光ディスク装置
【課題】反りが発生している光ディスクであっても、簡易かつ短時間のソフト処理でチルト補正を行うことが可能な光ディスク装置を提供する。
【解決手段】対物レンズを光ディスクの径方向に移動させながら全反射信号とトラッキングエラー信号を検出し、所定時間において、全反射信号の値が最大になる時刻とトラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出する。そしてこの時間差をトラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値を、チルト発生量として取得する。チルト発生量と、チルト発生量に応じたチルト補正量とを関連付けた関係情報を読み出し、読み出した関係情報とチルト発生量検出回路により検出された現在のチルト発生量とを比較してチルト補正に必要なチルト補正量を決定する。チルト補正量はチルト補正回路に通知され、チルト補正を行なう際に用いられる。
【解決手段】対物レンズを光ディスクの径方向に移動させながら全反射信号とトラッキングエラー信号を検出し、所定時間において、全反射信号の値が最大になる時刻とトラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出する。そしてこの時間差をトラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値を、チルト発生量として取得する。チルト発生量と、チルト発生量に応じたチルト補正量とを関連付けた関係情報を読み出し、読み出した関係情報とチルト発生量検出回路により検出された現在のチルト発生量とを比較してチルト補正に必要なチルト補正量を決定する。チルト補正量はチルト補正回路に通知され、チルト補正を行なう際に用いられる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録された情報を読み出すための光ディスク装置に関するものであり、特に光ディスクの反りによって発生するコマ収差の補正を可能とした光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、コンパクトディスク（以下、「ＣＤ」という）やデジタル多用途ディスク（以下、「ＤＶＤ」という）といった光ディスクが普及し、一般的に用いられるようになっている。そして光ディスクに記録された情報、例えば音声情報や映像情報を読み出して再生するための装置として、光ディスク装置が存在する。広く知られている光ディスク装置としては、例えばＣＤプレイヤー、ＤＶＤプレイヤー、或いはパソコンに接続されるＣＤ−ＲＯＭドライブ等があげられる。
【０００３】
光ディスク装置には、光ディスクに対して光ビームを照射して情報の読み取りを行うための光ピックアップ装置が備えられている。光ピックアップ装置はターンテーブル上に固定されて回転している光ディスクの情報記録面に対して光ビームを照射する。そして光ディスクからの反射光を光ピックアップ装置内に設けられた受光素子、例えばフォトダイオードによって受光する。そして受光素子により光を電気信号に変換し、得られた電気信号に基づいて光ディスクに記録されている情報を出力する。
【０００４】
光ディスクから正確に情報を読み取るためには、光ディスク上の情報読み取り位置において光ディスクの情報記録面と光ビームの合焦点とが一致するように、光ディスクの情報記録面と光ピックアップ内に設けられた対物レンズとの距離を所定の位置関係に保つ必要がある。これをなすために、光ピックアップ装置内には、対物レンズを情報記録面に対して垂直或いは水平な方向に駆動するためのアクチュエータが設けられている。更に対物レンズと情報記録面との距離を一定に保つべくアクチュエータを駆動するためのフォーカスサーボ機構が備えられている。
【０００５】
情報が記録されている光ディスクは、様々な要因により情報記録面に反りが生じることがある。またターンテーブル上に固定された際に、自重により外周付近が下方に垂れ下がり、ディスクの情報記録面を一平面内で回転させることができなくなる場合がある。これらの反り或いは垂れ下がりが僅かな場合は、光ビームの光軸と情報記録面とがほぼ垂直な関係を維持できる。このため、前述の光ピックアップ装置内に設けられたアクチュエータにより、対物レンズを情報記録面と垂直な方向に駆動させ情報の読み取りを行うことができる。
【０００６】
しかしながら情報記録面の反り或いは垂れ下がりが大きい、或いはディスクの回転軸が傾斜している場合には、光ビームの光軸と情報記録面とが互いに垂直な関係から大きくずれることがある。これにより本来読み取るべきディスク上の情報トラックを読み取れない不具合が発生する。このような不具合を解消するために、従来の光ディスク装置には、光ディスクの傾きを検出して光ビームの光軸と情報記録面とが互いに垂直な関係を維持するためのチルトサーボ機構（＝チルト補正手段）が設けられている。
【０００７】
チルトサーボ機構の一種として、例えばチルトセンサーを光ディスク装置に組み込み、チルトセンサーにより検知されたチルト発生量に基づいて、光ピックアップ、或いは対物レンズの傾きを調整するチルトサーボ機構が存在する。しかしこのようなセンサーを新規に光ディスク装置に組み込む場合、光ディスク装置の内部構造が複雑になりやすく、また製造コストが増加するという問題があった。
【０００８】
上記の問題に関連して特許文献１においては、電気的オフセットおよび光学的オフセットに強いチルト補正を行え、また、デトラック補正による影響を受けることなくチルト補正のみを単独で行うことができる傾き補正装置が開示されている。
【０００９】
特許文献１の傾き補正装置は、光スポットで反射された光を受光する光検知器と、光検知器の出力の差信号を求める手段と、求めた差信号の振幅を指標として、該指標が極値に近づくように前記情報媒体とヘッドとの間の相対的な傾きを制御する傾き制御手段とを備えている。
【００１０】
また上記問題に関して特許文献２では、光ディスクに特別な対応策を設けることなく、またドライブとしても特別な手段や部品を用いることなくチルト補正用の検出信号を検出することができ、ユーザの使用感覚も損なうことのない光記録・再生装置が開示されている。
【００１１】
特許文献２の光記録・再生装は、凹部又は溝部を有する第１領域と実質上平板状の第２領域とが設けられた媒体への集光手段を備えている。また、集光手段により形成された光スポットを用いて、媒体に対してフォーカスサーボ制御をかけた状態で、媒体からの反射光の検出レベルの内、前記第１領域における反射光の検出レベルと、前記第２領域での反射光の検出レベルとの差に基づいた値が実質上最大となる様に、前記チルト補正手段を動作させる。
【００１２】
また上記問題に関して特許文献３では、トラッキングエラー信号及びＲＦ信号の信号レベルが小さく、またトラッキングエラー信号及びＲＦ信号の振幅の最大と最小との差が小さい場合であっても、光ピックアップのチルト調整時の近似精度を向上させることができるチルト調整装置が開示されている。
【００１３】
特許文献３のチルト調整装置は、光ディスクの予め設定された半径方向の複数の位置で、光ピックアップのチルト量を変更し、トラッキングエラー信号の振幅が最大になるチルト量を検出する。この際、光ディスクが未記録ディスクである場合はトラッキングＯＦＦ状態で、光ディスクが記録済みディスクである場合はトラッキングＯＮ状態で光ピックアップのチルト量を変更する。なお、トラッキングエラー信号の振幅の最大と最小との差が小さい場合、トラッキングエラー信号の信号レベルを所定の信号レベルに増幅して、トラッキングエラー信号の振幅が最大になるチルト量を検出する。
【特許文献１】特開２０００−３１１３６９号公報
【特許文献２】特開２００２−０８３４３８号公報
【特許文献３】特開２００６−１９６１００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかしながら、特許文献１〜特許文献３に開示されている装置において行われるチルト調整処理は、比較的処理時間の長い検出処理（例えば、対物レンズの傾動量を変化させながらのトラッキングエラー信号の振幅検出処理等）を複数回繰り返し行い、その結果によって好適なチルト補正量を取得する必要があった。このため処理完了までの時間が長くなり、また処理内容も複雑になりやすいという問題があった。
【００１５】
以上の点を鑑みて、本発明の目的は、チルトセンサー等のチルトサーボ用装置を新規に追加することなく、また簡易かつ短時間の処理で好適なチルト補正量の取得を行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記目的を達成するために本発明の光ディスク装置は、光源により発生された光ビームを光ディスクの記録面に照射させ前記光ディスクからの反射光を受光する対物レンズと、前記対物レンズを光ディスクの径方向に移動させるとともに前記対物レンズの径方向傾斜角度を変化させるアクチュエータと、収差の補正を行う液晶素子と、光ディスクで反射された反射光を電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器により受光した全反射光を電気信号に変換した全反射信号、及び前記全反射信号に含まれるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うチルト補正回路とを備えた光ディスク装置であって、前記アクチュエータを用いて前記対物レンズを径方向へ移動させながら、前記光検出器により前記全反射信号および前記トラッキングエラー信号を検出し、予め定めた期間内において前記全反射信号の値が最大になる時刻と前記トラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、前記時間差を前記トラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値をチルト発生量として検出するチルト発生量検出回路と、前記チルト発生量と、前記チルト補正回路が前記チルト発生量を低減させるために用いるチルト補正量との関係を示した関係情報を記録する関係情報記録部と、前記関係情報記録部より前記関係情報を読み出し、前記関係情報と前記チルト発生量検出回路により検出されたチルト発生量とに基づいて前記チルト補正量を決定し、決定した前記チルト補正量を前記チルト補正回路に与える補正量指示回路とを備え、前記チルト補正回路が、前記チルト補正量に応じて、前記アクチュエータに対する駆動信号のレベルを決定して前記対物レンズの傾動を行う、或いは前記液晶素子に備えられた電極に印加する電圧を決定して収差補正を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【００１７】
これによると、本発明の光ディスク装置は、対物レンズ、対物レンズを動かすアクチュエータ、光電変換を行なう光検出器、収差を補正する液晶素子を備えている。光検出器は、受光領域全体により受光した全ての光を光電変換した信号である全反射信号と、分割された複数の受光領域を用いて得られたトラッキングエラー信号とを出力する。チルト補正回路はこの両信号を用いて各種制御を行なう。
【００１８】
またこれによると、本発明の光ディスク装置が備えるチルト発生量検出回路は、所定のタイミング、例えば光ディスクのスピンアップ処理が開始された場合等に、対物レンズを光ディスクの径方向に移動させながら全反射信号とトラッキングエラー信号を検出する。そして予め定められた時間、例えばトラッキングエラー信号の一周期分の時間において、全反射信号の値が最大になる時刻とトラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出する。そしてこの時間差をトラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値を、チルト発生量として取得する。
【００１９】
またこれによると、本発明の光ディスク装置は、チルト発生量とチルト発生量に応じたチルト補正量とを関連付けた関係情報を、ＲＯＭ等の記録媒体にあらかじめ記録している。補正量指示回路は、この関係情報を読み出し、読み出した関係情報とチルト発生量検出回路により検出された現在のチルト発生量とを比較してチルト補正に必要なチルト補正量を決定する。決定されたチルト補正量はチルト補正回路に通知され、チルト補正回路がチルト補正を行なう際に用いられる。
【００２０】
またこれによると、チルト補正回路が、チルト補正量に応じて前記アクチュエータに対する駆動信号のレベルを決定して前記対物レンズの傾動を行うことによってチルト補正を行う。或いはチルト補正回路が、チルト補正量に応じて前記液晶素子に備えられた電極に印加する電圧を決定して収差補正を行うことによりチルト補正を行う。
【００２１】
また本発明の光ディスク装置は、光ビームを光ディスクの記録面に照射させ前記光ディスクからの反射光を受光する対物レンズと、前記対物レンズを光ディスクの径方向に移動させる径方向移動手段と、光ディスクで反射された反射光を電気信号に変換する受光手段と、前記受光手段により受光した反射光を電気信号に変換した反射信号、及び前記反射信号に含まれるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うチルト補正手段とを備えた光ディスク装置であって、前記径方向移動手段を用いて前記対物レンズを移動させながら、前記受光手段により前記反射信号および前記トラッキングエラー信号を検出し、予め定めた期間内において前記反射信号の値が最大になる時刻と前記トラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、前記時間差を前記トラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値をチルト発生量として検出するチルト発生量検出手段と、前記チルト発生量と、前記チルト補正手段が前記チルト発生量を低減させるのに用いるチルト補正量との関係を示した関係情報を記録する関係情報記録手段と、前記関係情報記録手段より前記関係情報を読み出し、前記関係情報と前記チルト発生量検出手段により検出されたチルト発生量とに基づいて前記チルト補正量を決定し、決定した前記チルト補正量を前記チルト補正手段に与える補正量指示手段とを備え、前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うことを特徴としている。
【００２２】
これによると、本発明の光ディスク装置は、対物レンズ、対物レンズを光ディスクの径方向に動かすアクチュエータ（＝径方向移動手段）、光電変換を行なう光検出器（＝受光手段）を備えている。光検出器は、受光領域全体により受光した全ての光を光電変換した信号である反射信号と、分割された複数の受光領域を用いて得られたトラッキングエラー信号とを出力する。チルト補正回路（＝チルト補正手段）は、この両信号を用いて各種制御を行なう。
【００２３】
またこれによると、本発明の光ディスク装置が備えるチルト発生量検出回路（＝チルト発生量検出手段）は、所定のタイミング、例えば光ディスクのスピンアップ処理が開始された場合等に、対物レンズを光ディスクの径方向に移動させながら全反射信号とトラッキングエラー信号を検出する。そして予め定められた時間、例えばトラッキングエラー信号の一周期分の時間において、反射信号の値が最大になる時刻とトラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出する。そしてこの時間差をトラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値を、チルト発生量として取得する。
【００２４】
またこれによると、本発明の光ディスク装置は、チルト発生量とチルト発生量に応じたチルト補正量とを関連付けた関係情報を、ＲＯＭ等の記録媒体（＝関係情報記録手段）にあらかじめ記録している。そして補正量指示回路（＝補正量指示手段）は、この関係情報を読み出し、読み出した関係情報とチルト発生量検出回路により検出された現在のチルト発生量とを比較してチルト補正に必要なチルト補正量を決定する。決定されたチルト補正量はチルト補正回路に与えられ、チルト補正回路がチルト補正を行なう際に用いられる。
【００２５】
また本発明の光ディスク装置は、前記対物レンズの径方向傾斜角度を変化させる傾動手段を備え、前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、前記傾動手段に対する駆動信号のレベルを決定して前記対物レンズの傾動を行うことを特徴としている。
【００２６】
これによると本発明の光ディスク装置は、アクチュエータが対物レンズの径方向傾斜角度を変化させる機能を備えている（＝傾動手段）。そしてチルト補正回路が、チルト補正量に応じて、アクチュエータに対して対物レンズの傾動を指示する駆動信号の大きさを決定することによりチルト補正を行う。
【００２７】
また本発明の光ディスク装置は、収差の補正を行う液晶素子を備え、前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、前記液晶素子に備えられた電極に印加する電圧を決定して収差補正を行うことを特徴としている。
【００２８】
これによると、本発明の光ディスク装置は、光ディスクのチルトによって発生するコマ収差を補正するための液晶素子を備えている。そしてチルト補正回路が、チルト補正量に応じて、液晶素子が備える電極に対して印加する電圧の大きさを決定してコマ収差を低減させることによりチルト補正を行う。
【発明の効果】
【００２９】
本発明の光ディスク装置によれば、所定の時間において全反射信号の値が最大になる時刻とトラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、この時間差をトラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値を、チルト発生量として取得する。そしてあらかじめ記録されている関係情報と検出したチルト発生量とからチルト補正量を取得してチルト補正を行なう。このため、従来のようにチルト補正量を複数回変化させて再生信号が最適となるチルト補正量を学習する必要がなく、処理時間を短縮することが可能できる。また、チルト補正用の装置を新規に追加する必要もない。また、処理時間が短いため、任意のタイミングで行なうことが可能であり、例えば周囲温度変化時等にチルト補正処理を行なうことができる。また、チルト補正回路が、チルト補正量に応じて、アクチュエータに対する対物レンズの駆動信号の大きさ、或いは液晶素子の電極に印化する電圧の大きさを決定する。このため、従来から存在するチルト補正回路の機能を変更することなく、補正量指示部より与えられたチルト補正量を用いてチルト補正を行なうことができる。
【００３０】
また本発明の光ディスク装置によれば、所定の時間において反射信号の値が最大になる時刻とトラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、この時間差をトラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値を、チルト発生量として取得する。そしてあらかじめ記録されている関係情報と検出したチルト発生量とからチルト補正量を決定してチルト補正を行なう。このため、従来のようにチルト補正量を複数回変化させて再生信号が最適となるチルト補正量を学習する必要がなく、処理時間を短縮することが可能である。また、チルト補正用の装置を新規に追加する必要もない。また、処理時間が短いため、任意のタイミングで行なうことが可能であり、例えば周囲温度変化時等にチルト補正処理を行なうことができる。
【００３１】
また本発明の光ディスク装置によれば、チルト補正回路が、チルト補正量に応じて、アクチュエータに対する対物レンズの駆動信号の大きさを決定する。このため、従来から存在するチルト補正回路の機能を変更することなく、補正量指示部より与えられたチルト補正量を用いてチルト補正を行なうことができる。
【００３２】
また本発明の光ディスク装置によれば、チルト補正回路が、チルト補正量に応じて、液晶素子の電極に対して印化する電圧の大きさを決定する。このため、従来から存在するチルト補正回路の機能を変更することなく、補正量指示部より与えられたチルト補正量を用いてチルト補正を行なうことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
以下に本発明の実施形態を、図面を参照しながら説明する。なお、ここで示す実施形態は一例であり、本発明はここに示す実施形態に限定されるものではない。
【００３４】
図１は、本発明の一実施形態に係るディスクプレイヤ１００（＝光ディスク装置）の構成図である。ディスクプレイヤ１００は、光ピックアップ１、ＲＦアンプ３１、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）３２、再生処理回路３３、出力回路３４、システムコントローラ４１、ドライバ４２、送りモータ５１、スピンドルモータ５２、表示部６１、及び操作部７１を備えている。
【００３５】
光ピックアップ１は、光ディスク９１に光ビームを照射して、光ディスク９１（ＣＤ、ＤＶＤ、又は、ＢＤ）に記録された音声情報、映像情報等の各種情報の読み取りを行う。この光ピックアップ１には、ＣＤ用レーザ、ＤＶＤ用レーザ、ＢＤ用レーザが設けられている。
【００３６】
ＲＦアンプ３１、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）３２、再生処理回路３３、および出力回路３４は、光ピックアップ１により得られた音声情報、映像情報等の情報を、音声および映像に変換して、それぞれ不図示のスピーカおよびモニタに出力するためのものである。
【００３７】
ＲＦアンプ３１は、光ピックアップ１からの音声信号や映像信号等を増幅する。ＤＳＰ３２および再生処理回路３３は、ＲＦアンプ３１からの信号に対して、再生のための各種情報処理（例えば映像処理等）を施す。出力回路３４は、再生処理回路３３からの信号を、不図示のスピーカおよびモニタに出力するためにＤ／Ａ変換処理等を行う。
【００３８】
システムコントローラ４１、およびドライバ４２は、操作部７１を介して受け付けた指示操作に基づいて、光ピックアップ１、送りモータ５１，及びスピンドルモータ５２の動作を制御するためのものである。システムコントローラ４１は、操作部７１からの情報を受け付けてＤＳＰ３２に伝送すると共に、ＤＳＰ３２からの情報を表示部６１に伝送する。ドライバ４２は、ＤＳＰ３２からの指示に基づいて、光ピックアップ１、送りモータ５１、及びスピンドルモータ５２の動作を制御する。
【００３９】
送りモータ５１は、ＤＳＰ３２の指示に基づいて動作するドライバ４２によって駆動される。それによって光ピックアップ１は光ディスク９１の径方向に移動する。スピンドルモータ５２は、ドライバ４２によって光ディスク９１を回転方向に駆動する。また、ドライバ４２はＤＰＳ３２の指示に基づいて光ピックアップ装置１が備える対物レンズ１７のフォーカス制御を行う。
【００４０】
操作部７１は、ユーザが光ディスク９１の再生等の各種指示をディスクプレイヤ１００に対して行なうための入力インターフェースである。表示部８１は、ディスクプレイヤ１００が保持する各種情報を、液晶パネル等を用いてユーザに対して表示する。
【００４１】
図２は、本発明の一実施形態に係る光ピックアップ１の光学系を示す概略図である。光ピックアップ１は、ＣＤ等の光ディスク９１に対して、光ビームを照射して反射光を受光することにより光ディスク９１の記録面に記録されている情報を読み取ることを可能とする装置である。なお、光ピックアップ１で情報の読み取り等が可能な光ディスク９１の種別は、本実施形態に示す種別に限らず、本発明の範囲を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【００４２】
この光ピックアップ１は、第１光源１１ａ、第２光源１１ｂ、ダイクロプリズム１２、コリメートレンズ１３、ビームスプリッタ１４、立ち上げミラー１５、液晶素子１６、対物レンズ１７、検出レンズ１８、光検出器１９（＝受光手段）、アクチュエータ２１（＝径方向移動手段、傾動手段）、信号生成回路２２、チルト補正回路２３（＝チルト補正手段）、トラッキング制御回路２４、チルト発生量検出回路２５（＝チルト発生量検出手段）、関係情報記録部２６（＝関係情報記録手段、記録媒体）、補正量指示回路２７（＝補正量指示手段）を備えている。以下に、光ピックアップ１を構成する各部の詳細を説明する。
【００４３】
第１光源１１ａは、ＤＶＤに対応する６５０ｎｍ帯の光ビームを出射できる半導体レーザで、第２光源１１ｂは、ＢＤに対応する４０５ｎｍ帯の光ビームを出射できる半導体レーザである。なお、本実施形態では、光源２、３として、単一の波長の光ビームのみを出射する半導体レーザを用いているがこれに限られる趣旨ではなく、例えば、２種類の波長の光ビームを出射できるように２つの発光点を有する２波長一体型の半導体レーザを用いても構わない。
【００４４】
ダイクロプリズム１２は、ＤＶＤ用の光ビームを出射する第１光源１１ａから出射される光ビームを透過し、ＢＤ用の光ビームを出射する第２光源１１ｂから出射される光ビームを反射する。そして、第１光源１１ａおよび第２光源１１ｂから出射される光ビームの光軸を一致させる。ダイクロプリズム１２において、透過又は反射された光ビームは、コリメートレンズ１３に送られる。
【００４５】
コリメートレンズ１３は、ダイクロプリズム１２を通過した光ビームを平行光に変換する。ここで、平行光とは、第１光源１１ａおよび第２光源１１ｂから出射された光ビームの全ての光路が光軸とほぼ平行である光をいう。コリメートレンズ１３で平行光とされた光ビームは、ビームスプリッタ１４に送られる。
【００４６】
ビームスプリッタ１４は、入射する光ビームを分離する光分離素子として機能し、コリメートレンズ１３から送られてきた光ビームを透過して、光ディスク９１側へと導くとともに、光ディスク９１で反射された反射光を反射して光検出器１９側へと導く。ビームスプリッタ１４を透過した光ビームは、立ち上げミラー１５に送られる。
【００４７】
立ち上げミラー１５は、ビームスプリッタ１４を透過してきた光ビームを反射して光ディスク９１へと導く。立ち上げミラー１５は、ビームスプリッタ１４からの光ビームの光軸に対して４５°傾いた状態となっており、立ち上げミラー１５で反射された光ビームの光軸は、光ディスク９１の記録面と略直交する。立ち上げミラー１５で反射された光ビームは、液晶素子１６に送られる。
【００４８】
液晶素子１６は、透明電極に挟まれた液晶（いずれも図示せず）に電圧を印加することで、液晶分子がその配向方向を変える性質を利用して、屈折率の変化を制御し、液晶素子１６を透過する光ビームの位相の制御を可能とする素子である。この液晶素子１６を配置することによって、光ディスク９１の記録面を保護する保護層の厚みの違い、或いは光ディスク９１の径方向傾き等によって生じる球面収差、或いはコマ収差の補正が可能となる。液晶素子１６を通過した光ビームは対物レンズ１７へと送られる。
【００４９】
対物レンズ１７は、液晶素子１６を透過した光ビームを光ディスク９１の記録面上に集光させる。また、対物レンズ１７は後述するアクチュエータ２１によって、例えば、図２の上下方向および左右方向に移動可能とされており、フォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号に基づいてその位置が制御される。
【００５０】
なお、本実施形態においては、液晶素子１６も対物レンズ１７と共に移動できるようにアクチュエータ２１に搭載されている。ただし、液晶素子１６は、必ずしもアクチュエータ２１に搭載する必要はなく、光学系の構成に応じて、その構成は変更可能である。
【００５１】
光ディスク９１で反射された反射光は、対物レンズ１７、液晶素子１６の順に通過し、立ち上げミラー１５で反射された後、更にビームスプリッタ１４で反射されて、検出レンズ１８によって光検出器１９上に設けられる受光素子へと集光される。
【００５２】
光検出器１９は、フォトダイオード等の受光素子を用いて受光した光情報を電気信号に変換する。変換により得られた電気信号は後述する信号生成回路２２に送られ、各種信号を生成するのに用いられる。
【００５３】
アクチュエータ２１は、ドライバ４２で生成され出力されたレンズ駆動信号に従って、対物レンズ１７を光ディスク９１の径方向に移動させるトラッキング動作を行う。アクチュエータ２１は、それには限定されないが、ここでは永久磁石（不図示）によって形成される磁界内にコイル（不図示）に駆動電流（＝レンズ駆動信号）を流し、ローレンツ力にて対物レンズ１７を駆動することができるものであってもよい。
【００５４】
またアクチュエータ２１は、対物レンズ１７より照射されるレーザ光の光軸が揺動するように対物レンズ１７を傾動させるチルト動作、及び対物レンズ１７を光ディスク９１に対して接近離反するように移動させるフォーカス動作を行う。
【００５５】
信号生成回路２２は、光検出器１９の出力信号を受け、出力信号から各種信号、例えば光ディスク９１の記録面に記録されているデータの再生信号、フォーカス制御を行うためのフォーカスサーボ信号、或いはトラッキング制御を行うためのＴＥ信号（＝トラッキングエラー信号）等が生成される。生成された信号は各種機能部に出力される。
【００５６】
チルト補正回路２３は、信号生成回路２２により生成された光ディスクからの全反射信号（＝反射信号）及びＴＥ信号を受信し、これらの信号に基づいてチルト補正量の決定を行う。そして決定したチルト補正量に基づき、液晶素子１６、或いはアクチュエータ２１を駆動させることによりチルト補正を行う。
【００５７】
トラッキング制御回路２４は、信号生成回路２２により生成されたＴＥ信号を受信し、この信号に基づいて対物レンズ１７のトラッキング制御を行う。具体的には、ＴＥ信号、或いはシーク制御回路（不図示）より受信したトラックジャンプ信号により対物レンズの径方向位置を決定し、アクチュエータ２１を用いて対物レンズ１７の径方向移動を行う。
【００５８】
チルト発生量検出回路２５は、トラッキング制御が停止している状態において光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向へ移動した際の、全反射信号の値が最大になる時間とＴＥ信号の値が０となる時間との時間差から、チルト発生量の大きさを検出する。なお、チルト発生量の検出処理の詳細については後述する。
【００５９】
関連情報記録部２６は、チルト発生量検出回路２５が検出するチルト発生量と、前記チルト発生量を０とするために必要な補正量（＝チルト補正量）との関係を示した情報（＝関係情報）を記録している。具体的には、図９に示すような、チルト発生量Δｔとチルト補正量の大きさとの比例関係を示したグラフ情報を用いる。或いは、チルト発生量とチルト補正量と関連付けて記録したテーブル情報を用いる形態であってもよい。なおこの情報は、例えばディスクプレイヤ１００の工場出荷時等に、ディスクプレイヤ１００毎に調査された各種パラメータに基づいて作成されていることが望ましい。
【００６０】
補正量指示回路２７は、関連情報記録部２６から関係情報を読み出し、読み出した関係情報とチルト発生量検出回路２５より受信したチルト発生量とを参照する。そしてチルト発生量検出回路２５より受信したチルト発生量を０とするために必要なチルト補正量を取得する。取得されたチルト補正量は、チルト補正回路２３に対して送信される。チルト補正量を受信したチルト補正回路２３はその後、受け付けたパラメータに基づいて、対物レンズ１７の傾き、或いは液晶素子１６に対して印化する電圧の大きさを調整する。
【００６１】
次に、本実施形態の光ピックアップ１の移動に伴う、出力信号の変化について図６及び図７を用いて説明する。図６は、トラッキング制御回路２４によるトラッキング制御が停止している状態において、光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向中心から径方向外縁部（＝矢印αの示す方向）へ移動した際の、信号生成回路２２が出力する全反射信号及びＴＥ信号の変化を、光ディスク９１の情報記録面との関係で示したものである。
【００６２】
なお全反射信号とは、光検出器１９が検出する全光量の総和の変化を示した信号であり、通常は対物レンズ１７の中心軸と光ディスク９１の情報記録面に存在するトラックの中心とが一致する時に最大となる。またＴＥ信号とは、複数に分割された光検出器１９の受光領域を用いて、受光領域ごとの受光量の差を検出し、検出した値に基づいて算出したトラッキングエラー発生量の変化を示した信号である。通常は対物レンズ１７の中心軸とトラックの中心とが一致する時に０となるが、光ディスク９１にチルトが発生している場合はこの限りではない。
【００６３】
図６において、図６（ａ）は光ディスク９１の情報記録面の断面図を示している。図６（ｂ）は、光ピックアップ１が図中の矢印αの方向へ移動した際の、情報記録面から検出される全反射信号の変化を示している。図６（ｃ）は、光ピックアップ１が図中の矢印αの方向へ移動した際の、情報記録面から検出されるＴＥ信号の変化を示している。
【００６４】
図６において、各図に共通して記述されている破線ＣＮＴは、光ディスク９１の各トラックの中心位置を示したものである。図６においては光ディスク９１にチルトは発生しておらず、図６（ａ）の情報記録面は光ディスク９１の径方向に対して水平となっている。従って、対物レンズ１７の中心軸が破線ＣＮＴ、つまり各トラックの中心位置と一致した際に、全反射信号が最大かつＴＥ信号が０となっている。
【００６５】
図７は、図６と同様、トラッキング制御回路２４によるトラッキング制御が停止している状態において、光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向中心から径方向外縁部へ移動した際の全反射信号（図７（ｂ））及びＴＥ信号（図７（ｃ））の変化を、光ディスク９１の情報記録面（図７（ａ））との関係で示したものである。
【００６６】
図６と異なり、光ディスク９１にチルトが発生しているため、情報記録面が光ディスク９１の径方向に対して水平となっていない。この場合、全反射信号については図６（ｂ）と同様に、対物レンズ１７の中心軸が破線ＣＮＴと一致した際に最大となる。しかしＴＥ信号については図６（ｃ）とは異なり、破線ＣＮＴとは異なる位置（図７（ｃ）の例では破線ＣＮＴの右側に存在する破線ＴＥ０）において、ＴＥ信号が０となる。このように、光ディスク９１にチルトが発生している場合は、全反射信号が最大となる径方向位置とＴＥ信号が０となる径方向位置との間にズレが生じる。
【００６７】
次に、本実施形態の光ピックアップ１によって出力される電気信号の時間経過に伴う変化を、図８を用いて説明する。図８は、信号生成回路２２が出力する全反射信号及びＴＥ信号の変化を、時間軸をもとに示したものである。図８は、図７に示すチルトが発生している状態、かつトラッキング制御が停止している状態において、光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向中心から径方向外縁部へ移動した際の信号の変化を示している。
【００６８】
図８において、図８（ａ）は、光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向へ移動した際に、情報記録面から検出される全反射信号の変化を、時間軸をもとに示したものである。同様に図８（ｂ）は、光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向へ移動した際に、情報記録面から検出されるＴＥ信号の変化を、時間軸をもとに示したものである。なお図８（ａ）と図８（ｂ）の時間軸は共通のものであり、従って図８（ａ）および図８（ｂ）に共通に示されている破線、例えば破線ｔ１は、同一の時刻を表している。
【００６９】
図８において、破線ｔ１は全反射信号が最大となる時刻を、破線ｔ２はＴＥ信号が０となる時刻を表している。また周期Ｔは、ＴＥ信号が変化する一周期の時間の長さを示している。図８に示す例では、図７（ａ）に示すチルトが情報記録面に発生しているため、破線ｔ１、つまり図７において対物レンズ１７の中心軸が破線ＣＮＴの位置を通過する時刻と、破線ｔ２、つまり図７において対物レンズ１７の中心軸が破線ＴＥ０の位置を通過する時刻とが、一致しない状態となっている。
【００７０】
次に、従来のディスクプレイヤ１００におけるチルト補正処理について、図１及び図２のブロック図と、図１０および図１１のフロー図とを用いて説明する。ここでは、従来のチルト補正処理が発生する処理として、スピンアップ処理、及びシーク処理を例にあげて説明する。図１０は、従来のディスクプレイヤ１００が光ディスク９１に対するスピンアップ処理を行う際の処理フローを示したフロー図である。スピンアップ処理とは、光ディスク９１に対し、読み込み、或いは書き込み等のディスクアクセスが可能である状態にするための処理である。
【００７１】
スピンアップ処理の開始は、例えばディスクプレイヤ１００に対する光ディスク９１の挿入を、システムコントローラ４１が検知した際に開始される。光ディスク９１の挿入を検知したシステムコントローラ４１は、ステップＳ１１０において、送りモータ５１及びスピンドルモータ５２の起動を行う。
【００７２】
次にステップＳ１２０において、光ピックアップ１の第１光源１１ａ或いは第２光源１１ｂが、光ディスク９１に対する光ビームの照射を開始する。この反射光を光検出器１９が光電変換し、得られた信号がＲＦアンプ３１及びＤＳＰ３２に送られる。この信号をもとに、送りモータ５１がステップＳ１３０においてフォーカス制御を開始する。またこの信号をもとに、トラッキング制御回路２４及び送りモータ５１が、ステップＳ１４０においてトラッキング制御を開始する。
【００７３】
フォーカス制御及びトラッキング制御が開始されると、ステップＳ１５０において、両制御処理に用いるパラメータ、例えば光ピックアップ１の径方向位置等を決定するパラメータ取得処理が行われる。例えばトラッキング制御であれば、信号生成回路２２より出力されるＴＥ信号に基づいて、光ピックアップ１の径方向位置を示すパラメータの取得が行われる。
【００７４】
次にステップＳ１６０において、チルト補正量の取得処理が行われる。この処理は対物レンズ１７の傾斜角度を所定の範囲内で変化させつつ、或いは液晶素子１６に印化する電圧を変化させつつ、信号生成回路２２より出力される全反射信号及びＴＥ信号をチルト補正回路２３が検出することにより行われる。チルト補正回路２３は、全反射信号に含まれる再生信号が最適となる時の対物レンズ１７の傾斜角度、或いは液晶素子１６に印加している電圧をもとに、チルト補正量を取得する。取得されたチルト補正量は、メモリ等に一時的に記録される。なおチルト補正量の取得は、精度を向上させるため所定回数繰り返して行い、その平均をとる等の処理を行うことが望ましい。
【００７５】
次にチルト補正回路２３は、ステップＳ１７０において、記録されているチルト補正量を用いて、液晶素子１６或いはアクチュエータ２１の制御を行うことによりチルト補正を行う。次にステップＳ１８０において、光ピックアップ１が光ディスク９１の情報記録面からアドレス情報の読み込みを開始する。以後、アドレス情報の読み込みは継続的に行われるため、光ディスク９１に対するディスクアクセスが可能となる。以上により、スピンアップ処理は終了する。
【００７６】
図１１は、従来のディスクプレイヤ１００が光ディスク９１に対するシーク処理を行う際の処理フローを示したフロー図である。シーク処理は、例えば光ディスク９１から特定の情報を読み込むための再生処理指示を、システムコントローラ４１が検知した際に開始される。シーク処理が開始された場合、まずシステムコントローラ４１は、ステップＳ２１０において、光ピックアップ１が光ビームを照射している現在のトラックのアドレス情報（＝現在アドレス）を取得する。そしてステップＳ２２０において、現在アドレスと指示されたアドレス（＝目標アドレス）が一致するかどうかの判定を行う。
【００７７】
一致する場合はシーク処理を行う必要がないため、本処理を終了する。一致しない場合、ステップＳ２３０において、目標アドレスと現在アドレスの差があらかじめ定められた所定値を越えるかどうかの判定を行う。なお所定値の具体的な値としては、例えばアドレス差をトラック本数に換算し、トラック本数にして１００本程度のアドレス差を所定値とする方法があげられる。
【００７８】
所定値を越えない場合、ステップＳ２３５において、近距離のシーク処理を行うためのトラックジャンプを行う。近距離のシーク処理においてはチルト補正処理を改めて行う必要がないため、トラックジャンプを行った後、再びステップＳ２１０に移行する。そして現在アドレスと目標アドレスとの距離の確認を再び行う。
【００７９】
逆にステップＳ２３０において所定値を越える場合、遠距離のシーク処理を開始する。遠距離のシーク処理を行った場合、チルト補正処理を改めて実行する必要がある。このため、まずステップＳ２４０において、トラッキング制御回路２４によるトラッキング制御の停止を行う。次にステップＳ２５０においてディスク回転数を切り換え、ステップＳ２６０において光ピックアップ１のスレッド移動を行い、ステップＳ２７０においてディスク半径位置に応じたチルト補正処理を行う。
【００８０】
なお、ステップＳ２７０のチルト補正処理の内容については、図１０のステップＳ１６０及びステップＳ１７０と同内容であるためここでは説明を省略する。チルト補正が完了した後、ステップＳ２８０においてトラッキング制御回路２４によるトラッキング制御の開始を行った後、ステップＳ２１０に移行する。そして現在アドレスと目標アドレスとの距離の確認を再び行う。
【００８１】
次に、本発明の一実施形態に係るディスクプレイヤ１００においてチルト補正処理が発生する処理について、図１及び図２のブロック図と、図３および図４のフロー図とを用いて説明する。図３は、本発明のディスクプレイヤ１００が光ディスク９１のスピンアップ処理を行う際の処理フローを示したフロー図である。なお、従来の処理フローと内容が一致する処理については、図１０と同じ処理番号を付加している。
【００８２】
ステップＳ１１０からステップＳ１３０については、従来のディスクプレイヤ１００と同様の処理を行うため、説明を省略する。ステップＳ１３０の次のステップＳ１３５において、本発明のチルト補正フローの実施を行う。なお、本発明のチルト補正フローの詳細については後述する。
【００８３】
チルト補正フローを行った後、従来と同様にステップＳ１４０からステップＳ１５０の処理を行う。ただし従来のステップＳ１６０からステップＳ１７０に関しては、ステップＳ１３５でチルト補正フローを実施しているため不要となり、省略することができる。最後にステップＳ１８０においてアドレスリード処理の開始を行い、本フローを終了する。
【００８４】
図４は、本発明の一実施形態に係るディスクプレイヤ１００が光ディスク９１に対するシーク処理を行う際の処理フローを示したフロー図である。なお、従来の処理フローと内容が一致する処理については、図１１と同じ処理番号を付加している。
【００８５】
ステップＳ２１０からステップＳ２６０については、従来の処理フローとディスクプレイヤ１００と同様の処理を行うため、説明を省略する。本発明では、ステップＳ２６０の次のステップＳ２６５において、本発明のチルト補正フローを実施する。なお、チルト補正フローの詳細については後述する。
【００８６】
ステップＳ２６５でチルト補正フローを行うため、従来のステップＳ２７０は不要となり、省略することができる。最後にステップＳ２８０においてトラッキング制御回路２４によるトラッキング制御の開始を行った後、ステップＳ２１０に移行する。
【００８７】
次に、本発明の一実施形態に係るディスクプレイヤ１００のチルト補正フローについて、図１及び図２のブロック図と、図５のフロー図を用いて説明する。なおこのチルト補正フローは、図３のステップＳ１３５及び図４のステップＳ２６５の内容を詳細に示した処理フローである。ステップＳ１３５とステップＳ２６５とは処理内容が同じであるため、図５に示す一つのフロー図で説明するものとする。
【００８８】
図３のステップＳ１３５、或いは図４のステップＳ２６５においてチルト補正フローの開始が指示されることにより、図５の処理フローが開始される。まずステップＳ３１０において、トラッキング制御回路２４によるトラッキング制御が停止している状態であり、かつ送りモータ５１等によるフォーカス制御が動作している状態であるかの確認が行われる。上記の状態とは異なる場合、トラッキング制御の停止或いはフォーカス制御の開始を行い、上記の状態に移行する。
【００８９】
次にチルト発生量検出回路２５は、ステップＳ３２０において、送りモータ５１により光ピックアップ１を光ディスク９１の径方向に移動させながら光ビームを情報記録面に照射し、光受光器１９及び信号生成回路２２を用いて全反射信号及びＴＥ信号の測定を開始する。
【００９０】
次にチルト発生量検出回路２５は、ステップＳ３３０において、ＴＥ信号の波形より一周期の長さを測定する。図８に示す例では、図８（ｂ）の周期Ｔが、ＴＥ信号一周期の長さとなる。
【００９１】
次にチルト発生量検出回路２５は、ステップＳ３４０において、信号生成回路２２から取得した全反射信号の値が最大となる時刻（＝ｔ１）を取得する。図８に示す例では、図８（ａ）及び図８（ｂ）に共通のｔ１が上記時刻を表している。なお、図８に示すように時間の経過（図中では右方向へ進む）と共に、常に新しいｔ１が検知される。このためチルト発生量検出回路２５は、常に最新のｔ１を保持すると共に、過去所定時間内にｔ１を検出した時刻をメモリ等に記録しておくことが望ましい。
【００９２】
次にチルト発生量検出回路２５は、ステップＳ３５０において、信号生成回路２２から取得したＴＥ信号が０となる時刻（＝ｔ２）を取得する。図８に示す例では、図８（ａ）及び図８（ｂ）に共通のｔ２が上記時刻を表している。ｔ１と同様、ｔ２も時間の経過と共に新しいｔ２が検知されるため、チルト発生量検出回路２５は、常に最新のｔ２を保持すると共に、過去所定時間内にｔ２を検出した時刻をメモリ等に記録しておくことが望ましい。
【００９３】
次にチルト発生量検出回路２５は、取得した周期Ｔ、ｔ１、ｔ２より、チルト発生量（＝Δｔ）の算出を行う。具体的には、以下の数式によってΔｔを算出する。
Δｔ＝（ｔ２−ｔ１）／周期Ｔ
なお通常、ｔ２に対するｔ１が複数存在する場合、時間差の絶対値が小さいｔ１を優先して用いる。図８の例では、ｔ２の左側に位置するｔ１がこれに相当し、ｔ２の右側に存在するｔ１は無視される。これは、ｔ２右側のｔ１は、異なるトラックにおいて全反射信号の値が最大となった時刻を表したものであるためである。
【００９４】
次にチルト発生量検出回路２５は、ステップＳ３２０からステップＳ３６０までの処理を、あらかじめ定められた所定回数だけ実行したかどうかの判定を行う。所定回数の実行を行っていないと判定された場合、ステップＳ３２０に移行し、チルト発生量の取得処理を再び行う。逆に所定回数行ったと判定された場合、次のステップＳ３８０に移行する。
【００９５】
次に補正量指示回路２７は、ステップＳ３８０において、メモリ等の記録部から、チルト補正用データ（＝関係情報）を読み出す。チルト補正用データとは、例えば図９に示すような、チルト発生量Δｔと、Δｔを０にする（＝チルトを補正する）ために必要なチルト補正量との関係を示したデータである。
【００９６】
チルト補正量とは、例えば対物レンズ１７の傾きを変えるためにアクチュエータ２１に対して送信する駆動信号レベルの大きさや、或いは液晶素子１６の電極に印加する電圧の大きさを示したものである。なお図９では、チルト補正用データの例としてグラフデータを示しているが、Δｔとチルト補正量との関係を対応付けてテーブル構造で示したテーブルデータの形式であってもよい。
【００９７】
次に補正量指示回路２７は、ステップＳ３９０において、読み出したチルト補正用データを用いて、ステップＳ３６０で取得されたΔｔを０にするためのチルト補正量を決定する。なおステップＳ３６０は通常、ステップＳ３７０の処理分岐が存在するため、複数回実行される。このため、例えば複数回取得されたΔｔの平均値を用いてチルト補正量を決定する。或いは、取得した全てのチルト発生量Δｔに対応するチルト補正量を決定した後、決定した複数のチルト補正量の平均を算出する方法であってもよい。
【００９８】
次に補正量指示回路２７は、ステップＳ４００において、ステップＳ３９０で取得したチルト補正量をチルト補正回路２３に与える。チルト補正回路２３は以後、受け付けたチルト補正量を用いてチルト補正を行う。具体的には、例えばチルト補正量に基づいて、対物レンズ１７を傾動させるための駆動信号をアクチュエータ２１に送信する。或いは、チルト補正量に基づいて液晶素子１６に印加する電圧を制御することにより、液晶素子１６が行うコマ収差補正の補正量を制御する。以上により、本処理を終了する。
【００９９】
［その他の実施の形態］
以上、好ましい実施の形態および実施例をあげて本発明を説明したが、本発明は必ずしも上記実施の形態および実施例に限定されるものではなく、その技術的思想の範囲内において様々に変形して実施することができる。
【０１００】
従って本発明は、以下の形態にも適用可能である。
（Ａ）本実施形態では、チルト補正フロー（図５）が発生する処理として、スピンアップ処理とシーク処理とを例として説明したが、これ以外の処理においてチルト補正が必要となった場合において、本発明のチルト補正フローを実施する形態であってもよい。
【０１０１】
（Ｂ）本実施形態では、図４に示すシーク処理を行う際に、ステップＳ２６０においてスレッド移動を行った後に、ステップＳ２６５においてチルト補正フローの実施を行っている。ここで、ステップＳ２６０の直後に、信号整定を行うための整定時間を一定時間（例えば数ｍｓから数十ｍｓ程度）とる形態であってもよい。
【０１０２】
（Ｃ）本実施形態では、チルト補正回路２３が制御を行う対象として、対物レンズ１７の傾動を行うアクチュエータ２１、及び液晶素子１６を例にして説明を行っているが、これら以外のチルト補正装置に対して、本発明のチルト補正フローで得られたチルト補正量に基づき、チルト補正回路２３がチルト補正指示を行う形態であってもよい。
【０１０３】
（Ｄ）本実施形態では、光ピックアップ１を備えた光ディスク装置としてディスクプレイヤ１００を例として説明したが、光ピックアップ１を備えたその他の光ディスク装置、例えばＣＤ−Ｒドライブ等の光ディスク記録装置においても、本発明は実施可能である。
【０１０４】
（Ｅ）本実施形態では、トラッキング制御を行なうために信号生成回路２２、チルト補正回路２３、トラッキング制御回路２４、チルト発生量検出回路２５、補正量指示回路２７を備えているが、これら複数の回路と同等の機能を持つプログラムがマイクロプロセッサ等の処理装置上で実行されることによって本発明のチルト補正処理が実現される形態でもよい。
【図面の簡単な説明】
【０１０５】
【図１】は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置を示す構成図である。
【図２】は、本発明の一実施形態に係る光ピックアップ装置の光学系を示す構成図である。
【図３】は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置のスピンアップ処理の処理フローを示したフロー図である。
【図４】は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置のシーク処理の処理フローを示したフロー図である。
【図５】は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置のチルト補正処理の処理フローを示したフロー図である。
【図６】は、チルト非発生時に光ディスク記録面から取得される全反射信号及びＴＥ信号の関係を示した模式図である。
【図７】は、チルト発生時に光ディスク記録面から取得される全反射信号及びＴＥ信号の関係を示した模式図である。
【図８】は、チルト発生時に光ディスク記録面から取得される全反射信号及びＴＥ信号の時間経過に伴う変化を示した模式図である。
【図９】は、本発明のチルト補正処理が用いる関係情報をグラフ化したグラフ図である。
【図１０】は、従来の光ディスク装置のスピンアップ処理の処理フローを示したフロー図である。
【図１１】は、従来の光ディスク装置のシーク処理の処理フローを示したフロー図である。
【符号の説明】
【０１０６】
１００ ディスクプレイヤ（光ディスク装置）
１ 光ピックアップ
１７ 対物レンズ
１９ 光検出器（受光手段）
２１ アクチュエータ（径方向移動手段、傾動手段）
２２ 信号生成回路
２３ チルト補正回路（チルト補正手段）
２４ トラッキング制御回路
２５ チルト発生量検出回路（チルト発生量検出手段）
２６ 関係情報記録部（関係情報記録手段）
２７ 補正量指示回路（補正量指示手段）
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録された情報を読み出すための光ディスク装置に関するものであり、特に光ディスクの反りによって発生するコマ収差の補正を可能とした光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、コンパクトディスク（以下、「ＣＤ」という）やデジタル多用途ディスク（以下、「ＤＶＤ」という）といった光ディスクが普及し、一般的に用いられるようになっている。そして光ディスクに記録された情報、例えば音声情報や映像情報を読み出して再生するための装置として、光ディスク装置が存在する。広く知られている光ディスク装置としては、例えばＣＤプレイヤー、ＤＶＤプレイヤー、或いはパソコンに接続されるＣＤ−ＲＯＭドライブ等があげられる。
【０００３】
光ディスク装置には、光ディスクに対して光ビームを照射して情報の読み取りを行うための光ピックアップ装置が備えられている。光ピックアップ装置はターンテーブル上に固定されて回転している光ディスクの情報記録面に対して光ビームを照射する。そして光ディスクからの反射光を光ピックアップ装置内に設けられた受光素子、例えばフォトダイオードによって受光する。そして受光素子により光を電気信号に変換し、得られた電気信号に基づいて光ディスクに記録されている情報を出力する。
【０００４】
光ディスクから正確に情報を読み取るためには、光ディスク上の情報読み取り位置において光ディスクの情報記録面と光ビームの合焦点とが一致するように、光ディスクの情報記録面と光ピックアップ内に設けられた対物レンズとの距離を所定の位置関係に保つ必要がある。これをなすために、光ピックアップ装置内には、対物レンズを情報記録面に対して垂直或いは水平な方向に駆動するためのアクチュエータが設けられている。更に対物レンズと情報記録面との距離を一定に保つべくアクチュエータを駆動するためのフォーカスサーボ機構が備えられている。
【０００５】
情報が記録されている光ディスクは、様々な要因により情報記録面に反りが生じることがある。またターンテーブル上に固定された際に、自重により外周付近が下方に垂れ下がり、ディスクの情報記録面を一平面内で回転させることができなくなる場合がある。これらの反り或いは垂れ下がりが僅かな場合は、光ビームの光軸と情報記録面とがほぼ垂直な関係を維持できる。このため、前述の光ピックアップ装置内に設けられたアクチュエータにより、対物レンズを情報記録面と垂直な方向に駆動させ情報の読み取りを行うことができる。
【０００６】
しかしながら情報記録面の反り或いは垂れ下がりが大きい、或いはディスクの回転軸が傾斜している場合には、光ビームの光軸と情報記録面とが互いに垂直な関係から大きくずれることがある。これにより本来読み取るべきディスク上の情報トラックを読み取れない不具合が発生する。このような不具合を解消するために、従来の光ディスク装置には、光ディスクの傾きを検出して光ビームの光軸と情報記録面とが互いに垂直な関係を維持するためのチルトサーボ機構（＝チルト補正手段）が設けられている。
【０００７】
チルトサーボ機構の一種として、例えばチルトセンサーを光ディスク装置に組み込み、チルトセンサーにより検知されたチルト発生量に基づいて、光ピックアップ、或いは対物レンズの傾きを調整するチルトサーボ機構が存在する。しかしこのようなセンサーを新規に光ディスク装置に組み込む場合、光ディスク装置の内部構造が複雑になりやすく、また製造コストが増加するという問題があった。
【０００８】
上記の問題に関連して特許文献１においては、電気的オフセットおよび光学的オフセットに強いチルト補正を行え、また、デトラック補正による影響を受けることなくチルト補正のみを単独で行うことができる傾き補正装置が開示されている。
【０００９】
特許文献１の傾き補正装置は、光スポットで反射された光を受光する光検知器と、光検知器の出力の差信号を求める手段と、求めた差信号の振幅を指標として、該指標が極値に近づくように前記情報媒体とヘッドとの間の相対的な傾きを制御する傾き制御手段とを備えている。
【００１０】
また上記問題に関して特許文献２では、光ディスクに特別な対応策を設けることなく、またドライブとしても特別な手段や部品を用いることなくチルト補正用の検出信号を検出することができ、ユーザの使用感覚も損なうことのない光記録・再生装置が開示されている。
【００１１】
特許文献２の光記録・再生装は、凹部又は溝部を有する第１領域と実質上平板状の第２領域とが設けられた媒体への集光手段を備えている。また、集光手段により形成された光スポットを用いて、媒体に対してフォーカスサーボ制御をかけた状態で、媒体からの反射光の検出レベルの内、前記第１領域における反射光の検出レベルと、前記第２領域での反射光の検出レベルとの差に基づいた値が実質上最大となる様に、前記チルト補正手段を動作させる。
【００１２】
また上記問題に関して特許文献３では、トラッキングエラー信号及びＲＦ信号の信号レベルが小さく、またトラッキングエラー信号及びＲＦ信号の振幅の最大と最小との差が小さい場合であっても、光ピックアップのチルト調整時の近似精度を向上させることができるチルト調整装置が開示されている。
【００１３】
特許文献３のチルト調整装置は、光ディスクの予め設定された半径方向の複数の位置で、光ピックアップのチルト量を変更し、トラッキングエラー信号の振幅が最大になるチルト量を検出する。この際、光ディスクが未記録ディスクである場合はトラッキングＯＦＦ状態で、光ディスクが記録済みディスクである場合はトラッキングＯＮ状態で光ピックアップのチルト量を変更する。なお、トラッキングエラー信号の振幅の最大と最小との差が小さい場合、トラッキングエラー信号の信号レベルを所定の信号レベルに増幅して、トラッキングエラー信号の振幅が最大になるチルト量を検出する。
【特許文献１】特開２０００−３１１３６９号公報
【特許文献２】特開２００２−０８３４３８号公報
【特許文献３】特開２００６−１９６１００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかしながら、特許文献１〜特許文献３に開示されている装置において行われるチルト調整処理は、比較的処理時間の長い検出処理（例えば、対物レンズの傾動量を変化させながらのトラッキングエラー信号の振幅検出処理等）を複数回繰り返し行い、その結果によって好適なチルト補正量を取得する必要があった。このため処理完了までの時間が長くなり、また処理内容も複雑になりやすいという問題があった。
【００１５】
以上の点を鑑みて、本発明の目的は、チルトセンサー等のチルトサーボ用装置を新規に追加することなく、また簡易かつ短時間の処理で好適なチルト補正量の取得を行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記目的を達成するために本発明の光ディスク装置は、光源により発生された光ビームを光ディスクの記録面に照射させ前記光ディスクからの反射光を受光する対物レンズと、前記対物レンズを光ディスクの径方向に移動させるとともに前記対物レンズの径方向傾斜角度を変化させるアクチュエータと、収差の補正を行う液晶素子と、光ディスクで反射された反射光を電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器により受光した全反射光を電気信号に変換した全反射信号、及び前記全反射信号に含まれるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うチルト補正回路とを備えた光ディスク装置であって、前記アクチュエータを用いて前記対物レンズを径方向へ移動させながら、前記光検出器により前記全反射信号および前記トラッキングエラー信号を検出し、予め定めた期間内において前記全反射信号の値が最大になる時刻と前記トラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、前記時間差を前記トラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値をチルト発生量として検出するチルト発生量検出回路と、前記チルト発生量と、前記チルト補正回路が前記チルト発生量を低減させるために用いるチルト補正量との関係を示した関係情報を記録する関係情報記録部と、前記関係情報記録部より前記関係情報を読み出し、前記関係情報と前記チルト発生量検出回路により検出されたチルト発生量とに基づいて前記チルト補正量を決定し、決定した前記チルト補正量を前記チルト補正回路に与える補正量指示回路とを備え、前記チルト補正回路が、前記チルト補正量に応じて、前記アクチュエータに対する駆動信号のレベルを決定して前記対物レンズの傾動を行う、或いは前記液晶素子に備えられた電極に印加する電圧を決定して収差補正を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【００１７】
これによると、本発明の光ディスク装置は、対物レンズ、対物レンズを動かすアクチュエータ、光電変換を行なう光検出器、収差を補正する液晶素子を備えている。光検出器は、受光領域全体により受光した全ての光を光電変換した信号である全反射信号と、分割された複数の受光領域を用いて得られたトラッキングエラー信号とを出力する。チルト補正回路はこの両信号を用いて各種制御を行なう。
【００１８】
またこれによると、本発明の光ディスク装置が備えるチルト発生量検出回路は、所定のタイミング、例えば光ディスクのスピンアップ処理が開始された場合等に、対物レンズを光ディスクの径方向に移動させながら全反射信号とトラッキングエラー信号を検出する。そして予め定められた時間、例えばトラッキングエラー信号の一周期分の時間において、全反射信号の値が最大になる時刻とトラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出する。そしてこの時間差をトラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値を、チルト発生量として取得する。
【００１９】
またこれによると、本発明の光ディスク装置は、チルト発生量とチルト発生量に応じたチルト補正量とを関連付けた関係情報を、ＲＯＭ等の記録媒体にあらかじめ記録している。補正量指示回路は、この関係情報を読み出し、読み出した関係情報とチルト発生量検出回路により検出された現在のチルト発生量とを比較してチルト補正に必要なチルト補正量を決定する。決定されたチルト補正量はチルト補正回路に通知され、チルト補正回路がチルト補正を行なう際に用いられる。
【００２０】
またこれによると、チルト補正回路が、チルト補正量に応じて前記アクチュエータに対する駆動信号のレベルを決定して前記対物レンズの傾動を行うことによってチルト補正を行う。或いはチルト補正回路が、チルト補正量に応じて前記液晶素子に備えられた電極に印加する電圧を決定して収差補正を行うことによりチルト補正を行う。
【００２１】
また本発明の光ディスク装置は、光ビームを光ディスクの記録面に照射させ前記光ディスクからの反射光を受光する対物レンズと、前記対物レンズを光ディスクの径方向に移動させる径方向移動手段と、光ディスクで反射された反射光を電気信号に変換する受光手段と、前記受光手段により受光した反射光を電気信号に変換した反射信号、及び前記反射信号に含まれるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うチルト補正手段とを備えた光ディスク装置であって、前記径方向移動手段を用いて前記対物レンズを移動させながら、前記受光手段により前記反射信号および前記トラッキングエラー信号を検出し、予め定めた期間内において前記反射信号の値が最大になる時刻と前記トラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、前記時間差を前記トラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値をチルト発生量として検出するチルト発生量検出手段と、前記チルト発生量と、前記チルト補正手段が前記チルト発生量を低減させるのに用いるチルト補正量との関係を示した関係情報を記録する関係情報記録手段と、前記関係情報記録手段より前記関係情報を読み出し、前記関係情報と前記チルト発生量検出手段により検出されたチルト発生量とに基づいて前記チルト補正量を決定し、決定した前記チルト補正量を前記チルト補正手段に与える補正量指示手段とを備え、前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うことを特徴としている。
【００２２】
これによると、本発明の光ディスク装置は、対物レンズ、対物レンズを光ディスクの径方向に動かすアクチュエータ（＝径方向移動手段）、光電変換を行なう光検出器（＝受光手段）を備えている。光検出器は、受光領域全体により受光した全ての光を光電変換した信号である反射信号と、分割された複数の受光領域を用いて得られたトラッキングエラー信号とを出力する。チルト補正回路（＝チルト補正手段）は、この両信号を用いて各種制御を行なう。
【００２３】
またこれによると、本発明の光ディスク装置が備えるチルト発生量検出回路（＝チルト発生量検出手段）は、所定のタイミング、例えば光ディスクのスピンアップ処理が開始された場合等に、対物レンズを光ディスクの径方向に移動させながら全反射信号とトラッキングエラー信号を検出する。そして予め定められた時間、例えばトラッキングエラー信号の一周期分の時間において、反射信号の値が最大になる時刻とトラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出する。そしてこの時間差をトラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値を、チルト発生量として取得する。
【００２４】
またこれによると、本発明の光ディスク装置は、チルト発生量とチルト発生量に応じたチルト補正量とを関連付けた関係情報を、ＲＯＭ等の記録媒体（＝関係情報記録手段）にあらかじめ記録している。そして補正量指示回路（＝補正量指示手段）は、この関係情報を読み出し、読み出した関係情報とチルト発生量検出回路により検出された現在のチルト発生量とを比較してチルト補正に必要なチルト補正量を決定する。決定されたチルト補正量はチルト補正回路に与えられ、チルト補正回路がチルト補正を行なう際に用いられる。
【００２５】
また本発明の光ディスク装置は、前記対物レンズの径方向傾斜角度を変化させる傾動手段を備え、前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、前記傾動手段に対する駆動信号のレベルを決定して前記対物レンズの傾動を行うことを特徴としている。
【００２６】
これによると本発明の光ディスク装置は、アクチュエータが対物レンズの径方向傾斜角度を変化させる機能を備えている（＝傾動手段）。そしてチルト補正回路が、チルト補正量に応じて、アクチュエータに対して対物レンズの傾動を指示する駆動信号の大きさを決定することによりチルト補正を行う。
【００２７】
また本発明の光ディスク装置は、収差の補正を行う液晶素子を備え、前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、前記液晶素子に備えられた電極に印加する電圧を決定して収差補正を行うことを特徴としている。
【００２８】
これによると、本発明の光ディスク装置は、光ディスクのチルトによって発生するコマ収差を補正するための液晶素子を備えている。そしてチルト補正回路が、チルト補正量に応じて、液晶素子が備える電極に対して印加する電圧の大きさを決定してコマ収差を低減させることによりチルト補正を行う。
【発明の効果】
【００２９】
本発明の光ディスク装置によれば、所定の時間において全反射信号の値が最大になる時刻とトラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、この時間差をトラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値を、チルト発生量として取得する。そしてあらかじめ記録されている関係情報と検出したチルト発生量とからチルト補正量を取得してチルト補正を行なう。このため、従来のようにチルト補正量を複数回変化させて再生信号が最適となるチルト補正量を学習する必要がなく、処理時間を短縮することが可能できる。また、チルト補正用の装置を新規に追加する必要もない。また、処理時間が短いため、任意のタイミングで行なうことが可能であり、例えば周囲温度変化時等にチルト補正処理を行なうことができる。また、チルト補正回路が、チルト補正量に応じて、アクチュエータに対する対物レンズの駆動信号の大きさ、或いは液晶素子の電極に印化する電圧の大きさを決定する。このため、従来から存在するチルト補正回路の機能を変更することなく、補正量指示部より与えられたチルト補正量を用いてチルト補正を行なうことができる。
【００３０】
また本発明の光ディスク装置によれば、所定の時間において反射信号の値が最大になる時刻とトラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、この時間差をトラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値を、チルト発生量として取得する。そしてあらかじめ記録されている関係情報と検出したチルト発生量とからチルト補正量を決定してチルト補正を行なう。このため、従来のようにチルト補正量を複数回変化させて再生信号が最適となるチルト補正量を学習する必要がなく、処理時間を短縮することが可能である。また、チルト補正用の装置を新規に追加する必要もない。また、処理時間が短いため、任意のタイミングで行なうことが可能であり、例えば周囲温度変化時等にチルト補正処理を行なうことができる。
【００３１】
また本発明の光ディスク装置によれば、チルト補正回路が、チルト補正量に応じて、アクチュエータに対する対物レンズの駆動信号の大きさを決定する。このため、従来から存在するチルト補正回路の機能を変更することなく、補正量指示部より与えられたチルト補正量を用いてチルト補正を行なうことができる。
【００３２】
また本発明の光ディスク装置によれば、チルト補正回路が、チルト補正量に応じて、液晶素子の電極に対して印化する電圧の大きさを決定する。このため、従来から存在するチルト補正回路の機能を変更することなく、補正量指示部より与えられたチルト補正量を用いてチルト補正を行なうことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
以下に本発明の実施形態を、図面を参照しながら説明する。なお、ここで示す実施形態は一例であり、本発明はここに示す実施形態に限定されるものではない。
【００３４】
図１は、本発明の一実施形態に係るディスクプレイヤ１００（＝光ディスク装置）の構成図である。ディスクプレイヤ１００は、光ピックアップ１、ＲＦアンプ３１、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）３２、再生処理回路３３、出力回路３４、システムコントローラ４１、ドライバ４２、送りモータ５１、スピンドルモータ５２、表示部６１、及び操作部７１を備えている。
【００３５】
光ピックアップ１は、光ディスク９１に光ビームを照射して、光ディスク９１（ＣＤ、ＤＶＤ、又は、ＢＤ）に記録された音声情報、映像情報等の各種情報の読み取りを行う。この光ピックアップ１には、ＣＤ用レーザ、ＤＶＤ用レーザ、ＢＤ用レーザが設けられている。
【００３６】
ＲＦアンプ３１、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）３２、再生処理回路３３、および出力回路３４は、光ピックアップ１により得られた音声情報、映像情報等の情報を、音声および映像に変換して、それぞれ不図示のスピーカおよびモニタに出力するためのものである。
【００３７】
ＲＦアンプ３１は、光ピックアップ１からの音声信号や映像信号等を増幅する。ＤＳＰ３２および再生処理回路３３は、ＲＦアンプ３１からの信号に対して、再生のための各種情報処理（例えば映像処理等）を施す。出力回路３４は、再生処理回路３３からの信号を、不図示のスピーカおよびモニタに出力するためにＤ／Ａ変換処理等を行う。
【００３８】
システムコントローラ４１、およびドライバ４２は、操作部７１を介して受け付けた指示操作に基づいて、光ピックアップ１、送りモータ５１，及びスピンドルモータ５２の動作を制御するためのものである。システムコントローラ４１は、操作部７１からの情報を受け付けてＤＳＰ３２に伝送すると共に、ＤＳＰ３２からの情報を表示部６１に伝送する。ドライバ４２は、ＤＳＰ３２からの指示に基づいて、光ピックアップ１、送りモータ５１、及びスピンドルモータ５２の動作を制御する。
【００３９】
送りモータ５１は、ＤＳＰ３２の指示に基づいて動作するドライバ４２によって駆動される。それによって光ピックアップ１は光ディスク９１の径方向に移動する。スピンドルモータ５２は、ドライバ４２によって光ディスク９１を回転方向に駆動する。また、ドライバ４２はＤＰＳ３２の指示に基づいて光ピックアップ装置１が備える対物レンズ１７のフォーカス制御を行う。
【００４０】
操作部７１は、ユーザが光ディスク９１の再生等の各種指示をディスクプレイヤ１００に対して行なうための入力インターフェースである。表示部８１は、ディスクプレイヤ１００が保持する各種情報を、液晶パネル等を用いてユーザに対して表示する。
【００４１】
図２は、本発明の一実施形態に係る光ピックアップ１の光学系を示す概略図である。光ピックアップ１は、ＣＤ等の光ディスク９１に対して、光ビームを照射して反射光を受光することにより光ディスク９１の記録面に記録されている情報を読み取ることを可能とする装置である。なお、光ピックアップ１で情報の読み取り等が可能な光ディスク９１の種別は、本実施形態に示す種別に限らず、本発明の範囲を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【００４２】
この光ピックアップ１は、第１光源１１ａ、第２光源１１ｂ、ダイクロプリズム１２、コリメートレンズ１３、ビームスプリッタ１４、立ち上げミラー１５、液晶素子１６、対物レンズ１７、検出レンズ１８、光検出器１９（＝受光手段）、アクチュエータ２１（＝径方向移動手段、傾動手段）、信号生成回路２２、チルト補正回路２３（＝チルト補正手段）、トラッキング制御回路２４、チルト発生量検出回路２５（＝チルト発生量検出手段）、関係情報記録部２６（＝関係情報記録手段、記録媒体）、補正量指示回路２７（＝補正量指示手段）を備えている。以下に、光ピックアップ１を構成する各部の詳細を説明する。
【００４３】
第１光源１１ａは、ＤＶＤに対応する６５０ｎｍ帯の光ビームを出射できる半導体レーザで、第２光源１１ｂは、ＢＤに対応する４０５ｎｍ帯の光ビームを出射できる半導体レーザである。なお、本実施形態では、光源２、３として、単一の波長の光ビームのみを出射する半導体レーザを用いているがこれに限られる趣旨ではなく、例えば、２種類の波長の光ビームを出射できるように２つの発光点を有する２波長一体型の半導体レーザを用いても構わない。
【００４４】
ダイクロプリズム１２は、ＤＶＤ用の光ビームを出射する第１光源１１ａから出射される光ビームを透過し、ＢＤ用の光ビームを出射する第２光源１１ｂから出射される光ビームを反射する。そして、第１光源１１ａおよび第２光源１１ｂから出射される光ビームの光軸を一致させる。ダイクロプリズム１２において、透過又は反射された光ビームは、コリメートレンズ１３に送られる。
【００４５】
コリメートレンズ１３は、ダイクロプリズム１２を通過した光ビームを平行光に変換する。ここで、平行光とは、第１光源１１ａおよび第２光源１１ｂから出射された光ビームの全ての光路が光軸とほぼ平行である光をいう。コリメートレンズ１３で平行光とされた光ビームは、ビームスプリッタ１４に送られる。
【００４６】
ビームスプリッタ１４は、入射する光ビームを分離する光分離素子として機能し、コリメートレンズ１３から送られてきた光ビームを透過して、光ディスク９１側へと導くとともに、光ディスク９１で反射された反射光を反射して光検出器１９側へと導く。ビームスプリッタ１４を透過した光ビームは、立ち上げミラー１５に送られる。
【００４７】
立ち上げミラー１５は、ビームスプリッタ１４を透過してきた光ビームを反射して光ディスク９１へと導く。立ち上げミラー１５は、ビームスプリッタ１４からの光ビームの光軸に対して４５°傾いた状態となっており、立ち上げミラー１５で反射された光ビームの光軸は、光ディスク９１の記録面と略直交する。立ち上げミラー１５で反射された光ビームは、液晶素子１６に送られる。
【００４８】
液晶素子１６は、透明電極に挟まれた液晶（いずれも図示せず）に電圧を印加することで、液晶分子がその配向方向を変える性質を利用して、屈折率の変化を制御し、液晶素子１６を透過する光ビームの位相の制御を可能とする素子である。この液晶素子１６を配置することによって、光ディスク９１の記録面を保護する保護層の厚みの違い、或いは光ディスク９１の径方向傾き等によって生じる球面収差、或いはコマ収差の補正が可能となる。液晶素子１６を通過した光ビームは対物レンズ１７へと送られる。
【００４９】
対物レンズ１７は、液晶素子１６を透過した光ビームを光ディスク９１の記録面上に集光させる。また、対物レンズ１７は後述するアクチュエータ２１によって、例えば、図２の上下方向および左右方向に移動可能とされており、フォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号に基づいてその位置が制御される。
【００５０】
なお、本実施形態においては、液晶素子１６も対物レンズ１７と共に移動できるようにアクチュエータ２１に搭載されている。ただし、液晶素子１６は、必ずしもアクチュエータ２１に搭載する必要はなく、光学系の構成に応じて、その構成は変更可能である。
【００５１】
光ディスク９１で反射された反射光は、対物レンズ１７、液晶素子１６の順に通過し、立ち上げミラー１５で反射された後、更にビームスプリッタ１４で反射されて、検出レンズ１８によって光検出器１９上に設けられる受光素子へと集光される。
【００５２】
光検出器１９は、フォトダイオード等の受光素子を用いて受光した光情報を電気信号に変換する。変換により得られた電気信号は後述する信号生成回路２２に送られ、各種信号を生成するのに用いられる。
【００５３】
アクチュエータ２１は、ドライバ４２で生成され出力されたレンズ駆動信号に従って、対物レンズ１７を光ディスク９１の径方向に移動させるトラッキング動作を行う。アクチュエータ２１は、それには限定されないが、ここでは永久磁石（不図示）によって形成される磁界内にコイル（不図示）に駆動電流（＝レンズ駆動信号）を流し、ローレンツ力にて対物レンズ１７を駆動することができるものであってもよい。
【００５４】
またアクチュエータ２１は、対物レンズ１７より照射されるレーザ光の光軸が揺動するように対物レンズ１７を傾動させるチルト動作、及び対物レンズ１７を光ディスク９１に対して接近離反するように移動させるフォーカス動作を行う。
【００５５】
信号生成回路２２は、光検出器１９の出力信号を受け、出力信号から各種信号、例えば光ディスク９１の記録面に記録されているデータの再生信号、フォーカス制御を行うためのフォーカスサーボ信号、或いはトラッキング制御を行うためのＴＥ信号（＝トラッキングエラー信号）等が生成される。生成された信号は各種機能部に出力される。
【００５６】
チルト補正回路２３は、信号生成回路２２により生成された光ディスクからの全反射信号（＝反射信号）及びＴＥ信号を受信し、これらの信号に基づいてチルト補正量の決定を行う。そして決定したチルト補正量に基づき、液晶素子１６、或いはアクチュエータ２１を駆動させることによりチルト補正を行う。
【００５７】
トラッキング制御回路２４は、信号生成回路２２により生成されたＴＥ信号を受信し、この信号に基づいて対物レンズ１７のトラッキング制御を行う。具体的には、ＴＥ信号、或いはシーク制御回路（不図示）より受信したトラックジャンプ信号により対物レンズの径方向位置を決定し、アクチュエータ２１を用いて対物レンズ１７の径方向移動を行う。
【００５８】
チルト発生量検出回路２５は、トラッキング制御が停止している状態において光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向へ移動した際の、全反射信号の値が最大になる時間とＴＥ信号の値が０となる時間との時間差から、チルト発生量の大きさを検出する。なお、チルト発生量の検出処理の詳細については後述する。
【００５９】
関連情報記録部２６は、チルト発生量検出回路２５が検出するチルト発生量と、前記チルト発生量を０とするために必要な補正量（＝チルト補正量）との関係を示した情報（＝関係情報）を記録している。具体的には、図９に示すような、チルト発生量Δｔとチルト補正量の大きさとの比例関係を示したグラフ情報を用いる。或いは、チルト発生量とチルト補正量と関連付けて記録したテーブル情報を用いる形態であってもよい。なおこの情報は、例えばディスクプレイヤ１００の工場出荷時等に、ディスクプレイヤ１００毎に調査された各種パラメータに基づいて作成されていることが望ましい。
【００６０】
補正量指示回路２７は、関連情報記録部２６から関係情報を読み出し、読み出した関係情報とチルト発生量検出回路２５より受信したチルト発生量とを参照する。そしてチルト発生量検出回路２５より受信したチルト発生量を０とするために必要なチルト補正量を取得する。取得されたチルト補正量は、チルト補正回路２３に対して送信される。チルト補正量を受信したチルト補正回路２３はその後、受け付けたパラメータに基づいて、対物レンズ１７の傾き、或いは液晶素子１６に対して印化する電圧の大きさを調整する。
【００６１】
次に、本実施形態の光ピックアップ１の移動に伴う、出力信号の変化について図６及び図７を用いて説明する。図６は、トラッキング制御回路２４によるトラッキング制御が停止している状態において、光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向中心から径方向外縁部（＝矢印αの示す方向）へ移動した際の、信号生成回路２２が出力する全反射信号及びＴＥ信号の変化を、光ディスク９１の情報記録面との関係で示したものである。
【００６２】
なお全反射信号とは、光検出器１９が検出する全光量の総和の変化を示した信号であり、通常は対物レンズ１７の中心軸と光ディスク９１の情報記録面に存在するトラックの中心とが一致する時に最大となる。またＴＥ信号とは、複数に分割された光検出器１９の受光領域を用いて、受光領域ごとの受光量の差を検出し、検出した値に基づいて算出したトラッキングエラー発生量の変化を示した信号である。通常は対物レンズ１７の中心軸とトラックの中心とが一致する時に０となるが、光ディスク９１にチルトが発生している場合はこの限りではない。
【００６３】
図６において、図６（ａ）は光ディスク９１の情報記録面の断面図を示している。図６（ｂ）は、光ピックアップ１が図中の矢印αの方向へ移動した際の、情報記録面から検出される全反射信号の変化を示している。図６（ｃ）は、光ピックアップ１が図中の矢印αの方向へ移動した際の、情報記録面から検出されるＴＥ信号の変化を示している。
【００６４】
図６において、各図に共通して記述されている破線ＣＮＴは、光ディスク９１の各トラックの中心位置を示したものである。図６においては光ディスク９１にチルトは発生しておらず、図６（ａ）の情報記録面は光ディスク９１の径方向に対して水平となっている。従って、対物レンズ１７の中心軸が破線ＣＮＴ、つまり各トラックの中心位置と一致した際に、全反射信号が最大かつＴＥ信号が０となっている。
【００６５】
図７は、図６と同様、トラッキング制御回路２４によるトラッキング制御が停止している状態において、光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向中心から径方向外縁部へ移動した際の全反射信号（図７（ｂ））及びＴＥ信号（図７（ｃ））の変化を、光ディスク９１の情報記録面（図７（ａ））との関係で示したものである。
【００６６】
図６と異なり、光ディスク９１にチルトが発生しているため、情報記録面が光ディスク９１の径方向に対して水平となっていない。この場合、全反射信号については図６（ｂ）と同様に、対物レンズ１７の中心軸が破線ＣＮＴと一致した際に最大となる。しかしＴＥ信号については図６（ｃ）とは異なり、破線ＣＮＴとは異なる位置（図７（ｃ）の例では破線ＣＮＴの右側に存在する破線ＴＥ０）において、ＴＥ信号が０となる。このように、光ディスク９１にチルトが発生している場合は、全反射信号が最大となる径方向位置とＴＥ信号が０となる径方向位置との間にズレが生じる。
【００６７】
次に、本実施形態の光ピックアップ１によって出力される電気信号の時間経過に伴う変化を、図８を用いて説明する。図８は、信号生成回路２２が出力する全反射信号及びＴＥ信号の変化を、時間軸をもとに示したものである。図８は、図７に示すチルトが発生している状態、かつトラッキング制御が停止している状態において、光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向中心から径方向外縁部へ移動した際の信号の変化を示している。
【００６８】
図８において、図８（ａ）は、光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向へ移動した際に、情報記録面から検出される全反射信号の変化を、時間軸をもとに示したものである。同様に図８（ｂ）は、光ピックアップ１が光ディスク９１の径方向へ移動した際に、情報記録面から検出されるＴＥ信号の変化を、時間軸をもとに示したものである。なお図８（ａ）と図８（ｂ）の時間軸は共通のものであり、従って図８（ａ）および図８（ｂ）に共通に示されている破線、例えば破線ｔ１は、同一の時刻を表している。
【００６９】
図８において、破線ｔ１は全反射信号が最大となる時刻を、破線ｔ２はＴＥ信号が０となる時刻を表している。また周期Ｔは、ＴＥ信号が変化する一周期の時間の長さを示している。図８に示す例では、図７（ａ）に示すチルトが情報記録面に発生しているため、破線ｔ１、つまり図７において対物レンズ１７の中心軸が破線ＣＮＴの位置を通過する時刻と、破線ｔ２、つまり図７において対物レンズ１７の中心軸が破線ＴＥ０の位置を通過する時刻とが、一致しない状態となっている。
【００７０】
次に、従来のディスクプレイヤ１００におけるチルト補正処理について、図１及び図２のブロック図と、図１０および図１１のフロー図とを用いて説明する。ここでは、従来のチルト補正処理が発生する処理として、スピンアップ処理、及びシーク処理を例にあげて説明する。図１０は、従来のディスクプレイヤ１００が光ディスク９１に対するスピンアップ処理を行う際の処理フローを示したフロー図である。スピンアップ処理とは、光ディスク９１に対し、読み込み、或いは書き込み等のディスクアクセスが可能である状態にするための処理である。
【００７１】
スピンアップ処理の開始は、例えばディスクプレイヤ１００に対する光ディスク９１の挿入を、システムコントローラ４１が検知した際に開始される。光ディスク９１の挿入を検知したシステムコントローラ４１は、ステップＳ１１０において、送りモータ５１及びスピンドルモータ５２の起動を行う。
【００７２】
次にステップＳ１２０において、光ピックアップ１の第１光源１１ａ或いは第２光源１１ｂが、光ディスク９１に対する光ビームの照射を開始する。この反射光を光検出器１９が光電変換し、得られた信号がＲＦアンプ３１及びＤＳＰ３２に送られる。この信号をもとに、送りモータ５１がステップＳ１３０においてフォーカス制御を開始する。またこの信号をもとに、トラッキング制御回路２４及び送りモータ５１が、ステップＳ１４０においてトラッキング制御を開始する。
【００７３】
フォーカス制御及びトラッキング制御が開始されると、ステップＳ１５０において、両制御処理に用いるパラメータ、例えば光ピックアップ１の径方向位置等を決定するパラメータ取得処理が行われる。例えばトラッキング制御であれば、信号生成回路２２より出力されるＴＥ信号に基づいて、光ピックアップ１の径方向位置を示すパラメータの取得が行われる。
【００７４】
次にステップＳ１６０において、チルト補正量の取得処理が行われる。この処理は対物レンズ１７の傾斜角度を所定の範囲内で変化させつつ、或いは液晶素子１６に印化する電圧を変化させつつ、信号生成回路２２より出力される全反射信号及びＴＥ信号をチルト補正回路２３が検出することにより行われる。チルト補正回路２３は、全反射信号に含まれる再生信号が最適となる時の対物レンズ１７の傾斜角度、或いは液晶素子１６に印加している電圧をもとに、チルト補正量を取得する。取得されたチルト補正量は、メモリ等に一時的に記録される。なおチルト補正量の取得は、精度を向上させるため所定回数繰り返して行い、その平均をとる等の処理を行うことが望ましい。
【００７５】
次にチルト補正回路２３は、ステップＳ１７０において、記録されているチルト補正量を用いて、液晶素子１６或いはアクチュエータ２１の制御を行うことによりチルト補正を行う。次にステップＳ１８０において、光ピックアップ１が光ディスク９１の情報記録面からアドレス情報の読み込みを開始する。以後、アドレス情報の読み込みは継続的に行われるため、光ディスク９１に対するディスクアクセスが可能となる。以上により、スピンアップ処理は終了する。
【００７６】
図１１は、従来のディスクプレイヤ１００が光ディスク９１に対するシーク処理を行う際の処理フローを示したフロー図である。シーク処理は、例えば光ディスク９１から特定の情報を読み込むための再生処理指示を、システムコントローラ４１が検知した際に開始される。シーク処理が開始された場合、まずシステムコントローラ４１は、ステップＳ２１０において、光ピックアップ１が光ビームを照射している現在のトラックのアドレス情報（＝現在アドレス）を取得する。そしてステップＳ２２０において、現在アドレスと指示されたアドレス（＝目標アドレス）が一致するかどうかの判定を行う。
【００７７】
一致する場合はシーク処理を行う必要がないため、本処理を終了する。一致しない場合、ステップＳ２３０において、目標アドレスと現在アドレスの差があらかじめ定められた所定値を越えるかどうかの判定を行う。なお所定値の具体的な値としては、例えばアドレス差をトラック本数に換算し、トラック本数にして１００本程度のアドレス差を所定値とする方法があげられる。
【００７８】
所定値を越えない場合、ステップＳ２３５において、近距離のシーク処理を行うためのトラックジャンプを行う。近距離のシーク処理においてはチルト補正処理を改めて行う必要がないため、トラックジャンプを行った後、再びステップＳ２１０に移行する。そして現在アドレスと目標アドレスとの距離の確認を再び行う。
【００７９】
逆にステップＳ２３０において所定値を越える場合、遠距離のシーク処理を開始する。遠距離のシーク処理を行った場合、チルト補正処理を改めて実行する必要がある。このため、まずステップＳ２４０において、トラッキング制御回路２４によるトラッキング制御の停止を行う。次にステップＳ２５０においてディスク回転数を切り換え、ステップＳ２６０において光ピックアップ１のスレッド移動を行い、ステップＳ２７０においてディスク半径位置に応じたチルト補正処理を行う。
【００８０】
なお、ステップＳ２７０のチルト補正処理の内容については、図１０のステップＳ１６０及びステップＳ１７０と同内容であるためここでは説明を省略する。チルト補正が完了した後、ステップＳ２８０においてトラッキング制御回路２４によるトラッキング制御の開始を行った後、ステップＳ２１０に移行する。そして現在アドレスと目標アドレスとの距離の確認を再び行う。
【００８１】
次に、本発明の一実施形態に係るディスクプレイヤ１００においてチルト補正処理が発生する処理について、図１及び図２のブロック図と、図３および図４のフロー図とを用いて説明する。図３は、本発明のディスクプレイヤ１００が光ディスク９１のスピンアップ処理を行う際の処理フローを示したフロー図である。なお、従来の処理フローと内容が一致する処理については、図１０と同じ処理番号を付加している。
【００８２】
ステップＳ１１０からステップＳ１３０については、従来のディスクプレイヤ１００と同様の処理を行うため、説明を省略する。ステップＳ１３０の次のステップＳ１３５において、本発明のチルト補正フローの実施を行う。なお、本発明のチルト補正フローの詳細については後述する。
【００８３】
チルト補正フローを行った後、従来と同様にステップＳ１４０からステップＳ１５０の処理を行う。ただし従来のステップＳ１６０からステップＳ１７０に関しては、ステップＳ１３５でチルト補正フローを実施しているため不要となり、省略することができる。最後にステップＳ１８０においてアドレスリード処理の開始を行い、本フローを終了する。
【００８４】
図４は、本発明の一実施形態に係るディスクプレイヤ１００が光ディスク９１に対するシーク処理を行う際の処理フローを示したフロー図である。なお、従来の処理フローと内容が一致する処理については、図１１と同じ処理番号を付加している。
【００８５】
ステップＳ２１０からステップＳ２６０については、従来の処理フローとディスクプレイヤ１００と同様の処理を行うため、説明を省略する。本発明では、ステップＳ２６０の次のステップＳ２６５において、本発明のチルト補正フローを実施する。なお、チルト補正フローの詳細については後述する。
【００８６】
ステップＳ２６５でチルト補正フローを行うため、従来のステップＳ２７０は不要となり、省略することができる。最後にステップＳ２８０においてトラッキング制御回路２４によるトラッキング制御の開始を行った後、ステップＳ２１０に移行する。
【００８７】
次に、本発明の一実施形態に係るディスクプレイヤ１００のチルト補正フローについて、図１及び図２のブロック図と、図５のフロー図を用いて説明する。なおこのチルト補正フローは、図３のステップＳ１３５及び図４のステップＳ２６５の内容を詳細に示した処理フローである。ステップＳ１３５とステップＳ２６５とは処理内容が同じであるため、図５に示す一つのフロー図で説明するものとする。
【００８８】
図３のステップＳ１３５、或いは図４のステップＳ２６５においてチルト補正フローの開始が指示されることにより、図５の処理フローが開始される。まずステップＳ３１０において、トラッキング制御回路２４によるトラッキング制御が停止している状態であり、かつ送りモータ５１等によるフォーカス制御が動作している状態であるかの確認が行われる。上記の状態とは異なる場合、トラッキング制御の停止或いはフォーカス制御の開始を行い、上記の状態に移行する。
【００８９】
次にチルト発生量検出回路２５は、ステップＳ３２０において、送りモータ５１により光ピックアップ１を光ディスク９１の径方向に移動させながら光ビームを情報記録面に照射し、光受光器１９及び信号生成回路２２を用いて全反射信号及びＴＥ信号の測定を開始する。
【００９０】
次にチルト発生量検出回路２５は、ステップＳ３３０において、ＴＥ信号の波形より一周期の長さを測定する。図８に示す例では、図８（ｂ）の周期Ｔが、ＴＥ信号一周期の長さとなる。
【００９１】
次にチルト発生量検出回路２５は、ステップＳ３４０において、信号生成回路２２から取得した全反射信号の値が最大となる時刻（＝ｔ１）を取得する。図８に示す例では、図８（ａ）及び図８（ｂ）に共通のｔ１が上記時刻を表している。なお、図８に示すように時間の経過（図中では右方向へ進む）と共に、常に新しいｔ１が検知される。このためチルト発生量検出回路２５は、常に最新のｔ１を保持すると共に、過去所定時間内にｔ１を検出した時刻をメモリ等に記録しておくことが望ましい。
【００９２】
次にチルト発生量検出回路２５は、ステップＳ３５０において、信号生成回路２２から取得したＴＥ信号が０となる時刻（＝ｔ２）を取得する。図８に示す例では、図８（ａ）及び図８（ｂ）に共通のｔ２が上記時刻を表している。ｔ１と同様、ｔ２も時間の経過と共に新しいｔ２が検知されるため、チルト発生量検出回路２５は、常に最新のｔ２を保持すると共に、過去所定時間内にｔ２を検出した時刻をメモリ等に記録しておくことが望ましい。
【００９３】
次にチルト発生量検出回路２５は、取得した周期Ｔ、ｔ１、ｔ２より、チルト発生量（＝Δｔ）の算出を行う。具体的には、以下の数式によってΔｔを算出する。
Δｔ＝（ｔ２−ｔ１）／周期Ｔ
なお通常、ｔ２に対するｔ１が複数存在する場合、時間差の絶対値が小さいｔ１を優先して用いる。図８の例では、ｔ２の左側に位置するｔ１がこれに相当し、ｔ２の右側に存在するｔ１は無視される。これは、ｔ２右側のｔ１は、異なるトラックにおいて全反射信号の値が最大となった時刻を表したものであるためである。
【００９４】
次にチルト発生量検出回路２５は、ステップＳ３２０からステップＳ３６０までの処理を、あらかじめ定められた所定回数だけ実行したかどうかの判定を行う。所定回数の実行を行っていないと判定された場合、ステップＳ３２０に移行し、チルト発生量の取得処理を再び行う。逆に所定回数行ったと判定された場合、次のステップＳ３８０に移行する。
【００９５】
次に補正量指示回路２７は、ステップＳ３８０において、メモリ等の記録部から、チルト補正用データ（＝関係情報）を読み出す。チルト補正用データとは、例えば図９に示すような、チルト発生量Δｔと、Δｔを０にする（＝チルトを補正する）ために必要なチルト補正量との関係を示したデータである。
【００９６】
チルト補正量とは、例えば対物レンズ１７の傾きを変えるためにアクチュエータ２１に対して送信する駆動信号レベルの大きさや、或いは液晶素子１６の電極に印加する電圧の大きさを示したものである。なお図９では、チルト補正用データの例としてグラフデータを示しているが、Δｔとチルト補正量との関係を対応付けてテーブル構造で示したテーブルデータの形式であってもよい。
【００９７】
次に補正量指示回路２７は、ステップＳ３９０において、読み出したチルト補正用データを用いて、ステップＳ３６０で取得されたΔｔを０にするためのチルト補正量を決定する。なおステップＳ３６０は通常、ステップＳ３７０の処理分岐が存在するため、複数回実行される。このため、例えば複数回取得されたΔｔの平均値を用いてチルト補正量を決定する。或いは、取得した全てのチルト発生量Δｔに対応するチルト補正量を決定した後、決定した複数のチルト補正量の平均を算出する方法であってもよい。
【００９８】
次に補正量指示回路２７は、ステップＳ４００において、ステップＳ３９０で取得したチルト補正量をチルト補正回路２３に与える。チルト補正回路２３は以後、受け付けたチルト補正量を用いてチルト補正を行う。具体的には、例えばチルト補正量に基づいて、対物レンズ１７を傾動させるための駆動信号をアクチュエータ２１に送信する。或いは、チルト補正量に基づいて液晶素子１６に印加する電圧を制御することにより、液晶素子１６が行うコマ収差補正の補正量を制御する。以上により、本処理を終了する。
【００９９】
［その他の実施の形態］
以上、好ましい実施の形態および実施例をあげて本発明を説明したが、本発明は必ずしも上記実施の形態および実施例に限定されるものではなく、その技術的思想の範囲内において様々に変形して実施することができる。
【０１００】
従って本発明は、以下の形態にも適用可能である。
（Ａ）本実施形態では、チルト補正フロー（図５）が発生する処理として、スピンアップ処理とシーク処理とを例として説明したが、これ以外の処理においてチルト補正が必要となった場合において、本発明のチルト補正フローを実施する形態であってもよい。
【０１０１】
（Ｂ）本実施形態では、図４に示すシーク処理を行う際に、ステップＳ２６０においてスレッド移動を行った後に、ステップＳ２６５においてチルト補正フローの実施を行っている。ここで、ステップＳ２６０の直後に、信号整定を行うための整定時間を一定時間（例えば数ｍｓから数十ｍｓ程度）とる形態であってもよい。
【０１０２】
（Ｃ）本実施形態では、チルト補正回路２３が制御を行う対象として、対物レンズ１７の傾動を行うアクチュエータ２１、及び液晶素子１６を例にして説明を行っているが、これら以外のチルト補正装置に対して、本発明のチルト補正フローで得られたチルト補正量に基づき、チルト補正回路２３がチルト補正指示を行う形態であってもよい。
【０１０３】
（Ｄ）本実施形態では、光ピックアップ１を備えた光ディスク装置としてディスクプレイヤ１００を例として説明したが、光ピックアップ１を備えたその他の光ディスク装置、例えばＣＤ−Ｒドライブ等の光ディスク記録装置においても、本発明は実施可能である。
【０１０４】
（Ｅ）本実施形態では、トラッキング制御を行なうために信号生成回路２２、チルト補正回路２３、トラッキング制御回路２４、チルト発生量検出回路２５、補正量指示回路２７を備えているが、これら複数の回路と同等の機能を持つプログラムがマイクロプロセッサ等の処理装置上で実行されることによって本発明のチルト補正処理が実現される形態でもよい。
【図面の簡単な説明】
【０１０５】
【図１】は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置を示す構成図である。
【図２】は、本発明の一実施形態に係る光ピックアップ装置の光学系を示す構成図である。
【図３】は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置のスピンアップ処理の処理フローを示したフロー図である。
【図４】は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置のシーク処理の処理フローを示したフロー図である。
【図５】は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置のチルト補正処理の処理フローを示したフロー図である。
【図６】は、チルト非発生時に光ディスク記録面から取得される全反射信号及びＴＥ信号の関係を示した模式図である。
【図７】は、チルト発生時に光ディスク記録面から取得される全反射信号及びＴＥ信号の関係を示した模式図である。
【図８】は、チルト発生時に光ディスク記録面から取得される全反射信号及びＴＥ信号の時間経過に伴う変化を示した模式図である。
【図９】は、本発明のチルト補正処理が用いる関係情報をグラフ化したグラフ図である。
【図１０】は、従来の光ディスク装置のスピンアップ処理の処理フローを示したフロー図である。
【図１１】は、従来の光ディスク装置のシーク処理の処理フローを示したフロー図である。
【符号の説明】
【０１０６】
１００ ディスクプレイヤ（光ディスク装置）
１ 光ピックアップ
１７ 対物レンズ
１９ 光検出器（受光手段）
２１ アクチュエータ（径方向移動手段、傾動手段）
２２ 信号生成回路
２３ チルト補正回路（チルト補正手段）
２４ トラッキング制御回路
２５ チルト発生量検出回路（チルト発生量検出手段）
２６ 関係情報記録部（関係情報記録手段）
２７ 補正量指示回路（補正量指示手段）
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源により発生された光ビームを光ディスクの記録面に照射させ前記光ディスクからの反射光を受光する対物レンズと、
前記対物レンズを光ディスクの径方向に移動させるとともに前記対物レンズの径方向傾斜角度を変化させるアクチュエータと、
収差の補正を行う液晶素子と、
光ディスクで反射された反射光を電気信号に変換する光検出器と、
前記光検出器により受光した全反射光を電気信号に変換した全反射信号、及び前記全反射信号に含まれるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うチルト補正回路と、
を備えた光ディスク装置であって、
前記アクチュエータを用いて前記対物レンズを径方向へ移動させながら、前記光検出器により前記全反射信号および前記トラッキングエラー信号を検出し、予め定めた期間内において前記全反射信号の値が最大になる時刻と前記トラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、前記時間差を前記トラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値をチルト発生量として検出するチルト発生量検出回路と、
前記チルト発生量と、前記チルト補正回路が前記チルト発生量を低減させるために用いるチルト補正量との関係を示した関係情報を記録する関係情報記録部と、
前記関係情報記録部より前記関係情報を読み出し、前記関係情報と前記チルト発生量検出回路により検出されたチルト発生量とに基づいて前記チルト補正量を決定し、決定した前記チルト補正量を前記チルト補正回路に与える補正量指示回路と
を備え、
前記チルト補正回路が、前記チルト補正量に応じて、前記アクチュエータに対する駆動信号のレベルを決定して前記対物レンズの傾動を行う、或いは前記液晶素子に備えられた電極に印加する電圧を決定して収差補正を行うこと
を特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
光ビームを光ディスクの記録面に照射させ前記光ディスクからの反射光を受光する対物レンズと、
前記対物レンズを光ディスクの径方向に移動させる径方向移動手段と、
光ディスクで反射された反射光を電気信号に変換する受光手段と、
前記受光手段により受光した反射光を電気信号に変換した反射信号、及び前記反射信号に含まれるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うチルト補正手段と、
を備えた光ディスク装置であって、
前記径方向移動手段を用いて前記対物レンズを移動させながら、前記受光手段により前記反射信号および前記トラッキングエラー信号を検出し、予め定めた期間内において前記反射信号の値が最大になる時刻と前記トラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、前記時間差を前記トラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値をチルト発生量として検出するチルト発生量検出手段と、
前記チルト発生量と、前記チルト補正手段が前記チルト発生量を低減させるのに用いるチルト補正量との関係を示した関係情報を記録する関係情報記録手段と、
前記関係情報記録手段より前記関係情報を読み出し、前記関係情報と前記チルト発生量検出手段により検出されたチルト発生量とに基づいて前記チルト補正量を決定し、決定した前記チルト補正量を前記チルト補正手段に与える補正量指示手段と、
を備え、
前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うこと
を特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
前記対物レンズの径方向傾斜角度を変化させる傾動手段を備え、
前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、前記傾動手段に対する駆動信号のレベルを決定して前記対物レンズの傾動を行うこと
を特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
収差の補正を行う液晶素子を備え、
前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、前記液晶素子に備えられた電極に印加する電圧を決定して収差補正を行うこと
を特徴とする請求項２または請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項１】
光源により発生された光ビームを光ディスクの記録面に照射させ前記光ディスクからの反射光を受光する対物レンズと、
前記対物レンズを光ディスクの径方向に移動させるとともに前記対物レンズの径方向傾斜角度を変化させるアクチュエータと、
収差の補正を行う液晶素子と、
光ディスクで反射された反射光を電気信号に変換する光検出器と、
前記光検出器により受光した全反射光を電気信号に変換した全反射信号、及び前記全反射信号に含まれるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うチルト補正回路と、
を備えた光ディスク装置であって、
前記アクチュエータを用いて前記対物レンズを径方向へ移動させながら、前記光検出器により前記全反射信号および前記トラッキングエラー信号を検出し、予め定めた期間内において前記全反射信号の値が最大になる時刻と前記トラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、前記時間差を前記トラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値をチルト発生量として検出するチルト発生量検出回路と、
前記チルト発生量と、前記チルト補正回路が前記チルト発生量を低減させるために用いるチルト補正量との関係を示した関係情報を記録する関係情報記録部と、
前記関係情報記録部より前記関係情報を読み出し、前記関係情報と前記チルト発生量検出回路により検出されたチルト発生量とに基づいて前記チルト補正量を決定し、決定した前記チルト補正量を前記チルト補正回路に与える補正量指示回路と
を備え、
前記チルト補正回路が、前記チルト補正量に応じて、前記アクチュエータに対する駆動信号のレベルを決定して前記対物レンズの傾動を行う、或いは前記液晶素子に備えられた電極に印加する電圧を決定して収差補正を行うこと
を特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
光ビームを光ディスクの記録面に照射させ前記光ディスクからの反射光を受光する対物レンズと、
前記対物レンズを光ディスクの径方向に移動させる径方向移動手段と、
光ディスクで反射された反射光を電気信号に変換する受光手段と、
前記受光手段により受光した反射光を電気信号に変換した反射信号、及び前記反射信号に含まれるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うチルト補正手段と、
を備えた光ディスク装置であって、
前記径方向移動手段を用いて前記対物レンズを移動させながら、前記受光手段により前記反射信号および前記トラッキングエラー信号を検出し、予め定めた期間内において前記反射信号の値が最大になる時刻と前記トラッキングエラー信号の値が０となる時刻との時間差を検出し、前記時間差を前記トラッキングエラー信号の一周期の時間で除算した値をチルト発生量として検出するチルト発生量検出手段と、
前記チルト発生量と、前記チルト補正手段が前記チルト発生量を低減させるのに用いるチルト補正量との関係を示した関係情報を記録する関係情報記録手段と、
前記関係情報記録手段より前記関係情報を読み出し、前記関係情報と前記チルト発生量検出手段により検出されたチルト発生量とに基づいて前記チルト補正量を決定し、決定した前記チルト補正量を前記チルト補正手段に与える補正量指示手段と、
を備え、
前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、光ディスクに発生しているチルトの補正を行うこと
を特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
前記対物レンズの径方向傾斜角度を変化させる傾動手段を備え、
前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、前記傾動手段に対する駆動信号のレベルを決定して前記対物レンズの傾動を行うこと
を特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
収差の補正を行う液晶素子を備え、
前記チルト補正手段が、前記チルト補正量に応じて、前記液晶素子に備えられた電極に印加する電圧を決定して収差補正を行うこと
を特徴とする請求項２または請求項３に記載の光ディスク装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【公開番号】特開２００８−１４０４９４（Ｐ２００８−１４０４９４Ａ）
【公開日】平成２０年６月１９日（２００８．６．１９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−３２６８９７（Ｐ２００６−３２６８９７）
【出願日】平成１８年１２月４日（２００６．１２．４）
【出願人】（０００２０１１１３）船井電機株式会社 (7,855)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年６月１９日（２００８．６．１９）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年１２月４日（２００６．１２．４）
【出願人】（０００２０１１１３）船井電機株式会社 (7,855)
【Ｆターム（参考）】
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