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Fターム[5F058AD09]の内容

絶縁膜の形成 (41,121) | 有機積層絶縁膜の構造、材料 (1,322) | 少なくとも一層がその他の有機物層 (284)

Fターム[5F058AD09]に分類される特許

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【課題】無機膜との密着性に優れ、銅配線のヒロックを抑制できる絶縁膜、該絶縁膜を備える半導体装置及び該絶縁膜を提供できる膜形成用組成物を提供すること。
【解決手段】本発明の絶縁膜は、1分子内に、アダマンタン型のかご型構造を含む部分構造と、重合反応に寄与する重合性反応基とを有する重合性化合物および/または当該重合性化合物が部分的に重合した重合体を含む膜形成用組成物を用いて形成された絶縁膜であって、該絶縁膜とSiCN膜とを用いて測定される、m−ELT法による密着力が、0.15MPa・m(1/2)以上0.35MPa・m(1/2)以下であることを特徴とする。前記重合性反応基は、芳香環と、当該芳香環に直接結合するエチニル基またはビニル基とを有するものであり、前記重合性化合物において、前記芳香環由来の炭素の数は、当該重合性化合物全体の炭素の数に対して、15%以上、38%以下であるのが好ましい。 (もっと読む)


【課題】パーティクルを生じにくい膜形成用組成物入り容器を提供すること。
【解決手段】本発明の膜形成用組成物入り容器は、分子内に、アダマンタン型のかご型構造を含む部分構造と、重合反応に寄与する重合性反応基とを有する重合性化合物を含む液状の膜形成用組成物を容器に収納してなるものであって、前記容器の前記膜形成用組成物を収納する収納部の収納量をV[cm]、前記収納部の内表面積をS[cm]としたとき、S/V≦0.85の関係を満足することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】膜厚の均一性を向上させることができるプラズマ成膜装置及び方法を提供する。
【解決手段】原料ガスをプラズマ状態にし、プラズマ状態の原料ガス同士を反応させて、基板W上に成膜を行う際、基板にバイアスを印加するプラズマ成膜装置1において、基板Wにバイアスを印加する電極11の半径R2を、基板の半径R1より大きくした。 (もっと読む)


【課題】 合成樹脂基板及び電極の両方に対するレベリング性に優れ、平滑性及び絶縁性に優れた硬化膜が得られる紫外線硬化型インクジェット記録用インク、それから得られた絶縁膜、電子素子及び電子素子の製造方法を提供する。
【解決手段】 エネルギー線硬化性化合物、光重合開始剤、及び表面張力調整剤を含有し、硬化性を有さないポリマーを含まず、25℃における粘度が100mPa・sec以下、表面張力が22〜35mN/m、かつインク硬化膜の体積抵抗率1013Ω・cm以上であり、絶縁破壊強度1.2MV/cm以上である、絶縁膜を形成するためのソルベントフリー紫外線線硬化型インクジェット記録用インク、それを硬化してなる絶縁膜等を提供する。 (もっと読む)


【課題】低誘電率で、安定した絶縁性を示し、かつ、強度に優れ、膜厚や特性の不本意なばらつきが抑制された絶縁膜の形成に好適に用いることができる膜形成用組成物を提供すること。
【解決手段】本発明の膜形成用組成物は、分子内に、アダマンタン型のかご型構造を含む部分構造a1と、重合性の官能基とを有する重合性化合物および/または当該重合性化合物が部分的に重合した重合体を含むものであり、分子内に複数個の重合性反応基を備え、当該重合性反応基として少なくとも1個の重合性二重結合を備えた多価反応性オレフィン体を前記重合性化合物として含むとともに、前記多価反応性オレフィン体が有する前記重合性反応基の少なくとも一部が水素原子で置換された水素化体を含み、前記重合性化合物が重合していない状態とした場合における、前記多価反応性オレフィン体と前記水素化体の総モル数に対する、前記水素化体のモル分率が0.01〜10モル%である。 (もっと読む)


【課題】金属性不純物が少なくリーク電流の発生を十分に抑制できる絶縁被膜を有効に形成できるボラジン系樹脂組成物の製造方法を提供すること。
【解決手段】B,B’,B’’−トリアルキニルボラジン類とヒドロシラン類とを、固体触媒の存在下に重合させる第1の工程と、第1の工程を実施した後に、固体触媒を除去する第2の工程と、を備え、固体触媒が、白金アルミナ等であり、ヒドロシラン類が、下記式(2);


で表されるもの等である方法により、主鎖又は側鎖にボラジン骨格を有する重合体を製造し、重合体と、該重合体を溶解可能な溶剤とを含むボラジン系樹脂組成物を得る、ボラジン系樹脂組成物を製造する方法。 (もっと読む)


【課題】 層間絶縁膜内の水分などによるバリアメタルの腐食を防止し、銅配線の信頼性の低下及び抵抗値の上昇を抑制し得る半導体装置、及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 メチル基を含有する層間絶縁膜32内に配線溝37を形成する。配線溝37が形成された絶縁膜32に紫外線又は電子線を照射した後に、メチル基を有するガスを用いて絶縁膜の露出面を疎水化する。配線溝37の疎水化された内面に沿ってバリアメタル層41を形成し、該バリアメタル層41を介して配線溝37を銅配線43で充填する。一実施形態において、配線溝37はメタルハードマスク47を用いて絶縁膜32をエッチングすることにより形成され、絶縁膜32への紫外線又は電子線の照射は、メタルハードマスク47を残存させた状態で行われる。 (もっと読む)


【課題】半導体ウエハの裏面を研削する際に、スクライブ領域からの切削屑等の浸入を防止できるようにする。
【解決手段】半導体装置は、半導体ウエハ1に素子が形成された素子形成領域1Aと、半導体ウエハ1における素子形成領域1Aの周囲に形成されたスクライブ領域3とを有している。さらに、半導体装置は、素子形成領域1Aの上及びスクライブ領域3の上に形成され、素子形成領域1A及びスクライブ領域3を保護する保護膜2を有している。 (もっと読む)


【課題】低誘電率で、安定した絶縁性を示し、かつ、強度に優れ、膜厚や特性の不本意なばらつきが抑制された絶縁膜の形成に好適に用いることができる膜形成用組成物を提供すること。
【解決手段】本発明の膜形成用組成物は、分子内に、アダマンタン型のかご型構造を含む部分構造a1と、重合性の官能基とを有する重合性化合物および/または当該重合性化合物が部分的に重合した重合体を含むものであって、アセチレン結合を含むアセチレン系反応基を、分子内に複数個備えたオリゴアセチレン体を前記重合性化合物として含むとともに、前記オリゴアセチレン体が有する前記アセチレン系反応基の少なくとも一部が水素原子で置換された構造を有する水素化体を含み、前記重合性化合物が重合していない状態とした場合における、前記オリゴアセチレン体と前記水素化体の総モル数に対する、前記水素化体のモル分率が0.01〜10モル%であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】低誘電率層間絶縁膜と多層配線とを備える半導体装置において、低誘電率層間絶縁膜の表面が雰囲気に露出して吸湿するのを防止し、また、金属配線の界面及び低誘電率層間絶縁膜がコンタクトホール内に露出してオーバーエッチングされるのを防止することを目的とする。
【解決手段】水分の透過を防止しつつエッチングストッパとしても機能するエッチング防止膜14を低誘電率層間絶縁膜3の表面に形成し、更に、水分の透過を防止しつつエッチングストッパとしても機能するエッチング防止膜6を形成して、吸湿防止効果を有するエッチング防止膜を二重にする。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体薄膜の形成を湿式法だけで行い得る金属酸化物半導体薄膜の製造方法、3端子型電子デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】金属酸化物半導体薄膜の製造方法においては、金属酸化物半導体薄膜を構成する金属酸化物半導体にリガンド分子を吸着させる。また、(A)少なくとも、第1電極及び第2電極、並びに、(B)第1電極と第2電極16の間に設けられ、金属酸化物半導体から成る能動層20を備えた電子デバイスの製造方法は、能動層20を構成する金属酸化物半導体にリガンド分子を吸着させる工程を含む。 (もっと読む)


【課題】半導体装置等において、薄型で容量が大きく、かつ、少ないスルーホール発生率の誘電体膜を提供する。
【解決手段】第1の基体、第1の誘電体材料からなる第1の基体上の誘電体層であって、誘電体層が誘電体膜厚を有し、第1の基体との境界面から誘電体層の半対面まで通じるスルーホールに貫通される誘電体層、及び、スルーホールを少なくとも部分的に塞ぐ第2の誘電体材料からなる装置、並びに、そのような装置を作製する方法。 (もっと読む)


【課題】ハイブリッド誘電体を有する拡張型バック・エンド・オブ・ライン(BEOL)相互接続構造を提供すること。
【解決手段】ビア・レベルでの層間誘電体(ILD)は、ライン・レベルでのILDとは異なることが好ましい。好ましい実施形態では、ビア・レベルのILDを低k SiCOH材料で形成し、ライン・レベルのILDを低kポリマー熱硬化性材料で形成する。 (もっと読む)


【課題】有機電子装置用の溶液加工性パッシベーション層を提供する。
【解決手段】本発明は、有機電子(OE:organic electronic)装置用の溶液加工性パッシベーション層と、その様なパッシベーション層を含むOE装置、特に、有機電界効果トランジスタ(OFET:organic field effect transistor)とに関する。 (もっと読む)


【課題】絶縁性、低吸水性、溶剤溶解性、及び、薄膜形成性等の特性に優れ、高い信頼性を有する有機薄膜トランジスタ用絶縁膜、及び、該絶縁膜を用いた有機薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】フッ素含有シアノアリールエーテル重合体を含む絶縁膜を有機薄膜トランジスタのゲート絶縁膜として用いる。該フッ素含有シアノアリールエーテル重合体は、ベンゼン環でR基の位置を基準として1とすると、時計回りに2,6にフッ素、4にシアノ基、3,5に酸素を含むエーテル結合があり、これを単位とし、エーテル結合の部分で重合形成される重合体である。ここでRは置換基を有してもよく、アルキル基、アルコキシ基、アルキルアミノ基、アルキルチオ基、アリール基、アリールオキシ基、アリールアミノ基、アリールチオ基を表す。また、エーテル結合部分はOR’Oであり、R’は2価の有機基である。 (もっと読む)


【課題】自己組織化によるパターン形状を良好に且つより短時間で形成できるようにする。
【解決手段】まず、基板101の上に中性化膜102を形成する。続いて、中性化膜102の上に、親水性を有し且つ開口部103aを有するガイドパターン103を形成する。続いて、ガイドパターン103の少なくとも側面に対して、該ガイドパターン103の親水性を増長する表面処理である水素化処理を行う。その後、中性化膜102の上であって、表面処理を行ったガイドパターン103の開口部に、ブロックコポリマー膜105を形成する。続いて、ブロックコポリマー膜105をアニーリングすることにより、該ブロックコポリマー膜105を自己組織化する。その後、自己組織化されたブロックコポリマー膜105から自己組織化パターンの1つである第2のパターン105bを形成する。 (もっと読む)


【課題】実効誘電率を低減させて、高速かつ消費電力の低い半導体装置を実現する。
【解決手段】本発明の半導体装置は、基板と、基板上に形成された層間絶縁膜51、52と、層間絶縁膜51、52に埋め込まれたCu配線1と、Cu配線1上に形成された第二のバリア絶縁膜4と、を有する。第二のバリア絶縁膜4は、炭素二重結合、アモルファスカーボン構造及び窒素を含む有機シリカ膜である。 (もっと読む)


【課題】ビシクロ[2.2.1]ヘプタ−2,5−ジエンを安定化する方法を提供する。
【解決手段】安定化剤として、キノン類、およびニトロオキサイド類を添加した安定化されたビシクロ[2.2.1]ヘプタ−2,5−ジエン組成物、およびこれの使用。 (もっと読む)


【課題】有機半導体層を用いたトップゲート構造において、電流駆動能力の向上を確実に図ることが可能な薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】ソース電極13s−ドレイン電極13d間にわたって設けられた有機半導体層15と、これらの上部にゲート絶縁膜17を介して設けられたゲート電極19とを有するトップゲート型の薄膜トランジスタ1-1である。特に、ゲート絶縁膜17は、フッ素系溶媒に可溶な樹脂からなるフッ素樹脂層17a、無機材料からなる密着層17b、およびフッ素樹脂層17aを構成する樹脂よりも誘電率が高い樹脂材料からなる高誘電率樹脂層17cとをこの順に積層した3層構造である。 (もっと読む)


【課題】表面自由エネルギーを変化させる際に照射する紫外線による濡れ性変化層の絶縁性の低下を抑制することが可能な積層構造体並びに該積層構造体を有する電子素子、電子素子アレイ、画像表示媒体及び画像表示装置を提供する。
【解決手段】積層構造体10は、基板11上に、紫外線を照射することにより表面自由エネルギーが変化する材料を含む濡れ性変化層12の紫外線照射領域12aに導電体層13が形成されている積層構造を有し、紫外線を照射することにより表面自由エネルギーが変化する材料は、ポリアミド酸を脱水閉環反応させることにより得られる有機溶媒に可溶な特定ポリイミドである。 (もっと読む)


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