ZnO系半導体装置の製造方法
【課題】量子井戸構造の質の向上を図ることができるZnO系半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ZnO系半導体装置の製造方法は、(a)基板を準備する工程と、(b)基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる井戸層を成長する工程と、(c)基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる障壁層を、サーファクタントとしてSを供給しながら成長する工程とを有する。
【解決手段】ZnO系半導体装置の製造方法は、(a)基板を準備する工程と、(b)基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる井戸層を成長する工程と、(c)基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる障壁層を、サーファクタントとしてSを供給しながら成長する工程とを有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、ZnO系半導体装置の製造方法に関し、特に、量子井戸構造を含むZnO系半導体装置の製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
酸化亜鉛(ZnO)は、室温で約3.3eVのバンドギャップを有する直接遷移型の半導体で、励起子の束縛エネルギが60meVと他の半導体に比べて比較的大きく、また原材料が安価であるとともに、環境や人体に悪影響が少ないという特徴を有する。そのため、ZnOを用いた高効率かつ低消費電力で環境性に優れた発光素子の実現が期待されている。
【0003】
ZnO系半導体発光素子の発光特性改善のため、特許文献1に、ZnCdO井戸層とZnMgO障壁層とが交互に積層された量子井戸構造の発光層が開示されている。また、特許文献2に、ZnSO、ZnSeO、またはZnTeOを井戸層とし、ZnMgOを障壁層とした量子井戸構造の発光層が開示されている、
ZnO系半導体発光素子を作製する際、発光素子の機能向上のために、薄膜のエピタキシャル成長を原子レベルで制御することが非常に重要である。近年の薄膜成長の有力な研究手法の一つに、サーファクタント媒介エピタキシ(surfactant mediated epitaxy)がある。この方法は、サーファクタントと呼ばれる表面活性剤(原子あるいは分子)を用いて、薄膜の成長様式を人工的に変化させる手法であり、エピタキシャル成長制御の有用な手段になっている。特許文献3に、ZnO系化合物半導体層の成長時に、水素をサーファクタントとして用いる技術が開示されている。
【0004】
【特許文献1】特開2004−335792号公報
【特許文献2】特開2004−146501号公報
【特許文献3】特開2004−221352号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
ZnO系半導体装置に含まれる量子井戸構造を良好に形成する技術が望まれる。
【0006】
本発明の一目的は、量子井戸構造の質の向上を図ることができるZnO系半導体装置の製造方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明の一観点によれば、(a)基板を準備する工程と、(b)前記基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる井戸層を成長する工程と、(c)前記基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる障壁層を、サーファクタントとしてSを供給しながら成長する工程とを有するZnO系半導体装置の製造方法が提供される。
【発明の効果】
【0008】
少なくとも障壁層の成長時にSサーファクタントを供給することにより、Sサーファクタントを供給しない場合に比べて、例えば、低い成長温度での平坦性が向上した障壁層が得られ、量子井戸構造の質の向上が図られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0009】
まず、図1を参照し、ZnO系化合物半導体層を成長させる結晶製造装置の例について説明する。成膜方法として、分子線エピタキシ(MBE)が用いられる。超高真空容器1内に、基板ヒータを含むステージ9が配置され、ステージ9が基板10を保持する。
【0010】
また、超高真空容器1内に、Znソースガン2、Oソースガン3、ZnSソースガン4、Mgソースガン5、Nソースガン6、及び、Gaソースガン7が備えられている。Znソースガン2、ZnSソースガン4、Mgソースガン5、及びGaソースガン7は、それぞれ、Zn、ZnS、Mg、及びGaの固体ソースを収容するクヌーセンセルを含み、それぞれ、Znビーム、ZnSビーム、Mgビーム、及びGaビームを出射する。ZnSビームは、S源として用いている。なお、S源はZnSに限らず、例えばS(硫黄)単体を用いることもできる。
【0011】
また、必要に応じて、Se源またはCd源のソースガン8が備えられる。Se、Cdソースガンとして、それぞれ、Se、Cdの固体ソースを収容するクヌーセンセルを含むものを用いることができる。
【0012】
Oソースガン3及びNソースガン6は、それぞれ、ラジオ周波(例えば13.56MHz)を用いる無電極放電管を含む。Oソースガン3及びNソースガン6は、それぞれ、無電極放電官内で酸素ガス及び窒素ガスをラジカル化して、Oラジカルビーム及びNラジカルビームを出射する。基板10上に、所望のタイミングで所望のビームを供給することにより、所望の組成のZnO系化合物半導体層を成長させることができる。
【0013】
ZnO系化合物半導体(単にZnO系半導体と呼ぶこともある)は、ZnO、及び、ZnOにZnを置換するCd、Mg等のII族元素または(及び)Oを置換するS、Se、Te等のVI族元素を導入したものであり、必要に応じてN等のp型不純物、Ga等のn型不純物が添加されたものとする。なお、Zn及びOは必ず含むものとする。
【0014】
超高真空容器1にはまた、反射高速電子回折(RHEED)用のガン11、及び、RHEEDの回折像を映すスクリーン12が取り付けられている。RHEEDの回折像から、基板10上に形成された結晶層の表面の平坦性を評価できる。結晶が2次元成長し表面が平坦である場合は、RHEEDの回折像がストリークパターンを示し、結晶が3次元成長し表面が平坦でない場合は、RHEEDの回折像がスポットパターンを示す。
【0015】
排気ポンプ13が超高真空容器1内部を排気する。なお、超高真空とは、圧力が1×10−7(以下、数値を1E−7等と表記する)Torr以下の真空を示す。
【0016】
ZnO系半導体発光素子における量子井戸構造(単一量子井戸(SQW)構造や多重量子井戸(MQW)構造)では、井戸層として例えば、S、Se、Cdを導入したZnSxO1−x(0<x<1)や、ZnSexO1−x(0<x<1)や、Zn1−yCdyO(0<y<1)が用いられ、障壁層として例えば、Mgを導入したZn1−yMgyO(0<y<1)が用いられる。
【0017】
S、Se、Cdを導入することにより、ZnOに比べてバンドギャップを狭くすることができる。一方、Mgを導入することにより、ZnOに比べてバンドギャップを広くすることができる。S、Se、Cdを導入した井戸層とするとき、Mgを導入しないZnO障壁層(y=0)を用いることもできる。
【0018】
なお、Mgを導入した障壁層(y>0)であれば、S、Se、Cdを導入しないZnO井戸層を用いることもできる。なお、Mgの導入割合を変えることにより、井戸層、障壁層の両方をZnMgO層で構成することも可能である。
【0019】
図11に示すように、井戸層に導入されるS、Se、Cdは、Znに比べて蒸気圧が高く、特にSの蒸気圧が高い。これに起因して、これらの元素は、高い基板温度で成長するとZnO中に取り込むことが困難である。
【0020】
例えば、Sを導入する井戸層は、基板温度300℃〜600℃の低温で成長させることが好ましい。なお、ZnO中へSを取り込むため、ZnビームとOラジカルビームとのビームフラックス比は、ストイキオメトリ〜Znリッチ条件とする。
【0021】
一方、Mgを導入した障壁層は、2次元成長させ平坦性に優れた表面を得るために、基板温度900℃以上の高温で成長させることが好ましい。従って、蒸気圧の高い元素の井戸層への取り込み、及び平坦性の高い障壁層の形成という観点からは、基板温度を低温と高温で切り替えて、井戸層と障壁層とを成長させることになる。
【0022】
なお、Oリッチ条件、Znリッチ条件、ストイキオメトリ条件は、以下のように定義される。Znのフラックス強度をJZnとし、Oラジカルのフラックス強度をJOとする。ZnO結晶のO終端面へのZnの付着しやすさを示す係数(Znの付着係数)をKZnとし、Zn終端面へのOの付着しやすさを示す係数(Oの付着係数)をKOとする。Znの付着係数KZnとフラックス強度JZnとの積KZn・JZnが、基板の単位面積に単位時間当たりに付着するZn原子の個数に対応し、Oの付着係数KOとフラックス強度JOとの積KO・JOが、基板の単位面積に単位時間当たりに付着するO原子の個数に対応する。
【0023】
Znビームフラックス量が、積KZn・JZnで定義され、Oラジカルビームフラックス量が、積KO・JOで定義され、Znビームフラックス量KZn・JZnに対するOラジカルビームフラックス量KO・JOの比であるKO・JO/KZn・JZnが、フラックス比と定義される。そして、フラックス比が1より大きい場合をOリッチ条件と呼び、フラックス比が1未満である場合をZnリッチ条件と呼ぶ。フラックス比が1に等しい場合がストイキオメトリ条件となる。
【0024】
また、ZnO結晶の成長速度Gは、H.Kato, M.Sano, K.Miyamoto, T.Yao; Journal of Crystal Growth 265(2004);p.375-381に説明されているように、次式(1)によって求めることができる。
G=[(kZn・JZn)−1+(kO・JO)−1]−1 ・・・(1)
Znビームフラックス量KZn・JZnについて、Znの付着係数KZnは1とし、フラックス強度JZnは膜厚モニター等を用いて得られた値を適用することができる。一方、Oラジカルビームフラックス量KO・JOについては、Znビームフラックス量KZn・JZnの分かっている条件でZnO膜を実際に成長し、成長速度Gを求め、得られた成長速度GとZnビームフラックス量KZn・JZnとを上式(1)に代入することで、設定したOラジカルガンの条件(O2流量、RFパワー等)におけるOラジカルビームフラックス量KO・JOを導出することができる。
【0025】
次に、実施例の説明に先立ち、第1〜第5の比較例のZnO系半導体素子について説明する。
【0026】
第1の比較例では、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層を基板温度500℃で成長し、Zn1−yMgyO(y=0)障壁層(すなわちZnO障壁層)を基板温度900℃で成長させたMQW構造を作製した。ZnO基板上にMQW構造のみを成長させたサンプルと、このようなMQW構造を発光層とする発光ダイオードのサンプルとを作製した。
【0027】
図2(A)は、ZnO障壁層の、基板温度900℃で成長した直後のRHEED像([11−20]方向)である。RHEED像は、ストリークパターンを示し、高い平坦性が得られていることが分かる。
【0028】
図2(B)は、ZnO障壁層成長後、基板温度を500℃に降下させた後の、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層成長直前のRHEED像([11−20]方向)であり、図2(A)に示したパターンからの変化が生じている。この変化は、基板温度を降下させている間に、障壁層表面が汚染されたことを示す。
【0029】
さらに、MQW構造のみを成長させたサンプルについて、X線回折(XRD)による2θ−ω測定を行った。
【0030】
図12を参照して、XRDの2θ−ω測定によるMQW構造の評価の仕方について説明する。図12は、井戸層と障壁層との間の組成変化が急峻で、かつ平坦性の高いヘテロ界面(このようなヘテロ界面を、「良好なヘテロ界面」と呼ぶこととする)を有するMQW構造に対するXRDの2θ−ω測定で得られると想定されるグラフである。横軸が度単位の回折角であり、縦軸がcps単位の強度である。
【0031】
強度最大のピークである基板の回折ピークとほぼ等しい回折角に0次の超格子回折のピークが現れ、0次の超格子回折の周辺に±1次、±2次・・のサテライトピークが現れている。また、サテライトピーク間にMQW構造の周期数に応じた数の副極大が現れている。井戸層及び障壁層の組成変化の急峻性や平坦性が悪化すると、サテライトピークや副極大の明瞭さが損なわれる。
【0032】
第1の比較例のサンプルについては、明瞭なサテライトピークが得られなかった。すなわち、良好なヘテロ界面が得られていなかった。
【0033】
図2(C)は、第1の比較例の発光ダイオードの電流電圧特性(I−V特性)を示すグラフである。順バイアスで、電流の立ち上がりの急峻性が悪く、低い電圧から微小電流が流れ始めており、リーク電流のある特性といえる。また、逆バイアスでの耐電圧も低い。第1の比較例の発光ダイオードは、簡単にショート破壊しやすく、安定した発光が得られないことがわかった。
【0034】
このように、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層を基板温度500℃で成長し、ZnO障壁層を基板温度900℃で成長させたMQW構造では、井戸層を低温で成長し、障壁層を高温で成長させたが、良好なヘテロ界面が得られず、良好な発光素子が得られなかった。
【0035】
この理由としては、井戸層に導入した蒸気圧の高い元素が、高温での障壁層成長時に障壁層に拡散してしまうことや、上述のように、温度変化に伴う待ち時間中にチャンバー内を浮遊する汚染物質が基板表面に付着し、格子欠陥が誘発され超格子構造内部の結晶性が悪化すること等が考えられる。特に、基板温度を下げる場合は長時間を要するため、このような汚染の影響が大きい。
【0036】
次に、第2の比較例について説明する。第2の比較例では、ZnSxO1−x(0<x<1)井戸層とZnO障壁層とを、ともに基板温度500℃の低温で成長させてMQW構造を作製した。これにより、温度変化に伴う待ち時間が生じず、またSの拡散が抑制されるであろう。しかし、ZnO障壁層が3次元成長してしまい(RHEED像がスポットパターンを示し)平坦な表面が得られず、良質なMQW構造が得られなかった。
【0037】
次に、第3の比較例について説明する。第3の比較例では、ZnSxO1−x(0<x<1)井戸層とZnO障壁層とを、ともに基板温度900℃の高温で成長させてMQW構造を作製した。これにより、温度変化に伴う待ち時間が生じず、また障壁層の平坦性が向上するであろう。しかし、井戸層にSが取り込まれなかった。
【0038】
第2及び第3の比較例のように、単に同一温度で井戸層と障壁層とを成長させるだけでは、温度変化の待ち時間は生じないものの、井戸層及び障壁層の両方を良好に形成することができない。
【0039】
次に、第4及び第5の比較例について説明する。第4及び第5の比較例では、Sが良好に取り込まれる低温で井戸層を形成した上で、Sの拡散が抑制される障壁層の成長温度を調べた。第4の比較例では、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層を基板温度500℃で成長させ、ZnO障壁層を基板温度700℃で成長させた。第5の比較例では、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層を基板温度500℃で成長させ、ZnO障壁層を基板温度600℃で成長させた。
【0040】
図3を参照して、第4の比較例を詳しく説明する。図3は、第4の比較例のZnO系半導体素子の概略断面図である。c面ZnO基板20を準備した。Zn極性面(+c面)上にMQW構造を形成する。まずZnO基板20にサーマルアニールを施し、基板表面を洗浄した。サーマルアニールは、1E−9Torrの高真空下において900℃で30分行った。
【0041】
次に、基板温度を350℃とし、Znビーム及びOラジカルビームをZnO基板20上に照射して、10nm程度の厚さのZnOバッファー層21を形成した。次に、バッファー層21の結晶性を向上させるために、基板温度を800℃に上げて、20分のアニールを行った。
【0042】
次に、バッファー層21の上に、MQW構造22を形成した。MQW構造22は、ZnO障壁層22bとその上のZnSxO1−x(x=0.25)井戸層22wとのペアを5周期積層し、最上層にZnO障壁層22bを形成した構造とした。ZnO障壁層22bの膜厚は10nmとし、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層22wの膜厚は2nmとした。
【0043】
ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層22wは、基板温度500℃でZnビーム及びOラジカルビーム、及びZnSビームを照射して成長させた。Znビームの照射は、固体ソースとして純度7NのZnを用い、フラックス量を2E+15atoms/(cm2s)として行った。Oラジカルビームの照射は、純度6Nの純酸素ガスを1sccmで導入し、高周波パワー200Wでプラズマ化して行った。Oラジカルビームフラックス量は、3E+14atoms/(cm2s)である。この条件は、Oラジカルビームフラックス量よりもZnビームフラックス量の方が多いZnリッチ条件となる。
【0044】
ZnSビームの照射は、固体ソースとして純度5NのZnSを用い、フラックス量を6E+15atoms/(cm2s)として行った。ただし、ここでZnSのフラックス量は室温下における成長位置での水晶振動子を用いた膜厚モニターによる測定結果である。
【0045】
ZnO障壁層22bは、基板温度700℃でZnビーム及びOラジカルビームを照射して成長させた。Znビームの照射は、フラックス量を2E+14atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射は、純酸素ガスを3sccmで導入し、高周波パワー300Wでプラズマ化して行った。Oラジカルビームフラックス量は、1E+15atoms/(cm2s)である。この条件は、Oラジカルビームフラックス量の方がZnビームフラックス量よりも多いOリッチ条件となる。
【0046】
次に、第5の比較例について説明する。第5の比較例は、第4の比較例において、ZnO障壁層22bの成長温度を600℃としたものであり、他は第4の比較例と同様である。第4及び第5の比較例のMQW構造に対し、XRDによる2θ−ω測定を行った。
【0047】
図4(A)及び図4(B)が、それぞれ、第4の比較例及び第5の比較例の2θ−ω測定結果を示すグラフである。第4の比較例ではサテライトピークが全く見られない。このことより、ZnO障壁層成長時の基板温度を700℃以上とすると、Sの拡散に起因して急峻なヘテロ界面が得られなくなると考えられる。一方、ZnO障壁層を600℃で成長させた第5の比較例では、わずかにサテライトピークが見られる。
【0048】
第4及び第5の比較例ともに、ZnO障壁層の成長温度が700℃以下と低いため、あまり平坦性の高いヘテロ界面が得られず、明瞭なサテライトピークが見られない。しかし、成長温度の低い600℃でZnO障壁層を成長した第5の比較例の方で、わずかにサテライトピークを確認することができた。このことから、ZnO障壁層成長時の基板温度を600℃以下とするとSの拡散を抑制でき、組成変化の急峻なヘテロ界面を得やすいと考えられる。
【0049】
以上説明したように、S等の蒸気圧の高い元素を井戸層に良好に導入するためには、井戸層の成長温度を300℃〜600℃の低温とすることが好ましく、さらに、井戸層に導入された元素の障壁層への拡散を抑制するには、障壁層の成長温度を600℃以下の低温とすることが好ましいことがわかった。Zn1−yMgyO障壁層を600℃以下の低温で平坦性良く成長させられる技術が望まれる。
【0050】
次に、図5(A)、図5(B)を参照して、本発明の第1の実施例によるZnO系半導体素子について説明する。n導電型のc面ZnO基板30を準備した。+c面上にMQW構造を形成する。第4の比較例と同様にして、ZnO基板30にサーマルアニールを施し、ZnO基板30上にZnOバッファー層31を形成し、アニールを行った。なお、アニールによりZnOバッファー層31からO原子が抜けてn型の導電型が得られる。
【0051】
次に、n型ZnOバッファー層31の上に、Znビーム、Oラジカルビーム、及びGaビームを照射して、Gaを密度1E+18cm−3以上でドーピングしたn型ZnOコンタクト層32を、厚さ1μm成長させた。成長温度は700℃とした。
【0052】
続いて、n型ZnOコンタクト層32上に、Znビーム、Oラジカルビーム、Gaビーム、及びMgビームを照射して、Gaを密度1E+18cm−3以上でドーピングしたn型Zn1−yMgyO(y=0.2)クラッド層33を、厚さ200nm成長させた。成長温度は700℃とした。
【0053】
次に、n型Zn1−yMgyO(y=0.2)クラッド層33の上に、発光層としてMQW構造34を形成した。MQW構造34は、ZnO障壁層34bとその上のZnSxO1−x(x=0.25)井戸層34wとのペアを5周期積層し、最上層にZnO障壁層34bを形成した構造とした。ZnO障壁層34bの膜厚は25nmとし、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層34wの膜厚は2nmとした。
【0054】
ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層34wは、第4の比較例の井戸層22wと同様な条件で成長させた。すなわち、基板温度を500℃とし、Znビームの照射を、フラックス量2E+15atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射を、純酸素ガスを1sccmで導入し高周波パワー200Wでプラズマ化して行い、ZnSビームの照射を、フラックス量6E+15atoms/(cm2s)として行った。第4の比較例で説明したように、この条件はZnリッチ条件となる。
【0055】
第1の実施例では、ZnO障壁層34bも、基板温度500℃という低温で成長させた。つまり、ZnO障壁層34bの成長時と、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層34wの成長時とで、基板温度を変化させなかった。ただし、ZnO障壁層34b成長時に、Znビーム及びOラジカルビームの照射に加え、ZnSビームも同時に照射した。
【0056】
第4の比較例の障壁層22bと同様に、Znビームの照射は、フラックス量を2E+14atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射は、純酸素ガスを3sccmで導入し、高周波パワー300Wでプラズマ化して行った。第4の比較例で説明したように、この条件は、Oラジカルのビームフラックス量の方がZnビームフラックス量よりも多いOリッチ条件となる。ZnSビームの照射は、フラックス量を3E+14atoms/(cm2s)として行った。
【0057】
次に、MQW構造34の上に、Znビーム、Oラジカルビーム、Nラジカルビーム、及びMgビームを照射して、Nを密度1E+19cm−3以上でドーピングしたp型Zn1−yMgyO(y=0.2)クラッド層35を、厚さ100nm成長させた。成長温度は600℃とした。
【0058】
続いて、p型Zn1−yMgyO(y=0.2)クラッド層35上に、Znビーム、Oラジカルビーム、及びNビームを照射して、Nを密度1E+19cm−3以上でドーピングしたp型ZnOコンタクト層36を、厚さ100nm成長させた。成長温度は700℃とした。
【0059】
次に、n型ZnO基板30の裏面上に、厚さ10nmのTi層を形成しTi層上にさらに厚さ500nmのAl層を積層して、n側電極40を形成した。また、p型ZnOコンタクト層36上に、厚さ1nmのNi層を形成しNi層上にさらに厚さ10nmのAu層を積層して、p側電極41を形成した。p側電極41上に、厚さ500nmのAu層でp側ボンディング電極42を形成した。
【0060】
これらの電極形成後、例えば400℃の酸素雰囲気中で、電極合金化処理を行う。合金化処理時間は例えば2分である。このようにして、第1の実施例のZnO系発光ダイオードを作製した。
【0061】
以上の工程でMQW構造を形成する際、障壁層形成後井戸層形成直前のRHEED像([11−20]方向)を観察した。また、作製したZnO系発光ダイオードに対しI−V特性の測定及び発光状態の確認を行った。さらに、第1の実施例の条件で、ZnO基板上にMQW構造のみ(5周期)を形成した形成したサンプルも作製し、これに対しXRDによる2θ−ω測定を行った。
【0062】
図6(A)〜図6(C)は、それぞれ、第1の実施例の、障壁層形成後井戸層形成直前のRHEED像、MQW構造の2θ−ω測定結果、及び発光ダイオードのI−V特性である。
【0063】
第1の実施例において、図6(A)のRHEED像は、汚染の影響の見られないストリークパターンを示しており、井戸層形成時の障壁層表面が平坦性に優れていることがわかる。図6(B)の2θ−ω測定結果には、サテライトピークが明瞭に現れており、組成変化が急峻で平坦性の高いヘテロ界面が得られていることがわかる。このようなMQW構造を発光層とするため、図6(C)のI−V特性に示されるように、順バイアス時の電流の立ち上がりが急峻でリーク電流が少なく、逆バイアス時の耐電圧特性も良好である。また、ショート破壊も発生しない安定した発光が得られた。
【0064】
次に、第2の実施例によるZnO系半導体素子について説明する。第2の実施例では、MQW構造の障壁層にMgを導入し、Zn1−yMgyO(y=0.2)障壁層を成長させた。他は第1の実施例と同様である。
【0065】
Zn1−yMgyO(y=0.2)障壁層は、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層と同様に基板温度500℃で、Znビーム、Oラジカルビーム、Mgビームに加えてZnSビームを照射して成長させた。
【0066】
Znビームの照射は、フラックス量を5E+14atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射は、純酸素ガスを3sccmで導入し、高周波パワー300Wでプラズマ化して行い、Mgビームの照射は、フラックス量を1E+14atoms/(cm2s)として行った。この条件は、Oラジカルビームフラックス量がZnビームフラックス量及びMgビームフラックス量よりも多いOリッチ条件となる。ZnSビームの照射は、フラックス量を3E+14atoms/(cm2s)として行った。
【0067】
第2の実施例でも、発光ダイオードのサンプルと、MQW構造のみのサンプルとを作製し、第1の実施例と同様に、発光ダイオードのサンプルについてRHEED像を観察し、I−V特性の測定及び発光状態の確認を行った。またMQW構造のサンプルについてXRDによる2θ−ω測定を行った。
【0068】
図7(A)〜図7(C)は、それぞれ、第2の実施例の、障壁層形成後井戸層形成直前のRHEED像、MQW構造の2θ−ω測定結果、及び発光ダイオードのI−V特性である。第2の実施例でも、第1の実施例と同様に、図7(A)のRHEED像がストリークパターンを示し、井戸層形成時の障壁層表面が汚染なく平坦性に優れ、図7(B)の2θ−ω測定結果にサテライトピークが明瞭に現れ、良好なヘテロ界面が得られており、図7(C)のI−V特性も良好である。
【0069】
このように、Zn1−yMgyO(0≦y<1)障壁層成長時に、Zn、O、(必要に応じて)Mgの供給と同時にSを供給することにより、井戸層成長時と同程度の低い成長温度でも、障壁層が平坦性良く形成されることがわかった。すなわち、SがZnO系化合物半導体層を平坦性良く成長させるサーファクタントとして働くことがわかった。
【0070】
Sサーファクタントを用いることにより、障壁層を低温(600℃以下)で成長させても、ヘテロ界面の平坦性が高く結晶性の優れたMQW構造を形成できる。障壁層を低温で成長できるので、井戸層・障壁層間の組成の相互拡散が抑制され、組成変化の急峻なヘテロ界面を持つMQW構造を形成できる。なお、Zn1−yMgyO(0≦y<1)障壁層成長温度の下限は、例えば400℃程度となろう。
【0071】
また、障壁層を井戸層と同じ成長温度で成長させられるようになり、基板温度変化の待ち時間が必要なくなる。この待ち時間に生じうる基板への汚染物質付着が抑制され、良質なMQW構造が得られる。また、待ち時間が無くなると、工程時間短縮にもつながる。
【0072】
良質なMQW構造が得られるため、高効率でリーク電流の少ない発光ダイオードを得ることができる。
【0073】
なお、以下第3及び第4の実施例で説明するように、Sサーファクタントは、成長したZnO系半導体層の組成にSが含まれない程度の供給量で、平坦な成長を生じさせることができる。
【0074】
なお、ZnO系半導体層の組成にSが取り込まれる場合でも、Sはサーファクタントとして働くと考えられる。例えば、Sを取り込んだ井戸層形成時にも、Sはサーファクタントとして働くと考えられる。
【0075】
第3及び第4の実施例は、Sサーファクタントを用いた、単層のZn1−yMgyO障壁層(0≦y<1)の成長に相当する。ただし、成長温度は700℃である。
【0076】
第3の実施例では、まず、第1の実施例(あるいは第4の比較例)と同様にして、ZnO基板にサーマルアニールを施し、ZnO基板上にZnOバッファー層を形成し、アニールを行った。
【0077】
(800℃での)バッファー層のアニールに続いて、基板温度を700℃に下げ、Znビーム、Oラジカルビームを供給してZnO層を作製した。ZnSビームの同時照射によりSサーファクタントを供給した。
【0078】
Znビームの照射は、フラックス量を6.58E+14atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射は、純酸素ガスを2sccmで導入し、高周波パワー300Wでプラズマ化して行った。ZnSビームの照射は、ZnSフラックス量を4.28E+14atoms/(cm2s)として行った。成長したZnO層のRHEED像は、2次元成長を示すストリークパターンであった。
【0079】
第3の実施例のZnO層に対し、電子探針微小部分析装置(EPMA)のエネルギ分散型X線分析装置(EDX)による元素分析と、吸収測定によるバンドギャップ測定とを行った。なお、EPMAは、日本電子製JXA−840Aを用いた。
【0080】
図8は、EPMA測定による元素分析結果を示すグラフである。第3の実施例のZnO層からは、EPMA測定の検出下限の0.1atom%オーダーのSは検出されなかった。
【0081】
図9は、吸収係数のフォトンエネルギに対する依存性を示すグラフである。横軸がeV単位で表したフォトンエネルギを示し、縦軸が吸収係数を示す。曲線A1が第3の実施例の結果を示し、併せて曲線B1として、ZnS照射なしの第6の比較例の結果を示す。
【0082】
第3の実施例と第6の比較例とで、吸収係数の立ち上がり部分からピークの部分までが、ほぼ重なっている。つまり、両者の吸収端がほぼ一致し、バンドギャップは同等の3.3eV程度である。なお、バンドギャップの差が0.1eV以内であることを、バンドギャップが同等と呼ぶこととする。
【0083】
次に、第4の実施例について説明する。第3の実施例と同様にして、バッファー層のアニールまでを行う。(800℃での)バッファー層のアニールに続いて、基板温度を700℃に下げ、Znビーム、Oラジカルビーム、及びMgビームを供給してZn1−yMgyO層を作製した。ZnSビームの同時照射によりSサーファクタントを供給した。
【0084】
Znビームの照射は、フラックス量を7.89E+14atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射は、純酸素ガスを3sccmで導入し、高周波パワー300Wでプラズマ化して行った。Mgビームの照射は、固体ソースとして純度7NのMgを用い、フラックス量を6.18E+13atoms/(cm2s)として行った。ZnSビームの照射は、フラックス量を2.51E+14atoms/(cm2s)として行った。
【0085】
図10に、第4の実施例のZn1−yMgyO層のRHEED像([11−20]方向)を示す。RHEED像はストリークパターンを示し、2次元成長していることがわかる。また、EPMA測定によると、このZn1−yMgyO層のMg濃度y=0.28であり、0.1atom%オーダーのSは検出されない。
【0086】
このように、Sサーファクタントは、Sが0.1atom%オーダー以上の濃度で取り込まれない(組成変化を起こさない)ような供給量で、ZnO系化合物半導体層の平坦な成長を生じさせることができる。また、Sが取り込まれる組成変化なしに成長できることにより、Sサーファクタント供給なしに成長させた場合と同等のバンドギャップを保つことができる。
【0087】
なお、障壁層形成時にSサーファクタントを利用する手法は、井戸層の種類に限定されない。例えば井戸層がZnOでもZnMgOでも有効である。ただし、特に、蒸気圧の高いS、Se、Cd等の元素を導入し低温で成長させた井戸層との組み合わせで有効である。
【0088】
図11に示したように、SeやCdはZnよりも蒸気圧が高いが、Sに比べれば蒸気圧が低い。従って、ZnSO井戸層の場合と同様に、ZnSeO井戸層及びZnCdO井戸層の場合についても、Sサーファクタントを用いて障壁層を600℃以下で成長させれば、Se、Cdの拡散が抑制され、良好なヘテロ界面のMQW構造を作製できるであろう。ZnSeO井戸層及びZnCdO井戸層の場合についても、井戸層と障壁層とを同じ温度で成長させることが可能となる。
【0089】
なお、井戸層にSを導入する場合は、井戸層成長用のS源が、障壁層成長時のSサーファクタント源を兼ねることができる。
【0090】
なお、例えばZnO井戸層及びZnMgO障壁層とする場合に、井戸層及び障壁層の両方の成長時にSサーファクタントを用いてもよい。Sサーファクタントを用いない場合よりも、低温で、平坦性の高い井戸層及び障壁層を成長させられ、組成の相互拡散も抑制される。井戸層及び障壁層を同じ成長温度で成長させられる。
【0091】
なお、発光層として、障壁層及び井戸層のペアを複数積層したMQW構造の例を説明したが、上下の障壁層間に井戸層を1層挟んだSQW構造を採用する場合でも、Sサーファクタントは有効である。
【0092】
なお、例えばMQW構造の発光層とクラッド層との間に、歪み緩和層(strained-layer superlattice,SLS)構造を設ける場合にも、Sサーファクタントは有効である。例えば、ZnSxO1−x井戸層及びZn1−yMgyO障壁層を持つ発光層の場合、SLS構造として、ZnSzO1−z井戸層及びZn1−wMgwO障壁層が交互に積層され、ZnSzO1−z井戸層及びZn1−wMgwO障壁層の平均組成が、発光層のZnSxO1−x井戸層及びZn1−yMgyO障壁層の平均組成に比べてクラッド層の組成に近い超格子構造が設けられる。SLS構造も、発光層と同様な量子井戸構造なので、Sサーファクタントを用いてヘテロ界面を良好に形成することができる。
【0093】
なお、基板としてZnO基板を用いる例を説明したが、基板はこれに限らない。例えば、サファイア(Al2O3)基板、SiC基板、GaN基板、ZnMgO基板等を用いることもできる。なお、結晶性の良いZnO系化合物半導体層を得るためには、格子不整合の小さい基板ほど良いので、ZnO基板を用いることが最も好ましい。なお、MQW構造を成長させるZnO基板面は、+c面に限らず、−c面、a面、m面のいずれでもよい。
【0094】
なお、成膜方法の例としてMBEを説明したが、他の成膜方法を用いる場合でも、Sは平坦性を高めるサーファクタントとして有効に働くであろう。他の成膜方法としては、例えば、有機金属化学気相堆積(MOCVD)、パルスレーザ堆積(PLD)等が考えられる。その他、アトミックレイヤーエピタキシ(ALE)も可能であろう。ALEで成膜する場合は、例えば、Znビームと一緒にSを供給するか、もしくは、Oビームを照射した後でZnビームを照射する前にSを供給することになろう。
【0095】
なお、Sサーファクタントを利用して得られたMQW構造は、種々の製品に利用することができる。例えば、発光ダイオード(LED)やレーザダイオード(LD)及びその応用製品(例えば、各種インジケータや、LEDディスプレイ、LDディスプレイ、プロジェクター用RGB光源など)に利用できる。
【0096】
以上実施例に沿って本発明を説明したが、本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に自明であろう。
【図面の簡単な説明】
【0097】
【図1】図1は、ZnO系化合物半導体層を成長させるための結晶製造装置の例を示す概略図である。
【図2】図2(A)及び図2(B)は、それぞれ、第1の比較例の障壁層成長直後及び井戸層形成直前のRHEED像であり、図2(C)は、第1の比較例の発光ダイオードのI−V特性を示すグラフである。
【図3】図3は、第4の比較例(または第5の比較例)のZnO系半導体素子の概略断面図である。
【図4】図4(A)及び図4(B)は、それぞれ、第4の比較例及び第5の比較例のXRDの2θ−ω測定結果を示すグラフである。
【図5】図5(A)及び図5(B)は、本発明の第1の実施例(または第2の実施例)のZnO系半導体発光ダイオードの概略断面図である。
【図6】図6(A)〜図6(C)は、それぞれ、第1の実施例の、障壁層形成後井戸層形成直前のRHEED像、MQW構造の2θ−ω測定結果、及び発光ダイオードのI−V特性である。
【図7】図7(A)〜図7(C)は、それぞれ、第2の実施例の、障壁層形成後井戸層形成直前のRHEED像、MQW構造の2θ−ω測定結果、及び発光ダイオードのI−V特性である。
【図8】図8は、第3の実施例のZnO層のEPMA測定による元素分析結果を示すグラフである。
【図9】図9は、第3の実施例のZnO層の吸収係数のフォトンエネルギに対する依存性を示すグラフである。
【図10】図10は、第4の実施例のZnMgO層のRHEED像である。
【図11】図11は、S、Se、Cd、Znの蒸気圧の温度依存性を示すグラフである。
【図12】図12は、MQW構造の評価の仕方について説明するためのXRDの2θ−ω測定のグラフである。
【符号の説明】
【0098】
1 超高真空容器
2 Znソースガン
3 Oソースガン
4 ZnSソースガン
5 Mgソースガン
6 Nソースガン
7 Gaソースガン
8 SeまたはCdソースガン
9 ステージ
10 基板
11 (RHEED用の)ガン
12 (RHEED用の)スクリーン
13 排気ポンプ
30 基板
31 バッファー層
32 n型ZnOコンタクト層
33 n型Zn1−yMgyOクラッド層
34 MQW構造(発光層)
34b 障壁層
34w 井戸層
35 p型Zn1−yMgyOクラッド層
36 p型ZnOコンタクト層
40 n側電極
41 p側電極
42 p側ボンディング電極
【技術分野】
【0001】
本発明は、ZnO系半導体装置の製造方法に関し、特に、量子井戸構造を含むZnO系半導体装置の製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
酸化亜鉛(ZnO)は、室温で約3.3eVのバンドギャップを有する直接遷移型の半導体で、励起子の束縛エネルギが60meVと他の半導体に比べて比較的大きく、また原材料が安価であるとともに、環境や人体に悪影響が少ないという特徴を有する。そのため、ZnOを用いた高効率かつ低消費電力で環境性に優れた発光素子の実現が期待されている。
【0003】
ZnO系半導体発光素子の発光特性改善のため、特許文献1に、ZnCdO井戸層とZnMgO障壁層とが交互に積層された量子井戸構造の発光層が開示されている。また、特許文献2に、ZnSO、ZnSeO、またはZnTeOを井戸層とし、ZnMgOを障壁層とした量子井戸構造の発光層が開示されている、
ZnO系半導体発光素子を作製する際、発光素子の機能向上のために、薄膜のエピタキシャル成長を原子レベルで制御することが非常に重要である。近年の薄膜成長の有力な研究手法の一つに、サーファクタント媒介エピタキシ(surfactant mediated epitaxy)がある。この方法は、サーファクタントと呼ばれる表面活性剤(原子あるいは分子)を用いて、薄膜の成長様式を人工的に変化させる手法であり、エピタキシャル成長制御の有用な手段になっている。特許文献3に、ZnO系化合物半導体層の成長時に、水素をサーファクタントとして用いる技術が開示されている。
【0004】
【特許文献1】特開2004−335792号公報
【特許文献2】特開2004−146501号公報
【特許文献3】特開2004−221352号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
ZnO系半導体装置に含まれる量子井戸構造を良好に形成する技術が望まれる。
【0006】
本発明の一目的は、量子井戸構造の質の向上を図ることができるZnO系半導体装置の製造方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明の一観点によれば、(a)基板を準備する工程と、(b)前記基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる井戸層を成長する工程と、(c)前記基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる障壁層を、サーファクタントとしてSを供給しながら成長する工程とを有するZnO系半導体装置の製造方法が提供される。
【発明の効果】
【0008】
少なくとも障壁層の成長時にSサーファクタントを供給することにより、Sサーファクタントを供給しない場合に比べて、例えば、低い成長温度での平坦性が向上した障壁層が得られ、量子井戸構造の質の向上が図られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0009】
まず、図1を参照し、ZnO系化合物半導体層を成長させる結晶製造装置の例について説明する。成膜方法として、分子線エピタキシ(MBE)が用いられる。超高真空容器1内に、基板ヒータを含むステージ9が配置され、ステージ9が基板10を保持する。
【0010】
また、超高真空容器1内に、Znソースガン2、Oソースガン3、ZnSソースガン4、Mgソースガン5、Nソースガン6、及び、Gaソースガン7が備えられている。Znソースガン2、ZnSソースガン4、Mgソースガン5、及びGaソースガン7は、それぞれ、Zn、ZnS、Mg、及びGaの固体ソースを収容するクヌーセンセルを含み、それぞれ、Znビーム、ZnSビーム、Mgビーム、及びGaビームを出射する。ZnSビームは、S源として用いている。なお、S源はZnSに限らず、例えばS(硫黄)単体を用いることもできる。
【0011】
また、必要に応じて、Se源またはCd源のソースガン8が備えられる。Se、Cdソースガンとして、それぞれ、Se、Cdの固体ソースを収容するクヌーセンセルを含むものを用いることができる。
【0012】
Oソースガン3及びNソースガン6は、それぞれ、ラジオ周波(例えば13.56MHz)を用いる無電極放電管を含む。Oソースガン3及びNソースガン6は、それぞれ、無電極放電官内で酸素ガス及び窒素ガスをラジカル化して、Oラジカルビーム及びNラジカルビームを出射する。基板10上に、所望のタイミングで所望のビームを供給することにより、所望の組成のZnO系化合物半導体層を成長させることができる。
【0013】
ZnO系化合物半導体(単にZnO系半導体と呼ぶこともある)は、ZnO、及び、ZnOにZnを置換するCd、Mg等のII族元素または(及び)Oを置換するS、Se、Te等のVI族元素を導入したものであり、必要に応じてN等のp型不純物、Ga等のn型不純物が添加されたものとする。なお、Zn及びOは必ず含むものとする。
【0014】
超高真空容器1にはまた、反射高速電子回折(RHEED)用のガン11、及び、RHEEDの回折像を映すスクリーン12が取り付けられている。RHEEDの回折像から、基板10上に形成された結晶層の表面の平坦性を評価できる。結晶が2次元成長し表面が平坦である場合は、RHEEDの回折像がストリークパターンを示し、結晶が3次元成長し表面が平坦でない場合は、RHEEDの回折像がスポットパターンを示す。
【0015】
排気ポンプ13が超高真空容器1内部を排気する。なお、超高真空とは、圧力が1×10−7(以下、数値を1E−7等と表記する)Torr以下の真空を示す。
【0016】
ZnO系半導体発光素子における量子井戸構造(単一量子井戸(SQW)構造や多重量子井戸(MQW)構造)では、井戸層として例えば、S、Se、Cdを導入したZnSxO1−x(0<x<1)や、ZnSexO1−x(0<x<1)や、Zn1−yCdyO(0<y<1)が用いられ、障壁層として例えば、Mgを導入したZn1−yMgyO(0<y<1)が用いられる。
【0017】
S、Se、Cdを導入することにより、ZnOに比べてバンドギャップを狭くすることができる。一方、Mgを導入することにより、ZnOに比べてバンドギャップを広くすることができる。S、Se、Cdを導入した井戸層とするとき、Mgを導入しないZnO障壁層(y=0)を用いることもできる。
【0018】
なお、Mgを導入した障壁層(y>0)であれば、S、Se、Cdを導入しないZnO井戸層を用いることもできる。なお、Mgの導入割合を変えることにより、井戸層、障壁層の両方をZnMgO層で構成することも可能である。
【0019】
図11に示すように、井戸層に導入されるS、Se、Cdは、Znに比べて蒸気圧が高く、特にSの蒸気圧が高い。これに起因して、これらの元素は、高い基板温度で成長するとZnO中に取り込むことが困難である。
【0020】
例えば、Sを導入する井戸層は、基板温度300℃〜600℃の低温で成長させることが好ましい。なお、ZnO中へSを取り込むため、ZnビームとOラジカルビームとのビームフラックス比は、ストイキオメトリ〜Znリッチ条件とする。
【0021】
一方、Mgを導入した障壁層は、2次元成長させ平坦性に優れた表面を得るために、基板温度900℃以上の高温で成長させることが好ましい。従って、蒸気圧の高い元素の井戸層への取り込み、及び平坦性の高い障壁層の形成という観点からは、基板温度を低温と高温で切り替えて、井戸層と障壁層とを成長させることになる。
【0022】
なお、Oリッチ条件、Znリッチ条件、ストイキオメトリ条件は、以下のように定義される。Znのフラックス強度をJZnとし、Oラジカルのフラックス強度をJOとする。ZnO結晶のO終端面へのZnの付着しやすさを示す係数(Znの付着係数)をKZnとし、Zn終端面へのOの付着しやすさを示す係数(Oの付着係数)をKOとする。Znの付着係数KZnとフラックス強度JZnとの積KZn・JZnが、基板の単位面積に単位時間当たりに付着するZn原子の個数に対応し、Oの付着係数KOとフラックス強度JOとの積KO・JOが、基板の単位面積に単位時間当たりに付着するO原子の個数に対応する。
【0023】
Znビームフラックス量が、積KZn・JZnで定義され、Oラジカルビームフラックス量が、積KO・JOで定義され、Znビームフラックス量KZn・JZnに対するOラジカルビームフラックス量KO・JOの比であるKO・JO/KZn・JZnが、フラックス比と定義される。そして、フラックス比が1より大きい場合をOリッチ条件と呼び、フラックス比が1未満である場合をZnリッチ条件と呼ぶ。フラックス比が1に等しい場合がストイキオメトリ条件となる。
【0024】
また、ZnO結晶の成長速度Gは、H.Kato, M.Sano, K.Miyamoto, T.Yao; Journal of Crystal Growth 265(2004);p.375-381に説明されているように、次式(1)によって求めることができる。
G=[(kZn・JZn)−1+(kO・JO)−1]−1 ・・・(1)
Znビームフラックス量KZn・JZnについて、Znの付着係数KZnは1とし、フラックス強度JZnは膜厚モニター等を用いて得られた値を適用することができる。一方、Oラジカルビームフラックス量KO・JOについては、Znビームフラックス量KZn・JZnの分かっている条件でZnO膜を実際に成長し、成長速度Gを求め、得られた成長速度GとZnビームフラックス量KZn・JZnとを上式(1)に代入することで、設定したOラジカルガンの条件(O2流量、RFパワー等)におけるOラジカルビームフラックス量KO・JOを導出することができる。
【0025】
次に、実施例の説明に先立ち、第1〜第5の比較例のZnO系半導体素子について説明する。
【0026】
第1の比較例では、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層を基板温度500℃で成長し、Zn1−yMgyO(y=0)障壁層(すなわちZnO障壁層)を基板温度900℃で成長させたMQW構造を作製した。ZnO基板上にMQW構造のみを成長させたサンプルと、このようなMQW構造を発光層とする発光ダイオードのサンプルとを作製した。
【0027】
図2(A)は、ZnO障壁層の、基板温度900℃で成長した直後のRHEED像([11−20]方向)である。RHEED像は、ストリークパターンを示し、高い平坦性が得られていることが分かる。
【0028】
図2(B)は、ZnO障壁層成長後、基板温度を500℃に降下させた後の、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層成長直前のRHEED像([11−20]方向)であり、図2(A)に示したパターンからの変化が生じている。この変化は、基板温度を降下させている間に、障壁層表面が汚染されたことを示す。
【0029】
さらに、MQW構造のみを成長させたサンプルについて、X線回折(XRD)による2θ−ω測定を行った。
【0030】
図12を参照して、XRDの2θ−ω測定によるMQW構造の評価の仕方について説明する。図12は、井戸層と障壁層との間の組成変化が急峻で、かつ平坦性の高いヘテロ界面(このようなヘテロ界面を、「良好なヘテロ界面」と呼ぶこととする)を有するMQW構造に対するXRDの2θ−ω測定で得られると想定されるグラフである。横軸が度単位の回折角であり、縦軸がcps単位の強度である。
【0031】
強度最大のピークである基板の回折ピークとほぼ等しい回折角に0次の超格子回折のピークが現れ、0次の超格子回折の周辺に±1次、±2次・・のサテライトピークが現れている。また、サテライトピーク間にMQW構造の周期数に応じた数の副極大が現れている。井戸層及び障壁層の組成変化の急峻性や平坦性が悪化すると、サテライトピークや副極大の明瞭さが損なわれる。
【0032】
第1の比較例のサンプルについては、明瞭なサテライトピークが得られなかった。すなわち、良好なヘテロ界面が得られていなかった。
【0033】
図2(C)は、第1の比較例の発光ダイオードの電流電圧特性(I−V特性)を示すグラフである。順バイアスで、電流の立ち上がりの急峻性が悪く、低い電圧から微小電流が流れ始めており、リーク電流のある特性といえる。また、逆バイアスでの耐電圧も低い。第1の比較例の発光ダイオードは、簡単にショート破壊しやすく、安定した発光が得られないことがわかった。
【0034】
このように、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層を基板温度500℃で成長し、ZnO障壁層を基板温度900℃で成長させたMQW構造では、井戸層を低温で成長し、障壁層を高温で成長させたが、良好なヘテロ界面が得られず、良好な発光素子が得られなかった。
【0035】
この理由としては、井戸層に導入した蒸気圧の高い元素が、高温での障壁層成長時に障壁層に拡散してしまうことや、上述のように、温度変化に伴う待ち時間中にチャンバー内を浮遊する汚染物質が基板表面に付着し、格子欠陥が誘発され超格子構造内部の結晶性が悪化すること等が考えられる。特に、基板温度を下げる場合は長時間を要するため、このような汚染の影響が大きい。
【0036】
次に、第2の比較例について説明する。第2の比較例では、ZnSxO1−x(0<x<1)井戸層とZnO障壁層とを、ともに基板温度500℃の低温で成長させてMQW構造を作製した。これにより、温度変化に伴う待ち時間が生じず、またSの拡散が抑制されるであろう。しかし、ZnO障壁層が3次元成長してしまい(RHEED像がスポットパターンを示し)平坦な表面が得られず、良質なMQW構造が得られなかった。
【0037】
次に、第3の比較例について説明する。第3の比較例では、ZnSxO1−x(0<x<1)井戸層とZnO障壁層とを、ともに基板温度900℃の高温で成長させてMQW構造を作製した。これにより、温度変化に伴う待ち時間が生じず、また障壁層の平坦性が向上するであろう。しかし、井戸層にSが取り込まれなかった。
【0038】
第2及び第3の比較例のように、単に同一温度で井戸層と障壁層とを成長させるだけでは、温度変化の待ち時間は生じないものの、井戸層及び障壁層の両方を良好に形成することができない。
【0039】
次に、第4及び第5の比較例について説明する。第4及び第5の比較例では、Sが良好に取り込まれる低温で井戸層を形成した上で、Sの拡散が抑制される障壁層の成長温度を調べた。第4の比較例では、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層を基板温度500℃で成長させ、ZnO障壁層を基板温度700℃で成長させた。第5の比較例では、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層を基板温度500℃で成長させ、ZnO障壁層を基板温度600℃で成長させた。
【0040】
図3を参照して、第4の比較例を詳しく説明する。図3は、第4の比較例のZnO系半導体素子の概略断面図である。c面ZnO基板20を準備した。Zn極性面(+c面)上にMQW構造を形成する。まずZnO基板20にサーマルアニールを施し、基板表面を洗浄した。サーマルアニールは、1E−9Torrの高真空下において900℃で30分行った。
【0041】
次に、基板温度を350℃とし、Znビーム及びOラジカルビームをZnO基板20上に照射して、10nm程度の厚さのZnOバッファー層21を形成した。次に、バッファー層21の結晶性を向上させるために、基板温度を800℃に上げて、20分のアニールを行った。
【0042】
次に、バッファー層21の上に、MQW構造22を形成した。MQW構造22は、ZnO障壁層22bとその上のZnSxO1−x(x=0.25)井戸層22wとのペアを5周期積層し、最上層にZnO障壁層22bを形成した構造とした。ZnO障壁層22bの膜厚は10nmとし、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層22wの膜厚は2nmとした。
【0043】
ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層22wは、基板温度500℃でZnビーム及びOラジカルビーム、及びZnSビームを照射して成長させた。Znビームの照射は、固体ソースとして純度7NのZnを用い、フラックス量を2E+15atoms/(cm2s)として行った。Oラジカルビームの照射は、純度6Nの純酸素ガスを1sccmで導入し、高周波パワー200Wでプラズマ化して行った。Oラジカルビームフラックス量は、3E+14atoms/(cm2s)である。この条件は、Oラジカルビームフラックス量よりもZnビームフラックス量の方が多いZnリッチ条件となる。
【0044】
ZnSビームの照射は、固体ソースとして純度5NのZnSを用い、フラックス量を6E+15atoms/(cm2s)として行った。ただし、ここでZnSのフラックス量は室温下における成長位置での水晶振動子を用いた膜厚モニターによる測定結果である。
【0045】
ZnO障壁層22bは、基板温度700℃でZnビーム及びOラジカルビームを照射して成長させた。Znビームの照射は、フラックス量を2E+14atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射は、純酸素ガスを3sccmで導入し、高周波パワー300Wでプラズマ化して行った。Oラジカルビームフラックス量は、1E+15atoms/(cm2s)である。この条件は、Oラジカルビームフラックス量の方がZnビームフラックス量よりも多いOリッチ条件となる。
【0046】
次に、第5の比較例について説明する。第5の比較例は、第4の比較例において、ZnO障壁層22bの成長温度を600℃としたものであり、他は第4の比較例と同様である。第4及び第5の比較例のMQW構造に対し、XRDによる2θ−ω測定を行った。
【0047】
図4(A)及び図4(B)が、それぞれ、第4の比較例及び第5の比較例の2θ−ω測定結果を示すグラフである。第4の比較例ではサテライトピークが全く見られない。このことより、ZnO障壁層成長時の基板温度を700℃以上とすると、Sの拡散に起因して急峻なヘテロ界面が得られなくなると考えられる。一方、ZnO障壁層を600℃で成長させた第5の比較例では、わずかにサテライトピークが見られる。
【0048】
第4及び第5の比較例ともに、ZnO障壁層の成長温度が700℃以下と低いため、あまり平坦性の高いヘテロ界面が得られず、明瞭なサテライトピークが見られない。しかし、成長温度の低い600℃でZnO障壁層を成長した第5の比較例の方で、わずかにサテライトピークを確認することができた。このことから、ZnO障壁層成長時の基板温度を600℃以下とするとSの拡散を抑制でき、組成変化の急峻なヘテロ界面を得やすいと考えられる。
【0049】
以上説明したように、S等の蒸気圧の高い元素を井戸層に良好に導入するためには、井戸層の成長温度を300℃〜600℃の低温とすることが好ましく、さらに、井戸層に導入された元素の障壁層への拡散を抑制するには、障壁層の成長温度を600℃以下の低温とすることが好ましいことがわかった。Zn1−yMgyO障壁層を600℃以下の低温で平坦性良く成長させられる技術が望まれる。
【0050】
次に、図5(A)、図5(B)を参照して、本発明の第1の実施例によるZnO系半導体素子について説明する。n導電型のc面ZnO基板30を準備した。+c面上にMQW構造を形成する。第4の比較例と同様にして、ZnO基板30にサーマルアニールを施し、ZnO基板30上にZnOバッファー層31を形成し、アニールを行った。なお、アニールによりZnOバッファー層31からO原子が抜けてn型の導電型が得られる。
【0051】
次に、n型ZnOバッファー層31の上に、Znビーム、Oラジカルビーム、及びGaビームを照射して、Gaを密度1E+18cm−3以上でドーピングしたn型ZnOコンタクト層32を、厚さ1μm成長させた。成長温度は700℃とした。
【0052】
続いて、n型ZnOコンタクト層32上に、Znビーム、Oラジカルビーム、Gaビーム、及びMgビームを照射して、Gaを密度1E+18cm−3以上でドーピングしたn型Zn1−yMgyO(y=0.2)クラッド層33を、厚さ200nm成長させた。成長温度は700℃とした。
【0053】
次に、n型Zn1−yMgyO(y=0.2)クラッド層33の上に、発光層としてMQW構造34を形成した。MQW構造34は、ZnO障壁層34bとその上のZnSxO1−x(x=0.25)井戸層34wとのペアを5周期積層し、最上層にZnO障壁層34bを形成した構造とした。ZnO障壁層34bの膜厚は25nmとし、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層34wの膜厚は2nmとした。
【0054】
ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層34wは、第4の比較例の井戸層22wと同様な条件で成長させた。すなわち、基板温度を500℃とし、Znビームの照射を、フラックス量2E+15atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射を、純酸素ガスを1sccmで導入し高周波パワー200Wでプラズマ化して行い、ZnSビームの照射を、フラックス量6E+15atoms/(cm2s)として行った。第4の比較例で説明したように、この条件はZnリッチ条件となる。
【0055】
第1の実施例では、ZnO障壁層34bも、基板温度500℃という低温で成長させた。つまり、ZnO障壁層34bの成長時と、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層34wの成長時とで、基板温度を変化させなかった。ただし、ZnO障壁層34b成長時に、Znビーム及びOラジカルビームの照射に加え、ZnSビームも同時に照射した。
【0056】
第4の比較例の障壁層22bと同様に、Znビームの照射は、フラックス量を2E+14atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射は、純酸素ガスを3sccmで導入し、高周波パワー300Wでプラズマ化して行った。第4の比較例で説明したように、この条件は、Oラジカルのビームフラックス量の方がZnビームフラックス量よりも多いOリッチ条件となる。ZnSビームの照射は、フラックス量を3E+14atoms/(cm2s)として行った。
【0057】
次に、MQW構造34の上に、Znビーム、Oラジカルビーム、Nラジカルビーム、及びMgビームを照射して、Nを密度1E+19cm−3以上でドーピングしたp型Zn1−yMgyO(y=0.2)クラッド層35を、厚さ100nm成長させた。成長温度は600℃とした。
【0058】
続いて、p型Zn1−yMgyO(y=0.2)クラッド層35上に、Znビーム、Oラジカルビーム、及びNビームを照射して、Nを密度1E+19cm−3以上でドーピングしたp型ZnOコンタクト層36を、厚さ100nm成長させた。成長温度は700℃とした。
【0059】
次に、n型ZnO基板30の裏面上に、厚さ10nmのTi層を形成しTi層上にさらに厚さ500nmのAl層を積層して、n側電極40を形成した。また、p型ZnOコンタクト層36上に、厚さ1nmのNi層を形成しNi層上にさらに厚さ10nmのAu層を積層して、p側電極41を形成した。p側電極41上に、厚さ500nmのAu層でp側ボンディング電極42を形成した。
【0060】
これらの電極形成後、例えば400℃の酸素雰囲気中で、電極合金化処理を行う。合金化処理時間は例えば2分である。このようにして、第1の実施例のZnO系発光ダイオードを作製した。
【0061】
以上の工程でMQW構造を形成する際、障壁層形成後井戸層形成直前のRHEED像([11−20]方向)を観察した。また、作製したZnO系発光ダイオードに対しI−V特性の測定及び発光状態の確認を行った。さらに、第1の実施例の条件で、ZnO基板上にMQW構造のみ(5周期)を形成した形成したサンプルも作製し、これに対しXRDによる2θ−ω測定を行った。
【0062】
図6(A)〜図6(C)は、それぞれ、第1の実施例の、障壁層形成後井戸層形成直前のRHEED像、MQW構造の2θ−ω測定結果、及び発光ダイオードのI−V特性である。
【0063】
第1の実施例において、図6(A)のRHEED像は、汚染の影響の見られないストリークパターンを示しており、井戸層形成時の障壁層表面が平坦性に優れていることがわかる。図6(B)の2θ−ω測定結果には、サテライトピークが明瞭に現れており、組成変化が急峻で平坦性の高いヘテロ界面が得られていることがわかる。このようなMQW構造を発光層とするため、図6(C)のI−V特性に示されるように、順バイアス時の電流の立ち上がりが急峻でリーク電流が少なく、逆バイアス時の耐電圧特性も良好である。また、ショート破壊も発生しない安定した発光が得られた。
【0064】
次に、第2の実施例によるZnO系半導体素子について説明する。第2の実施例では、MQW構造の障壁層にMgを導入し、Zn1−yMgyO(y=0.2)障壁層を成長させた。他は第1の実施例と同様である。
【0065】
Zn1−yMgyO(y=0.2)障壁層は、ZnSxO1−x(x=0.25)井戸層と同様に基板温度500℃で、Znビーム、Oラジカルビーム、Mgビームに加えてZnSビームを照射して成長させた。
【0066】
Znビームの照射は、フラックス量を5E+14atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射は、純酸素ガスを3sccmで導入し、高周波パワー300Wでプラズマ化して行い、Mgビームの照射は、フラックス量を1E+14atoms/(cm2s)として行った。この条件は、Oラジカルビームフラックス量がZnビームフラックス量及びMgビームフラックス量よりも多いOリッチ条件となる。ZnSビームの照射は、フラックス量を3E+14atoms/(cm2s)として行った。
【0067】
第2の実施例でも、発光ダイオードのサンプルと、MQW構造のみのサンプルとを作製し、第1の実施例と同様に、発光ダイオードのサンプルについてRHEED像を観察し、I−V特性の測定及び発光状態の確認を行った。またMQW構造のサンプルについてXRDによる2θ−ω測定を行った。
【0068】
図7(A)〜図7(C)は、それぞれ、第2の実施例の、障壁層形成後井戸層形成直前のRHEED像、MQW構造の2θ−ω測定結果、及び発光ダイオードのI−V特性である。第2の実施例でも、第1の実施例と同様に、図7(A)のRHEED像がストリークパターンを示し、井戸層形成時の障壁層表面が汚染なく平坦性に優れ、図7(B)の2θ−ω測定結果にサテライトピークが明瞭に現れ、良好なヘテロ界面が得られており、図7(C)のI−V特性も良好である。
【0069】
このように、Zn1−yMgyO(0≦y<1)障壁層成長時に、Zn、O、(必要に応じて)Mgの供給と同時にSを供給することにより、井戸層成長時と同程度の低い成長温度でも、障壁層が平坦性良く形成されることがわかった。すなわち、SがZnO系化合物半導体層を平坦性良く成長させるサーファクタントとして働くことがわかった。
【0070】
Sサーファクタントを用いることにより、障壁層を低温(600℃以下)で成長させても、ヘテロ界面の平坦性が高く結晶性の優れたMQW構造を形成できる。障壁層を低温で成長できるので、井戸層・障壁層間の組成の相互拡散が抑制され、組成変化の急峻なヘテロ界面を持つMQW構造を形成できる。なお、Zn1−yMgyO(0≦y<1)障壁層成長温度の下限は、例えば400℃程度となろう。
【0071】
また、障壁層を井戸層と同じ成長温度で成長させられるようになり、基板温度変化の待ち時間が必要なくなる。この待ち時間に生じうる基板への汚染物質付着が抑制され、良質なMQW構造が得られる。また、待ち時間が無くなると、工程時間短縮にもつながる。
【0072】
良質なMQW構造が得られるため、高効率でリーク電流の少ない発光ダイオードを得ることができる。
【0073】
なお、以下第3及び第4の実施例で説明するように、Sサーファクタントは、成長したZnO系半導体層の組成にSが含まれない程度の供給量で、平坦な成長を生じさせることができる。
【0074】
なお、ZnO系半導体層の組成にSが取り込まれる場合でも、Sはサーファクタントとして働くと考えられる。例えば、Sを取り込んだ井戸層形成時にも、Sはサーファクタントとして働くと考えられる。
【0075】
第3及び第4の実施例は、Sサーファクタントを用いた、単層のZn1−yMgyO障壁層(0≦y<1)の成長に相当する。ただし、成長温度は700℃である。
【0076】
第3の実施例では、まず、第1の実施例(あるいは第4の比較例)と同様にして、ZnO基板にサーマルアニールを施し、ZnO基板上にZnOバッファー層を形成し、アニールを行った。
【0077】
(800℃での)バッファー層のアニールに続いて、基板温度を700℃に下げ、Znビーム、Oラジカルビームを供給してZnO層を作製した。ZnSビームの同時照射によりSサーファクタントを供給した。
【0078】
Znビームの照射は、フラックス量を6.58E+14atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射は、純酸素ガスを2sccmで導入し、高周波パワー300Wでプラズマ化して行った。ZnSビームの照射は、ZnSフラックス量を4.28E+14atoms/(cm2s)として行った。成長したZnO層のRHEED像は、2次元成長を示すストリークパターンであった。
【0079】
第3の実施例のZnO層に対し、電子探針微小部分析装置(EPMA)のエネルギ分散型X線分析装置(EDX)による元素分析と、吸収測定によるバンドギャップ測定とを行った。なお、EPMAは、日本電子製JXA−840Aを用いた。
【0080】
図8は、EPMA測定による元素分析結果を示すグラフである。第3の実施例のZnO層からは、EPMA測定の検出下限の0.1atom%オーダーのSは検出されなかった。
【0081】
図9は、吸収係数のフォトンエネルギに対する依存性を示すグラフである。横軸がeV単位で表したフォトンエネルギを示し、縦軸が吸収係数を示す。曲線A1が第3の実施例の結果を示し、併せて曲線B1として、ZnS照射なしの第6の比較例の結果を示す。
【0082】
第3の実施例と第6の比較例とで、吸収係数の立ち上がり部分からピークの部分までが、ほぼ重なっている。つまり、両者の吸収端がほぼ一致し、バンドギャップは同等の3.3eV程度である。なお、バンドギャップの差が0.1eV以内であることを、バンドギャップが同等と呼ぶこととする。
【0083】
次に、第4の実施例について説明する。第3の実施例と同様にして、バッファー層のアニールまでを行う。(800℃での)バッファー層のアニールに続いて、基板温度を700℃に下げ、Znビーム、Oラジカルビーム、及びMgビームを供給してZn1−yMgyO層を作製した。ZnSビームの同時照射によりSサーファクタントを供給した。
【0084】
Znビームの照射は、フラックス量を7.89E+14atoms/(cm2s)として行い、Oラジカルビームの照射は、純酸素ガスを3sccmで導入し、高周波パワー300Wでプラズマ化して行った。Mgビームの照射は、固体ソースとして純度7NのMgを用い、フラックス量を6.18E+13atoms/(cm2s)として行った。ZnSビームの照射は、フラックス量を2.51E+14atoms/(cm2s)として行った。
【0085】
図10に、第4の実施例のZn1−yMgyO層のRHEED像([11−20]方向)を示す。RHEED像はストリークパターンを示し、2次元成長していることがわかる。また、EPMA測定によると、このZn1−yMgyO層のMg濃度y=0.28であり、0.1atom%オーダーのSは検出されない。
【0086】
このように、Sサーファクタントは、Sが0.1atom%オーダー以上の濃度で取り込まれない(組成変化を起こさない)ような供給量で、ZnO系化合物半導体層の平坦な成長を生じさせることができる。また、Sが取り込まれる組成変化なしに成長できることにより、Sサーファクタント供給なしに成長させた場合と同等のバンドギャップを保つことができる。
【0087】
なお、障壁層形成時にSサーファクタントを利用する手法は、井戸層の種類に限定されない。例えば井戸層がZnOでもZnMgOでも有効である。ただし、特に、蒸気圧の高いS、Se、Cd等の元素を導入し低温で成長させた井戸層との組み合わせで有効である。
【0088】
図11に示したように、SeやCdはZnよりも蒸気圧が高いが、Sに比べれば蒸気圧が低い。従って、ZnSO井戸層の場合と同様に、ZnSeO井戸層及びZnCdO井戸層の場合についても、Sサーファクタントを用いて障壁層を600℃以下で成長させれば、Se、Cdの拡散が抑制され、良好なヘテロ界面のMQW構造を作製できるであろう。ZnSeO井戸層及びZnCdO井戸層の場合についても、井戸層と障壁層とを同じ温度で成長させることが可能となる。
【0089】
なお、井戸層にSを導入する場合は、井戸層成長用のS源が、障壁層成長時のSサーファクタント源を兼ねることができる。
【0090】
なお、例えばZnO井戸層及びZnMgO障壁層とする場合に、井戸層及び障壁層の両方の成長時にSサーファクタントを用いてもよい。Sサーファクタントを用いない場合よりも、低温で、平坦性の高い井戸層及び障壁層を成長させられ、組成の相互拡散も抑制される。井戸層及び障壁層を同じ成長温度で成長させられる。
【0091】
なお、発光層として、障壁層及び井戸層のペアを複数積層したMQW構造の例を説明したが、上下の障壁層間に井戸層を1層挟んだSQW構造を採用する場合でも、Sサーファクタントは有効である。
【0092】
なお、例えばMQW構造の発光層とクラッド層との間に、歪み緩和層(strained-layer superlattice,SLS)構造を設ける場合にも、Sサーファクタントは有効である。例えば、ZnSxO1−x井戸層及びZn1−yMgyO障壁層を持つ発光層の場合、SLS構造として、ZnSzO1−z井戸層及びZn1−wMgwO障壁層が交互に積層され、ZnSzO1−z井戸層及びZn1−wMgwO障壁層の平均組成が、発光層のZnSxO1−x井戸層及びZn1−yMgyO障壁層の平均組成に比べてクラッド層の組成に近い超格子構造が設けられる。SLS構造も、発光層と同様な量子井戸構造なので、Sサーファクタントを用いてヘテロ界面を良好に形成することができる。
【0093】
なお、基板としてZnO基板を用いる例を説明したが、基板はこれに限らない。例えば、サファイア(Al2O3)基板、SiC基板、GaN基板、ZnMgO基板等を用いることもできる。なお、結晶性の良いZnO系化合物半導体層を得るためには、格子不整合の小さい基板ほど良いので、ZnO基板を用いることが最も好ましい。なお、MQW構造を成長させるZnO基板面は、+c面に限らず、−c面、a面、m面のいずれでもよい。
【0094】
なお、成膜方法の例としてMBEを説明したが、他の成膜方法を用いる場合でも、Sは平坦性を高めるサーファクタントとして有効に働くであろう。他の成膜方法としては、例えば、有機金属化学気相堆積(MOCVD)、パルスレーザ堆積(PLD)等が考えられる。その他、アトミックレイヤーエピタキシ(ALE)も可能であろう。ALEで成膜する場合は、例えば、Znビームと一緒にSを供給するか、もしくは、Oビームを照射した後でZnビームを照射する前にSを供給することになろう。
【0095】
なお、Sサーファクタントを利用して得られたMQW構造は、種々の製品に利用することができる。例えば、発光ダイオード(LED)やレーザダイオード(LD)及びその応用製品(例えば、各種インジケータや、LEDディスプレイ、LDディスプレイ、プロジェクター用RGB光源など)に利用できる。
【0096】
以上実施例に沿って本発明を説明したが、本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に自明であろう。
【図面の簡単な説明】
【0097】
【図1】図1は、ZnO系化合物半導体層を成長させるための結晶製造装置の例を示す概略図である。
【図2】図2(A)及び図2(B)は、それぞれ、第1の比較例の障壁層成長直後及び井戸層形成直前のRHEED像であり、図2(C)は、第1の比較例の発光ダイオードのI−V特性を示すグラフである。
【図3】図3は、第4の比較例(または第5の比較例)のZnO系半導体素子の概略断面図である。
【図4】図4(A)及び図4(B)は、それぞれ、第4の比較例及び第5の比較例のXRDの2θ−ω測定結果を示すグラフである。
【図5】図5(A)及び図5(B)は、本発明の第1の実施例(または第2の実施例)のZnO系半導体発光ダイオードの概略断面図である。
【図6】図6(A)〜図6(C)は、それぞれ、第1の実施例の、障壁層形成後井戸層形成直前のRHEED像、MQW構造の2θ−ω測定結果、及び発光ダイオードのI−V特性である。
【図7】図7(A)〜図7(C)は、それぞれ、第2の実施例の、障壁層形成後井戸層形成直前のRHEED像、MQW構造の2θ−ω測定結果、及び発光ダイオードのI−V特性である。
【図8】図8は、第3の実施例のZnO層のEPMA測定による元素分析結果を示すグラフである。
【図9】図9は、第3の実施例のZnO層の吸収係数のフォトンエネルギに対する依存性を示すグラフである。
【図10】図10は、第4の実施例のZnMgO層のRHEED像である。
【図11】図11は、S、Se、Cd、Znの蒸気圧の温度依存性を示すグラフである。
【図12】図12は、MQW構造の評価の仕方について説明するためのXRDの2θ−ω測定のグラフである。
【符号の説明】
【0098】
1 超高真空容器
2 Znソースガン
3 Oソースガン
4 ZnSソースガン
5 Mgソースガン
6 Nソースガン
7 Gaソースガン
8 SeまたはCdソースガン
9 ステージ
10 基板
11 (RHEED用の)ガン
12 (RHEED用の)スクリーン
13 排気ポンプ
30 基板
31 バッファー層
32 n型ZnOコンタクト層
33 n型Zn1−yMgyOクラッド層
34 MQW構造(発光層)
34b 障壁層
34w 井戸層
35 p型Zn1−yMgyOクラッド層
36 p型ZnOコンタクト層
40 n側電極
41 p側電極
42 p側ボンディング電極
【特許請求の範囲】
【請求項1】
(a)基板を準備する工程と、
(b)前記基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる井戸層を成長する工程と、
(c)前記基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる障壁層を、サーファクタントとしてSを供給しながら成長する工程と
を有するZnO系半導体装置の製造方法。
【請求項2】
前記工程(b)は、前記井戸層にS、Se、及びCdのいずれかを導入する請求項1に記載のZnO系半導体装置の製造方法。
【請求項3】
前記工程(c)は、前記障壁層を成長温度600℃以下で成長させる請求項1または2に記載のZnO系半導体装置の製造方法。
【請求項4】
前記工程(b)の前記井戸層の成長温度と前記工程(c)の前記障壁層の成長温度とが等しい請求項1〜3のいずれか1項に記載のZnO系半導体装置の製造方法。
【請求項5】
前記井戸層及び障壁層が、発光層を構成する請求項1〜4のいずれか1項に記載のZnO系半導体装置の製造方法。
【請求項6】
前記井戸層及び障壁層が、SLS構造を構成する請求項1〜4のいずれか1項に記載のZnO系半導体装置の製造方法。
【請求項1】
(a)基板を準備する工程と、
(b)前記基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる井戸層を成長する工程と、
(c)前記基板の上方に、ZnO系化合物半導体からなる障壁層を、サーファクタントとしてSを供給しながら成長する工程と
を有するZnO系半導体装置の製造方法。
【請求項2】
前記工程(b)は、前記井戸層にS、Se、及びCdのいずれかを導入する請求項1に記載のZnO系半導体装置の製造方法。
【請求項3】
前記工程(c)は、前記障壁層を成長温度600℃以下で成長させる請求項1または2に記載のZnO系半導体装置の製造方法。
【請求項4】
前記工程(b)の前記井戸層の成長温度と前記工程(c)の前記障壁層の成長温度とが等しい請求項1〜3のいずれか1項に記載のZnO系半導体装置の製造方法。
【請求項5】
前記井戸層及び障壁層が、発光層を構成する請求項1〜4のいずれか1項に記載のZnO系半導体装置の製造方法。
【請求項6】
前記井戸層及び障壁層が、SLS構造を構成する請求項1〜4のいずれか1項に記載のZnO系半導体装置の製造方法。
【図1】
【図3】
【図4】
【図5】
【図8】
【図9】
【図11】
【図12】
【図2】
【図6】
【図7】
【図10】
【図3】
【図4】
【図5】
【図8】
【図9】
【図11】
【図12】
【図2】
【図6】
【図7】
【図10】
【公開番号】特開2009−212426(P2009−212426A)
【公開日】平成21年9月17日(2009.9.17)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−56090(P2008−56090)
【出願日】平成20年3月6日(2008.3.6)
【新規性喪失の例外の表示】特許法第30条第1項適用申請有り 1.講演会の名称「秋季:第68回応用物理学会学術講演会」 2.発表日 2007年9月6日 3.主催者 社団法人 応用物理学会
【出願人】(000002303)スタンレー電気株式会社 (2,684)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成21年9月17日(2009.9.17)
【国際特許分類】
【出願日】平成20年3月6日(2008.3.6)
【新規性喪失の例外の表示】特許法第30条第1項適用申請有り 1.講演会の名称「秋季:第68回応用物理学会学術講演会」 2.発表日 2007年9月6日 3.主催者 社団法人 応用物理学会
【出願人】(000002303)スタンレー電気株式会社 (2,684)
【Fターム(参考)】
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