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Fターム[4M118EA01]の内容

固体撮像素子 (108,909) | 製造方法 (5,441) | 特殊な製法の利用 (2,288)

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【課題】本発明は、白キズの出現が起きないようにすることを目的とするものである。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、下方側がX線入射面となったX線透過性基板17と、このX線透過性基板17の上面側に順次設けた薄膜状電極18、正孔注入阻止層19、光変換膜層20、電子注入阻止層21とを備え、前記X線透過性基板の上面には凹部32を有し、前記X線透過性基板17の凹部32の上方に対応する薄膜状電極18部分は、前記凹部32によって左右または前後に分離された構成とした。 (もっと読む)


【課題】画素部と電極との間のリーク電流を低減する。
【解決手段】固体撮像装置1は、第1及び第2の領域を有する半導体層13と、第1の領域に設けられた画素部と、第2の領域に設けられ、かつ半導体層13を貫通する複数の電極22と、第2の領域に設けられ、かつ半導体層13を貫通し、かつ画素部と複数の電極22とを電気的に分離するガードリング20とを含む。第2の領域の半導体層13の上面は、第1の領域の半導体層13の上面より低い。 (もっと読む)


【課題】本発明は、例えば、薄膜状電極、正孔注入阻止層などにキズや、ムラが発生した場合でも、それによる陰の出現が起きないようにすることを目的とするものである。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、下方側がX線入射面となったX線透過性基板17と、このX線透過性基板17の上面側の上方に順次設けた薄膜状電極18、正孔注入阻止層19、光変換膜層20、電子注入阻止層21とを備え、前記正孔注入阻止層19および薄膜状電極18を貫通し、前記X線透過性基板の上面に達する凹部32を形成。 (もっと読む)


【課題】光センシング装置及びその駆動方法を提供する。
【解決手段】光センシング画素内の光センサートランジスタとスイッチトランジスタとが、それぞれ同じ構造の酸化物半導体トランジスタで形成される光センシング装置、及び前記光センシング装置の動作信頼性を向上させることができる駆動方法が提供される。光センシング装置によれば、光センシング画素内の光センサートランジスタとスイッチトランジスタとは、一つの基板上で同じ構造に隣接して形成され、スイッチトランジスタへの光の入射を防止するために、スイッチトランジスタの光入射面には光遮蔽膜がさらに配される。また、光センシング装置の駆動方法によれば、経時的なスイッチトランジスタのしきい電圧シフトを防止するために、光遮蔽膜には負(−)のバイアス電圧が印加される。 (もっと読む)


【課題】1つの実施形態は、例えば、斜め入射光に対する隣接画素間の混色を抑えることができる固体撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】1つの実施形態によれば、光電変換部を備えた固体撮像装置が提供される。光電変換部は、半導体領域と、第2導電型の半導体膜とを有する。半導体領域は、半導体基板内に設けられている。半導体領域は、第2の導電型の第1の領域と、第1の導電型の第2の領域とを有する。第2の領域は、第1の領域上に設けられている。第1の導電型は、第2導電型と異なる。半導体膜は、半導体領域上に設けられている。半導体膜の材料の可視光に対する吸収係数は、半導体基板の材料の可視光に対する吸収係数より高い。半導体膜の厚さは、半導体領域の厚さよりも小である。 (もっと読む)


【課題】 例えば、変換素子の感度を向上させることができることを課題とする。
【解決手段】 放射線撮像装置は、絶縁性基板100上に、放射線を電荷に変換する変換素子101と変換素子101に接続されたスイッチング素子102とを含む画素がマトリクス状に配置された画素領域を有する。変換素子101は、上部電極層119と、下部電極層115と、上部電極層119と下部電極層115との間に配置された半導体層117とを有する。上部電極層119は、少なくとも半導体層117が配置された領域内に間隙200を有する。 (もっと読む)


【課題】分光感度のバラツキや色滲みのなく高感度・高解像性であるとともに、隣接する画素部への光の混入を防ぐことができる構成の固体撮像装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板101の内部には、複数のフォトダイオード102が内部に形成されている。配線層103は、絶縁膜105と配線104との積層構造を有し、半導体基板101の上に形成されている。複数のカラーフィルタ106は、配線層103の上方において、複数のフォトダイオード102の各々に対応して形成されている。カラーフィルタ106の上には、平坦化膜107とマイクロレンズ108が順に積層されている。固体撮像装置1では、カラーフィルタ106の各々において、平坦化膜107よりも屈折率が高いとともに、Z軸方向の上面が凹形状である。 (もっと読む)


【課題】 ビア形成時のエッチングによる基板や配線への影響を抑制しつつ積層された半導体ウェハの回路どうしを接続する。
【解決手段】 半導体装置の製造方法は、第1基板と第1基板の一面と接するように形成された第1絶縁層を有する第1の半導体ウェハと、第2基板と第2基板の一面と接するように形成された第2絶縁層を有する第2の半導体ウェハを接合する工程と、第1基板の他面に第3絶縁層を形成する工程と、第3絶縁層、第1基板、及び第1絶縁層を貫通し第2絶縁層に形成された第2の配線上に第2絶縁層が残るようにエッチングを行い第1接続孔を形成する工程と、第1接続孔に絶縁膜を形成する工程と、第2の配線上の第2絶縁層及び絶縁膜のエッチングを行い第2接続孔を形成し第2の配線を露出させる工程と、第1及び第2接続孔の内部に形成され第2の配線と接続する第1のビアを形成する工程とを備え、第1基板の他面に形成された第1接続孔の径は第3絶縁層に形成された前記第1接続孔の径より大きい。 (もっと読む)


【課題】屈折率が高い材料を埋め込んだ集光性が高い光導波路を備えた固体撮像装置を容易に実現できるようにする。
【解決手段】固体撮像装は、半導体基板101の上に形成された受光部111と、半導体基板の上に形成され、層間絶縁膜を含み、受光部と対応する位置に第1の凹部を有する絶縁膜積層体102と、第1の凹部に形成され、受光部に光を導く光導波路103とを備えている。光導波路は、絶縁膜積層体側から順次形成された第1の膜131及び第2の膜132を有している。第1の膜及び第2の膜の屈折率はそれぞれ層間絶縁膜の屈折率よりも高く、第1の膜は、第1の凹部の側面及び底面を覆い且つ第1の凹部と対応する位置に第2の凹部を有している。第2の膜は第2の凹部内を埋め込むように形成されており、第1の膜における第1の凹部の側面上に形成された部分の膜厚は、第1の凹部の上部において下部よりも薄い。 (もっと読む)


【課題】光導波路における開口寸法を配線レイアウトを変更することなく大きくすることにより、光導波路内に高屈折率膜を確実に埋め込むことができ、感度等が優れた光学特性を得られるようにする。
【解決手段】固体撮像装置の画素部Aは、半導体基板101に形成されたフォトダイオードPDと、該フォトダイオードPDの上側部分に凹部117を有する第1の絶縁膜150と、該第1の絶縁膜150の上に、凹部117を埋め込むように形成された第2の絶縁膜160とを有している。固体撮像装置の周辺回路部Bは、第1の絶縁膜150に形成された内部配線115と、該内部配線115の上に形成され、該内部配線115と電気的に接続されるパッド電極121とを有している。パッド電極121は、第2の絶縁膜160の上に形成されている。 (もっと読む)


【課題】 高性能な平面型の検出装置をマスク枚数の増加に伴うコストアップや歩留まりの低下をすることなく提供する。
【解決手段】 基板100上に成膜された第1導電膜から第1電極121及び制御電極131を形成する第1の工程と、第1の工程の後に絶縁膜と半導体膜とを順次に成膜する第2の工程と、前記第2の工程の後に不純物半導体膜と第2導電膜とを順次に成膜し第2導電膜から共通電極配線14と第1導電部材137とを形成する第3の工程と、第3の工程の後に成膜された透明導電性酸化物から第2電極125及び第2導電部材138とを、不純物半導体膜から不純物半導体層124及び不純物半導体層133とを、を同一のマスクを用いて形成する第4の工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置製造後も終点検出部が残存することがなく、また、半導体基板と異なる材料の半導体素子部への拡散等の問題もなく、精度よく半導体基板の薄膜化を実現することができる半導体装置の製造方法及びそれに用いられる半導体基板を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置の製造方法は、半導体基板1の表面1aに複数の凹部3を有するトレンチ構造5を形成する工程と、前記トレンチ構造5を形成した半導体基板1を不活性ガス雰囲気又は還元性ガス雰囲気にて熱処理を行うことで、前記複数の凹部3の表面部分を閉塞して前記表面部分に半導体層3aを形成すると共に、内部に空隙3bを形成する工程と、を少なくとも備える。 (もっと読む)


【課題】光電変換層に汚染物質を混入させず、分光感度特性がよく、かつ出力電流にばら
つきのない光電変換装置を得ることを課題とする。光電変換装置を有する半導体装置にお
いて、信頼性の高い半導体装置を得ることを課題とする。
【解決手段】絶縁表面上に、第1の電極と第2の電極と、前記第1の電極と第2の電極と
の間にカラーフィルタと、前記カラーフィルタを覆ってオーバーコート層と、前記オーバ
ーコート層上に、p型半導体膜、i型半導体膜及びn型半導体膜を有する光電変換層と、
前記光電変換層の端部の一方は、前記第1の電極と接しており、前記カラーフィルタの端
部は、前記光電変換層の端部の他方より内側にある半導体装置に関する。 (もっと読む)


【課題】 精密な計測が可能なフォトダイオードアレイモジュールを提供する。
【解決手段】 このフォトダイオードアレイモジュールは、第1波長帯域の光に感応する第1フォトダイオードアレイを有する第1半導体基板2と、第2波長帯域の光に感応する第2フォトダイオードアレイを有する第2半導体基板2’と、複数のアンプAMPが形成されると共に第1及び第2半導体基板2,2’が重なることなく横に並べ、各フォトダイオードをバンプを介してアンプAMPに接続した第3半導体基板3とを備えている。第1半導体基板2及び第2半導体基板2’の隣接する端部には、段差部が形成されており、これにより各画素を双方の基板に渡って連続して整列させた場合においても、低ノイズで計測ができるようになる。 (もっと読む)


【課題】シリコン界面からの暗電流の発生を防止するために、基板裏面側にp+層を形成する構造を採った場合に種々の問題が発生する。
【解決手段】シリコン基板31の裏面上に絶縁膜39を設け、さらにその上に透明電極40を設け、電圧源41から透明電極40を介して絶縁膜39にシリコン基板31のポテンシャルに対して負の電圧を印加することにより、基板裏面側シリコン界面に正孔を貯めて当該シリコン界面に正孔蓄積層が存在しているのと等価な構造を作り出す。 (もっと読む)


【課題】画素サイズが小さくなっても、上記電荷検出部の容量を更に低減することにより電荷電圧変換率を更に向上させて更なる高画質の画像信号を得る。
【解決手段】N型基板2の上部にP型ウエル3が設けられ、P型ウエル3内に埋め込みフォトダイオード6および電荷検出部7が設けられており、電荷検出部7の下方のP型ウエル3は完全に空乏化されている。このように、電荷検出部7とN型基板2に挟まれたP型ウエル3を空乏化することにより、電荷検出部7のジャンクション容量Cを大幅に下げることが可能となる。 (もっと読む)


【課題】 固体撮像装置において、カラーフィルタの剥離を抑制する。
【解決手段】 固体撮像装置100は、入射光を電気信号に変換する光電変換素子11を有する画素112と、画素112に対応して形成され、複数の色目フィルタ成分を有するカラーフィルタ15と、カラーフィルタ15を介して入射光を光電変換素子11に集光するマイクロレンズ16と、カラーフィルタ15の各色目フィルタ成分間に配置される遮光膜17と、カラーフィルタ15と遮光膜17との間に設けられ、非平坦化された密着性膜19と、を有する。 (もっと読む)


【課題】固体撮像装置の画質の向上を図る。
【解決手段】本実施形態の固体撮像装置は、半導体基板10の撮像領域21内に設けられ、少なくとも1つの光電変換素子30を含む単位セルと、半導体基板10の黒基準領域29内に設けられ、少なくとも1つの光電変換素子40を含む黒基準セルと、半導体基板10上の絶縁膜71を介して単位セルの上方に設けられるレンズ60と、絶縁膜71を介して黒基準セルの上方に設けられ、表面に凹凸部62を有する第1の遮光膜61と、を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】裏面照射型CMOSイメージセンサーのリーク電流を抑制可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態の半導体装置の製造方法は、半導体基板の上にエピタキシャル半導体層4をエピタキシャル成長させる工程と、前記エピタキシャル半導体層4に光電変換部を形成する工程と、前記光電変換部の形成後に、前記エピタキシャル半導体層4の上に配線層を形成する工程と、前記配線層の上に支持基盤23を接合する工程と、前記接合の後に、前記半導体基板を前記接合とは反対面側からエッチングする工程を含む。半導体装置の製造方法は、前記エッチングする工程の後に、前記エピタキシャル半導体層4の前記反対面側にアモルファスSi層26を形成する工程と、前記アモルファスSi層の上に、反射防止膜、カラーフィルタを順に形成する工程を含む。 (もっと読む)


【課題】クロストークを防止するために設けられた区画層を有する固体撮像素子において、高画質化のために受光部サイズが小型化された場合であっても、感度特性の劣化を抑制し、良好な画質の実現を図ることを目的とする。
【解決手段】半導体基板11と、半導体基板11内に行列状に配置され、光電変換する複数の受光部12と、半導体基板11の上側に配置され、受光部12それぞれの上方に対応する部位に開口を有し、前記開口と開口の間の部位により受光部12の上方を受光部12毎に区画する区画層20と、前記開口内部に配されたカラーフィルタ層24と、を備え、区画層20は、区画本体層21と、区画本体層21上に積層された密着層22および金属層23とで構成され、最上位に配された金属層23は、金属から成る。 (もっと読む)


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