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Al合金 (426)

Fターム[5F033JJ08]に分類される特許

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【課題】貫通孔内に形成された導電層に加わる応力を抑制できるとともに、導電層からの効果的な放熱も促すことができる貫通配線基板、及びこの貫通配線基板の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板11(基板)の一方の面11aに配された電極層12と、電極層12の少なくとも一部が露呈するように半導体基板11内に開けられた貫通孔20と、貫通孔20の内側面20aを覆い、電極層12の少なくとも一部が露呈するように配された第一絶縁層15と、第一絶縁層15を介して、貫通孔20の内側面20a及び電極層12の露呈部を覆うように配され、電極層12と電気的に接続された導電層5と、導電層5を覆うように配された第二絶縁層16と、を少なくとも備えてなる貫通配線基板10であって、第二絶縁層16は、導電層5の表面形状に沿って形成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】端子部のコンタクトホールのテーパー形状を高い精度で制御する。
【解決手段】酸化物半導体層7a、ソース配線13as、ドレイン電極13adを備えた薄膜トランジスタと、第1接続部3c、第2接続部13cおよび第2接続部上に形成された第3接続部19cを備えた端子部とからなる薄膜トランジスタである。第2接続部は、第1および第2絶縁膜5,9に設けられた第1開口部内で第1接続部と接し、第3接続部19cは、保護膜に設けられた第2開口部内で第2接続部と接する。第1開口部は、第1絶縁膜5および第2絶縁膜9を同時にエッチングすることによって形成、第2開口部は、保護膜15を前記第1および第2絶縁膜とは別個にエッチングすることによって形成される。第2接続部13cは、第1開口部における第1および第2絶縁膜の端面を覆い、かつ、第2開口部における保護膜15の端面を覆っていない。 (もっと読む)


【課題】層間絶縁膜のエッチングの際に半導体層がエッチングされることによるコンタク
ト抵抗の増大を防ぎ、書き込み特性及び電荷保持特性に優れた不揮発性半導体記憶装置及
びその作製方法を提供する。
【解決手段】ソース領域又はドレイン領域とソース配線又はドレイン配線との間に導電層
を設ける。また、該導電層は、制御ゲート電極を形成する導電層と同じ導電層からなる。
また、該導電層を覆うように絶縁膜が設けられており、該絶縁膜は該導電層の一部が露出
するコンタクトホールを有する。また、該ソース配線又はドレイン配線は、該コンタクト
ホールを埋めるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】露光光源として真空紫外光を用いるホトリソ技術のパターン解像限界より微細な拡散抵抗を製造することはできないから、高抵抗の拡散抵抗は実現できなかった。
【解決手段】一組の薄膜構造体の対向する間隔に、サイドウォール形成用の絶縁膜を形成する際に生じる空隙を利用して露光光源として真空紫外光を用いるホトリソ技術のパターン解像限界より微細な拡散抵抗を形成する。薄膜構造体を配線抵抗として利用すれば、これらを接続して設けることにより温度特性に優れる抵抗素子を構成することもできる。 (もっと読む)


【課題】高品質な配線を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の領域100及び第2の領域200に設けられた第1の絶縁層10と、第1の領域に設けられた第1の絶縁層上に形成された第2の絶縁層11aと、第2の領域200に設けられた第1の絶縁層上に形成され、第2の絶縁層と略同一の高さを有する第3の絶縁層11cと、第1の領域に設けられた第1の絶縁層上及び第2の絶縁層の両方の側壁に形成された第1の配線層13aと、第2の領域に設けられた第1の絶縁層上、及び第3の絶縁層の上面及び側壁上に形成された第2の配線層13bと、第1の絶縁層、第2の絶縁層、第1の配線層、及び第2の配線層を覆う第4の絶縁層15と、第1の領域に設けられた第4の絶縁層内に形成され、第1の配線層に接続された第1のコンタクトプラグ17aと、第2の領域に設けられた第4の絶縁層内に形成され、第2の配線層に接続された第2のコンタクトプラグ17bと、を備える。 (もっと読む)


【課題】本願発明者らが、プラズマ処理等による半導体ウエハのチャージアップの影響を検討したところによると、半導体ウエハ等にドライエッチング等を施すと、通常、その結果として、半導体ウエハは、主に電気的に正側に偏った不均一な帯電状態となることが明らかとなった。これは、ドライエッチング等によって、正の可動イオン等がウエハの表面やその近傍に残存し、不均一に分布していることを示すものであり、個々の半導体チップとされた後も残存して、動作に悪影響を及ぼす恐れがある。
【解決手段】本願発明は、通常、ポリマー除去液等を使用する必要のないメタル膜加工工程に於いて、加工用レジスト膜の除去後、ポリマー除去液類似の導電性処理液との摩擦により、ウエハ全体を負に帯電させるものである。 (もっと読む)


【課題】パワー半導体素子において、周辺の電界強度を緩和する構造を小さな面積で実現する。
【解決手段】周辺領域Qにおいては、半導体層との間に周辺層間絶縁層(絶縁層)を介して複数の多結晶シリコン層70が、ソース電極30から端部ドレイン電極41の間にかけて設けられる。多結晶シリコン層70には、その長手方向が水平方向から傾斜した(傾斜角θ、0<θ<90°)傾斜部が設けられている。多結晶シリコン層70の傾斜部においては、p型領域71と、n型領域72とが長手方向に交互に多数形成されている。 (もっと読む)


【課題】超音波振動を利用したワイヤーボンディングの際に、p型オーミック電極がp型不純物拡散領域の面上から剥離することを防止する。
【解決手段】パッド電極7にボンディングワイヤー8を接合する際に、ボンディングツール100を用いて、ボンディングワイヤー8をパッド電極7に接触させた状態で、ボンディングワイヤー8に荷重を加えながら、p型オーミック電極5の長手方向に沿って超音波振動を印加する。 (もっと読む)


【課題】基板を貼り合わせて電極接合を行う半導体素子において、電極の腐食を防ぐ半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】第1接合部40と第2接合部60とが電極形成面を対向させて接合された半導体装置において、第1接合部40の絶縁層51と、絶縁層51の表面に形成された接合電極41と、絶縁層51表面に形成され、絶縁層51を介して接合電極41の周囲を囲む保護層44とを備える。さらに第2接合部60の絶縁層71と、絶縁層71の表面に形成された接合電極61と、絶縁層71表面に形成され、絶縁層71を介して接合電極61の周囲を囲む保護層64とを備える。 (もっと読む)


【課題】被蒸着膜を高精細なパターンで形成することが可能な蒸着用マスクを提供する。
【解決手段】蒸着用マスクは、1または複数の第1開口部を有する基板と、この基板の一主面側に設けられると共に、各第1開口部と対向して1または複数の第2開口部を有する高分子膜とを備える。蒸着の際には、蒸着材料が第1開口部および第2開口部を順に通過することにより、第2開口部に対応した所定のパターンで被蒸着膜が形成される。基板と高分子膜とを組み合わせて用いることにより、機械的強度を保持しつつも、金属膜のみで構成されている場合に比べ、第2開口部において微細かつ高精度な開口形状を実現できる。 (もっと読む)


【課題】高アスペクト比の溝内にカバレッジ性良く絶縁膜を埋め込むと表面にスリット状の空孔が形成され、CMPで平坦化すると、CMPで用いた組成物や、研磨された除去物、その他の残渣が空孔内に残り易く、この残渣は後の工程での発塵の一原因となり得る。
【解決手段】基板1の第1の主面に、俯瞰形状が環状となる第1の溝部2Tを形成し、第1の主面全面に第1の絶縁膜2aを形成し、第1の絶縁膜2aの表面から前記第1の溝部の内部まで達する深さの空孔を残しつつ、前記第1の絶縁膜を第1の溝部に埋め込み、空孔内を埋め込むように第1の絶縁膜上に第2の絶縁膜を形成し、第1の溝部内に第1の絶縁膜および第2の絶縁膜を残しつつ、基板表面高さまで化学機械研磨法により平坦化する。 (もっと読む)


【課題】トリミングヒューズの上の絶縁膜が、トリミングヒューズの機能を高めるために適正な状態を維持することが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】表面を有する絶縁膜III上のヒューズ配線F1と、ヒューズ配線F1上の層間絶縁層II1,II2,PIと、層間絶縁層II1,II2,PIの内部に位置する、ヒューズ配線F1と平面視において重ならない領域に形成された電極部PDとを備える。上記ヒューズ配線F1の真上のうち少なくとも一部の第1の領域において、層間絶縁層II1,II2,PIの厚みが、第1の領域以外の第2の領域における層間絶縁層II1,II2,PIの厚みより薄くなるようにトリミング開口部LTCが形成される。トリミング開口部LTCの内側において側壁および底面の少なくとも一部を覆うアルミニウム薄膜部SALを備える。アルミニウム薄膜部SALは、側壁の少なくとも一部から、底面より上側において上記表面に沿う方向に連なる。 (もっと読む)


【課題】半導体ダイ上に相互接続部又はボンドパッドなどのフィーチャ構造を電気めっきする方法を提供する。
【解決手段】方法は半導体基板の上方に複数のヒューズ(208)を形成する工程と、半導体基板の上方の複数の相互接続層(400〜408)と、該複数の相互接続層の上面の複数の相互接続パッド(502)とを形成する工程と、を含む。シールリング(202)が、半導体基板(302)と、前記複数の相互接続パッド(502)と、前記複数のヒューズ(208,320)とに形成された能動回路を包囲する。各ヒューズ(208,320)は、対応する相互接続パッド(502)とシールリング(202)とに電気的に接続される。各ヒューズ(208)が導通状態にあるとき、該ヒューズは対応する相互接続パッド(502)をシールリング(202)に電気的に接続する。 (もっと読む)


【課題】貫通電極の基板等との熱膨張率差に起因する変形を抑えるにあたり、製造プロセスの工程数を増加させることなく貫通電極の側面形状に起因するデバイス特性の劣化を抑止する、信頼性の高い電子デバイスを提供する。
【解決手段】基板1と、基板1の表面上方に形成された配線18と、基板1の裏面から基板1を貫通しており、基板1の深さ方向において、第1の開孔1Aaと、第1の開孔1Aaよりも開口総面積が小さい第2の開孔1Abとが接続された貫通孔1Aに形成されてなる貫通ビア30とを含み、貫通ビア30は、第1の開孔1Aaに形成された第1の電極部30aと、第2の開孔1Abに形成された第2の電極部30bとが、最外側面が一体形成される。 (もっと読む)


【課題】大電流を流す第1ビアおよび第1配線を有し、且つ、当該第1ビアおよび第1配線が形成された第1面が平坦な半導体装置を提供する。
【解決手段】第1基板100と、第1基板100の第1面側から、当該第1基板100を貫通する第1ビア420と、第1基板100の第1面に埋設され、少なくとも一つ以上の第1ビア420の一端と接続する第1配線440と、を備えている。また、第1ビア420は、当該第1ビア420の側面と当該第1ビア420の底面とのなす角θが、第1配線440の側面と第1配線440の底面とのなす角θより大きい傾斜部を有している。 (もっと読む)


【課題】良好な特性を維持しつつ微細化を達成した半導体装置の提供と、さらに、これらの微細化を達成した半導体装置の良好な特性を維持しつつ、3次元高集積化を図る。
【解決手段】絶縁層中に埋め込まれた配線と、絶縁層上の酸化物半導体層と、酸化物半導体層と電気的に接続するソース電極及びドレイン電極と、酸化物半導体層と重畳して設けられたゲート電極と、酸化物半導体層と、ゲート電極との間に設けられたゲート絶縁層と、を有し、絶縁層は、配線の上面の一部を露出するように形成され、配線は、その上面の一部が絶縁層の表面の一部より高い位置に存在し、且つ、絶縁層から露出した領域において、ソース電極またはドレイン電極と電気的に接続し、絶縁層表面の一部であって、酸化物半導体層と接する領域は、その二乗平均平方根粗さが1nm以下である半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】信頼性が高く、ソースとドレインの間にリーク電流が生じにくく、コンタクト抵抗が小さい半導体装置を提供する。
【解決手段】酸化物半導体膜により形成されるトランジスタの電極膜上に酸化物半導体膜に接して設けられた第1の絶縁膜、及び第2の絶縁膜を積層して形成し、第2の絶縁膜上にエッチングマスクを形成し、エッチングマスクの開口部と重畳する部分の第1の絶縁膜及び第2の絶縁膜をエッチングして電極膜を露出する開口部を形成し、第1の絶縁膜及び第2の絶縁膜の開口部をアルゴンプラズマに曝し、エッチングマスクを除去し、第1の絶縁膜及び第2の絶縁膜の開口部に導電膜を形成し、第1の絶縁膜は加熱により酸素の一部が脱離する絶縁膜であり、第2の絶縁膜は第1の絶縁膜よりもエッチングされにくく、第1の絶縁膜よりもガス透過性が低い。または逆スパッタリングを行ってもよい。 (もっと読む)


【課題】より小さな単位に切り離しも可能なマルチコア半導装置において、前記より小さな単位に切り離した場合に相互接続配線を伝って生じる可能性のある水の侵入を阻止する。
【解決手段】半導体装置は、素子領域を有する半導体基板と、前記素子領域に形成され、第1の開口部を有する内側シールリングと、前記素子領域に形成され、第2の開口部を有する外側シールリングと、前記半導体基板上に形成された、各々配線層を含む複数の層間絶縁膜を積層した積層体よりなる多層配線構造と、前記多層配線構造に含まれる第1の層間絶縁膜とその上の第2の層間絶縁膜の間に形成された耐湿膜と、前記耐湿膜の下側および上側のいずれか一方である第1の側を延在し、前記第1の開口部を通過する第1の部分と、前記耐湿膜の下側および上側の他方である第2の側を延在し、前記第2の開口部を通過する第2の部分と、前記第1の部分と前記第2の部分とを、前記耐湿膜を貫通して接続するビアプラグとを含む配線パターンと、を有する。 (もっと読む)


【課題】基体上に成膜特性(反射率、及び密着性)に優れた膜状のアルミニウム体を形成することができるアルミニウム体を備えた基体の製造方法を提供する。
【解決手段】基体をプラズマ処理するプラズマ処理工程と、プラズマ処理された基体上に、アミン化合物と水素化アルミニウムとの錯体及び有機溶媒を含有するアルミニウム体形成用組成物を塗布して、上記基体上に上記組成物からなる塗布層を形成させる塗布工程と、上記塗布層に加熱および光照射の少なくともいずれか一方を行うことにより、膜状のアルミニウム体を形成させるアルミニウム膜形成工程と、を含むアルミニウム体を備えた基体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】ボンディングパッド構造を有する裏面照射型センサーとその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は半導体構造を提供する。半導体構造は、正面と背面を有する装置基板;装置基板の正面上に設置される相互接続構造;および、相互接続構造に接続されるボンディングパッドを含む。ボンディングパッドは、誘電材料層中の凹部領域;凹部領域間に挿入される誘電材料層の誘電体メサ; および、凹部領域中と誘電体メサ上に設置される金属層を含む。 (もっと読む)


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