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Fターム[5D112JJ10]の内容

磁気記録媒体の製造 (17,949) | 検査、試験、評価 (579) | 検査、試験、評価後の処理 (75)

Fターム[5D112JJ10]に分類される特許

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【課題】検査装置の検査エリア内に損傷ディスクが持ち込まれないようにすること。
【解決手段】検査対象であるディスク30は搬送カゴ31に収納して搬送される。センシング部11は、事前にディスクのキズや割れ欠けといった損傷の有無を検査する。光学式欠陥検査部10は、ディスク表面の微細な欠陥の有無を検査する。ディスク取出部17は、センシング部11の検査結果に応じて、損傷なしとされたディスクのみを搬送カゴから取り出して光学式欠陥検査部10に供給する。 (もっと読む)


【課題】複数の研磨工程を経て所望の端部形状を有することとなる磁気ディスク用ガラス基板を提供。
【解決手段】先行研磨工程では、ガラス基板1の主表面の端部形状が、主表面の中央部と比べて隆起した形状となるように研磨パッド10および酸化セリウム研磨砥粒40を用いて遊星歯車運動による研磨を行う。把握工程では、先行研磨工程で得られるガラス基板の端部形状を予め把握する。決定工程では、先行研磨工程にて隆起した形状を相殺する方向に変化させることで端部形状を所望の形状とし、かつ、ガラス基板の表面粗さを、算術平均粗さ(Ra)が0.2nm以下であり、最大山高さ(Rp)が2nm以下となるように後続研磨工程に用いる研磨パッドの硬度および研磨砥粒の粒径を決定する。後続研磨工程では、決定工程で決定された硬度の研磨パッド20および決定された粒径の研磨砥粒としてコロイダルシリカ砥粒50を用いて遊星歯車運動による研磨を行う。 (もっと読む)


【課題】検査効率に優れたガラス基板検査システムを提供すること。
【解決手段】カセット30からガラス基板20を取り出す取り出し装置40と、取り出し装置40によりカセット30から取り出されたガラス基板20を検査する検査装置50とを備え、カセット30がガラス基板20を収納可能な収納位置を複数有するガラス基板検査システム10であって、収納位置毎に収納位置からガラス基板20を取り出す動作を取り出し装置40に行わせる実行部81と、収納位置毎にガラス基板20の有無を判定する有無判定部82とを有し、実行部81は、有無判定部82によりガラス基板20が無いと判定された収納位置に対する取り出し動作を取り出し装置40に行わせない。 (もっと読む)


【課題】熱アシスト磁気記録方式による垂直磁気記録媒体に対して、光照射機能を有するような特別の磁気ヘッドを用いることなく、サーティファイ検査を実施する。
【解決手段】熱アシスト磁気記録方式に用いる磁気記録媒体の検査方法であって、磁気記録媒体に熱エネルギーを与えるステップと、磁気記録媒体における磁化の方向が一定となるように、磁気記録媒体の熱エネルギーが与えられた領域に磁界を印加するステップと、磁気記録媒体から再生信号を得るステップと、再生信号において、ピークが発生した部分に対応する磁気記録媒体の領域を欠陥と判別するステップとを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】検査条件がそれぞれ異なるグライド検査とサーティファイ検査を同時に行なえるようにする。
【解決手段】所定の回転数で回転中の磁気ディスクの記録面に沿って、サーティファイテスト用ヘッドと熱変形利用機構(マイクロ熱アクチュエータ)を備えたグライドテスト用ヘッドとを同時に移動させることによって、グライドテストとサーティファイテストを同時に行なう。グライドテスト用ヘッドは、磁気ディスクの回転数に応じて浮上高さが決定する。サーティファイテスト時の回転数に応じてグライドテスト用ヘッドの浮上高さが決定した場合に、グライドテスト用ヘッドに設けてある熱変形利用機構の変化量を調整してグライドテスト用ヘッドを所望の浮上高さとなるようにしている。これによって、グライド検査とサーティファイ検査を同時に行なうことができるようになる。 (もっと読む)


【課題】目視検査や光学検査で検出困難なキズを検出可能とし、良品の損傷を抑制可能なガラス板の品質試験方法、ガラス板の品質試験装置を提供すること。
【解決手段】ガラス板10に熱衝撃を与える処理工程を有するガラス板の品質試験方法であって、処理工程は、ガラス板10を加熱する加熱工程と、ガラス板10を冷却する冷却工程とを有し、処理工程において、ガラス板10の少なくとも一部の温度変化幅が200℃以上であって、加熱工程において、ガラス板10の加熱温度の上限がガラス板10の歪点−340℃であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】生産性の高いガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】溶融ガラスを板状ガラスに成形し、それを冷却する成形工程と、冷却された板状ガラスを切断してガラス素板とする第1切断工程と、ガラス素板を切断してガラス板とする第2切断工程と、ガラス板を所望の形状に加工する形状加工工程とを有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、第1切断工程と第2切断工程との間に、ガラス素板のたわみを測定する抜き取り検査工程を有する。抜き取り検査工程は、ガラス素板の対向する2辺を支持し一方の主表面とセンサ間の距離を測定した後、他方の主表面とセンサ間の距離を測定し、ガラス素板の自重によるたわみを相殺することでガラス素板のたわみを求める。 (もっと読む)


【課題】
ディスク上に発生したパターンの欠陥からスタンパに由来する欠陥を抽出して、欠陥発生の原因となっているスタンパを早期に特定して大量の不良の発生を未然に防止する。
【解決手段】
スタンパを用いてナノインプリントにより基板のレジスト膜に形成したパターンに照明光を照射し、照明光を照射した基板の領域からの反射光を分光して検出し、分光して検出した分光反射率波形データを予め記憶しておいた参照データと比較して基板上に形成したレジスト膜のパターンに異常が発生した領域を抽出し、この抽出した異常が発生した領域の情報を基板を検査する直前に検査した同じスタンパを用いてナノインプリントされた複数の基板の検査データと比較し、異常が発生した領域と同じ領域に直前に検査した複数の基板にも異常が検出されていた場合には、このスタンパが不良であると判定するようにした。 (もっと読む)


【課題】研磨液のコロイダルシリカの付着個数を定量的に評価する検査情報をフィードバックして、最適な洗剤等に切り換えることで、最終洗浄工程における高清浄化の要求を満たせるよう工夫した光学部品の製造方法を提供する。
【解決手段】表面に蛍光色素53を結合させた、シリカ系の砥粒であるコロイダルシリカ52を含む研磨液で光学部品50を精密研磨する精密研磨工程と、精密研磨された光学部品50に付着している異物を洗浄して除去する最終洗浄工程と、最終洗浄された光学部品50に付着しているコロイダルシリカ52の付着個数を定量的に評価する検査工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】磁性粒子が高度に分散された磁性層を有する磁気記録媒体を提供すること。
【解決手段】磁性粒子を該磁性粒子の等電点より低いpHを有する水系溶媒中で液中粒径が35nm以下となる分散状態に分散処理すること、上記分散処理により得られた磁性液に所定の表面改質剤を添加し磁性粒子の表面改質処理を行うことにより上記磁性粒子のゼータ電位を0〜25mVの範囲に調整すること、ならびに上記調整後の磁性粒子を有機溶媒および結合剤とともに分散処理して磁性塗料を作製し、作製した磁性塗料を用いて磁性層を形成すること、を含む磁気記録媒体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】磁気記録再生装置の信頼性を著しく高める磁気記録再生装置の制御方法、その制御方法を採用した信頼性の高い磁気記録再生装置、磁気記録媒体のサーティファイ検査に好適に使用される検査方法を提供する。
【解決手段】磁気記録再生トラックに高周波信号書き込みを行い、その後DCイレーズまたはACイレーズした後のエキストラ・パルス再生信号の検出によって、または、当該磁気記録再生トラックにおける高周波信号書き込み後のミッシング・パルスとスパイク・パルスの併発再生信号によって、特定の磁気記録再生トラックでの情報の読み書きを回避する磁気ヘッドの移動制御方法を採用する。 (もっと読む)


【課題】磁気ディスク表面のカーボン保護膜や潤滑剤の性質を簡便に評価することができる評価方法、とりわけ磁気ディスク表面とヘッドとの相互作用に対する厳しい要求に対応できるような磁気ディスク表面の性質を正確に評価することが可能な磁気ディスクの評価方法を提供する。
【解決手段】熱膨張によって突出するヘッド素子部を備えた磁気ヘッドの前記素子部を突き出した状態で、回転する磁気ディスク表面上の所定の半径位置に接触させた後、さらに前記素子部を規定量突き出した状態でヘッドをシークさせることにより、磁気ディスクの表面に形成されたカーボン膜又は潤滑剤の性質を評価する。 (もっと読む)


【課題】HDD装置の製造工程において製造効率を向上させることができると共に、磁気ディスクの製造工程において歩留まりを向上させることができる磁気ディスクおよび磁気ディスクの製造方法を提供すること。
【解決手段】ディスク表面の凹凸欠陥を検査するグライド検査で得られた凹凸欠陥の欠陥アドレス、および磁気的欠陥を検査するサーティファイ検査で得られた磁気的欠陥の欠陥アドレスの少なくとも一方を含む品質データを特定領域に記録することで、HDD装置の製造工程において、磁気ディスクの製造工程で製造された磁気ディスクからグライド検査やサーティファイ検査で得られた欠陥アドレスを含む品質データを読み出して利用可能な構成とした。 (もっと読む)


【課題】被検査対象であるパターンドメディアからなる磁気記録媒体の微細なパターンの形状欠陥を高速で検査できるようにする。
【解決手段】パターンドメディアの欠陥検査方法において、検出された分光波形データをデータベースに記憶しておいたパターン形状が既知の標準試料の分光反射率波形データと比較して、欠陥を検出し、この検出した欠陥の分光波形データと標準試料の分光反射率波形データとの検出波長ごとの差異に基づいて欠陥の種類を判定するようにした。 (もっと読む)


【課題】
DC消去のイレーズヘッドを交換することなく、逆極性でも磁気ディスクの書込信号をDC消去することができ、それによる磁化によりDTM等に対しても“0”あるいは“1”のサーボ情報を選択的に設定することが容易にできる磁気ディスクの信号イレーズ装置を提供することにある。
【解決手段】
この発明は、第3および第6のヨークブロックを第1および第2の磁気ヘッドブロックの外側からそれぞれ第2および第5のヨークブロックあるいは第1および第4のヨークブロックのいずれかに装着することで、装着されたヨークブロックの端面に着磁される磁極を分散させて磁気ディスクを磁化を阻止し、第3および第6のヨークブロックが装着されていないヨークブロックの端面は強い磁極のままとして磁気ディスクを磁化する。これにより、イレーズヘッドを交換することなく、相互に反対方向の磁化磁極が選択できる。 (もっと読む)


【課題】光学的な検査により検出した欠陥の位置情報を用いてリード・ライトテストのサンプリング位置を決定することにより、光学的な検査により検出した欠陥の近傍領域だけをリード・ライトテストするようにして、リード・ライトテストを効率よく行えるようにする。
【解決手段】検査対象の磁気ディスクをスピンドルで保持した状態で光学式の検査装置とリード・ライトテスト装置との間を移動させる構成とし、光学式の検査装置で検出した欠陥の位置情報をリード・ライトテスト装置で用いることができるようにして、光学式の検査装置で検出した欠陥の近傍領域だけをリード・ライトテスト装置で検査することを可能にした。 (もっと読む)


【課題】熱アシスト記録における記録時の磁気記録媒体の表面温度を高い精度で測定し、以って記録時に適切に加熱することが可能な熱アシスト磁気記録媒体とその温度上昇特性の測定方法および加熱方法を提供する。
【解決手段】記録時にスポット加熱される磁気記録層3を備える熱アシスト磁気記録媒体10において、加熱パワーに対応する不可逆な膜質変化を起こす温度検知層4が前記磁気記録層3上に設けられている。 (もっと読む)


【課題】 HDDとしたときに、磁気ディスクに記録されているTrack情報を含むサーボ情報を安定に読み出すことを実現できる磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明のガラス基板の製造方法は、ドーナツ状のガラス基板の内周端面および/または外周端面を加工する端面加工工程と、前記ガラス基板の内周端面および/または外周端面における厚さ方向の対称性を評価する評価工程と、前記評価工程に基づき、良品・不良品を判断する判断工程とを含み、前記判断工程により良品と判断されたものを磁気記録媒体用ガラス基板とする (もっと読む)


【課題】近年の急速な高記録密度化に伴う磁気ヘッドの低浮上量のもとで、また用途の多様化に伴う非常に厳しい環境耐性のもとで、良好な信頼性特性を有する磁気ディスクを提供する。
【解決手段】基板上に少なくとも磁性層と保護層が設けられた磁気ディスクであって、カーボン60(C60)をエッチング用のガスとして用いたESCA(エスカ)にて測定される磁性層中のアルゴン(Ar)含有量が許容値となるように磁性層の成膜条件、具体的には成膜時のガス圧を設定し、この設定した成膜条件により磁性層を形成する。 (もっと読む)


【課題】サーティファイ試験後に交流消磁された垂直磁気記録媒体の消磁状態を簡易に検査する検査方法を提供すること。
【解決手段】記録媒体が直流消磁状態である場合、未記録領域は直流消磁状態で、AC結合前のリード素子からの出力は磁化方向により“+”または“−”の出力となっている。中心線S1もそれに伴い“+”または“−”のレベルである。一方、信号記録領域では、交流信号が書込まれているので信号中心線S2は0であり、S1、S2を図示すると図3(a)のようになる。これがAC結合によりDC成分がカットされると、S1は0レベルとなる。S1とS2の境界を考えると、変動はS1からマイナス側へ1変動するので、DCのカットされたS1の0レベルからS2は−1となる。その後、AC結合の時定数に従い−1から0レベルへ変動する(図3(b))。このように、もとの消磁状態が直流消磁状態であるときS1とS2は境界領域でズレが生じる。 (もっと読む)


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