測定装置および方法
【課題】 本発明は、検査対象の表面形状および表面上の微細構造に関する情報を抽出することを目的とする。
【解決手段】 測定対象の表面上に構成される測定されるべき微細構造に応じた光特性の照明光を設定する照明光設定手段と、前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定手段と、前記測定された反射光から、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段とを有することを特徴とする。
【解決手段】 測定対象の表面上に構成される測定されるべき微細構造に応じた光特性の照明光を設定する照明光設定手段と、前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定手段と、前記測定された反射光から、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段とを有することを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、検査対象の表面からの反射光を測定する測定装置および方法に関する。
【背景技術】
【0002】
測定対象物に照明光を照射した場合、測定対象物の表面からの反射光には、散乱光が含まれることがある。散乱光は、光の入射角に対して正反射方向ではなく、様々な方向に散乱する。散乱光は、測定対象物表面に形成される760nm以下の微細な構造に起因するものである。
【0003】
散乱光を測定する装置として、BRDF測定装置がある。BRDFとは「Bi−directional Reflectance Distribution Function」の略であり、双方向反射率分布関数を意味する。
【0004】
BRDFは、光の入射角や波長を引数として光の反射角を返す関数であり、所定の物質の材質や微細な構造により変化する。BRDFは、主に所定の物質の表面状態や質感を仮想空間上で表現するために用いられている。
【0005】
特許文献1には、4色以上の色成分から成るマルチバンド対応のBRDF測定装置が開示されている。
【特許文献1】特開2006−275955
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
近年、測定対象の表面形状を測定すると共に、測定対象の表面上に構成される微細構造の測定も望まれている。従来のBRDF装置では、測定対象物の表面のBRDFを測定することは出来るが、測定対象の表面形状を測定するという思想はなかった。
【0007】
本発明は、上記課題を鑑み、検査対象の表面形状および表面上の微細構造に関する情報を抽出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明は、測定対象の表面上に構成される測定されるべき微細構造に応じた光特性の照明光を設定する照明光設定手段と、前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定手段と、前記測定された反射光から、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【0009】
本発明によれば、検査対象の表面形状および表面上の微細構造に関する情報を抽出することが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【0010】
(第一の実施形態)
以下、図面を参照して本発明の第一の実施形態を説明する。
【0011】
図1は、本実施形態における測定装置の構成を示す図である。
【0012】
測定対象物101は、本実施形態における測定装置で測定される測定対象である。
【0013】
測定対象物101は、例えば、複写機などに搭載される帯電ローラー、カメラなどに搭載されるレンズなどである。これらは、表面にキズなどがあると製品機能に不具合が生じる可能性があるため、表面測定が必要になる。
【0014】
照明部102は、測定対象物101を照明するための手段である。
【0015】
光照射部103は、照明部102に搭載され、測定対象物101を照射する。光照明部103は、電球、ハロゲンランプ、球状ストロボXe管などを有する。
【0016】
光特性設定部104は、光照明部103から照射される照明光の光特性を設定する。光特性は、ユーザーの測定要求、測定対象物101の表面上の微細構造に基づき設定される。光特性は、測定対象物101を測定する際に必要な測定精度に対応させる。本実施形態における光特性は、光の波長、光の偏光性、光の指向性である。ここで、測定対象物の測定精度と、照明光の光特性との関係について説明する。
【0017】
最初に、光特性の一つである光の波長について説明する。
【0018】
図2は、測定対象物101の表面構造を示した図である。図2(a)は、照明光の波長よりも大きいオーダーの検査対象物の表面構造を示した図である。図2(a)に示すように、一般的に検査対象物の表面には、多くの凹凸がある。図2(a)の凹凸は、十数μm程度から数十μm程度の構造である。反射面の凹凸の大きさと、光の波長とが同程度である場合、反射光の波の性質が顕在化し、散乱光となる。しかし、光の波長は数百nm程度であるため、図2(a)に示される凹凸は、反射光の散乱にはあまり影響しない。
【0019】
図2(b)は、照明光の波長と同程度の検査対象物の表面構造を示した図である。図2(b)の凹凸は、図2(a)の表面構造201の部分を拡大表示したものである。図2(b)に示される凹凸は数百nm程度の微細構造であり、光の波長と同程度である。従って、図2(b)に示される凹凸からの反射光は、散乱光となる。
【0020】
図3は、照明光の波長と反射光の散乱との関係を示した図である。図3(a)は、反射光の幾何光学的成分を示した図である。反射光の幾何光学的成分とは、測定対象物101の十数μm程度から数十μm程度の構造に起因する反射光成分を示す。これは、測定対象物101における光学現象を、幾何光学で説明することが出来るからである。図3(a)に示すように、反射光の幾何光学的成分は、正反射する。
【0021】
図3(b)は、反射光の波動光学的成分を示した図である。反射光の波動光学的成分とは、測定対象物101の数百nm程度の構造に起因する反射光成分を示す。これは、測定対象物101における光学現象を、波動光学で説明することが出来るからである。図3(b)に示すように、反射光の波動光学的成分は、測定対象物101の数百nm程度の構造に起因し、主に正反射以外の方向に反射する。
【0022】
以上、説明したように、測定対象物101からの反射光は、照射光に含まれる波長と測定対象物101の表面構造との関係に応じて、変化する。よって、光特性設定部104は、測定精度に応じた波長を含む照明光を設定する。
【0023】
次に、光特性の内、光の偏光性について説明する。光の偏光性とは、光波の振動する方向の規則性を示すものである。
【0024】
図4は、二種類の振動方向の波を有する照明光を示した図である。x軸は、光の照射方向を示している。
【0025】
xy波401は、図4に示すxy平面上で振動する照明光の波を示している。xz波402は、図4に示すxz平面上で振動する照明光の波を示している。また、xy平面、xz平面以外の平面上で振動する照明光の波が照明光に含まれる場合もある。実際の照明光には、複数種類の波が含まれ、含まれる波の種類によって、反射光の強度分布が変化することがある。よって、光特性設定部104は、測定精度に応じた偏光性の照明光を設定する。
【0026】
最後に、光特性の内、光の指向性について説明する。光の指向性とは、光照明部103から照射された光の広がり具合を表したものである。光の指向性が高いほど、平行光に近くなる。
【0027】
図5は、照明光の指向性に応じた反射を示した図である。
【0028】
図5(a)は、指向性が高い照明光を照射した場合を示した図である。照明光501は、指向性が高い照明光である。ポイント502は、照明光501が当たる測定対象物101上の場所である。照明光の指向性が高い場合、照明光501の発生源からポイント502方向へ照射された照明光501は、他方向にほとんど拡散しない。よって、ポイント501に照射される照明光502の同方向の光量が多くなり、正方向の反射光503の光量も多くなる。測定位置と反射光量との関係は、図5(c)のようになる。
【0029】
図5(b)は、指向性が低い照明光を照射した場合を示す図である。照明光504は、指向性が低い照明光である。ポイント505は、照明光504が当たる測定対象物101上の場所である。照明光の指向性が低い場合、照明光504の発生源からポイント505方向へ照射された照明光501は、他の方向に拡散する。よって、ポイント505に照射される反射光502は、互いに異なる方向からの光量が多くなり、反射光506も拡散する。測定位置と反射光量との関係は、図5(d)のようになる。よって、光特性設定部104は、測定対象物101の構造に応じた指向性の照明光を設定する。以上が、光特性設定部104における光特性の設定である。
【0030】
反射光測定部105は、測定対象物101からの反射光を測定する。反射光測定部105は、測定対象物101からの反射光を検出する光センサなどを備える。
【0031】
反射光抽出部106は、反射光測定部105で測定された反射光から、測定対象物101の表面の形状に起因する反射光と、表面上の微細構造による散乱特性に起因する反射光それぞれに関する情報を抽出する。反射光抽出部106は、GPU(Graphics Processing Unit)、VRAM(Video RAM)などを備え、VRAMに格納された反射光測定部10の反射光のデータをGPUが解析する。解析の結果、反射光のデータは、表面構造に起因する反射光データと散乱特性に起因する反射光データとが抽出される。それぞれの反射光データの抽出方法は、後述する。
【0032】
出力部107は、反射光抽出部106による抽出結果を出力する。出力部107は、抽出結果を表示するためのモニタ、プリンタなどを有する。
【0033】
記録部108は、反射光抽出部106による抽出結果を記録するための手段である。記録部108は、抽出結果のデータを記録するためのハードディスク、フラッシュメモリなどを備える。
【0034】
制御部109は、照明部102、反射光測定部105、反射光抽出部106、出力部107、記録部108の動作を制御する。制御部109は、CPU、RAM、各種制御プログラムが格納されたROMなどを備える。
【0035】
ROMに格納された各種プログラムは、照明部102が照射する照射光を制御するための制御プログラム、反射光測定部105を制御するための制御プログラムなどが含まれる。
【0036】
また、各種プログラムには、反射光抽出部106を制御するための制御プログラム、出力部107を制御するための制御プログラム、記録部108を制御するための制御プログラムなどが含まれても良い。以上が、本実施形態における測定装置の構成である。尚、図1に示した構成の一部は、一般的なパーソナルコンピュータなどに置き換え可能である。
【0037】
図6は、本実施形態における測定装置の処理の流れを示した図である。図6を用いて、本実施形態における処理の流れを説明する。
(ステップ601)ステップ601では、制御部109が照明光設定手段として機能し、照明部102が測定対象物101に照射する照明光の光特性を設定する。設定する光特性は、前述した照明光の波長、偏光性、指向性である。光特性の設定は、あらかじめ設定された測定精度に基づき設定される。例えば、測定対象物101の表面上の微細構造を測定する場合は、短い波長を多く含む照明光を照射するように設定する。また、高い測定精度が要求される場合には、照明光の偏光性、指向性を高く設定する。また、不図示の指示手段により入力されたユーザの指示に基づき、適切な照明光の光特性を設定しても良い。
(ステップ602)ステップ602では、照明部102が測対象物101に対して照明光を照射する。照射される照明光の光特性は、ステップ501で設定された光特性である。
照明部102が照射するタイミングは、制御部109が制御する。
(ステップ603)ステップ603では、制御部109が反射光測定部105に、測定対象物101の反射光を測定させる。
(ステップ604)ステップ604では、反射光抽出部106が、抽出手段として機能し、測定対象物101の表面の形状に関する情報を抽出する。ここで抽出される測定対象物101の表面の形状は、照明光の波長よりも十分に大きいオーダーの構造である。測定対象物101の表面の形状の具体的な抽出方法については、後述する。
(ステップ605)ステップ605では、反射光抽出部106が、抽出手段として機能し、反射光から測定対象物101の表面のBRDFを抽出する。BRDFの具体的な抽出方法については、後述する。
(ステップ606)ステップ606では、制御部109の制御により、出力部107および記録部108が、測定対象物101の構造およびBRDFの抽出結果の出力と記録を行う。記録部108は、測定対象物101の構造およびBRDFの抽出結果をデジタルデータとして、ハードディスク、フラッシュメモリなどに格納する。出力部107は、測定対象物101の構造およびBRDFの抽出結果をモニタなどに表示する。
【0038】
(測定対象物の表面形状の抽出方法)
以下に、ステップ604における測定対象物101の表面形状の抽出方法について説明する。抽出には、反射光のデータを用いる。
【0039】
図7は、測定対象物101に対して照明光を照射したときの反射光を示した図である。
【0040】
図7における照明光は、照明部102から照射された平行光である。また、図7で示される反射光は、照明光の波長に対して十分に大きいオーダーの構造に起因する反射光である。例えば、入射光703に対する反射光は反射光702である。同様に、入射光705に対しては反射光706、入射光707に対しては反射光708が対応する。
【0041】
また、入射光701に対する入射角および反射角はθia、入射光703に対する入射角および反射角はθib、入射光705に対する入射角および反射角はθic、入射光707に対する入射角および反射角はθidになる。入射角と反射角との和は、入射光と反射光との相対角になる。本実施形態では、測定対象物101の構造を算出するために、まず、測定対象物101上に照明光を照射したときの相対角を算出する。そして、相対角から測定対象物101の表面の各点における傾きを算出し、測定対象物101の構造を算出する。
【0042】
図8は、測定対象物101の表面の各点における傾きから、測定対象物101の構造を算出する方法を示した図である。図8から分かるように、測定対象物101の傾き801の値が正であれば、測定対象物101の高さ802は高くなる。測定対象物101の傾き801が負の場合は、逆である。図8の関係を用いれば、測定対象物101の表面の各点における傾きから、測定対象物101の構造を算出することが出来る。
【0043】
また、入射光と反射光との相対角を算出するためには、入射光の方向と反射光の方向とが分かれば良い。算出方法としては、例えば、入射光の方向ベクトルと反射光の方向ベクトルとの内積から角度を算出する方法がある。入射光の方向は、照射部102の位置姿勢から求めることが出来る。反射光の方向を算出する方法を次に説明する。
【0044】
図9は、図7のz軸方向上部に、反射光測定部105を配置し、反射光測定部105によって撮像された撮像画像を示した図である。反射光測定部105は、測定対象物101に対して十分に大きな撮像面を備えており、図7に示す測定対象物101の全表面を一度に撮像することが出来るものとする。
【0045】
図10は、測定対象物101に対して十分に大きな撮像面を備えた反射光測定部105の例を示した図である。図10に示すように、測定対象物101に対して円弧状の反射光測定部105を配置することにより、測定位置1001から測定位置1004それぞれの反射光を測定することが出来る。反射光には、幾何光学的に成分による反射光と波動光学的成分による反射光が含まれる。
【0046】
図11は、反射光に含まれる幾何光学的成分による反射光と波動光学的成分による反射光との割合を示した図である。図11に示すように、正反射方向の測定位置1004に近づくに従い、幾何光学的成分による反射光が支配的になっている。また、正反射方向の測定位置1004に近づくに従い、輝度値が高くなる。
【0047】
撮像画像901上における幾何光学的成分による反射光302の位置は、反射光測定部105と正反射光とが交わる位置になる。よって、幾何光学的成分による反射光302の位置を検出することにより、反射光測定部105の位置姿勢から反射光の方向を算出することが出来る。撮像画像901から幾何光学的成分による反射光302の位置を抽出する方法としては、様々な方法がある。例えば、画像処理により撮像画像901中の輝度値の分布を算出し、輝度値が所定値以上の領域を抽出する。正反射光の領域は、他の領域よりも輝度値が高くなっているはずなので、輝度値が所定値以上の領域が幾何光学的成分による反射光302の位置であるとみなすことが出来る。尚、ここで用いる所定値は、測定対象物101からの反射光を測定実験することにより設定可能である。
【0048】
また、より正確に幾何光学的成分による反射光302の位置を算出するため、輝度値が所定値以上の領域の重心を算出し、重心の位置を反射光302の位置としてもよい。以上の処理で反射光302の位置を算出することにより、反射光の方向を算出することが出来る。
【0049】
反射光の方向を算出する別の方法として、反射光測定部105を移動させる方法がある。
【0050】
これは、輝度値が最も高い反射光を測定出来る位置姿勢まで、不図示の移動手段により反射光測定部105を移動させる方法である。最も高い反射光を測定出来る位置まで反射光測定部105を移動させる方法は、様々な方法が提案されているため説明を省略する。
【0051】
正反射光と反射光測定部105が交わる位置は、輝度が最も高くなるはずなので、輝度値が最も高い反射光を測定出来る位置が正反射光と反射光測定部105が交わる位置になる。正反射光と反射光測定部105が交わる位置を算出することにより、前述した方法と同様に、反射光の方向を算出することが出来る。反射光測定部105の位置姿勢を移動させる場合、反射光測定部105の撮像面を大きくする必要はなく、一般的なカメラなどの撮像装置を用いることも可能である。以上が本実施形態における測定対象物の構造の算出方法である。
【0052】
(BRDFの抽出方法)
次に、ステップ605における微細構造に関する情報であるBRDFの抽出方法について説明する。測定対象物の構造の算出と同様に、図9の撮像画像901を用いて説明する。図9から分かるように、幾何光学的成分による反射光302の周りには、波動光学的成分による反射光304が現れている。幾何光学的成分による反射光302の輝度には及ばないが、波動光学的成分による反射光304による領域も他の領域に比べて輝度が大きくなっているはずである。よって、撮像画像901から、所定の輝度値以上の領域を抽出することにより、波動光学的成分304による領域を抽出することが出来る。尚、ここで用いる所定値は、幾何光学的成分による反射光302の場合と同様に、測定対象物101からの反射光を測定実験することにより設定可能である。抽出した領域と、照明光の入射角および反射光測定部105の位置姿勢から、測定対象物101のBRDFを算出することが出来る。尚、本実施形態では、測定対象物101の散乱特性を表現する関数としてBRDFを算出したが、測定の目的に応じて他の散乱特性を算出しても良い。
【0053】
また、上記BRDFの抽出方法は、反射光測定部105を移動させて反射光の方向を算出する場合にも、同様に適用可能である。最も高い反射光を測定出来る位置姿勢における反射光測定部105の撮像画像上で、同様に輝度値が所定値以上の領域を抽出することにより、波動光学的成分304による領域を抽出することが出来る。以上が、本実施形態におけるBRDFの抽出方法である。
【0054】
以上、説明したように、適切な光特性の照明光を照射し、反射光を測定することにより、表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を求めることが出来る。
【0055】
また、上記説明のように、反射光測定部105が第一の相対位置にあるときの第一の反射光と、第二の相対位置における第二の反射光との差分情報から、抽出処理を行うことにより、反射光測定部105の大きさを小さくすることが出来る。
【0056】
(第二の実施形態)
以下、図面を参照して第二の実施形態について説明する。第一の実施形態と異なる点は、フィードバック制御を行うことである。
【0057】
図12は、本実施形態における装置を示したものである。装置の構成は、第一の実施形態における図1の装置の構成とほぼ同じである。以下に、異なる点を説明する。
【0058】
相対位置変更部1201は、照明部102もしくは反射光測定部105の位置を変更するための変更手段である。相対位置変更部1201は、モータなどの駆動手段を備え、照明部102もしくは反射光測定部105を移動させる。
【0059】
また、制御部109は相対位置変更部1201の駆動を制御するために、相対位置変更部1201と接続されている。制御部109のROMには、相対位置変更部1201の駆動を制御するための駆動プログラムも格納されている。
【0060】
また、反射光抽出部106は、抽出結果に応じて光特性設定部104の設定を変更するために、光特性設定部104に接続されている。
【0061】
次に、本実施形態における処理の流れを説明する。
【0062】
図13は、本実施形態における処理の流れを示したものである。
【0063】
ステップ1301からステップ1306までは、第一の実施形態における図6のステップ601からステップ606に対応し、同様の処理を行う。以下に、第一の実施形態の処理とは異なるステップ1307から1311までの処理の説明をする。
(ステップ1307)ステップ1307では、相対位置変更部1201が照明部102もしくは反射光測定部105の相対位置を変更する。測定対象物101の構造を算出するためには、反射光測定部105と照明部102とを正反射光が測定できる相対位置に設定する必要がある。以下に、相対位置の変更例を説明する。
【0064】
図14は、反射光測定部105を固定し、照明部102の位置を変更する場合を示した図である。図14(a)〜(d)のように、様々な位置に照明部102の位置を変更し、反射光測定部105により反射光を測定する。測定結果は、図14(e)のようになる。図14(e)で最も反射輝度が高くなっているときに、反射光測定部105は正反射光を測定しているとみなすことが出来る。よって、図14(e)の関係から、正反射光を測定することが出来る反射光測定部105と照明部102との相対位置を設定することが出来る。
【0065】
図15は、照明部102の位置を固定し、反射光測定部105の位置を変更する場合を示した図である。図15(e)では、測定対象物102を中心として円弧状に反射光測定部105を移動させている。円弧状に反射光測定部105を移動させることにより、様々な角度から測定対象物101から等距離で、反射光を測定することが出来る。また、等距離で測定しない場合と比べて、等距離で反射光を測定することにより測定精度を向上させることが出来る。図15(a)〜(d)は、図15(e)の方法で反射光を測定した場合の測定位置と反射輝度の対応を示した図である。前述したように正反射光を測定している場合、反射輝度は高くなるはずである。よって、正反射光を測定している相対位置は、図15(c)の位置であるとみなすことが出来るため、相対位置を設定することが出来る。
【0066】
図16は、図15の場合と同様に、照明部102の位置を固定し、反射光測定部105の位置を変更する場合を示した図である。図16(e)では、図15(e)の場合と異なり、反射光測定部105を測定対象物101に対して平行移動させる。平行移動させることによって、相対位置変更部1201の制御は簡単になり、また装置構成を簡略化することが出来る。図16(a)〜(d)は、それぞれの相対位置と反射輝度との対応を示した図である。図15の場合と同様に、反射輝度が高い図16(c)の相対位置は、正反射光を測定している相対位置とみなすことが出来るため、相対位置を設定することが出来る。
【0067】
以上、照明部102もしくは反射光測定部105の相対位置の変更例である。相対位置を変更したら、ステップ1308へ処理を進める。
(ステップ1308)ステップ1308では、制御部109が位置変更判定手段として機能し、反射光測定部105の相対位置は測定基準を十分に満たしているか否かを判定する。判定方法としては、例えば、ステップ1307で設定した相対位置で測定した輝度値が所定値以下である場合、相対値変更部1201による相対位置変更の分解能を細かく設定し直し、ステップ1308に処理を戻す。ステップ1307で設定した相対位置で測定基準を十分に満たしている場合は、ステップ1309に処理を進める。
(ステップ1309)ステップ1310では、制御部109が判定手段として機能し、ステップ1301で設定した照明光の光特性で測定基準を十分に満たしているか否かを判定する。判定方法としては、例えば、反射輝度値が所定値以上か否かで判定することが出来る。ここで、例として光特性の一つである指向性について説明する。
【0068】
図17は、測定基準を満たしている指向性の照明光による測定結果を示した図である。
【0069】
図17(a),(b),(c)から分かるように、十分に高い指向性の照明光の場合、照明部102と反射光測定部105との相対位置が正反射光を測定することが出来る位置では、反射輝度が高くなる。よって、照明部102と反射光測定部105との相対位置から、第一の実施形態の図8の方法と同様に、図17(d)から、精度良く測定対象物101の構造を算出することが出来る。
【0070】
一方、図18は、測定基準を満たしていない指向性の照明光による測定結果を示した図である。図18(a),(b),(c)から分かるように、照明光の指向性が十分に高くない場合、照明部102と反射光測定部105との相対位置が正反射光を測定することが出来る位置でも、反射輝度があまり高くならない。よって、図18(d)に示すように、測定対象物101の構造を精度良く算出することは出来ない。
【0071】
図17と図18から分かるように、反射輝度値を所定値以上か否かに基づき、光特性の設定が不十分であるとみなすことが出来る。
【0072】
以上の処理により、光特性の設定が十分でないと判定された場合、ステップ1310に処理を進める。また、光特性の設定が十分であると場合、ステップ1304およびステップ1305に処理を進める。
(ステップ1310)ステップ1310では、反射光抽出部106もしくは制御部109が、光特性算出手段として機能し、設定すべき光特性を算出する。例えば、ステップ1309で算出された反射輝度値が低い場合、光特性の一つの指向性を向上させる。
(ステップ1311)ステップ1311では、反射光抽出部106もしくは制御部109が、光特性変更手段として機能し、光特性設定部104で設定された光特性を変更する。
変更後は、ステップ1302に処理を戻す。
【0073】
以上が本実施形態における処理の流れである。以上で説明したように、ステップ1307からステップ1308と、ステップ1309からステップ1311とでフィードバック処理を行うことにより、自動的かつ正確に、測定対象物101の構造および散乱特性を算出することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【0074】
【図1】第一の実施形態における測定装置の構成を示す図
【図2】測定対象物の表面構造を示す図
【図3】照明光の波長と反射光の散乱との関係を示す図
【図4】二種類の振動方向の波を有する照明光を示す図
【図5】照明光の指向性に応じた反射を示す図
【図6】第一の実施形態における測定装置の処理の流れを示す図
【図7】測定対象物に対して照明光を照射したときの反射光を示す図
【図8】測定対象物の表面の傾きから、測定対象物の構造を算出する方法を示す図
【図9】反射光測定部によって撮像された撮像画像を示す図
【図10】測定対象物に対して大きな撮像面を備えた反射光測定部を示す図
【図11】幾何光学的成分の反射光と波動光学的成分の反射光との割合を示す図
【図12】第二の実施形態における測定装置の構成を示す図
【図13】第二の実施形態における測定装置の処理の流れを示す図
【図14】反射光測定部を固定して照明部の位置を変更する場合を示す図
【図15】照明部の位置を固定して反射光測定部の位置を変更する場合を示す図
【図16】照明部の位置を固定して反射光測定部の位置を変更する場合を示す図
【図17】測定基準を満たしている指向性の照明光による測定結果を示す図
【図18】測定基準を満たしていない指向性の照明光による測定結果を示す図
【技術分野】
【0001】
本発明は、検査対象の表面からの反射光を測定する測定装置および方法に関する。
【背景技術】
【0002】
測定対象物に照明光を照射した場合、測定対象物の表面からの反射光には、散乱光が含まれることがある。散乱光は、光の入射角に対して正反射方向ではなく、様々な方向に散乱する。散乱光は、測定対象物表面に形成される760nm以下の微細な構造に起因するものである。
【0003】
散乱光を測定する装置として、BRDF測定装置がある。BRDFとは「Bi−directional Reflectance Distribution Function」の略であり、双方向反射率分布関数を意味する。
【0004】
BRDFは、光の入射角や波長を引数として光の反射角を返す関数であり、所定の物質の材質や微細な構造により変化する。BRDFは、主に所定の物質の表面状態や質感を仮想空間上で表現するために用いられている。
【0005】
特許文献1には、4色以上の色成分から成るマルチバンド対応のBRDF測定装置が開示されている。
【特許文献1】特開2006−275955
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
近年、測定対象の表面形状を測定すると共に、測定対象の表面上に構成される微細構造の測定も望まれている。従来のBRDF装置では、測定対象物の表面のBRDFを測定することは出来るが、測定対象の表面形状を測定するという思想はなかった。
【0007】
本発明は、上記課題を鑑み、検査対象の表面形状および表面上の微細構造に関する情報を抽出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明は、測定対象の表面上に構成される測定されるべき微細構造に応じた光特性の照明光を設定する照明光設定手段と、前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定手段と、前記測定された反射光から、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【0009】
本発明によれば、検査対象の表面形状および表面上の微細構造に関する情報を抽出することが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【0010】
(第一の実施形態)
以下、図面を参照して本発明の第一の実施形態を説明する。
【0011】
図1は、本実施形態における測定装置の構成を示す図である。
【0012】
測定対象物101は、本実施形態における測定装置で測定される測定対象である。
【0013】
測定対象物101は、例えば、複写機などに搭載される帯電ローラー、カメラなどに搭載されるレンズなどである。これらは、表面にキズなどがあると製品機能に不具合が生じる可能性があるため、表面測定が必要になる。
【0014】
照明部102は、測定対象物101を照明するための手段である。
【0015】
光照射部103は、照明部102に搭載され、測定対象物101を照射する。光照明部103は、電球、ハロゲンランプ、球状ストロボXe管などを有する。
【0016】
光特性設定部104は、光照明部103から照射される照明光の光特性を設定する。光特性は、ユーザーの測定要求、測定対象物101の表面上の微細構造に基づき設定される。光特性は、測定対象物101を測定する際に必要な測定精度に対応させる。本実施形態における光特性は、光の波長、光の偏光性、光の指向性である。ここで、測定対象物の測定精度と、照明光の光特性との関係について説明する。
【0017】
最初に、光特性の一つである光の波長について説明する。
【0018】
図2は、測定対象物101の表面構造を示した図である。図2(a)は、照明光の波長よりも大きいオーダーの検査対象物の表面構造を示した図である。図2(a)に示すように、一般的に検査対象物の表面には、多くの凹凸がある。図2(a)の凹凸は、十数μm程度から数十μm程度の構造である。反射面の凹凸の大きさと、光の波長とが同程度である場合、反射光の波の性質が顕在化し、散乱光となる。しかし、光の波長は数百nm程度であるため、図2(a)に示される凹凸は、反射光の散乱にはあまり影響しない。
【0019】
図2(b)は、照明光の波長と同程度の検査対象物の表面構造を示した図である。図2(b)の凹凸は、図2(a)の表面構造201の部分を拡大表示したものである。図2(b)に示される凹凸は数百nm程度の微細構造であり、光の波長と同程度である。従って、図2(b)に示される凹凸からの反射光は、散乱光となる。
【0020】
図3は、照明光の波長と反射光の散乱との関係を示した図である。図3(a)は、反射光の幾何光学的成分を示した図である。反射光の幾何光学的成分とは、測定対象物101の十数μm程度から数十μm程度の構造に起因する反射光成分を示す。これは、測定対象物101における光学現象を、幾何光学で説明することが出来るからである。図3(a)に示すように、反射光の幾何光学的成分は、正反射する。
【0021】
図3(b)は、反射光の波動光学的成分を示した図である。反射光の波動光学的成分とは、測定対象物101の数百nm程度の構造に起因する反射光成分を示す。これは、測定対象物101における光学現象を、波動光学で説明することが出来るからである。図3(b)に示すように、反射光の波動光学的成分は、測定対象物101の数百nm程度の構造に起因し、主に正反射以外の方向に反射する。
【0022】
以上、説明したように、測定対象物101からの反射光は、照射光に含まれる波長と測定対象物101の表面構造との関係に応じて、変化する。よって、光特性設定部104は、測定精度に応じた波長を含む照明光を設定する。
【0023】
次に、光特性の内、光の偏光性について説明する。光の偏光性とは、光波の振動する方向の規則性を示すものである。
【0024】
図4は、二種類の振動方向の波を有する照明光を示した図である。x軸は、光の照射方向を示している。
【0025】
xy波401は、図4に示すxy平面上で振動する照明光の波を示している。xz波402は、図4に示すxz平面上で振動する照明光の波を示している。また、xy平面、xz平面以外の平面上で振動する照明光の波が照明光に含まれる場合もある。実際の照明光には、複数種類の波が含まれ、含まれる波の種類によって、反射光の強度分布が変化することがある。よって、光特性設定部104は、測定精度に応じた偏光性の照明光を設定する。
【0026】
最後に、光特性の内、光の指向性について説明する。光の指向性とは、光照明部103から照射された光の広がり具合を表したものである。光の指向性が高いほど、平行光に近くなる。
【0027】
図5は、照明光の指向性に応じた反射を示した図である。
【0028】
図5(a)は、指向性が高い照明光を照射した場合を示した図である。照明光501は、指向性が高い照明光である。ポイント502は、照明光501が当たる測定対象物101上の場所である。照明光の指向性が高い場合、照明光501の発生源からポイント502方向へ照射された照明光501は、他方向にほとんど拡散しない。よって、ポイント501に照射される照明光502の同方向の光量が多くなり、正方向の反射光503の光量も多くなる。測定位置と反射光量との関係は、図5(c)のようになる。
【0029】
図5(b)は、指向性が低い照明光を照射した場合を示す図である。照明光504は、指向性が低い照明光である。ポイント505は、照明光504が当たる測定対象物101上の場所である。照明光の指向性が低い場合、照明光504の発生源からポイント505方向へ照射された照明光501は、他の方向に拡散する。よって、ポイント505に照射される反射光502は、互いに異なる方向からの光量が多くなり、反射光506も拡散する。測定位置と反射光量との関係は、図5(d)のようになる。よって、光特性設定部104は、測定対象物101の構造に応じた指向性の照明光を設定する。以上が、光特性設定部104における光特性の設定である。
【0030】
反射光測定部105は、測定対象物101からの反射光を測定する。反射光測定部105は、測定対象物101からの反射光を検出する光センサなどを備える。
【0031】
反射光抽出部106は、反射光測定部105で測定された反射光から、測定対象物101の表面の形状に起因する反射光と、表面上の微細構造による散乱特性に起因する反射光それぞれに関する情報を抽出する。反射光抽出部106は、GPU(Graphics Processing Unit)、VRAM(Video RAM)などを備え、VRAMに格納された反射光測定部10の反射光のデータをGPUが解析する。解析の結果、反射光のデータは、表面構造に起因する反射光データと散乱特性に起因する反射光データとが抽出される。それぞれの反射光データの抽出方法は、後述する。
【0032】
出力部107は、反射光抽出部106による抽出結果を出力する。出力部107は、抽出結果を表示するためのモニタ、プリンタなどを有する。
【0033】
記録部108は、反射光抽出部106による抽出結果を記録するための手段である。記録部108は、抽出結果のデータを記録するためのハードディスク、フラッシュメモリなどを備える。
【0034】
制御部109は、照明部102、反射光測定部105、反射光抽出部106、出力部107、記録部108の動作を制御する。制御部109は、CPU、RAM、各種制御プログラムが格納されたROMなどを備える。
【0035】
ROMに格納された各種プログラムは、照明部102が照射する照射光を制御するための制御プログラム、反射光測定部105を制御するための制御プログラムなどが含まれる。
【0036】
また、各種プログラムには、反射光抽出部106を制御するための制御プログラム、出力部107を制御するための制御プログラム、記録部108を制御するための制御プログラムなどが含まれても良い。以上が、本実施形態における測定装置の構成である。尚、図1に示した構成の一部は、一般的なパーソナルコンピュータなどに置き換え可能である。
【0037】
図6は、本実施形態における測定装置の処理の流れを示した図である。図6を用いて、本実施形態における処理の流れを説明する。
(ステップ601)ステップ601では、制御部109が照明光設定手段として機能し、照明部102が測定対象物101に照射する照明光の光特性を設定する。設定する光特性は、前述した照明光の波長、偏光性、指向性である。光特性の設定は、あらかじめ設定された測定精度に基づき設定される。例えば、測定対象物101の表面上の微細構造を測定する場合は、短い波長を多く含む照明光を照射するように設定する。また、高い測定精度が要求される場合には、照明光の偏光性、指向性を高く設定する。また、不図示の指示手段により入力されたユーザの指示に基づき、適切な照明光の光特性を設定しても良い。
(ステップ602)ステップ602では、照明部102が測対象物101に対して照明光を照射する。照射される照明光の光特性は、ステップ501で設定された光特性である。
照明部102が照射するタイミングは、制御部109が制御する。
(ステップ603)ステップ603では、制御部109が反射光測定部105に、測定対象物101の反射光を測定させる。
(ステップ604)ステップ604では、反射光抽出部106が、抽出手段として機能し、測定対象物101の表面の形状に関する情報を抽出する。ここで抽出される測定対象物101の表面の形状は、照明光の波長よりも十分に大きいオーダーの構造である。測定対象物101の表面の形状の具体的な抽出方法については、後述する。
(ステップ605)ステップ605では、反射光抽出部106が、抽出手段として機能し、反射光から測定対象物101の表面のBRDFを抽出する。BRDFの具体的な抽出方法については、後述する。
(ステップ606)ステップ606では、制御部109の制御により、出力部107および記録部108が、測定対象物101の構造およびBRDFの抽出結果の出力と記録を行う。記録部108は、測定対象物101の構造およびBRDFの抽出結果をデジタルデータとして、ハードディスク、フラッシュメモリなどに格納する。出力部107は、測定対象物101の構造およびBRDFの抽出結果をモニタなどに表示する。
【0038】
(測定対象物の表面形状の抽出方法)
以下に、ステップ604における測定対象物101の表面形状の抽出方法について説明する。抽出には、反射光のデータを用いる。
【0039】
図7は、測定対象物101に対して照明光を照射したときの反射光を示した図である。
【0040】
図7における照明光は、照明部102から照射された平行光である。また、図7で示される反射光は、照明光の波長に対して十分に大きいオーダーの構造に起因する反射光である。例えば、入射光703に対する反射光は反射光702である。同様に、入射光705に対しては反射光706、入射光707に対しては反射光708が対応する。
【0041】
また、入射光701に対する入射角および反射角はθia、入射光703に対する入射角および反射角はθib、入射光705に対する入射角および反射角はθic、入射光707に対する入射角および反射角はθidになる。入射角と反射角との和は、入射光と反射光との相対角になる。本実施形態では、測定対象物101の構造を算出するために、まず、測定対象物101上に照明光を照射したときの相対角を算出する。そして、相対角から測定対象物101の表面の各点における傾きを算出し、測定対象物101の構造を算出する。
【0042】
図8は、測定対象物101の表面の各点における傾きから、測定対象物101の構造を算出する方法を示した図である。図8から分かるように、測定対象物101の傾き801の値が正であれば、測定対象物101の高さ802は高くなる。測定対象物101の傾き801が負の場合は、逆である。図8の関係を用いれば、測定対象物101の表面の各点における傾きから、測定対象物101の構造を算出することが出来る。
【0043】
また、入射光と反射光との相対角を算出するためには、入射光の方向と反射光の方向とが分かれば良い。算出方法としては、例えば、入射光の方向ベクトルと反射光の方向ベクトルとの内積から角度を算出する方法がある。入射光の方向は、照射部102の位置姿勢から求めることが出来る。反射光の方向を算出する方法を次に説明する。
【0044】
図9は、図7のz軸方向上部に、反射光測定部105を配置し、反射光測定部105によって撮像された撮像画像を示した図である。反射光測定部105は、測定対象物101に対して十分に大きな撮像面を備えており、図7に示す測定対象物101の全表面を一度に撮像することが出来るものとする。
【0045】
図10は、測定対象物101に対して十分に大きな撮像面を備えた反射光測定部105の例を示した図である。図10に示すように、測定対象物101に対して円弧状の反射光測定部105を配置することにより、測定位置1001から測定位置1004それぞれの反射光を測定することが出来る。反射光には、幾何光学的に成分による反射光と波動光学的成分による反射光が含まれる。
【0046】
図11は、反射光に含まれる幾何光学的成分による反射光と波動光学的成分による反射光との割合を示した図である。図11に示すように、正反射方向の測定位置1004に近づくに従い、幾何光学的成分による反射光が支配的になっている。また、正反射方向の測定位置1004に近づくに従い、輝度値が高くなる。
【0047】
撮像画像901上における幾何光学的成分による反射光302の位置は、反射光測定部105と正反射光とが交わる位置になる。よって、幾何光学的成分による反射光302の位置を検出することにより、反射光測定部105の位置姿勢から反射光の方向を算出することが出来る。撮像画像901から幾何光学的成分による反射光302の位置を抽出する方法としては、様々な方法がある。例えば、画像処理により撮像画像901中の輝度値の分布を算出し、輝度値が所定値以上の領域を抽出する。正反射光の領域は、他の領域よりも輝度値が高くなっているはずなので、輝度値が所定値以上の領域が幾何光学的成分による反射光302の位置であるとみなすことが出来る。尚、ここで用いる所定値は、測定対象物101からの反射光を測定実験することにより設定可能である。
【0048】
また、より正確に幾何光学的成分による反射光302の位置を算出するため、輝度値が所定値以上の領域の重心を算出し、重心の位置を反射光302の位置としてもよい。以上の処理で反射光302の位置を算出することにより、反射光の方向を算出することが出来る。
【0049】
反射光の方向を算出する別の方法として、反射光測定部105を移動させる方法がある。
【0050】
これは、輝度値が最も高い反射光を測定出来る位置姿勢まで、不図示の移動手段により反射光測定部105を移動させる方法である。最も高い反射光を測定出来る位置まで反射光測定部105を移動させる方法は、様々な方法が提案されているため説明を省略する。
【0051】
正反射光と反射光測定部105が交わる位置は、輝度が最も高くなるはずなので、輝度値が最も高い反射光を測定出来る位置が正反射光と反射光測定部105が交わる位置になる。正反射光と反射光測定部105が交わる位置を算出することにより、前述した方法と同様に、反射光の方向を算出することが出来る。反射光測定部105の位置姿勢を移動させる場合、反射光測定部105の撮像面を大きくする必要はなく、一般的なカメラなどの撮像装置を用いることも可能である。以上が本実施形態における測定対象物の構造の算出方法である。
【0052】
(BRDFの抽出方法)
次に、ステップ605における微細構造に関する情報であるBRDFの抽出方法について説明する。測定対象物の構造の算出と同様に、図9の撮像画像901を用いて説明する。図9から分かるように、幾何光学的成分による反射光302の周りには、波動光学的成分による反射光304が現れている。幾何光学的成分による反射光302の輝度には及ばないが、波動光学的成分による反射光304による領域も他の領域に比べて輝度が大きくなっているはずである。よって、撮像画像901から、所定の輝度値以上の領域を抽出することにより、波動光学的成分304による領域を抽出することが出来る。尚、ここで用いる所定値は、幾何光学的成分による反射光302の場合と同様に、測定対象物101からの反射光を測定実験することにより設定可能である。抽出した領域と、照明光の入射角および反射光測定部105の位置姿勢から、測定対象物101のBRDFを算出することが出来る。尚、本実施形態では、測定対象物101の散乱特性を表現する関数としてBRDFを算出したが、測定の目的に応じて他の散乱特性を算出しても良い。
【0053】
また、上記BRDFの抽出方法は、反射光測定部105を移動させて反射光の方向を算出する場合にも、同様に適用可能である。最も高い反射光を測定出来る位置姿勢における反射光測定部105の撮像画像上で、同様に輝度値が所定値以上の領域を抽出することにより、波動光学的成分304による領域を抽出することが出来る。以上が、本実施形態におけるBRDFの抽出方法である。
【0054】
以上、説明したように、適切な光特性の照明光を照射し、反射光を測定することにより、表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を求めることが出来る。
【0055】
また、上記説明のように、反射光測定部105が第一の相対位置にあるときの第一の反射光と、第二の相対位置における第二の反射光との差分情報から、抽出処理を行うことにより、反射光測定部105の大きさを小さくすることが出来る。
【0056】
(第二の実施形態)
以下、図面を参照して第二の実施形態について説明する。第一の実施形態と異なる点は、フィードバック制御を行うことである。
【0057】
図12は、本実施形態における装置を示したものである。装置の構成は、第一の実施形態における図1の装置の構成とほぼ同じである。以下に、異なる点を説明する。
【0058】
相対位置変更部1201は、照明部102もしくは反射光測定部105の位置を変更するための変更手段である。相対位置変更部1201は、モータなどの駆動手段を備え、照明部102もしくは反射光測定部105を移動させる。
【0059】
また、制御部109は相対位置変更部1201の駆動を制御するために、相対位置変更部1201と接続されている。制御部109のROMには、相対位置変更部1201の駆動を制御するための駆動プログラムも格納されている。
【0060】
また、反射光抽出部106は、抽出結果に応じて光特性設定部104の設定を変更するために、光特性設定部104に接続されている。
【0061】
次に、本実施形態における処理の流れを説明する。
【0062】
図13は、本実施形態における処理の流れを示したものである。
【0063】
ステップ1301からステップ1306までは、第一の実施形態における図6のステップ601からステップ606に対応し、同様の処理を行う。以下に、第一の実施形態の処理とは異なるステップ1307から1311までの処理の説明をする。
(ステップ1307)ステップ1307では、相対位置変更部1201が照明部102もしくは反射光測定部105の相対位置を変更する。測定対象物101の構造を算出するためには、反射光測定部105と照明部102とを正反射光が測定できる相対位置に設定する必要がある。以下に、相対位置の変更例を説明する。
【0064】
図14は、反射光測定部105を固定し、照明部102の位置を変更する場合を示した図である。図14(a)〜(d)のように、様々な位置に照明部102の位置を変更し、反射光測定部105により反射光を測定する。測定結果は、図14(e)のようになる。図14(e)で最も反射輝度が高くなっているときに、反射光測定部105は正反射光を測定しているとみなすことが出来る。よって、図14(e)の関係から、正反射光を測定することが出来る反射光測定部105と照明部102との相対位置を設定することが出来る。
【0065】
図15は、照明部102の位置を固定し、反射光測定部105の位置を変更する場合を示した図である。図15(e)では、測定対象物102を中心として円弧状に反射光測定部105を移動させている。円弧状に反射光測定部105を移動させることにより、様々な角度から測定対象物101から等距離で、反射光を測定することが出来る。また、等距離で測定しない場合と比べて、等距離で反射光を測定することにより測定精度を向上させることが出来る。図15(a)〜(d)は、図15(e)の方法で反射光を測定した場合の測定位置と反射輝度の対応を示した図である。前述したように正反射光を測定している場合、反射輝度は高くなるはずである。よって、正反射光を測定している相対位置は、図15(c)の位置であるとみなすことが出来るため、相対位置を設定することが出来る。
【0066】
図16は、図15の場合と同様に、照明部102の位置を固定し、反射光測定部105の位置を変更する場合を示した図である。図16(e)では、図15(e)の場合と異なり、反射光測定部105を測定対象物101に対して平行移動させる。平行移動させることによって、相対位置変更部1201の制御は簡単になり、また装置構成を簡略化することが出来る。図16(a)〜(d)は、それぞれの相対位置と反射輝度との対応を示した図である。図15の場合と同様に、反射輝度が高い図16(c)の相対位置は、正反射光を測定している相対位置とみなすことが出来るため、相対位置を設定することが出来る。
【0067】
以上、照明部102もしくは反射光測定部105の相対位置の変更例である。相対位置を変更したら、ステップ1308へ処理を進める。
(ステップ1308)ステップ1308では、制御部109が位置変更判定手段として機能し、反射光測定部105の相対位置は測定基準を十分に満たしているか否かを判定する。判定方法としては、例えば、ステップ1307で設定した相対位置で測定した輝度値が所定値以下である場合、相対値変更部1201による相対位置変更の分解能を細かく設定し直し、ステップ1308に処理を戻す。ステップ1307で設定した相対位置で測定基準を十分に満たしている場合は、ステップ1309に処理を進める。
(ステップ1309)ステップ1310では、制御部109が判定手段として機能し、ステップ1301で設定した照明光の光特性で測定基準を十分に満たしているか否かを判定する。判定方法としては、例えば、反射輝度値が所定値以上か否かで判定することが出来る。ここで、例として光特性の一つである指向性について説明する。
【0068】
図17は、測定基準を満たしている指向性の照明光による測定結果を示した図である。
【0069】
図17(a),(b),(c)から分かるように、十分に高い指向性の照明光の場合、照明部102と反射光測定部105との相対位置が正反射光を測定することが出来る位置では、反射輝度が高くなる。よって、照明部102と反射光測定部105との相対位置から、第一の実施形態の図8の方法と同様に、図17(d)から、精度良く測定対象物101の構造を算出することが出来る。
【0070】
一方、図18は、測定基準を満たしていない指向性の照明光による測定結果を示した図である。図18(a),(b),(c)から分かるように、照明光の指向性が十分に高くない場合、照明部102と反射光測定部105との相対位置が正反射光を測定することが出来る位置でも、反射輝度があまり高くならない。よって、図18(d)に示すように、測定対象物101の構造を精度良く算出することは出来ない。
【0071】
図17と図18から分かるように、反射輝度値を所定値以上か否かに基づき、光特性の設定が不十分であるとみなすことが出来る。
【0072】
以上の処理により、光特性の設定が十分でないと判定された場合、ステップ1310に処理を進める。また、光特性の設定が十分であると場合、ステップ1304およびステップ1305に処理を進める。
(ステップ1310)ステップ1310では、反射光抽出部106もしくは制御部109が、光特性算出手段として機能し、設定すべき光特性を算出する。例えば、ステップ1309で算出された反射輝度値が低い場合、光特性の一つの指向性を向上させる。
(ステップ1311)ステップ1311では、反射光抽出部106もしくは制御部109が、光特性変更手段として機能し、光特性設定部104で設定された光特性を変更する。
変更後は、ステップ1302に処理を戻す。
【0073】
以上が本実施形態における処理の流れである。以上で説明したように、ステップ1307からステップ1308と、ステップ1309からステップ1311とでフィードバック処理を行うことにより、自動的かつ正確に、測定対象物101の構造および散乱特性を算出することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【0074】
【図1】第一の実施形態における測定装置の構成を示す図
【図2】測定対象物の表面構造を示す図
【図3】照明光の波長と反射光の散乱との関係を示す図
【図4】二種類の振動方向の波を有する照明光を示す図
【図5】照明光の指向性に応じた反射を示す図
【図6】第一の実施形態における測定装置の処理の流れを示す図
【図7】測定対象物に対して照明光を照射したときの反射光を示す図
【図8】測定対象物の表面の傾きから、測定対象物の構造を算出する方法を示す図
【図9】反射光測定部によって撮像された撮像画像を示す図
【図10】測定対象物に対して大きな撮像面を備えた反射光測定部を示す図
【図11】幾何光学的成分の反射光と波動光学的成分の反射光との割合を示す図
【図12】第二の実施形態における測定装置の構成を示す図
【図13】第二の実施形態における測定装置の処理の流れを示す図
【図14】反射光測定部を固定して照明部の位置を変更する場合を示す図
【図15】照明部の位置を固定して反射光測定部の位置を変更する場合を示す図
【図16】照明部の位置を固定して反射光測定部の位置を変更する場合を示す図
【図17】測定基準を満たしている指向性の照明光による測定結果を示す図
【図18】測定基準を満たしていない指向性の照明光による測定結果を示す図
【特許請求の範囲】
【請求項1】
測定対象の表面上に構成される測定されるべき微細構造に応じた光特性の照明光を設定する照明光設定手段と、
前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定手段と、
前記測定された反射光から、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段とを有することを特徴とする測定装置。
【請求項2】
前記光特性は、前記照明光の波長、偏光性、指向性のいずれかであることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
【請求項3】
前記照明光と前記測定対象との相対位置を変更する相対位置変更手段を有することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
【請求項4】
前記相対位置変更手段は、前記照明光と前記測定対象との相対位置を第一の相対位置から第二の相対位置に変更し、
前記抽出手段は、前記第一の相対位置の反射光と前記第二の相対位置の反射光との差分情報から、前記測定対象の表面の形状に関する情報を抽出することを特徴とする請求項3に記載の測定装置。
【請求項5】
前記照明光設定手段は、ユーザーの指示に基づく光特性の照明光を設定することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
【請求項6】
前記測定された反射光に基づき、前記照明光の光特性を変更する光特性変更手段を有することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
【請求項7】
測定対象の測定要求に応じた波長の照明光を設定する照明光設定手段と、
前記照明光と前記測定対象との相対位置が第一の相対位置で、前記照明光を前記測定対象に照射したときの第一の反射光と、
前記照明光と前記測定対象との相対位置が第二の相対位置で、前記照明光を前記測定対象の照射したときの第二の反射光とを測定する測定手段と、
前記測定された第一の反射光と第二の反射光とから、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段とを有することを特徴とする測定装置。
【請求項8】
照明光設定手段が、測定対象の表面上に構成される測定されるべき微細構造に応じた光特性の照明光を設定する照明光設定工程と、
測定手段が、前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定工程と、
抽出手段が、前記測定された反射光から、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段とを有することを特徴とする測定方法。
【請求項9】
コンピュータを、
測定対象の表面上に構成される測定されるべき微細構造に応じた光特性の照明光を設定する照明光設定手段と、
前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定手段と、
前記測定された反射光から、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段として機能させるためのプログラム。
【請求項1】
測定対象の表面上に構成される測定されるべき微細構造に応じた光特性の照明光を設定する照明光設定手段と、
前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定手段と、
前記測定された反射光から、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段とを有することを特徴とする測定装置。
【請求項2】
前記光特性は、前記照明光の波長、偏光性、指向性のいずれかであることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
【請求項3】
前記照明光と前記測定対象との相対位置を変更する相対位置変更手段を有することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
【請求項4】
前記相対位置変更手段は、前記照明光と前記測定対象との相対位置を第一の相対位置から第二の相対位置に変更し、
前記抽出手段は、前記第一の相対位置の反射光と前記第二の相対位置の反射光との差分情報から、前記測定対象の表面の形状に関する情報を抽出することを特徴とする請求項3に記載の測定装置。
【請求項5】
前記照明光設定手段は、ユーザーの指示に基づく光特性の照明光を設定することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
【請求項6】
前記測定された反射光に基づき、前記照明光の光特性を変更する光特性変更手段を有することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
【請求項7】
測定対象の測定要求に応じた波長の照明光を設定する照明光設定手段と、
前記照明光と前記測定対象との相対位置が第一の相対位置で、前記照明光を前記測定対象に照射したときの第一の反射光と、
前記照明光と前記測定対象との相対位置が第二の相対位置で、前記照明光を前記測定対象の照射したときの第二の反射光とを測定する測定手段と、
前記測定された第一の反射光と第二の反射光とから、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段とを有することを特徴とする測定装置。
【請求項8】
照明光設定手段が、測定対象の表面上に構成される測定されるべき微細構造に応じた光特性の照明光を設定する照明光設定工程と、
測定手段が、前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定工程と、
抽出手段が、前記測定された反射光から、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段とを有することを特徴とする測定方法。
【請求項9】
コンピュータを、
測定対象の表面上に構成される測定されるべき微細構造に応じた光特性の照明光を設定する照明光設定手段と、
前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定手段と、
前記測定された反射光から、前記測定対象の表面の形状と、前記表面上に構成される微細構造とに関する情報を抽出する抽出手段として機能させるためのプログラム。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【公開番号】特開2009−52956(P2009−52956A)
【公開日】平成21年3月12日(2009.3.12)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−218382(P2007−218382)
【出願日】平成19年8月24日(2007.8.24)
【出願人】(000001007)キヤノン株式会社 (59,756)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成21年3月12日(2009.3.12)
【国際特許分類】
【出願日】平成19年8月24日(2007.8.24)
【出願人】(000001007)キヤノン株式会社 (59,756)
【Fターム(参考)】
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