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【課題】LED素子は静電気で破壊しやすいため保護素子とともに回路基板に実装されることがある。また放熱性や生産性、実装面積効率を考えるとLED素子及び保護素子を回路基板にフリップチップ実装することが好ましい。ところが保護素子を回路基板上にフリップチップ実装すると、保護素子の周辺が暗くなってしまうので保護素子を省きたい。
【解決手段】回路基板12上にフリップチップ実装されるLED素子13は、カソードであるn側バンプ23とアノードであるp側バンプ24を備え、このn側バンプ23とp側バンプ24の間にバリスタ26が充填されている。この結果バリスタ26によりLED素子13の静電気対策がとられるため回路基板12に保護素子が不要になった。 (もっと読む)


【課題】電子部品を実装する際の冷却時間の短縮を図るための電子部品実装装置を提供する。
【解決手段】熱溶融する接合金属を介して電子部品31の電極と基板の電極とを接合し、電子部品31を基板の上に実装する電子部品実装装置において、基板と接離方向に駆動され、セラミックヒータ27hを内蔵するヒータベース27aと、ヒータベース27aの下面に密着して固定される上面28aと下面28b面に形成されて電子部品31を吸着保持する台座28cとを有し、ヒータベース27aのセラミックヒータ27hによって加熱され、台座28cに吸着した電子部品31を基板に熱圧着するボンディングツール28と、を備え、ボンディングツール28は、上面28aと台座28cの側面28dとを連通する冷却流路を有する。 (もっと読む)


【課題】反りの発生を抑制できる回路基板を提供すること。
【解決手段】導電体が貫通する第一絶縁層21と、第一絶縁層21の一方の側に設けられ、導電体に接続された第一回路層22と、この第一回路層22を被覆するとともに、第一回路層22の一部を露出させるための開口が形成された第二絶縁層23と、第二絶縁層23の開口内に設けられ、開口から露出する第一回路層22の一部と接触する金属層27とを備え、金属層27は、第一回路層22側から、厚さが0μm以上、55μm以下の銅を含む金属層(a)271、厚さが2μm以上、15μm以下のニッケルを含む金属層(b)272、厚さが3μm以上、30μm以下の錫を含む金属層(c)273がこの順に構成されている回路基板1である。 (もっと読む)


【課題】半田接続部に生じる熱応力の緩和効果を維持しつつ、半田接続部の耐疲労性を向上させることを可能にした半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態においては、配線基板2の接続パッド4上にSn合金からなる予備半田層10を形成する。半導体チップ2の電極パッド5上にSn合金からなる半田バンプ13を形成する。予備半田層10と半田バンプ13とを位置合せしつつ接触させた後、予備半田層10及び半田バンプ13の融点以上の温度に加熱して溶融させ、Ag及びCuを含むSn合金からなる半田接続部6を形成する。予備半田層10と半田バンプ13のうち、予備半田層10のみをAgを含むSn合金で形成する。 (もっと読む)


【課題】SnBi系はんだを用いてはんだ接合する際の接合信頼性を向上することができるはんだ接合方法とその接合方法を利用した半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】第1の導電部材11と第2の導電部材14を、Sn及びBiを含有するはんだを用いて接合する方法において、第1の導電部材11と第2の導電部材14の少なくとも一方を、Cu、Ni、Snからなる第1金属元素グループから選択される少なくとも1つの金属元素であるXと、Ag、Au、Mg、Rh、Zn、Sb、Co、Li、Alからなる第2金属元素グループから選択される少なくとも1つの金属元素であるYの合金で形成し、第1の導電部材11と第2の導電部材14を、前記はんだを介して位置合わせして加熱処理する。はんだ中のBiをX−Y合金中に拡散させることによりBi偏析を防止する。 (もっと読む)


【課題】半田バンプのオープン不良を防止することができる半導体装置の製造方法を得る。
【解決手段】配線基板上に配線を形成し、配線基板上をソルダレジストで覆い、配線を露出させるようにソルダレジストに開口を形成する。配線基板の配線と半導体チップの電極とを半田バンプを介して接続させることで、配線基板上に半導体チップをフリップチップ接続させる。半田バンプの半田の量を、ソルダレジストの開口の角と電極に内接する球の体積よりも小さくする。 (もっと読む)


【課題】ボール状はんだバンプを有するLSIなど半導体素子を、電極上に予備はんだを有するパッケージ基板に実装する場合、基板の反りなどに起因する、各予備はんだの高さのばらつきや相対的な位置のずれなどを吸収して両者を高信頼度で実装可能とする半導体素子実装用回路基板、およびその製造方法を提供する。
【解決手段】パッケージ基板1には、その先端部に対する金型5を用いた押圧加工などによって、先端面の周辺部に比し中心部が窪んだ凹部領域を有する柱状の予備はんだ(金型加圧した接続用はんだ構造物4)を形成し、これによって、はんだバンプをフリップチップボンディングしてLSIを実装する。予備はんだの先端部の外周部を中心部より高くすることで、水平方向および垂直方向における、はんだバンプと予備はんだ接触・接合の自由度が増加して、基板反りなどによる接続不良を抑制できる。 (もっと読む)


【課題】安価な方法で、低温かつ固相状態で金属同士を接合する方法を提供することを目的とする。
【解決手段】少なくとも一方に錫を含む金属部材同士の表面を、蟻酸またはクエン酸溶液中において煮沸あるいは蟻酸またはクエン酸蒸気に暴露するステップと、この煮沸又は暴露された金属部材の表面同士をつき合わせ、加熱及び加圧するステップと、を含む接合方法とする。 (もっと読む)


【課題】高密度実装では占有面積の低減と低背化がキーとなっている。半導体デバイスを積層化した構造は高密度実装に適しているが、強度確保のための樹脂インターポーザの厚さ、上下のデバイスを電気接続する導電ボールの大きさ、ワイヤボンディングのための空間確保などにより、低背化が制限されていた。このための半導体デバイスを低背化して実装可能とする技術を提供する。
【解決手段】樹脂よりもヤング率が大きい半導体インターポーザの採用、電気接続を複数の微小な金属塊13から成る導電路20で形成、フリップチップ構成の採用などにより、低背化が達成された。また、前記金属塊の形状、大きさ、配置などを最適化することにより、積層化プロセスが容易になった。 (もっと読む)


【課題】半導体パッケージにおいて長期接続信頼性を向上させ、エレクトロマイグレーション耐性を改善する。
【解決手段】半導体素子1の電極パッドと基板21上の電極パッド20とをはんだボールによって接続する。はんだボールは、金属製コア部11と、金属製コア部11の周囲に設けられ、前記コア部11よりも剛性が低く融点が低いはんだ部10とで構成されている。はんだボールを半導体素子1にリフローによって接続する。その後、半田ボールが付いた半導体素子1と基板21を超音波にて接続し、基板21側において、金属コア11と電極20を直接接続する。これによって熱ストレスの少ない、かつ、抵抗の小さい接続を可能とする。 (もっと読む)


【課題】 格子状に配置された突起電極を用いた実装において、実装プロセスを複雑化することなく、フラックスの揮発及び/又はパッケージ反り等に起因する突起電極の接続不良の発生を抑制する。
【解決手段】 半導体部品110の突起電極面110aを凹状に変形させて半導体部品110を吸着し、凹状に変形された突起電極面110aの突起電極113をフラックス又は半田ペースト171内に浸漬させて、突起電極113にフラックス又は半田ペースト172を転写する。その後、突起電極113を基板120上の電極パッド122に位置合わせして半導体部品110を基板120上にマウントし、吸着を解除した後、突起電極113と電極パッド122とを半田接合する。 (もっと読む)


【課題】樹脂成分中に金属材料を残存させることなく、電子部品と搭載基板とが有する端子同士間に選択的に金属材料を凝集させて、これら端子同士を電気的に接続することができる導電接続シート、かかる導電接続シートを用いた端子間の接続方法、接続端子の形成方法、および、信頼性の高い電子機器を提供すること。
【解決手段】本発明の導電接続シート1は、樹脂組成物層11、13と、金属層12とで構成され、半導体装置(電子部品)10と搭載基板5とを電気的に接続するために用いられるものであり、これらを電気的に接続する際に、半導体装置10と搭載基板5との間に配置されるべき第1の部分15と、この第1の部分15以外の第2の部分16とからなり、第1の部分15に対応する金属層12を構成する金属材料の量が、第2の部分16に対応する金属層12を構成する金属材料の量よりも多くなっている。 (もっと読む)


【課題】金属層に亀裂や皺が生じることなく、金属層と樹脂組成物層との間で優れた密着性が維持された導電接続シートを製造することができる導電接続シートの製造方法、かかる製造方法により製造された導電接続シートを用いた端子間の接続方法、接続端子の形成方法、信頼性の高い半導体装置、および、電子機器を提供すること。
【解決手段】本発明の導電接続シートの製造方法で製造される導電接続シート1は、樹脂組成物層11、13と、樹脂組成物層11、13同士の間でこれらに互いに接合する金属層12とを有するものであり、この導電接続シート1は、樹脂組成物層11と金属層12とを備えるシート51および樹脂組成物層13を備えるシート52をそれぞれ用意する工程と、金属層12の樹脂組成物層11と反対側の面と、樹脂組成物層13の一方の面とが対向するようにして、シート51とシート52とを圧着する工程とを経ることにより製造される。 (もっと読む)


【課題】電子機器の高機能化及び小型化の要求に伴う、電子材料における端子間の狭ピッチ化にも対応可能な端子間の接続方法およびそれを用いた半導体装置の製造方法、接続端子の形成方法等を提供する。
【解決手段】樹脂組成物120と、半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔110とから構成される積層構造を有する導電接続材料100を介して対向する端子11,21間を電気的に接続する方法において、導電接続材料100を対向する端子11,21間に配置する配置工程と、金属箔110の融点以上の温度で導電接続材料100を加熱するとともに超音波を印加する加熱印加工程と、樹脂組成物120を凝固または硬化させる凝固、硬化工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】半導体部品を回路基板に実装した後にアンダーフィル樹脂を充填する必要がなく、耐落下衝撃性を向上できる半導体部品の実装方法を提供する。
【解決手段】はんだ粒子及びフラックス成分を含有する熱硬化性樹脂組成物1を用いて半導体部品2と回路基板4とを接合する接合部6を設ける半導体部品2の実装方法に関する。熱硬化性樹脂組成物1を回路基板4の電極5ごとに塗布する。熱硬化性樹脂組成物1を被覆するように、フラックス成分を含有しない封止材9を塗布する。熱硬化性樹脂組成物1及び封止材9が共に未硬化状態のまま、半導体部品2の端子3と回路基板4の電極5とが対向するように半導体部品2と回路基板4とを重ねて加熱する。熱硬化性樹脂組成物1を硬化させて、はんだ粒子が溶融一体化したはんだ部7と、はんだ部7の周囲を被覆する樹脂硬化部8とで形成される接合部6を設ける。封止材9を硬化させて、接合部6の周囲を封止する。 (もっと読む)


【課題】電極本体と電子部品又は基板との接合面積の低下を抑制できる電極、電子部品及び基板の提供を課題とする。
【解決手段】本発明は、電子部品12にはんだ付けされて設けられ、電子部品12が基板13に実装される際に、基板12にはんだ付けされる電極10である。この電極10は、電子部品12及び基板12にはんだ付けされる柱状の電極本体11を有している。電極本体11が電子部品12又は基板13にはんだ付けされる際に、電極本体11の接合面11a,11bと電子部品12又は基板13との間におけるはんだ14内に発生する空気溜まり15内の空気15aを排出する空気排出手段としての溝20を備えている。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の歩留り向上を図る。
【解決手段】ステージ10上に吸着固定した配線基板2上に形成された複数のはんだバンプ5に対して、はんだバンプ5を溶融させた状態で、Au膜14aが形成されたガラス板14を上(D)方向から押し込んで、複数のはんだバンプ5とAu膜14aとを接触させてはんだ濡れ性を検査することで、はんだバンプ5の表面の酸化膜の破壊状況を高感度に細かく見ることができ、その結果、ロット判定によって良品の配線基板2を選別して半導体装置の組み立てに用いることができ、フリップチップ接続が行われて組み立てられる半導体装置の歩留り向上を図る。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、対向する接続端子間において良好な電気的接続と隣接端子間において高い絶縁信頼性を得ることを可能にする、樹脂成分を含有する樹脂組成物層と、金属層の積層構造を有する導電接続材料の製造方法、並びに該製造方法で作製された導電接続材料を用い端子間の接続方法、接続端子の形成方法を提供することにある。
【解決手段】上記課題は、樹脂成分を含有する樹脂組成物層の少なくとも一方の面に、真空スパッタリング法または真空蒸着法により金属層を形成することにより解決することができる。 (もっと読む)


【課題】半導体素子を配線回路基板にフリップチップ実装する場合であっても、半導体素子の薄厚化を図るとともに、配線回路基板及び半導体素子間を良好に樹脂封止できる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】バンプ22とその上に設けられたはんだボール24とからなる突起電極を有する半導体ウェハ20面上に、粘接着剤層2及び弾性率が450MPa以下であるプラスチックシート1をこの順に備える接着シートを、粘接着剤層2が突起電極を埋めるように貼り付ける工程と、半導体ウェハ20の突起電極が形成されている側とは反対側の面を研磨して薄厚化する工程と、薄厚化した半導体ウェハ20及び粘接着剤層2を切断して粘接着剤付き半導体素子を得る工程と、熱圧着して配線回路基板と半導体素子とがはんだボール24を介して電気的に接続され、配線回路基板と半導体素子との間が粘接着剤2により封止された構造の半導体装置を得る工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】硬化性樹脂組成物と、半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔とから構成される積層構造を有する導電接続材料を用いて支持体と被着体との接続を行う電子部品の製造方法において、樹脂層の硬化物中に空隙が発生し難い電子部品の製造方法を提供する。
【解決手段】支持体10の第一の端子と、被着体20の第二の端子とを、半田又は錫を用いて接合して該支持体と該被着体とを電気的に接続する電子部品の製造方法であって、接合される該第一の端子と該第二の端子との間に、硬化性樹脂組成物と半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔とから構成される積層構造を有する導電接続材料を配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ前記硬化性樹脂組成物の硬化が完了しない温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、加圧流体7により加圧しながら前記硬化性樹脂組成物を硬化させる加圧硬化工程とを順に行う。 (もっと読む)


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