説明

薄膜太陽電池およびその製造方法

【課題】半永久的に消えないマークであって、そのマークを用いて、製造工程、検査結果あるいは点検結果等の管理を統一した品質管理を可能とする薄膜太陽電池を提供する。
【解決手段】透光性基板20上の一方の面に、透明電極層21、光電変換層22および裏面電極層23を順次形成し、各層毎にパターニング線6、8および9を設けて複数の光電変換セル2を形成する薄膜太陽電池1であって、透光性基板20の周縁の透明電極層21、光電変換層22および裏面電極層23を除去した除去領域7より内側で、パターニング線6、8および9と重ならない領域であって、透光性基板20における透明電極層21側から1mm以上内方の深さに、レーザ加工による刻印4を有する薄膜太陽電池1としている。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、薄膜太陽電池およびその製造方法に関し、特に基板に刻印を有する薄膜太陽電池およびその製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
近年、地球温暖化が問題視されており、化石燃料に代わるクリーンなエネルギー源として太陽光発電が注目されている。太陽光発電を行うための薄膜太陽電池は、入射した光エネルギーを電気エネルギーに変換する光電変換セルを備える。例えば、薄膜太陽電池の場合、透光性基板の上に、透明電極層、光電変換層としての半導体層、裏面電極層をその順で成膜し、これらが光電変換セルとして機能する。しかしながら、一個の光電変換セルが発生させる電圧は極めて低いものであり、実用的な電圧を得ることは難しい。そこで、光電変換セルの薄膜に、パターニング線と呼ばれる複数の溝を設けることにより、多数の光電変換セルに分割し、かつこれら多数の光電変換セルを電気的に直列に接続し、実用的な電圧にまで高める工夫がなされている。
【0003】
図9は、従来から公知の薄膜太陽電池1の構造を説明するための説明図である。薄膜太陽電池1は、透光性基板20に、透明電極層21、半導体層22および裏面電極層23を順次積層した構成を有する。さらに、各層21、22および23には、各パターニング線として、透明電極層パターニング線8、半導体層パターニング線9および裏面電極層パターニング線6が形成されて、複数の光電変換セル2が形成されている。この複数の光電変換セル2が図9の紙面左右方向に直列に接続されている。
【0004】
このような構造を有する薄膜太陽電池1は、化学的気相成長法(Chemical Vapor Deposition:CVD)および/または物理的気相成長法(Physical Vapor Deposition:PVD)を利用して、各層20、21、22および23を、順に堆積して製造される。その後、この光電変換セル2は電極を接続し、透明樹脂とバックシートで封止されて、太陽電池として屋外で使用される。
【0005】
上述のように、薄膜太陽電池1の製造には、多数の工程が存在する。各工程は、サイズや形状等により、所定の設定された製造条件下で行われなければならない。さらに、それらの製造条件は、製品完成後の検査結果と照合し、品質管理される必要がある。
【0006】
また、太陽電池は、屋外に設置されることから、点検時にその製品の識別が容易にできることが望ましい。さらには、その点検時のデータ、製品完成後の検査結果、およびその製品の製造条件が統一して管理されることが望ましい。
【0007】
上述の問題を解決するために、透光性基板の表面にマークを付し、以後の各工程において、そのマークを読み取り、読み取られたマークを利用して各製造工程の管理を行うことが提案されている。(例えば、特許文献1を参照。)
【特許文献1】特開2001−102604号公報(請求項1等)
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
しかし、上述の特許文献1に開示される従来技術には、次のような問題がある。それは、透光性基板の表面にマークを付した場合には、マークが摺れ、その結果、読み取りできなくなるという問題である。太陽電池は、野外で長期間使用されるため、風雨等により、表面に付されたマークに傷あるいは汚れが付着すると、マークの読み取りが困難であるという問題がある。
【0009】
そこで、本発明は、半永久的に消えないマークであって、そのマークを用いて、製造工程、検査結果あるいは点検結果等の管理を統一した品質管理を可能にする薄膜太陽電池を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0010】
かかる目的を達成するため、本発明は、透光性基板上の一方の面に、透明電極層、光電変換層および裏面電極層を順次形成し、各層毎にパターニング線を設けて複数の光電変換セルを形成する薄膜太陽電池であって、透光性基板の周縁の透明電極層、光電変換層および裏面電極層を除去した除去領域より内側で、パターニング線と重ならない領域であって、透光性基板における透明電極層側から1mm以上内方の深さに、レーザ加工による刻印を有する薄膜太陽電池にしている。
【0011】
また、別の本発明は、複数の光電変換セルの接続方向に沿って、除去領域の内側に、裏面電極層と光電変換層とを貫く絶縁スクライブ線を、さらに有し、刻印は、その絶縁スクライブ線よりも内側に配置されている薄膜太陽電池としている。
【0012】
また、別の本発明は、透光性基板上の一方の面に、透明電極層、光電変換層および裏面電極層を順次形成し、各層毎にパターニング線を設けて複数の光電変換セルを形成する薄膜太陽電池の製造方法において、透光性基板の周縁の透明電極層、光電変換層および裏面電極層を除去する除去領域より内側にあって、光電変換セルに沿って並べる複数のパターニングと重ならない領域であって、透光性基板における透明電極層側から1mm以上内方の深さに、レーザを集光させて刻印を形成する刻印形成工程を含む薄膜太陽電池の製造方法としている。
【0013】
また、別の本発明は、透光性基板上に、透明電極層、光電変換層、裏面電極層を形成した後に、複数の光電変換セルの接続方向に沿って、除去領域の内側に、裏面電極層と光電変換層とを貫く絶縁スクライブ線を形成する絶縁スクライブ線形成工程を、さらに含み、刻印形成工程は、刻印を、絶縁スクライブ線よりも内側に配置する薄膜太陽電池の製造方法としている。
【発明の効果】
【0014】
本発明によれば、半永久的に消えないマークであって、そのマークを用いて、製造工程、検査結果あるいは点検結果等の管理を統一した品質管理が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0015】
以下、本発明に係る薄膜太陽電池の好適な実施の形態を説明する。ただし、本発明は、以下に説明する実施の形態に何ら限定されるものではない。
【0016】
図1は、本発明の実施の形態に係る薄膜太陽電池1の斜視図である。図2は、図1の薄膜太陽電池1の太陽光を受光する側とは逆の面(以後、裏面という。)から見た図である。また、「幅方向」とは、図2に示す斜視図における短辺方向を、「長さ方向」とは、図2に示す斜視図における長辺方向をそれぞれ言う。以後、特に言及しない限り、上記文言の定義は、同様の意味である。
【0017】
本発明の実施の形態に係る薄膜太陽電池1の裏面は、封止用樹脂で覆われている。また、薄膜太陽電池の裏面は、光電変換セル2が形成されている部分と、周縁部分7とに大別される。透光性基板の周縁部分7の裏面側には、光電変換セル2が形成されていないため、封止用樹脂の層が透光性基板と接している。
【0018】
透光性基板としては、絶縁性かつ透光性であり、後述の各層を積層する工程に耐えうる基板であればどのようなものでもよく、例えば、ガラス基板が好適に用いられる。また、封止用樹脂には、絶縁性の高い材料として、たとえば、エチレン酢酸ビニル共重合体(EVA)等が好適に用いられる。
【0019】
薄膜太陽電池1に形成されている光電変換セル2は、透明性基板に、透明電極層、光電変換層としての半導体層、そして裏面電極層がその順に堆積されている。また、裏面電極層は、半導体層と共に、長さ方向に沿って、複数本の溝(以後、裏面電極層パターニング線6と言う。)により、幅方向に分離されている。これらの複数本の裏面電極層パターニング線6により、複数の光電変換セル2が形成されている。また、裏面電極層と半導体層は、裏面電極層パターニング線6の長さ方向両端において、裏面電極層パターニング線6と直行する2本のスリット状の絶縁スクライブ線5によって、分離されている。また、幅方向両端の裏面電極層には、長さ方向に沿ってバス電極3が形成されている。
【0020】
図3は、薄膜太陽電池1を図2におけるB−B線で切断した時の左側の断面図である。なお、右側の構造については、左側と左右対称の構造であるため、その図示を省略する。図4は、薄膜太陽電池1を図2におけるC−C線で切断した時の左側の断面図である。図3と同様に、右側の構造については、左側と同様の構造であるため省略する。
【0021】
透光性基板20の裏面(図4では、紙面上方向)には、まず、透明電極層パターニング線8により分離された複数の透明電極層21が形成されている。透明電極層21には、さらに、半導体層22が形成されている。半導体層22は、透明電極層21の裏面側に積層されている。
【0022】
半導体層22は、具体的にはp型アモルファスシリコンからなるp層、ノンドープアモルファスシリコンからなるi層、そしてn型アモルファスシリコンからなるn層をこの順で透明電極層21の裏面側に積層した層である。また、半導体層22は、半導体層パターニング線9により分離されている。
【0023】
裏面電極層23は、半導体層22の上面(裏面側)に積層されている。そのため、裏面電極層23は、半導体パターニング線9にて、透明電極層21と接続している。また、裏面電極層23には、裏面電極層23と半導体層22とを連通して、裏面電極層パターニング線6が形成されている。
【0024】
また、幅方向両端の裏面電極層23上には、バス電極3が接続されている。バス電極3は、はんだあるいは導電性のペーストにより裏面電極層23に電気的に接続されている。透光性基板20に堆積された光電変換セル2部は、封止用樹脂24により封止される。
【0025】
透光性基板20の内部には、刻印4が形成されている。刻印4は、透光性基板20の厚さ方向において、透光性基板20の内部であって、透明電極層21と透光性基板20とが接する面から、1mm以上離れた位置に形成されている。これは、後述する方法により刻印4を形成する際に、レーザにより透明電極層21部に傷が付かないようにするためにである。
【0026】
さらに、刻印4は、透光性基板20の幅方向において、周縁部分7よりも内側かつ、最も周縁部分7に近い裏面電極層パターニング線6よりも外側に、透光性基板20の長さ方向において、絶縁スクライブ線5より内側に形成されている。なお、その他の好適な位置については後述する。このような位置に刻印4を形成することにより、刻印4を読み取りやすくすることができる。なぜなら、刻印4の裏面側に、周縁部分7あるいは各スパターニング線6、8、9および絶縁スクライブ線5が存在すると、刻印4を光学的に読み取る際に、光の乱反射が生じ、読み取りにくくなるためである。
【0027】
次に、透光性基板20の内部に刻印4を形成する方法を含めて、薄膜太陽電池1の製造方法について、図面を参照しながら説明する。図5は、本実施の形態の薄膜太陽電池1の製造工程を説明するためのフローチャートである。
【0028】
まず、透光性基板20に透明電極層21を成膜する(ステップS101)。若しくは、透明電極21層が既に形成されている基板を購入しても良い。そして、次に、透光性基板20の内部に刻印4を形成する(ステップS102:刻印形成工程)。
【0029】
本実施の形態では、透光性基板20として、好適にガラス基板を用いる。例えば、ステップS101では、長さ1500mm×幅1000mm×厚さ5mmのガラス基板に、透明電極層21として、酸化錫を主成分とする酸化錫膜が600〜900nmの厚さで成膜される。
【0030】
図6は、刻印4の形成方法を説明するための説明図である。
【0031】
刻印4を形成するためには、透光性基板20の透明電極層21が形成されていない側の面から、可視光域あるいは赤外光域波長を有するレーザ光100を、透光性基板20の内部に入射する。具体的には、YAGレーザ装置にて、波長532nm、出力数Wのレーザ光100を、刻印4を形成する位置へ集光する。このような条件でレーザ光100を透光性基板20内の所望の領域内にて走査し、点および/または線から成る刻印4を形成する。
【0032】
また、レーザ光100の焦点は、透光性基板20の内部であって、透明電極層21と透光性基板20とが接する面から1mm以上離れた位置に合わせるのが好ましい。なぜなら、刻印4の形成の際、刻印4の位置を通過したレーザ光100が透明電極層21を損傷するのを防止するためである。
【0033】
刻印4の形態としては、二次元コード、バーコード、記号、文字あるいは数字等の形態を採用することができる。二次元コードは、製造番号、各工程の処理日時、各工程での設定値、測定データ、判定若しくは材料の管理番号等の多岐にわたる情報を含むことができる。本実施の形態では、好適な一例として4mm×4mmサイズ内に表示された二次元バーコードを刻印4として形成する。
【0034】
また、後述のS103〜S111までの各工程の一部または全部において、読取装置により刻印4が読み取られる。読取装置により読み取られた情報、例えば次工程の各設定値等の指示に基づき、各工程を支障なく実行する。
【0035】
図5に戻って、刻印4形成後の製造工程を説明すると、レーザ光を照射することにより、透明電極層21に、透明電極層パターニング線8を形成する(ステップS103)。次に、透明電極層21の上に、半導体層22を成膜する(ステップS104)。半導体層22を成膜するには、まず、温度200℃、約100Paの減圧下において、水素、モノシラン(SiH)、ジボラン(B)を流入して、ボロンがシリコン中にドープされたアモルファスシリコンからなるp層を形成する。次に、温度約200℃、約70Paの減圧下において、水素およびモノシランを流入し、ノンドープアモルファスシリコンから成るi層を成膜する。最後に、温度約200℃、約100Paの減圧下において、水素、モノシランおよびフォスフィン(PH)を流入し、リンがシリコン中にドープされたアモルファスシリコンからなるn層を成膜する。
【0036】
次に、レーザ光を照射することにより、半導体層パターニング線9を複数本形成する(ステップS105)。半導体層パターニング線9は、長手方向に、線幅80〜120μmで設けられ、透明電極層21がその底部で露出している。半導体層22は、上記の半導体層パターニング線9により、短冊状に分離される。
【0037】
次に、裏面電極層23として、銀膜を成膜する(ステップS106)。裏面電極層23としての銀膜は、例えば、PVD法により成膜される。具体的には、銀ターゲットを用いて、温度100〜200℃、約0.1〜1.0Paの減圧下にて、マグネトロンスパッタリング装置を用いて、成膜できる。裏面電極層23は、半導体層22の裏面側に成膜される。
【0038】
次に、裏面電極層23と半導体層22とを切断する裏面電極層パターニング線6を形成する(ステップS107)。裏面電極層パターニング線6は、レーザ光を照射することにより形成される。裏面電極層パターニング線6は、線幅60〜120μmの溝であり、光電変換セル2の長手方向に複数本形成される。
【0039】
次に、光電変換セルの長手方向の両端部に、各パターニング線6、8および9に直行し、幅方向へのびる絶縁スクライブ線5を形成する(ステップS108:絶縁スクライブ線形成工程)。絶縁スクライブ線5は、裏面電極23と半導体層22を貫いている。絶縁スクライブ線5は、線幅60〜120μmであり、レーザ光を照射して形成される。
【0040】
次に、周縁部分7の光電変換セル2を除去し、絶縁領域を形成する(ステップS109)。周縁部分7の光電変換セル2を除去する手段としては、ブラスト、研磨(砥石あるいはバフ等を用いた研磨)を含むあらゆる手段を用いることができるが、好適にはガラスビーズあるいはSiCを用いる。
【0041】
次に、透光性基板20の幅方向の両端の裏面電極層23の上部に、光電変換によって発生した電流を外部に取り出すためのバス電極3を形成する(ステップS110)。最後に、封止用樹脂24により、封止を行う(ステップS111)。具体的には、EVA等の封止材と防水性のバックシート(不図示)とを加温して、封止を行う。
【0042】
以上、薄膜太陽電池1の好適な実施の形態について説明したが、本発明は、上述の実施の形態に限定されることなく、種々変形を施した形態にて実施可能である。
【0043】
例えば、本実施の形態では、透光性基板20に透明電極層21を成膜した後に、刻印4を形成したが、透明電極層21の形成前あるいは透明電極層スクライブ線8の形成以降に刻印4を形成しても良い。また、複数の工程毎に、刻印4を形成してもよい。複数の工程の後に刻印4を形成することにより、各工程の情報を個別に記録することができる。
【0044】
また、図3および図4に示す刻印4の位置以外にも、次に示すように、別の位置に刻印4を形成することができる。
【0045】
図7は、刻印4を形成する位置を示すため、薄膜太陽電池1の表面から内部を透過的に示した図である。
【0046】
図7に斜線領域の(但し、絶縁スクライブ線5、各種パターニング線6、8および9を除く)のように、周縁部分7に幅方向で最も近い裏面電極層パターニング線6aと周縁部分7に挟まれた領域のみならず、周縁部分7から2番目に近いパターニング線(図7では、透明電極層パターニング線8、および半導体層パターニング線9)と上記裏面電極層パターニング線6aの間の領域に刻印4を形成しても良い。例えば、図7に示すように、刻印4a、4b、4c、4dの各位置に刻印4を形成することができる。図7の斜線領域でも、特に、刻印4bで示す位置が好ましい。刻印4bは、周縁部分7における絶縁処理の影響がない位置に存在するため、情報の読み取りがより正確かつ容易となるからである。また、刻印4bの次に、刻印4aの位置が好ましい。絶縁スクライブ線5とその外側の周縁部分7との距離は比較的短いため、絶縁スクライブ線5より内側にある刻印4aの位置の方が、刻印4aの形成が容易であり、かつ絶縁粗面化処理の影響も受けないことから、情報の読み取りが容易だからである。
【0047】
また、本実施の形態では、刻印4の面を、透光性基板20の表面と平行になるように刻印4を形成したが、透光性基板20の表面に対して鋭角の角度θをなすように、透光性基板20の内方から周縁部分7側に刻印4の面を傾けるように刻印4を形成しても良い。
【0048】
刻印4が透光性基板20の表面に対して鋭角の角度θを有して形成されている場合、刻印4を形成するために、レーザ光100を透光性基板20の内側から周縁部分7の方に向けて照射することになる。この結果、レーザ光100の焦点位置から透明電極層21までの距離を長くすることができる。したがって、レーザ光100の焦点位置がずれたとしても、透明電極層21あるいはその上に成膜されている半導体層22に傷が付く危険性を低減できる。また、薄膜太陽電池1を屋外に設置するために取り付けたフレーム等により、薄膜太陽電池1の端部が外から下方を見て直接見えないような場合であっても、読取装置に角度をつけて刻印4の情報を読み取ることができる。
【0049】
また、本実施の形態では、刻印4として二次元バーコードを用いて、1つの刻印4に複数種の情報を格納しているが、多数の刻印4を形成し、1つの刻印4に単一種類の情報を格納するようにしてもよい。また、1つのみの刻印4を形成する場合に、例えば、製造番号のみを付し、その他の詳細な情報、例えば、製造条件などの情報は、製造番号と関連付けた情報として、別のコンピュータ内に保管し、適宜コンピュータにアクセスすることにより、情報を閲覧できるようにしても良い。
【0050】
また、本実施の形態では、各工程の一部または全部に刻印4の読取装置を設置する例にて説明したが、たとえば数字や文字から成る刻印4を用いて、目視によって情報を確認しても良い。また、刻印4を読み取ることによって、各工程の加工条件を刻印4の指示によって変化させ、かつ各加工条件を記録するような工程管理に限らず、刻印4を、各加工条件の指示または各加工条件の記録のどちらか一方のみに利用しても良い。
【産業上の利用可能性】
【0051】
本発明は、太陽光発電の分野に利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【0052】
【図1】本発明の実施の形態に係る薄膜太陽電池の斜視図である。
【図2】図1に示す薄膜太陽電池を、図1中のA−A線で切断した時の断面図である。
【図3】図2に示す薄膜太陽電池を、図2中のB−B線で切断した時の断面図である。
【図4】図2に示す薄膜太陽電池を、図2中のC−C線で切断した時の断面図である。
【図5】図1に示す薄膜太陽電池の製造工程を説明するためのフローチャートである。
【図6】図5に示す製造工程において、刻印を形成する工程を説明するための図である。
【図7】図1に示す薄膜太陽電池において、刻印を形成することができる領域を示すための図である。
【図8】本発明の実施の形態の変形例として、刻印の面を透光性基板の表面に対して傾斜させて刻印を形成する例を説明するための図である。
【図9】従来技術を説明するための図である。
【符号の説明】
【0053】
1 薄膜太陽電池
2 光電変換セル
4 刻印
5 絶縁スクライブ線
6 裏面電極層パターニング線(パターニング線)
7 周縁部分(除去領域)
8 透明電極層パターニング線(パターニング線)
9 半導体層パターニング線(パターニング線)
20 透光性基板
21 透明電極層
22 半導体層(光電変換層)
23 裏面電極層

【特許請求の範囲】
【請求項1】
透光性基板上の一方の面に、透明電極層、光電変換層および裏面電極層を順次形成し、各層毎にパターニング線を設けて複数の光電変換セルを形成する薄膜太陽電池であって、
上記透光性基板の周縁の上記透明電極層、上記光電変換層および上記裏面電極層を除去した除去領域より内側で、
上記パターニング線と重ならない領域であって、
上記透光性基板における上記透明電極層側から1mm以上内方の深さに、
レーザ加工による刻印を有することを特徴とする薄膜太陽電池。
【請求項2】
前記複数の光電変換セルの接続方向に沿って、前記除去領域の内側に、前記裏面電極層と前記光電変換層とを貫く絶縁スクライブ線を、さらに有し、
前記刻印は、その絶縁スクライブ線よりも内側に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の薄膜太陽電池。
【請求項3】
透光性基板上の一方の面に、透明電極層、光電変換層および裏面電極層を順次形成し、各層毎にパターニング線を設けて複数の光電変換セルを形成する薄膜太陽電池の製造方法において、
上記透光性基板の周縁の上記透明電極層、上記光電変換層および上記裏面電極層を除去する除去領域より内側にあって、上記光電変換セルに沿って並べる複数の上記パターニングと重ならない領域であって、上記透光性基板における上記透明電極層側から1mm以上内方の深さに、レーザを集光させて刻印を形成する刻印形成工程を含むことを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
【請求項4】
前記透光性基板上に、前記透明電極層、前記光電変換層、前記裏面電極層を形成した後に、前記複数の光電変換セルの接続方向に沿って、前記除去領域の内側に、前記裏面電極層と前記光電変換層とを貫く絶縁スクライブ線を形成する絶縁スクライブ線形成工程を、さらに含み、
前記刻印形成工程は、前記刻印を、上記絶縁スクライブ線よりも内側に配置することを特徴とする請求項3に記載の薄膜太陽電池の製造方法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【公開番号】特開2009−60062(P2009−60062A)
【公開日】平成21年3月19日(2009.3.19)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−228483(P2007−228483)
【出願日】平成19年9月4日(2007.9.4)
【出願人】(000231464)株式会社アルバック (1,740)
【Fターム(参考)】