を位置決め方向に沿って押し出すための傾斜面14bを含んでいる。 (もっと読む)


【課題】 処理ガスの使用効率が良く、かつ、被処理体の面積が巨大であっても、ALD法の適用も可能となるバッチ式処理装置を提供すること。
【解決手段】 メインチャンバ31aと、メインチャンバ31a内に、このメインチャンバの高さ方向に積み重ねて設けられた、被処理体Gを載置する複数のステージ101a〜101yと、ステージ101a〜101yごとに設けられ、ステージ101a〜101yに載置された被処理体Gをカバーする複数のカバー102a〜102yと、を備え、複数のステージ101a〜101yと複数のカバー102a〜102yとで、複数のステージ101a〜101yに載置された複数の被処理体Gの各々を取り囲むように、メインチャンバ31aよりも容量が小さい処理用小空間106を形成する。 (もっと読む)


【課題】縦型の熱処理炉内に混入するパーティクルを低減し、基板(ウエハ)へのパーティクル付着を抑えることができる技術を提供すること。
【解決手段】ウエハボート3を縦型の熱処理炉2内に、当該熱処理炉の下方側に形成された炉口20から搬入し、熱処理を行う装置において、前記ウエハボート3が前記熱処理炉2の下方側に位置しているときに、前記炉口20を塞ぐ蓋体61を設ける。この蓋体61は前記炉口20を塞ぐ位置と開く位置との間で移動自在に設けられており、蓋体61が前記炉口20を塞ぐ位置から外れているときに、当該蓋体61の上面のパーティクルをクリーニングノズル7により吸引して除去する。このため、次に蓋体61が炉口20を塞いだ時に、熱処理炉2内に持ち込まれるパーティクル量を低減できるので、ウエハへのパーティクル付着を抑えることができる。 (もっと読む)


【課題】基板上に成膜される膜の膜厚の均一性を向上する。
【解決手段】基板200を搬送経路に沿って搬送する搬送コンベアと、搬送経路中に位置する成膜室100と、搬送経路に沿ってトンネル状に位置し、成膜室100を通過する基板200を取り囲んで加熱する加熱炉120とを備える。成膜室100は、筐体150と、この筐体150内に成膜材料を微粒子化した成膜ガスを噴霧する噴霧機構と、筐体150の1つの側壁に位置して成膜ガスを排気するための排気口とを有する。筐体150は、成膜室100を通過する基板200と対向する開放部を加熱炉120内に有する。成膜ガスは、成膜室100において、噴霧機構から開放部を通過して排気口に向けて流動する。開放部は、対向して通過する基板200の搬送方向と直交する方向において、基板200の幅に対して1.15倍以上1.4倍以下の幅を有する。 (もっと読む)


【課題】第1の金属元素および第2の金属元素を含む金属酸化膜を形成する際に、金属酸化膜中の第1の金属元素及び第2の金属元素の組成比の制御性を向上させる。
【解決手段】基板を収容した処理室内に、第1の金属元素を含む第1原料と酸化剤とを供給することで、基板上に第1の金属元素を含む第1の金属酸化膜を形成する工程と、処理室内に、第1原料と第2の金属元素を含む第2原料とを混合した混合原料と酸化剤とを供給することで、基板上に第1の金属元素および第2の金属元素を含む第2の金属酸化膜を形成する工程と、を交互に繰り返すことで、基板上に、第1の金属酸化膜と第2の金属酸化膜とを交互に積層して、第1の金属元素および第2の金属元素を含む第3の金属酸化膜を形成する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】成膜対象の被成膜面に施される薄膜の均一性を向上して成膜精度を向上する。
【解決手段】真空状態に減圧可能な成膜室10にガス供給源から材料ガスが供給される真空チャンバ1と、高周波電源の給電側に接続可能な給電側電極棒および高周波電源の接地側に接続可能な接地側電極棒が対向配置されるとともに、両電極棒の基端が真空チャンバに固定され、両電極棒の先端が電気的に接続されてなり、高周波電源からの電力供給により成膜室内でプラズマを発生させるアレイアンテナユニット30と、基板Wの被成膜面を両電極棒に対向させて保持可能な基板保持部材63と、を備える。基板保持部材に保持された基板Wの被成膜面と電極棒との対向間隔は、両電極棒の先端よりも基端の方が大きくなる関係を維持している。 (もっと読む)


【課題】実用性の高い大気圧プラズマ処理システムを提供することを課題とする。
【解決手段】大気圧下でプラズマ処理を行うシステムにおいて、(a)一列に並んで配置された複数のチャンバー34と、(b)隣り合う2つのチャンバーを連通する1以上の連通路42,44と、(c)連通路を介しつつ、チャンバー内を通って基板54を搬送する搬送装置50と、(d)各チャンバー内で大気圧下においてプラズマを発生可能な複数のプラズマヘッド38と、(e)各連通路を遮るようにガスを吹出し、その吹出されたガスの流れによって隣り合うチャンバー間を仕切る1以上の仕切装置62,64とを備え、搬送装置によって搬送される被処理物に複数のチャンバー内で順次プラズマ処理を施すように構成する。このような構成により、複数のプラズマ処理に要する時間を短縮するとともに、吹出されるガスの流れによって、各チャンバーで使用される反応ガスの混合を抑制することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】短時間で確実に誘電体層と基板との吸着を解除する。
【解決手段】被処理基板13を吸着する誘電体層14aと、断熱プレート14bとが積層されてなる静電チャック14であって、断熱プレートの誘電体層側上面14fと側面14gとが帯電電荷逃避用導体膜14cで覆われてなる。真空処理装置10は、静電チャックが内部に設けられ気密性を有するチャンバ12と、電気的にフローティング状態とされて導体からなるステージ15と、を有し、ステージに静電チャックが載置されて、帯電電荷逃避用導体膜の下端がその全周でステージに接続され、
ステージの電気的容量を増大するために、ステージの面積および厚さが静電チャックより大きく設定されている。 (もっと読む)


【課題】高温処理においても、サセプタ変形を抑制することができる基板処理技術を提供する。
【解決手段】基板が載置された載置体と、前記載置体が複数支持された載置体支持具と、前記載置体支持具が収容される反応管と、前記反応管の外側に設けられ、前記反応管内に収容された基板を加熱する加熱部とを備え、前記載置体の、前記基板と接触する面と前記載置体支持具と接触する面が、同じ粗さに表面加工されるように基板処理装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】断熱材の断熱性能を向上させるとともに断熱材の厚みの増加を抑える。
【解決手段】熱処理炉2は被処理体Wを収容して熱処理するための処理容器3と、該処理容器3の周囲を覆う断熱材16と、断熱材16の内周面に設けられ被処理体Wを加熱するヒータ5とを備えている。断熱材16は通常の断熱材料からなる内側断熱材16aと、圧縮された微粉シリカ材からなる外側断熱材16bとを有し、外側断熱材16bの外面は飛散防止材16cにより覆われている。 (もっと読む)


【課題】ダミー処理を極力廃止することができる基板処理時間設定方法を提供する。
【解決手段】他の基板処理装置11におけるプラズマ処理の終了予想時刻に基づいて、次ロットの当該基板処理装置11への供給予想時刻が算出され、本ロットの全てのウエハのプラズマ処理の終了予想時刻が算出され、次ロットの供給予想時刻及び本ロットのプラズマ処理の終了予想時刻に基づいて、本ロットの全てのウエハのプラズマ処理の終了後に続く予想アイドル時間が算出され、予想アイドル時間がダミー処理必要アイドル時間以上である場合、本ロットの未処理の各ウエハのプラズマ処理の間に補助アイドル時間が追加されて設定される。 (もっと読む)


【課題】大気圧センサ41が誤動作した場合にも処理室204外の大気が処理室204内に逆流することを抑制することが可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板を処理する処理室と、前記処理室内の圧力を検出する圧力センサと、前記処理室内の圧力が前記処理室外の大気圧と同圧になると、大気圧検出信号を出力する大気圧センサと、前記処理室内を前記処理室外の大気と連通する大気排気管と、前記大気排気管に設けられた排気バルブと、前記大気圧センサが前記大気圧検出信号を出力し、かつ、前記圧力センサの検出値が所定値以上となった場合に、前記排気バルブを開けて前記処理室内を前記処理室外と連通させる制御部とから、基板処理装置を構成する。 (もっと読む)


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