本発明は、構造物の変形率測定用装置及びそれを用いた構造物の変形率測定方法に関する。さらに詳しくは、本発明の構造物の変形率測定用装置は、一定の間隔で配列されたナノ粒子を含有する光結晶層を含む。本発明によると、様々な産業構造物が使用荷重などにより変形された場合、当該部分の構造色変化または磁束変化を測定することによって、より簡単、且つ容易に構造物の正確な変形有無及び変形率を測定でき、これにより構造物の過多変形による安全事故の発生を防止することができる。 （もっと読む）

【課題】被検面のパターン又は反射率分布の影響を低減させて、被検面の法線方向の位置情報を高精度に検出する。
【解決手段】計測光Ｌ１をレチクル面Ｒａに照射し、レチクル面Ｒａからの反射光Ｌ２を光電センサ３７で受光して、レチクル面Ｒａの面位置情報を検出する装置において、計測光Ｌ１をレチクル面Ｒａに照射して反射光Ｌ２を受光する対物レンズ３５と、対物レンズ３５を介した反射光Ｌ２を光電センサ３７に通すピンホール板３６とを含む共焦点光学系と、計測光Ｌ１にレチクル面Ｒａ上での照射面積を広げるように、かつ反射光Ｌ２にピンホール板３６上での照射面積を狭くするように位相分布を付与する位相板３３とを備える。 （もっと読む）

【課題】光ファイバの温度特性と光ファイバの歪み特性とを分離して測定する。
【解決手段】ブリルアン散乱光から得られるブリルアン周波数シフト量と、レイリー散乱光から得られるレイリー散乱波形に関する相関ピーク周波数シフト量とに基づいて、光ファイバの温度特性と光ファイバの歪み特性とを分離して測定する。 （もっと読む）

【課題】空気入りタイヤを構成する各所の歪みを状況や目的に合わせて検出すること。
【解決手段】伸縮により光の反射波長が変化する回折格子部９２が形成された光ファイバ９を内部に埋設した空気入りタイヤ１において、複数のコードを有するビードコア５１、カーカス層６、ベルト層７およびベルト補強層８などの構造体について、コードの少なくとも１つを光ファイバ９に置換する。かかる空気入りタイヤ１によれば、構造体のコードの少なくとも１つを光ファイバ９に置換したことで、構造体に生じる歪みや温度の変化を状況や目的に合わせて検出できる。 （もっと読む）

【課題】小型化が可能であり、耐久性に優れ、微小変位を高精度に計測することが可能な光ファイバセンサ、これを用いた微小変位装置、及び生体情報計測装置を提供する。
【解決手段】へテロコア部をセンサ部ＳＰに有する光ファイバ３と、開口部Ｓが形成され、開口部Ｓの領域内にセンサ部ＳＰが位置するように光ファイバ３を支持する支持部材１１と、開口部Ｓ側と反対側にてセンサ部ＳＰと当接する当接部材１２とを備え、当接部材１２が変位したときに、光ファイバ３のセンサ部ＳＰの近傍部分において開口部Ｓ側に凸となる曲げが生じ、光ファイバ３を伝送する光に対して当接部材１２の変位に応じた損失を発生させるように構成されている脈圧計測センサ。 （もっと読む）

【課題】多様なパターンで温度及び形状が変化する被測定物の三次元の熱変形特性を正確に測定できること。
【解決手段】同期信号Ｓtrgを時系列で発生させ，その同期信号Ｓtrgに同期して，サーモカメラ２０及び複数の可視カメラ２１から撮像時点が同じ前記熱画像及び複数の前記可視画像のデータの組合せをサンプリングし，撮像時点ごとの可視画像のデータに基づくステレオ画像処理を通じて，撮像時点ごとの三次元形状のデータを算出し，撮像時点が異なる複数の可視画像のデータに基づくデジタル画像相関法でのパターン追跡処理を通じて，前記撮像時点ごとの観測部位の像の前記可視画像上での変位量を算出し，それら算出結果に基づいて，観測部位の撮像時点ごとの三次元座標系での位置及び温度のデータが対応付けられたデータを記録する。 （もっと読む）

【課題】露光装置のチャンバーの内部と外部との間に温度差が存在する場合においても、より正確に投影光学系の投影倍率を補正する。
【解決手段】露光装置は、チャンバーの内部で原版のパターンを投影光学系によって基板に投影し該基板を露光する。露光装置は、前記原版の変形量を求めるための計測を行う計測部と、前記チャンバーの内部の温度における前記原版の形状を基準とする前記原版の変形量と前記原版が露光光を受ける時間との関係を示す情報と、前記チャンバーに搬入され露光に使用される前の状態において前記計測部が計測を行うことによって得られた計測値に基づいて決定される前記原版の露光前の変形量と、前記原版が露光光を受ける時間とに基づいて、前記原版の予測変形量を演算し、前記予測変形量を補正するように前記投影光学系の投影倍率を補正する制御部とを備える。 （もっと読む）

【課題】データ高速処理装置を不要として小型化できる光センサ計測装置を提供する。
【解決手段】複数のＦＢＧセンサ３１，３２，３ｎからそれぞれ得られる反射光スペクトルが閾値以上となるデータに基づいて各反射光スペクトルの中心を求める演算回路４１と、複数のＦＢＧセンサ３１，３２，３ｎの各々からの反射光スペクトルの中心を求めるための最適な閾値をそれぞれ保存する閾値保存用レジスタアレイ４３と、複数のＦＢＧセンサ３１，３２，３ｎからそれぞれ得られる反射光スペクトルのデータと閾値保存用レジスタアレイ４３で保存されている最適な閾値とを比較して演算回路４１に各反射光スペクトルに応じた最適な閾値を出力する比較回路４４とを備えた。各ＦＢＧセンサ３１，３２，３ｎから反射される反射光スペクトルの中心を演算回路４１で計算するために必要な閾値を、予め閾値保存用レジスタアレイ４３で記憶された複数の最適な閾値から１つ選択する。 （もっと読む）

【課題】光学系の光学特性をより正確に計測する技術を提供する。
【解決手段】テストパターンを有するテストマスクをマスク保持部によって保持して光学系の物体面に配置し、前記光学系の像面に形成される前記テストパターンの像の位置を計測し、その計測結果を処理することによって前記光学系の光学特性を決定する方法において、前記テストマスクの変形量を計測し、前記像の位置の計測結果を処理して決定されうる前記光学系の光学特性を前記変形量に基づいて補正する。 （もっと読む）

【課題】外周に切欠き溝を設けた回転テーブルを用いて軸体の搬送を行う搬送装置で問題となっていた投・受光部或いはそれに変わる投光部とカメラのスペース面での設置規制をなくし、光学的外径測定装置を用いて軸体の大径部の寸法測定や外径の良否判定を行えるようにすることを課題としている。
【解決手段】外周の切欠き溝４に軸体Ａの軸部ａ_１を適合して受け入れ、大径部ａ_２を下から支えて軸体Ａを搬送する回転テーブル２と外周の固定ガイド３にスリット９，１０を設け、そのスリット９，１０が、外径測定部７に切欠き溝４が到達したときに平面視においてその切欠き溝４に導入された軸体Ａの大径部ａ_２を間に挟んで切欠き溝中心Ｃを通る直線上で対向し、このスリットに光学的外径測定装置の測定光や照明光を縦向きに通せるようにした。 （もっと読む）

【課題】 カメラでマークの位置の変位の時刻暦を測定すると、測定期間中にカメラ自体が変位した場合に、測定結果に誤差が重畳される。
【解決手段】 観測装置が、測定対象マーク及び基準マークを撮像し、画像データを取得する。観測装置で取得された画像データが制御装置に入力される。制御装置は、画像データから測定対象マーク及び基準マークの位置情報を算出する。さらに、測定対象マークの異なる時刻における位置情報から、測定対象マークの変位量を算出し、基準マークの異なる時刻における位置情報から、観測装置の変位量を算出し、観測装置の変位量に基づいて、測定対象マークの変位量を補正する。 （もっと読む）

【課題】自動車のナンバープレート等の標板等の表示内容を、出荷される形態で画像処理技術によって確実に検査すること。
【解決手段】予め設定された生産データを基に、検査対象の標板を一連の撮像工程によって撮像し、画像処理を用いた判定工程によって、前記検査対象の標板が前記生産データにて指示されたものであることを照合して確認するともに、照合の結果生成された標板データを用いて管理用データを生成する標板検査方法である。具体的には、外部から収納物を撮像可能な構造の収納袋に、複数枚の標板の表面の文字や図形を同時に撮像可能な状態に収納する収納工程と、前記複数枚の標板の表面の文字や図形を同時に撮像する撮像工程と、撮像された画像を解析して、前記複数枚の標板に、それぞれ所定の文字や図形が標示されているか否かを判定する判定工程とを含んでいる。 （もっと読む）

【課題】複雑な構造を有する軸物工具の表面における欠陥を検査することができる軸物工具表面の欠陥検査方法および装置を提供する。
【解決手段】欠陥検査装置が、軸物工具の表面を撮影した画像が入力され、該入力された画像を予め定められている画像サイズに分割する画像分割部と、画像分割部の分割した画像を入力データとして、予め学習されている第１のニューラルネットワークにより出力値を算出する第１のニューラルネットワーク処理部と、第１のニューラルネットワーク処理部の算出した出力値に基いて、軸物工具の表面に欠陥があるか否かを判定する欠陥有無判定部と、を有する。 （もっと読む）

本発明は、対象物をモニタリングする、特に人の形態の変化をモニタリングする方法に関する。本方法は、モニタリングするために対象物上に放射線のパターンを投影するステップと、第１の時点に、対象物上の放射線の投影パターンの少なくとも一部分を表す第１の画像データを記録するステップであり、第１の画像データが、第１の時点における対象物の３次元形態を表す、ステップと、第２の時点に、対象物上の放射線の投影パターンの少なくとも一部分を表す第２の画像データを記録するステップであり、第２の画像データが、第２の時点における対象物の３次元形態を表す、ステップと、第１の画像データ及び第２の画像データを処理して、第１の時点と第２の時点との間の対象物の形態の変化を表す差分データを生成するステップとを含む。本発明はさらに、本発明による方法を実施する装置及びソフトウェアに関する。 （もっと読む）

【課題】複数のショット領域において同一の計測箇所で表面位置を計測するために好適な技術を提供する。
【解決手段】露光装置は、投影光学系と、基板を保持して移動するステージと、前記投影光学系の光軸の方向に関して前記基板の表面の位置を計測する計測器と、前記ステージおよび前記計測器を制御する制御部を備え、前記制御部は、前記走査の方向に沿うようにショット領域の中心に対して対称に所定ピッチで配置された計測箇所のリストである第１計測箇所リストを生成し、前記計測器の制御には、前記第１計測箇所リストに含まれる計測箇所で前記計測器に前記表面の位置を計測させる第１の制御と、ショット領域において最後に計測される計測箇所及び／又はその次のショット領域において最初に計測される計測箇所を前記第１計測箇所リストから除いた第２計測箇所リストに含まれる計測箇所で前記計測器に前記表面の位置を計測させる第２の制御と、が含まれる。 （もっと読む）

【課題】構成が簡単で、しかもＡＥ、超音波応答や振動に対する応答信号の信号ノイズ比を改善可能な振動又は弾性波検出装置を実現する。
【解決手段】受信部ＦＢＧ１およびフィルタ部ＦＢＧ２の反射波長域を含む広帯域光を、受信部ＦＢＧ１およびフィルタ部ＦＢＧ２に入射し、受信部ＦＢＧ１およびフィルタ部ＦＢＧ２の透過光または反射光の強度変化から受信部ＦＢＧ１が受ける振動又は弾性波を計測する振動又は弾性波検出装置において、受信部ＦＢＧ１がひずみまたは温度変化を受けても受信部ＦＢＧ１およびフィルタ部ＦＢＧ２の反射光分布が常に交差するように受信部ＦＢＧ１およびフィルタ部ＦＢＧ２を被検体７に取り付ける。 （もっと読む）

【課題】１本の光ファイバで多くの測定箇所を測定することができる光ファイバセンサを有し、センサ全体の細径化を実現した形状測定装置を提供する。
【解決手段】特定の同一波長の光を、それぞれ異なる反射率で反射する複数の光ファイバブラッググレーティングセンサ部３が形成された光ファイバセンサ２と、光ファイバセンサ２に広帯域光を供給する光源６と、光ファイバセンサ２からの反射光の波長および強度を検出する検出部８と、検出部８の検出結果に基づき、光ファイバブラッググレーティングセンサ部３の変形量を算出し、変形量から光ファイバセンサ２が配設された挿入部１２の形状を算出する算出部９Ａとを有する。 （もっと読む）

【課題】 伸縮性を有する基板の伸縮状態を高精度に測定する。
【解決手段】 伸縮測定装置は、可撓性を有する基板を該基板の表面に沿って移送する移送部と、基板の移送方向に沿って所定間隔を隔てて基板に形成され基板の移送にともない該基板の移送経路上の第１及び第２検出領域内にそれぞれ移動された第１及び第２マークを検出する検出部と、第１及び第２検出領域間の移送経路に沿った基板の長さを基準長さに設定する基板長さ設定部と、第１及び第２マークの検出結果に基づいて基板の移送方向に関する伸縮情報を導出する導出部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】簡略化されたプロセスによるひずみセンサ材料を提供することを課題とする。
【解決手段】下記一般式（１）で表される内部アルキン含有樹脂を提供する。
【化１】


（式中、Ｒ_２およびＲ_３はそれぞれ独立に置換されていてもよいアルキル基、置換されていてもよいアリール基を示し、ｐは０＜ｐ＜１である。ｎは平均重合度である。Ｒ_１は樹脂化合物を構成する高分子鎖を示す。）
提供された内部アルキン含有樹脂を用いて、これを被測定物の表面に貼着し、ひずみセンサとして用いることにより、簡略化されたプロセスによるひずみセンサが提供される。 （もっと読む）

【課題】本発明は、安価な構造で温度とひずみを同時に計測できる光ファイバセンサ装置の提供を目的とする。
【解決手段】本発明は、ＯＦＤＲ方式に適用される光ファイバセンサ装置であって、光ファイバのコアに形成したＦＢＧからなるひずみ検知用のセンサ部３と、該ひずみ検知用のセンサ部に接続されてその端部に反射部を備えた温度検知用光ファイバからなる温度検知用のセンサ部７とを具備した光ファイバセンサＳと、参照用反射端１６と、光源１２と、受光器１３とが備えられ、前記温度検知用光ファイバの光路長の変化量から温度変化を計測し、前記ＦＢＧのブラッグ波長のシフト量から前記計測された温度変化に相当するブラッグ波長のシフト量を減算することによりひずみを計測する。 （もっと読む）