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【課題】ノーマリーオフのスイッチング素子を実現するトランジスタ構造およびその作製方法を提供する。トランジスタのオン特性を向上させて、半導体装置の高速応答、高速駆動を実現する構成およびその作製方法を提供する。信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体層、ソース電極層又はドレイン電極層、ゲート絶縁膜、及びゲート電極層が順に積層されたトランジスタにおいて、該半導体層としてインジウム、ガリウム、亜鉛、及び酸素の4元素を少なくとも含み、該4元素の組成比を原子百分率で表したとき、インジウムの割合が、ガリウムの割合及び亜鉛の割合の2倍以上である酸化物半導体層を用いる。 (もっと読む)


【課題】良好な特性を維持しつつ、微細化を達成した、酸化物半導体を用いた半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体層と、酸化物半導体層と接するソース電極及びドレイン電極と、酸化物半導体層と重なるゲート電極と、酸化物半導体層とゲート電極との間に設けられたゲート絶縁層と、酸化物半導体層に接して設けられた絶縁層と、を有し、酸化物半導体層は、該酸化物半導体層の端面において、ソース電極またはドレイン電極と接し、且つ該酸化物半導体層の上面において、絶縁層を介して、ソース電極またはドレイン電極と重なる半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】高い信頼性を有し且つ安価な不揮発性半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】この不揮発性半導体記憶装置において、メモリストリングスは、基板に対して垂直方向に延びる一対の柱状部、及び前記一対の柱状部の下部を連結させるように形成された連結部を有する半導体層と、前記柱状部の側面を取り囲むように形成された電荷蓄積層と、前記柱状部の側面及び前記電荷蓄積層を含む第1の絶縁膜と、前記柱状部の側面及び前記第1の絶縁膜を覆うように形成された第1導電層と、前記連結部の周囲に形成される第2の絶縁膜と、前記連結部に前記ゲート絶縁膜を介して形成される第2導電層とを備える。 (もっと読む)


【課題】短チャネル効果が抑制され、微細化を実現しつつ、安定した電気的特性を付与する半導体装置を提供する。また、上記半導体装置を作製する。
【解決手段】酸化物絶縁層に設けたトレンチに、トレンチに沿って成膜される酸化物半導体膜と、酸化物半導体膜と接するソース電極及びドレイン電極と、酸化物半導体膜上のゲート絶縁層と、ゲート絶縁層上のゲート電極と、を有する半導体装置(トランジスタ)を設ける。該トレンチは下端コーナ部に曲面を有し、側部が酸化物絶縁層上面に対して略垂直な側面を有する。また、トレンチの上端の幅がトレンチの側面の幅の1倍以上1.5倍以下である。 (もっと読む)


【課題】NANDフラッシュメモリ構造において、各セルについてのライン数を削減して、不揮発性メモリデバイスのピッチを改善すること。
【解決手段】分割ゲートNANDフラッシュメモリ構造が、第1伝導型の半導体基板上に形成される。このNAND構造は、第2伝導型の第1領域と、基板内にこの第1領域から間隔をおいて配置されてこの第1領域との間にチャネル領域を定める、第2伝導型の第2領域と、を備える。各々が上記チャネル領域から絶縁された複数の浮動ゲートが、互いに間隔をおいて配置される。各々が上記チャネル領域から絶縁された複数の制御ゲートが、互いに間隔をおいて配置される。該制御ゲートの各々は、1対の浮動ゲートの間にあって該1対の浮動ゲートに容量的に接続される。各々が上記チャネル領域から絶縁された複数の選択ゲートが、互いに間隔をおいて配置される。該選択ゲートの各々は、1対の浮動ゲートの間にある。 (もっと読む)


【課題】高速で動作し得る不揮発性半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】選択トランジスタとメモリセルトランジスタMTとを有するメモリセルMCがマトリクス状に配列されて成るメモリセルアレイ10と、ビット線BLの電位を制御する列デコーダ12と、第1のワード線WL1の電位を制御する電圧印加回路14と、第2のワード線WL2の電位を制御する第1の行デコーダ16と、ソース線SLの電位を制御する第2の行デコーダ18とを有し、列デコーダは電圧印加回路及び第2の行デコーダより耐圧の低い回路により構成されており、第1の行デコーダは電圧印加回路及び第2の行デコーダより耐圧の低い回路により構成されている。ビット線と第2のワード線とが高速で制御され得るため、メモリセルトランジスタに書き込まれた情報を高速で読み出すことができる。 (もっと読む)


【課題】従来の窒化膜側壁を電荷トラップ媒体に利用する場合の信頼性劣化を改善した不揮発性メモリ装置を提供する。
【解決手段】半導体基板21上のゲート絶縁膜22Aと、該ゲート絶縁膜上に順に積層して形成された第1電極膜23、第2電極膜24、及びハードマスク膜25を有するゲート100と、該ゲートの第1電極膜23及び第2電極膜24の両側壁に形成された一対の再酸化側壁スペーサ27と、該再酸化側壁スペーサ及びゲート100のハードマスク膜25の両側壁上に形成された一対の側壁スペーサ28Aと、一対の側壁スペーサ28A上に形成された、電荷を捕獲及び放出する一対の導電性側壁スペーサ29Bと、半導体基板21内に形成された一対のLDD領域26と、半導体基板21内に形成されたソース/ドレイン領域30とを備え、導電性側壁スペーサ29Bが、ゲート100及び側壁スペーサ28Aよりも低い高さを有する。 (もっと読む)


【課題】トランジスタのしきい値電圧のばらつきの影響を緩和し、複数の状態(例えば3以上の状態)の区別を正確、かつ容易にした半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】ソース線と、ビット線と、ワード線と、ビット線とワード線に接続されたメモリセルと、入力されたアドレス信号によって指定されたメモリセルを選択するように、複数の第2信号線及び複数のワード線を駆動する、第2信号線およびワード線の駆動回路と、書き込み電位を第1信号線に出力する、書き込み回路と、指定されたメモリセルに接続されたビット線から入力されるビット線の電位と、複数の読み出し電位とを比較する読み出し回路と、ビット線の電位と複数の読み出し電位の比較結果に基づいて複数の補正電圧のいずれかを選択する制御回路と、書き込み電位及び複数の読み出し電位を生成して、書き込み回路及び読み出し回路に供給する、電位生成回路と、を有する半導体装置。 (もっと読む)


【課題】製造コストの低減に対して有利な情報処理装置及び半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、ホスト装置と、前記ホスト装置にバスを介して接続された半導体記憶装置とを備える情報処理装置であって、前記ホスト装置は、メインメモリを備え、前記半導体記憶装置は、第1の論物変換テーブル及びデータを格納する不揮発性半導体メモリと、前記第1の論物変換テーブルの一部である第2の論物変換テーブルを格納する記憶部と、前記第2の論物変換テーブルを参照し前記不揮発性半導体メモリにアクセスする制御部とを備え、前記第1の論物変換テーブルの少なくとも一部が前記メインメモリ上にコピーされ、前記第2の論物変換テーブルに前記制御部がアクセスする論理アドレス又は物理アドレスが登録されていない場合、前記メインメモリ上の第3の論物変換テーブルの一部が前記第2の論物変換テーブルにコピーされる。 (もっと読む)


【課題】正確に書き込み動作を行うことができる不揮発性半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】
複数の素子分離絶縁膜は、半導体層中に形成され、第1方向を長手方向とする。複数の素子形成領域は、素子分離絶縁膜により分離して形成される。素子形成領域にはメモリストリングが形成される。複数の素子形成領域群が素子形成領域により構成される。メモリセルアレイは、第1方向と直交する第2方向において、前記素子形成領域群の間隔が前記素子形成領域群の中の前記素子形成領域の間隔より大きくされている。制御回路は、前記メモリセルアレイに対する書き込み動作を、前記素子形成領域群ごとに実行する。 (もっと読む)


【課題】高集積化に適した不揮発性半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】実施形態に係わる不揮発性半導体記憶装置は、第1乃至第3のフィン型積層構造Fin1〜Fin3を有する。第1乃至第3のフィン型積層構造Fin1〜Fin3は、第1の方向に積み重ねられる第1及び第2の半導体層Sm1,Sm2を備える。第1及び第2のアシストゲート電極AG1,AG2は、第3の方向に並んで配置され、第3のフィン型積層構造Fin3の第1の方向にある表面上で互いに分断される。第1のアシストゲートトランジスタAGT1は、第1及び第3のフィン型積層構造Fin1,Fin3内に形成され、第2のアシストゲートトランジスタAGT2は、第2及び第3のフィン型積層構造Fin2,Fin3内に形成される。 (もっと読む)


【課題】消費電力の増大を抑制し且つ微細化を達成した半導体装置および当該半導体装置の作製方法を提供する。また、安定した電気的特性が付与された、信頼性の高い半導体装置および当該半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】酸化物半導体膜に電界で加速されたイオンを照射して、当該酸化物半導体膜の表面の平均面粗さを低減することにより、トランジスタのリーク電流の増大および消費電力の増大を抑制することができる。さらに、加熱処理を行って、酸化物半導体膜が当該酸化物半導体膜表面に垂直なc軸を有する結晶を含むように形成することにより、酸化物半導体膜の可視光や紫外光の照射による電気的特性の変化を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】新たな構造の半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】直列に接続されたメモリセルと、メモリセルを選択して第2信号線及びワード線を駆動する駆動回路と、書き込み電位のいずれかを選択して第1信号線に出力する駆動回路と、ビット線の電位と参照電位とを比較する読み出し回路と、書き込み電位及び参照電位を生成して駆動回路および読み出し回路に供給する、電位生成回路と、を有し、メモリセルの一は、ビット線及びソース線に接続された第1のトランジスタと、第1、第2の信号線に接続された第2のトランジスタと、ワード線、ビット線及びソース線に接続された第3のトランジスタを有し、第2のトランジスタは酸化物半導体層を含み、第1のトランジスタのゲート電極と、第2のトランジスタのソース電極またはドレイン電極の一方が接続された、多値型の半導体装置。 (もっと読む)


【課題】良好な特性を維持しつつ微細化を達成した半導体装置の提供と、さらに、これらの微細化を達成した半導体装置の良好な特性を維持しつつ、3次元高集積化を図る。
【解決手段】絶縁層中に埋め込まれた配線と、絶縁層上の酸化物半導体層と、酸化物半導体層と電気的に接続するソース電極及びドレイン電極と、酸化物半導体層と重畳して設けられたゲート電極と、酸化物半導体層と、ゲート電極との間に設けられたゲート絶縁層と、を有し、絶縁層は、配線の上面の一部を露出するように形成され、配線は、その上面の一部が絶縁層の表面の一部より高い位置に存在し、且つ、絶縁層から露出した領域において、ソース電極またはドレイン電極と電気的に接続し、絶縁層表面の一部であって、酸化物半導体層と接する領域は、その二乗平均平方根粗さが1nm以下である半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】用途に合わせて要求される電気的特性を備えた酸化物半導体層を用いたトランジスタ、及び該トランジスタを有する半導体装置を提供する。
【解決手段】酸化物絶縁膜上に、半導体層、ソース電極層又はドレイン電極層、ゲート絶縁膜、及びゲート電極層が順に積層されたトランジスタにおいて、該半導体層としてバンドギャップの異なる少なくとも2層の酸化物半導体層を含む酸化物半導体積層を用いる。酸化物半導体積層には、酸素又は/及びドーパントを導入してもよい。 (もっと読む)


【課題】電源投入時における誤書き込みが発生しにくいメモリ回路を提供する。
【解決手段】メモリ回路10は、書き込み時のみにソース・ドレイン間に電圧を印加されて書き込まれる、書き込み用のPチャネル型不揮発性メモリ素子15と、コントロールゲート及びフローティングゲートがPチャネル型不揮発性メモリ素子15のコントロールゲート及びフローティングゲートとそれぞれ共通にされ、読み出し時のみにソース・ドレイン間に電圧を印加されて読み出される、読み出し用のNチャネル型不揮発性メモリ素子16と、を備える。 (もっと読む)


【課題】トランジスタの微細化を達成し、電界緩和がなされた、酸化物半導体を用いた半導体装置を提供することを課題の一とする。
【解決手段】ゲート電極の線幅を微細化し、ソース電極層とドレイン電極層の間隔を短縮する。ゲート電極をマスクとして自己整合的に希ガスを添加し、チャネル形成領域に接する低抵抗領域を酸化物半導体層に設けることができるため、ゲート電極の幅、即ちゲート配線の線幅を小さく加工しても位置精度よく低抵抗領域を設けることができ、トランジスタの微細化を実現できる。 (もっと読む)


【課題】本発明の一態様は、酸化物半導体を用いたデバイスにおいて高い移動度を達成し
、信頼性の高い表示装置を提供する。
【解決手段】表面と略垂直な方向にc軸が配向する結晶領域を有する酸化物半導体層を形
成し、酸化物半導体層上に接する酸化物絶縁層を形成し、第3の加熱処理を行うことによ
り、酸化物半導体層に酸素を供給し、酸化物絶縁層上に、水素を含む窒化物絶縁層を形成
し、第4の加熱処理を行うことにより、少なくとも酸化物半導体層と酸化物絶縁層の界面
に水素を供給する。 (もっと読む)


【課題】微細化に伴う短チャネル効果を抑制しつつ、トランジスタの電気特性のしきい値電圧(Vth)をプラスにすることができ、所謂ノーマリーオフを達成した半導体装置、及びその作製方法を提供する。また、ソース領域、及びドレイン領域と、チャネル形成領域との間のコンタクト抵抗を低くして良好なオーミックコンタクトがとれる半導体装置、及びその作製方法を提供する。
【解決手段】酸化物半導体層を有するトランジスタにおいて、少なくともチャネル形成領域となる、酸化物半導体層の一部をエッチングによって部分的に薄くし、そのエッチングによってチャネル形成領域の膜厚を調節する。また、酸化物半導体層の厚い領域に、リン(P)、またはホウ素(B)を含むドーパントを導入し、ソース領域、及びドレイン領域を酸化物半導体層中に形成することにより、ソース領域、及びドレイン領域と接続するチャネル形成領域とのコンタクト抵抗を低くする。 (もっと読む)


【課題】信頼でき、非常に小型の3次元集積回路メモリ用の構造を低い製造コストで提供する。
【解決手段】3次元アレイは第1の端部と第2の端部を含む2つの端部を有し、第1の端部と第2の端部の一方はビット線BLに接続され、第1の端部と第2の端部の他方はソース線CSLに接続される不揮発性メモリセルのNANDストリングのスタック1412、1413、1414と、ビット線BL及びソース線SLの一方をメモリセルのストリング1412、1413、1414に接続させるダイオード1492を有する。 (もっと読む)


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