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Fターム[5F043DD13]の内容

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Fターム[5F043DD13]に分類される特許

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【課題】重合基板から剥離された被処理基板を適切に保持し、当該被処理基板の搬送又は処理を適切に行う。
【解決手段】剥離システムは、重合ウェハから剥離された被処理ウェハWを搬送又は処理する際に、当該被処理ウェハWを非接触状態で保持する保持部60を有している。保持部60の保持面61には、気体を噴出する複数の噴出口62と気体を吸引する複数の吸引口63とが形成されている。複数の噴出口62と複数の吸引口63は、保持部60に保持される被処理ウェハWに対応する位置全体に亘って形成されている。剥離システムにおいて、保持部60は、被処理ウェハWを搬送する搬送装置、被処理ウェハWの表裏面を反転する反転装置、重合ウェハを被処理ウェハWと支持ウェハに剥離する剥離装置、被処理ウェハWを洗浄する洗浄装置、被処理ウェハWを検査する検査装置に設けられている。 (もっと読む)


【課題】成長用基板に形成された窒化物半導体層を容易に剥離できる窒化物半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体発光素子の製造方法では、第1のサイズd1を有する第1基板31に窒化物半導体層11を形成する。窒化物半導体層11上に第1のサイズd1より小さい第2のサイズd2を有する第1接着層12aを形成し、第2基板32上に第2接着層12b形成する。第1および第2接着層12a、12bを重ね合わせ、第1および第2基板31、32を張り合わせる。第2のサイズd2より大きいまたは等しい第3のサイズd3を有する凹部31aを生じるように第1基板31を除去する。凹部31aに薬液を注入し、窒化物半導体層11が露出するまで第1基板31をエッチングする。薬液で、露出した窒化物半導体層11を更にエッチングし、窒化物半導体層11の露出面を粗面化する。 (もっと読む)


【課題】処理室内の付着物を洗浄可能な液処理装置および液処理装置の洗浄方法を提供すること。
【解決手段】ウエハWを液処理する液処理装置1において、ウエハWを水平に支持し回転可能なウエハ支持部材10と、ウエハ支持部材10の上方を覆いウエハ支持部材10と共にウエハWを液処理するための処理室Sを形成するカバー20と、カバー20の外周部23とウエハ支持部材10の外周部13との間を開放する開位置と、閉鎖する閉位置との間で、カバー20を昇降させる昇降機構132と、処理室S内に配置され、回転するウエハWに処理液を供給する液供給部材30(40)と、ウエハ支持部材10によりウエハWを支持していない状態で、カバー20の位置を閉位置に設定し、液供給部材30(40)により処理室S内に所定量の洗浄液を供給した後、カバー20の位置を開位置に変更する制御装置70とを有する。 (もっと読む)


【課題】金属汚染を抑制し、表面欠陥が低減された光電変換装置及びその作製方法を提供する。
【解決手段】単結晶シリコン基板の表面をアルカリ溶液に浸漬させてエッチングすることにより、微細な略四角錐状の複数の凸部、及び隣接する凸部間で構成される凹部からなる凹凸形状とし、凹凸が形成された単結晶シリコン基板を混酸液に浸漬させてエッチングすることにより、凸部の頂点を含み、凸部の一面及び該一面と対向する面を二等分する断面において、頂点は鈍角をなすように形成し、かつ、凹部の底が曲面をなすように形成する。 (もっと読む)


【課題】 結晶性の高い半導体層を有する複合基板の製造方法を提供する。
【解決手段】 絶縁性材料からなる基体10Xの上面10Xaの中央に半導体材料からなる半導体基板20Xを接合する接合工程と、基体10Xの周縁に、半導体基板20Xが接合されている上面に比べて算術平均粗さの大きい上面を有する周縁部を形成して、基体10Xを周縁部12および周縁部12の内側に位置して半導体基板20Xが接合されている主部11を有する支持基板10に加工する加工工程と、半導体基板20Xを上面からウェットエッチングして薄層化することによって半導体層20とする薄層化工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】貴金属粒子の残留を抑えながら、基板上に貴金属含有シリサイド膜を生産性良く形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、基板1上、又は基板1上の導電膜50上に、貴金属を含む金属膜を形成する工程(a)と、基板1に熱処理を加えて金属膜とシリコンとを反応させ、基板1上又は導電膜50上に貴金属を含む金属シリサイド膜11a、11bを形成する工程(b)と、工程(b)の後、金属膜のうち未反応の金属を第1の薬液を用いて溶解するとともに、金属シリサイド膜11a、11bの上面上に酸化膜12を形成する工程(c)と、工程(c)の後、第1の薬液と異なる第2の薬液を用いて基板1上及び導電膜上に残留する貴金属の表面に形成された第2の酸化膜14を除去する工程(d)と、工程(d)の後、第1及び第2の薬液と異なる第3の薬液を用いて残留する貴金属を溶解する工程(e)とを備えている。 (もっと読む)


【課題】基板処理に伴うパーティクルの再付着を抑制するとともに、基板処理の均一性を向上する。
【解決手段】処理槽内の液面レベルを、処理槽内に保持される基板よりも下の液面レベルに制御し、その処理液を、第1循環手段に備えられた第1吐出部から基板に向けて処理槽内で空中吐出する。そのため、基板は処理槽内に貯留された処理液と接触することがなく、基板処理に使用した後の処理液中に含まれるパーティクルが基板に再付着することを防止できる。 (もっと読む)


【課題】MEMSデバイス等の基材となる基板を研削し、形成されるデバイスに適した所望の厚さに基材を研削する工程において、研削によって薄板化された基材の処理面に生じる研削キズの平滑化と、研削クズの溶解および除去とをエッチングする際に、処理面以外の基材がエッチングによって溶解されない基材表面処理方法を提供する。
【解決手段】第1基材面と当該第1基材面に基材表面処理を行う処理面を有する基材を備え、第1基材面の少なくとも外縁に沿って保護膜を形成する保護膜形成工程と、第1基材面に形成した保護膜の内縁となる処理面を研削することで基材を薄板化する薄板化工程と、薄板化工程によって研削された処理面を、エッチングによって平滑化するエッチング工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】 基板の表面の検査結果に応じて基板を適正に処理することが可能な基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】 基板処理装置における搬入部11と、第1処理部12と、第2処理部13と、搬出部14とは、昇降用モータ20の駆動により、それらが水平面に対して平行に向く位置と水平面から傾斜した位置との間を、軸15を中心に一体となって揺動する。制御部がエッチングすべき膜の膜厚が均一であると判断した場合には、第1処理部12および第2処理部13を、搬入部11および搬出部14とともに、水平面に対して傾斜させる。制御部がエッチングすべき膜の膜厚が不均一であると判断した場合には、第1処理部12および第2処理部13を、搬入部11および搬出部14とともに、水平面と平行に向く位置に配置する。 (もっと読む)


【課題】ハウジングの天井面などに処理液や蒸気などが付着しない枚葉式の基板処理装置を提供する。
【解決手段】ハウジング1と、前記ハウジング1内に基板3を保持する保持手段2と、前記基板3の処理面3aに対して処理液を供給する供給手段8と、前記ハウジング1内に気体を取り込む取り込み口1aと、前記ハウジング1内の処理液の蒸気を当該ハウジング1から排出する排出口1cとを備え、前記保持手段2は前記処理面3aを前記ハウジング1の底部1bに向けて前記基板3を保持し、前記取り込み口1aから前記排出口1cへ向かう気流を形成し、前記気流によって処理液の蒸気を当該ハウジング1から排出することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】基板の周端面への処理液の回り込みを制御することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置は、基板Wを水平姿勢で保持して鉛直な回転軸線Cまわりに回転するスピンチャック1と、基板Wの上面に処理液を供給する処理液ノズル2,3と、リング部材10とを含む。リング部材10は、基板Wの周端面に回転半径外方から隙間を開けて対向する対向面を有し、この対向面に気体吐出口110を有している。スピンチャック1には、基板Wの周縁部下面に密接し、かつ気体吐出口110よりも下方においてリング部材10に密接する周縁シール部材21を有している。スピンチャック1は、センターチャック7と、回転ベース8とを有している。回転ベース8に形成された不活性ガス経路68空、気体吐出口110への不活性ガスが供給される。 (もっと読む)


【課題】基板の表面にダメージを与えることなく良好に液処理することができる2流体ノズルや同2流体ノズルを用いた基板液処理装置及び基板液処理方法並びに基板液処理プログラムを提供すること。
【解決手段】本発明では、第1の液体を吐出する第1の液体吐出口(45)と、気体を吐出する気体吐出口(47)とを有し、第1の液体吐出口(45)から吐出した第1の液体と気体吐出口(47)から吐出した気体とを外部で混合して被処理体(基板2)に向けて混合流体(52)を噴霧する2流体ノズル(34)において、被処理体(基板2)に噴霧された混合流体(52)の被処理体上での外縁部に第2の液体を供給するための第2の液体吐出口(53)を有することにした。 (もっと読む)


【課題】基板全体でのエッチングレートの面内均一性を向上させるエッチング装置を提供する。
【解決手段】エッチング装置は、基板の主表面を被覆する被覆層にエッチング液を供給して被覆層を加工する装置である。エッチング装置は、被覆層に相対的に少量のエッチング液を供給する第一給液部211と、第一給液部211よりも後段側に配置され、被覆層に相対的に多量のエッチング液を供給する第二給液部221とを備える。第一給液部211は、被覆層の表層部分を除去可能な量のエッチング液を被覆層に供給する。 (もっと読む)


【課題】シリコン酸化膜に対するシリコン窒化膜の高いエッチング選択比と、シリコン窒化膜の高いエッチングレートとを両立しうる技術を提供する。
【解決手段】エッチング方法は、シリコン窒化膜およびシリコン酸化膜が表面に露出した基板に、加熱されたHSOを供給して基板を加熱するプリヒート工程と、その後、前記基板に、加熱されたHSOと、HF、NHFおよびNHHFのうちの少なくともいずれか一つと、HOとの混合液体を供給するエッチング工程と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】カップに付着した汚れにより処理室内の基板が汚れてしまうことを防止することができる液処理装置および液処理方法を提供する。
【解決手段】液処理装置10は、基板Wを保持する基板保持部21および基板保持部21の周囲に配設されるカップ42が内部に設けられた処理室20と、基板保持部21に保持された基板Wに対して処理液を供給するためのノズル82aと、カップ42の上部に洗浄液を供給することにより当該カップ42の洗浄を行うカップ洗浄部49、49aと、を備えている。カップ42の上部には凹部42aが形成されており、カップ洗浄部49、49aは、カップ42の上部の凹部42aに洗浄液を供給するようになっている。 (もっと読む)


【課題】エッチング残渣を良好に除去することが可能なウエットエッチング方法及びウエットエッチング装置を提供する。
【解決手段】本発明のウエットエッチング方法は、基板A上に形成された少なくとも1層の膜をウエットエッチングする処理工程と、処理工程を終えた基板Aを水洗する水洗工程と、水洗工程を終えた基板Aを乾燥する乾燥工程とを含み、処理工程と水洗工程との間に、超音波を印加したエッチング液ELを基板Aに噴射する超音波液噴射工程を実施する。 (もっと読む)


【課題】確実な基板保持を実現しつつ、基板表面を効率的に液処理可能な液処理装置及び液処理方法を提供する。
【解決手段】開示される液処理装置は、基板を裏面から支持する基板支持部材と、前記基板支持部材を回転する回転機構と、前記基板支持部材に支持される前記基板に処理液を供給する処理液供給部と、前記基板支持部材に支持される前記基板に対して気体を噴出し、前記基板を前記基板支持部材に押圧する気体噴出部であって、前記基板支持部材を介して前記回転機構により回転される前記基板の回転方向における前記処理液供給部の上流側に配置される当該気体噴出部とを備える。 (もっと読む)


【課題】高精細なパターニングを可能としたエッチングマスク付基材及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基材の表面に感光材を塗布し、露光・現像せしめてレジストパターンを形成し、該基材及びレジストパターンの表面にDLC被覆膜を形成し、該レジストパターン上に形成されたDLC被覆膜を該レジストパターンごと剥離せしめ、基材の表面にDLCパターンを形成してなるようにした。 (もっと読む)


【課題】基板表面の洗浄均一性を向上できる流体供給部材、液処理装置、および液処理方法を提供する。
【解決手段】開示される流体供給部材は、第1の点から第2の点まで第1の方向に延在する本体部と、前記本体部に設けられ、前記第1の方向に交差する第2の方向に開口し、前記第1の方向に配列される複数の流体吐出部とを備える。前記複数の流体吐出部のうち、前記第1の点側の前記流体吐出部の開口角度は、前記第2の点側の前記流体吐出部の開口角度よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】選択エッチングの選択比を向上させることができる基板処理方法および基板処理装置を提供すること。
【解決手段】シリル化剤が基板Wに供給されることにより、基板Wがシリル化される。その後、エッチング剤が基板Wに供給されることにより、シリル化された基板Wがエッチングされる。 (もっと読む)


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