【課題】検出領域の周りに発光素子や受光素子を多数設けなくても対象物体の位置を検出することのできる位置検出機能付き投射型表示装置を提供すること。
【解決手段】画像投射装置２００を備えた投射型表示装置に対して位置検出機能を付加して位置検出機能付き投射型表示装置１００を構成するにあたって、検出領域１０Ｒに向けて赤外光からなる位置検出光を出射する位置検出用光源部１１を設け、検出領域１０Ｒで対象物体Ｏｂにより反射した位置検出光を光検出器３０によって検出する。位置検出用光源部１１、光検出器３０、および位置検出部５０はいずれも、画像投射装置２００に設けられている。 （もっと読む）

【課題】電磁調理器を用いて調理するときに、調理ムラを防ぐため、加熱容器を加振する際の、電磁調理器からの離隔状況、離隔状態による電磁調理器の電源入切の特性を把握できる評価装置の提供。
【解決手段】発光部を一個又は複数個備えた発光装置、前記発光部から照射された光線の受光の有無を判定する受光装置、記録装置から構成され、調理器の天板上に設置された前記発光装置及び前記受光装置の間での一又は複数の光線が、加熱容器の加振により、通又は不通のいずれかとなることで、その導通又は不通の情報を前記受光装置にて判定し、その情報を前記記録装置に伝送し、前記天板上で加熱容器加振時の前記加熱容器の天板からの離隔状況を把握することを特徴とする。 （もっと読む）

マイクロリソグラフィ投影露光装置は、光学面（４６；Ｍ６）と、光学面上の複数の別々の区域において光学面に関連するパラメータを測定する測定デバイス（９０）とを含む。測定デバイスは、個々の測定光ビーム（９４）を光学面上の区域に向けて誘導する照明ユニット（９２）を含む。各測定光ビームは、区域のうちの測定光ビームに関連付けられた少なくとも一部分と、隣接区域のうちの測定光ビームに関連付けられていない少なくとも一部分とを照明する。検出器ユニット（９６）は、各測定光ビームが光学面と相互作用した後に各測定光ビームに関する特性を測定する。評価ユニット（１０２）は、選択された区域に関連付けられた測定光ビームと、選択された区域に隣接する区域に関連付けられた少なくとも１つの測定光ビームとに対して検出器ユニット（９６）によって判断された特性に基づいて選択された区域に関する面関連パラメータを判断する。 （もっと読む）

【課題】 パターン投影法により測定対象物の表面形状を測定する測定システムにおいて、表面形状の測定時に、あわせて測定対象物の散乱特性を抽出することを目的とする。
【解決手段】 測定システムであって、ドットパターン光を所定の入射角で測定対象物１００に照射する照明部１１０と、反射光を、前記入射角と略等しい反射角で受光する反射光測定部１２０と、前記受光された反射光の受光位置と、所定の基準位置との間のずれ量に基づいて、測定対象物１００の表面の傾きを表面形状に関する情報として抽出するとともに、前記反射光の輝度値と、前記ドットパターン光のドットの径とを、散乱特性に関する情報として抽出する反射光抽出部１３０と、前記抽出された表面形状に関する情報と散乱特性に関する情報を、出力する出力部１４０とを備える。 （もっと読む）

【課題】低コストで車載環境における周辺監視手段での利用に適した光切断法による三次元形状計測装置を提供する。
【解決手段】光源列３１０と、監視領域を撮像するカメラ２００と、カメラ２００および光源列３１０に対するインタフェースとＣＰＵ１１０とを有する画像認識部１００とを有し、光切断法により立体物５００の三次元形状を計測する三次元形状計測装置１であって、画像認識部１００は、光源列３１０から照射された光を各光源３２０から照射された光の光源中心を結ぶ線分を含む照射パターンで照射するスリット光とみなし、擬似スリット光４２０が照射された監視領域について撮像された画像データから、各画素ラインの輝度データに基づいて推定した擬似スリット光４２０の照射位置の情報と照射パターンとの差分に基づいて照射位置におけるカメラ２００からの距離を算出し、立体物５００の擬似スリット光４２０による切断面形状を計測する。 （もっと読む）

観察装置が、第１光源分布をもつ光を計測対象物表面に照射する照明装置と、計測対象物表面を撮像する撮像部と、を有する。計測点を通る第１平面上で考えたときに、第１光源分布は、
（１）放射輝度Ｌ_１１（θ）が角度θに応じて連続的若しくは段階的に変化し、かつ、
（２）第１平面上で計測点から見て所定の角度θ_Ｃにある点を中心とする所定の±σの範囲の局所領域において、放射輝度Ｌ_１１（θ）が０ではなく、０＜ａ≦σである任意のａについて、
Ｌ_１１（θ_Ｃ−ａ）＋Ｌ_１１（θ_Ｃ＋ａ）＝２×Ｌ_１１（θ_Ｃ）
が実質的に成り立つように、設定されている。
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【課題】 外乱光の到達を抑制し再帰反射光を効率よく撮像することができる撮像装置、位置計測システムおよびプログラムを提供する。
【解決手段】 位置計測システムは、対象物に取り付けられた位置関係の分かっている複数の再帰反射体を有する再帰反射体セット１と、再帰反射体セットを撮像する撮像装置２と、撮像装置２で撮像した再帰反射体セット１の画像に基づいて再帰反射体セットの３次元位置および角度の少なくとも一方を演算する演算装置３とを備える。撮像装置２は、２次元撮像素子２１と、２次元撮像素子の前方に配置されたレンズ２２と、レンズの周囲に配置された光源２３と、レンズ２２および光源の前方に配置された誘電体多層膜帯域通過フィルタ２４，２５とを備える。 （もっと読む）

【課題】光の干渉現象を利用した、短時間で精度よく被測定体の平面度を測定するための方法、及びそれを利用した高平面度加工方法を提供する。
【解決手段】一対の対向被測定体の対向面間所定位置における対向面間距離を測定するための装置を用いる。その測定装置は、狭帯域光発生手段と、狭帯域光発生手段より発生し一対の対向被測定体から透過された透過光を集光するための集光手段と、集光手段により集光された透過光を受光し、受光した透過光に対応する電気的像を表示するために用いることが可能な電気的信号へと、受光した透過光を変換するための受光及び変換手段と、を含む。集光手段は、対向面内所定位置から出射した透過光を集光することにより、所定位置における対向面間距離に対応した干渉条件に従って干渉する透過光を集光することが可能である。 （もっと読む）

【課題】柄が装飾された表面に生じた凹凸欠陥を検出可能な樹脂成形品の外観検査装置を提供する。
【解決手段】一定の指向性を有する光源２１と反射光を撮影するカメラ３１を備える。光源は出射光軸２２方向に主出射光を出射するとともに出射光軸を中心軸として一定の広がり角を有する放射角光を出射するものであり、光源２１と被検査物４１間の光路に遮蔽板２５を配置して光源からの主出射光を遮蔽することにより、被検査物の表面上に放射角光照明領域４６を作り出す。放射角光照明領域４６をカメラ３１で撮影して撮影像を得て、撮影像から凹凸欠陥を検査する外観検査装置である。 （もっと読む）

【課題】非測定物の見かけの形状をできるだけ歪ませることなく形状計測できると共に、長い物や連続的に移動する物であっても形状計測できる非接触形状計測装置を提供する。
【解決手段】非接触形状計測装置は、被測定物に対して、一方向に沿って光強度が周期的に変化する複数の位相パターンから一つの位相パターンを選択して位相シフトさせながら、前記選択した位相パターンを有する光を照射する照明装置と、選択した前記位相パターンごとに、前記被測定物からの光を画像信号として、前記一方向に垂直な方向に沿った１ラインごとに取り込むラインセンサカメラと、選択した前記位相パターンごとに得られた前記画像信号に基づいて、前記被測定物の各箇所の位相を算出し、前記位相に基づいて前記被測定物の各箇所の高低差を算出する演算部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】紡糸口金に穿設された複数個の吐出孔を同時に検査して孔内に残留する異物の有無を一孔ごとに検出するのではなく、多数の吐出孔に対して一度に孔内異物が検出でき、そのような検査が可能な高精度な検査装置であっても、工場内の振動などによって検査精度に影響を及ぼさないようにする必要があり、これによって、多大な時間を要することなく短時間かつ確実に孔内異物を検査できる装置を提供する。
【解決手段】スキャンカメラを用いて、紡糸口金を走査することにより、高解像度の複数の画像データ群を取得し、これら画像データ群を合成して作成した合成画像データから紡糸口金に穿設された多数の吐出孔群のそれぞれに対して孔内異物の存在の有無を画像処理を用いて一度に検出し、さらに振動により吐出孔画像に異常が起こらないようにする為、振動計を用いた振動検知と、撮影した画像に異常があった場合に面積値判別によって振動の有無を検知する、振動検知機能付き紡糸口金の孔内異物の検査装置とする。 （もっと読む）

【課題】対象物に備えられた点光源を撮影し、撮影された画像における点光源の位置を高精度に計測することで、対象物の位置計測を高精度に行うことができる位置計測装置等を提供する。
【解決手段】対象物１００に設けられた３点の第１基準点１１〜１３と１点の第２基準点１４からなる点光源の像を撮影するカメラ３０と、カメラ３０により撮影された第１基準点１１〜１３の像と第２基準点１４の像とを識別し、第１基準点１１〜１３の位置関係を取得し、取得された第１基準点１１〜１３の位置関係と識別された第１基準点１１〜１３の像の位置関係から第２基準点１４の対象物１００における位置を求め第１基準点１１〜１３および第２基準点１４の位置関係より対象物１００の位置を求める演算装置４０と、を備えることを特徴とする位置計測装置３００。 （もっと読む）

【課題】 特定のカメラの撮影範囲外にある対象物であっても別のカメラを介することによりその対象物の位置を計測することができる位置計測システムを提供する。
【解決手段】 位置計測システムは、位置関係の分かっている３つ以上の基本標識を有する標識セット１と、標識セット１を撮像するカメラ１０と、カメラ１０に取り付けられる位置関係の分かっている４つ以上の基本標識を有する標識セット２と、標識セット２を撮像するカメラ２０と、カメラ１０で撮像した標識セット１の画像から標識セット１の位置を演算し、カメラ２０で撮像した標識セット２の画像からカメラ１０の位置と角度を演算し、このカメラ１０の位置と角度に基づいて、カメラ１０のカメラ座標１５を基準とした標識セット１の位置をカメラ２０のカメラ座標２５を基準とした位置として演算する演算部３０とを備える。 （もっと読む）

【課題】シーン内の物体から取得される単一画像から視体積交差領域を生成し、３Ｄ形状を求める装置および方法を提供する。
【解決手段】物体１０１は、照明され、複数のシルエットが、マスクと同一平面状にあるとともに、当該マスクに密に近接している拡散スクリーン上に投じられる。このような拡散スクリーンから取得される単一画像は、シルエットに従って、複数のサブビューに分割される。次いで、二値画像の等値面に従って、物体の視体積交差領域が構築され、物体の３Ｄ形状１０３が近似されることとなる。 （もっと読む）

【課題】カラーフィルタの外観検査装置によって検出された欠陥から、気泡を選別処理するガラス基板内の気泡選別処理法を提供する。
【解決手段】１）顕微鏡１４Ｃを用い、欠陥Ｄ４の上方よりガラス基板２０上面に焦点を合わせて欠陥の第１映像情報を取得し、２）ガラス基板内に焦点を合わせ、欠陥の第２映像情報を取得し、３）該欠陥の第２映像情報を構成する検査画素の明るさを２値化して２値検査画素２Ｋ−０とし、４）２値検査画素の位置情報から、最小二乗法を利用した楕円フィッティング処理を行い、適合率より高い際に該欠陥を気泡と判定し、５）該欠陥を欠陥から除外する選別処理を行う。 （もっと読む）

【課題】
本発明は、被検査体全面において短時間で不良領域を検出でき、かつ検出結果を検査工程以降の工程に反映することのできる検査装置及び検査方法を提供することを課題とする。
【解決手段】
本発明は、基体の表面に微細な凹凸パターンを形成した被検査体に放射波を照射する照射機構と、被検査体を透過した放射波を検出する検出機構を備えた検査装置、検査方法において、前記照射機構は前記被検査体の表面または裏面のいずれか一方に配置され、前記検出機構は被検査体を介して照射機構とは相対する面に配置されており、検出機構で得られた被検査体の面内の透過率分布から凹凸パターンの不良領域を検出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】透明な小径管体の外観欠陥検査を、管肉厚部分の影響を受けずに高精度で行える管体の検査装置及び検査システムを提供する。
【解決手段】光軸方向に順に光源１９、管軸方向スリット３４を複数有するスリット板２１、光軸直交方向に移送されるガラス管１５、撮像装置２０を配置し、スリット板２１を背景にガラス管１５を撮影し画像処理装置２４で画像処理して、ガラス管１５の外観欠陥を検出する装置で、スリット板２１は、ガラス管１５を通して見た時、スリット３４がガラス管１５の内径寸法より狭い範囲内の画像となるように、またスリット外方遮光部分３５ｂが管肉厚部を遮光する画像となるように形成され、撮像装置２０は、スリット画像と共にガラス管１５の外形画像等を同時に撮影し、画像処理装置２４は、スリット画像と外形画像等に基づいてガラス管１５の外観欠陥の検出を行う。 （もっと読む）

【課題】ネジの首部のネジ山を正確に検査しながら、回転円筒のネジの吊り下げ片を十分な強度として、変形などの弊害を確実に防止する。
【解決手段】ネジの検査装置は、ネジ１の雄ネジ部１Ｂを案内してネジ頭１Ａを上面に引っかけて移送するスリット３を所定の間隔で設けている回転円筒２と、回転円筒２を回転させる回転機構１０と、回転円筒２のスリット３にネジ１を供給する供給機構４と、回転円筒２で移送されるネジ１を検査する検査機構６とを備える。検査機構６は、光源７とカメラ８と演算検査器９とを備える。検査装置は、光源７の光をスリット３に透過させてカメラ８で受光し、カメラ８から出力される映像信号を演算検査器９で演算処理してネジ１を検査する。回転円筒２は、スリット上端の両側に一対の吊り下げ片２０を一体構造に設けている。一対の吊り下げ片２０は、その内面を、上端に向かってスリット幅を狭くするように傾斜または湾曲している。 （もっと読む）

【課題】接触物の正確な光学式マークのコード情報の認識と、複数の接触物の入力位置の特定とを容易かつ確実に行うこと。
【解決手段】導光板２に設けられた発光素子３が制御部５ｅによる点灯走査の制御により発光し、その光がタッチエリア２ａへの光学式マークを有するマーク部を備えた接触物１０，１３による接触に応じて散乱光を発生させる導光板２内に入射され、タッチエリア２ａへの接触物１０，１３による導光板２での散乱時に生じる発色光が導光板２の一辺に沿って設けられた受光素子４により受光されると、制御部５ｅにより、受光素子４によって散乱光が受光されたときの座標と、その受光素子４の受光時にたとえば点灯走査させた発光素子３の座標とから、接触物１０，１３によるタッチエリア２ａへの入力位置が特定され、さらに受光された散乱光からマーク部の光学式マークのコード情報が認識されるようにした。 （もっと読む）

【課題】めっきの製造条件の微少な変動によらず、めっきの検査を行なうことが可能な検査方法および検査装置を提供する。
【解決手段】表面にめっき部と非めっき部の金属パターンを有する基板を所定速度で搬送する搬送段階と、基板の法線方向から０°〜１０°傾いた方向から、搬送と同期を取るかまたは所定時間間隔で、基板の表面を撮像する撮像段階と、基板の非めっき部の金属材料とめっき部のめっき材料との反射強度の差が最大となる波長域の光を照明手段により照射するか、又はその波長域の光のみを選択的に透過可能な波長選択手段により不要な波長域の光を遮断して撮像させる波長選択段階と、基板に、第１の照明手段による間接光、又は第２の照明手段による直接光、のうちいずれか一方を照射させる照明選択段階と、撮像段階にて得られた基板の表面の画像データを用いて、非めっき部とめっき部に存在する欠陥を判定する画像処理・欠陥判定段階とを有する。 （もっと読む）