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Fターム[2F069AA46]の内容

測定手段を特定しない測長装置 (16,435) | 測定内容 (3,272) | 長さ (547) | 厚さ;肉厚 (109)

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【課題】有底の凹部の状態を非破壊で検査し、製造コストを低減させる。
【解決手段】本発明のウエハ50のビア孔51の検査方法は、有底のビア孔51が表面に形成されたウエハ50に被転写材料を塗布し、この被転写材料をビア孔51内に充填させ、被転写材料を硬化させた後、ウエハ50から離型させることでビア孔51がビア像71として転写されてなる被転写体70を形成する転写工程と、ビア像71の表面を観察することでその表面形状の画像データを作成する表面観察工程と、ビア像71の画像データに基づいてビア像71の形状を評価し、ビア孔51内の状態を検査する検査工程とを備えたところに特徴を有する。 (もっと読む)


【課題】電子部品の電極の導電性積層膜の膜厚を安価な装置で高速に測定する。
【解決手段】絶縁膜1上に上下に積層された導電層2,3(積層膜、例えばNi層およびその上のAu層)からなる半導体基板の電極に対して、段差を触針で測る場合やレーザ光を用いる場合など公知の方法で導電層2,3の厚さ(電極高さ)を測定するステップと、4端針法により電極の表面抵抗を測定するステップとを有し、二つのステップから得られた積層膜の膜厚(電極高さ)と表面抵抗値から、上下に積層した導電層2,3からなる電極の上部皮膜である導電層3の膜厚を計算式から算出する。 (もっと読む)


【課題】測定値のばらつきが小さく精度の良い角型電池の外形測定装置を得る。
【解決手段】電池7の垂直方向の外周面を把持しかつ7の水平方向の位置決めを行い、かつ電池姿勢を垂直に位置決めする側面位置決め機構22と、7の水平方向の外周面に当設可能であって7の水平面の垂直方向の位置決めをする水平面位置決め機構23と、搬送治具8に7を載置面から切り離す手段20を備え、7の垂直方向の外形を測定する際に、22により7の水平方向の位置決めと姿勢を垂直に位置決めし、かつ20により載置面から7を切り離した状態で、垂直方向外形測定手段12により7の垂直方向の外形を測定し、7の水平方向の外形を測定する際に、23により7の垂直方向の位置決めをし、かつ20により載置面から7を切り離した状態で、水平方向外形測定手段13により7の水平方向の外形を測定する角型電池の外形測定装置。 (もっと読む)


【課題】コストを抑えたシート状材料の厚さ測定を行うことを可能としたシート状材料の厚さ測定方法およびシート状材料の搬送装置を提供する。
【解決手段】搬送ベルト12は、シート状材料2の搬送方向と直交する方向に2つに分割された第1、第2の搬送ベルト1202、1204で構成されている。第1、第2の搬送ベルト1202、1204の間には間隙Sが確保されている。シート状材料2は第1、第2の搬送ベルト1202、1204により搬送される。第1、第2の変位センサ16、18は、非接触式であり、第1の搬送ベルト1202と第2の搬送ベルト1204との間隙Sの領域内に位置するシート状材料2の上下に離間して配置され、シート状材料2の上面および下面の変位を検出する。厚さ算出手段20は、第1、第2の変位センサ16、18で検出された上面および下面の変位に基づいてシート状材料2の厚さを算出する。 (もっと読む)


【課題】充放電時における正極および負極それぞれの厚さ変化を個別に測定することができる電極厚さ変化測定装置の提供
【解決手段】本発明に係る電極厚さ変化測定装置100は、充放電時における正極または負極の厚さ変化を測定する装置であり、第一硬質平板1と、第一電極2と、測定電極台座3と、第二電極4と、第二硬質平板(電極押さえ)5とを順に積層した積層体を電解質と接触する状態で密閉した電極厚さ変化測定用セル10と、第一電極に荷重を付加する荷重負荷手段11と、第一リード12および第二リード13を介して、電極厚さ変化測定用セル10内の第一電極(図示しない)および第二電極(図示しない)に電気的に接続され、充放電を行う充放電装置14と、第一電極の充放電時の変位を測定する変位計15とを備え、測定電極台座3と第二硬質平板5との間隔は、第二電極4が膨張しても変化しない構成となっている。 (もっと読む)


【課題】複数種類の計測方法を組み合わせることにより、検査可能な試料を制限することのない試料検査装置及び試料検査方法を提供する。
【解決手段】試料検査装置は、入射部11、反射光受光部12及び分析部13(エリプソメータ部)と、X線源21、蛍光X線検出部22及び分析部23(X線測定部)と、レーザ光源31、ビームスプリッタ34、ラマン散乱光検出部32及び分析部33(ラマン散乱光測定部)とを備える。試料6に応じた適切な手法を用いて試料の厚みの計測が可能である。またエリプソメトリ及び蛍光X線分析を組み合わせることにより、試料6の厚みと屈折率等の光学特性とを独立に計測することができる。また試料6が多層試料である場合は、各層を適切な試料で検査することができる。 (もっと読む)


【課題】空洞内の被覆を検査でき、または空洞の被覆の厚さまたは不十分にしかアクセス可能でない区域を非破壊方式で判定できる測定プローブを提供する。
【解決手段】開口部によってアクセス可能な、または曲がった表面上の、特に空洞26内の薄い層の厚さの非破壊測定のための測定プローブ11であって、センサ要素と前記空洞26の検査予定の表面27上でセンサ要素に割り当てられる接触式球状のキャップとを備える測定ヘッド17と、前記測定プローブ11を測定予定の表面27上を表面27に沿って位置決めしガイドするための掴み要素12とを備え、それによってこの掴み要素12に長い弾性的に曲り易いガイド・バー16が設けられ、ガイド・バーは掴み要素12に対向するその端部上に少なくとも1つの測定ヘッド17をその測定ヘッドがガイド・バー16に対して移動できる。 (もっと読む)


【課題】皮革に摩擦力がかからず、皮革に形成された溝の深さを高精度に測定することができる皮革残膜厚測定装置を提供する。
【解決手段】スリットSWが形成されている皮革W1の部位における残膜の厚さを測定する皮革残膜厚測定装置1において、皮革W1のスリット形成部SW1の裏面に線状の先端部11を接触させて、皮革W1を支持する基台10と、基台10で支持されている皮革W1の両端部側の部位が基台10から離れて延出し、基台10で支持されている皮革W1のスリットSWが開口するように、皮革W1の両端部を引っ張る皮革引っ張り手段20と、皮革引っ張り手段20で引っ張られている皮革W1のスリット形成部SW1における残膜の厚さを測定する残膜厚測定手段20とを有する。 (もっと読む)


【課題】高温ガスの管路内部に配設されている耐火物の残厚測定を容易に且つ精度よく実施することで耐火物の更新・交換時期の最適化により該耐火物のコストを低減させるとともに耐火物の脱落・劣化判定のための作業者の負荷を低減させることが可能な高温ガス管路内耐火物の残厚推定方法を提供するものである。
【解決手段】管路表面と管路内部の耐火物の位置に、それぞれ管路のガス流れ方向に温度を測定する光ファイバーを設け、光ファイバーにより測定した管路表面の温度、光ファイバーにより測定した内部の耐火物の位置での温度、測定した管路内ガス温度、既知の鉄皮表面の光ファイバーと内部の耐火物内の光ファイバーとの間の距離、既知の放熱量から耐火物の残厚を演算する管路内耐火物の残厚推定方法。 (もっと読む)


パターン化された構造の少なくとも1つのパラメータの測定で使用するための方法およびシステムが提供される。方法は:構造の異なる位置上の測定に対応する複数の測定された信号を含む測定されたデータと、理論的信号と測定された信号との間の関係は、構造の少なくとも1つのパラメータを示す理論的信号を示すデータとを含む入力データを提供する過程と;構造の少なくとも1つの性質を特徴付ける少なくとも1つの選択されたグローバルパラメータに基づきペナルティ関数を提供する過程と;フィッティングプロシージャの前記実行は、理論的信号と測定された信号との間の最適化された関係を決定するために前記ペナルティ関数を使用することと、構造の前記少なくとも1つのパラメータを決定するために最適化された関係を使用することとを含む、理論的信号と測定された信号との間のフィッティングプロシージャを実行する過程と;からなる。
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【課題】形状や厚みが異なる種々の被検レンズのレンズ中心厚を、被検レンズの外観品質を低下させることなく正確に測定することが容易なレンズ中心厚測定器を提供すること。
【解決手段】測距用のセンサヘッド22a,22bを有する2台の非接触型測長計2a,2bと、これら2台の非接触型測長計それぞれのセンサヘッドを互いに対向させ、各センサヘッドの測定軸MA1,MA2を互いに一致させて支持する測長計支持部3Aと、センサヘッド間に設けられ、被検レンズL1の少なくとも光学中心Lc,Ldを露出させて且つ該被検レンズの光軸Lxを測定軸に一致させて該被検レンズを保持するレンズ保持部4Aとを用いてレンズ中心厚測定器1Aを構成する。 (もっと読む)


【課題】被塗装面の領域内において、膜厚を測定するための特定位置に簡単に膜厚センサを位置づけることができる膜厚測定装置を提供する。
【解決手段】塗装膜厚測定装置10は、被塗装面に施された塗装の膜厚を測定する膜厚センサ15と、被塗装面の領域内において、膜厚センサによる測定位置を標定する距離センサ12とを備える。また、塗装膜厚測定装置10は、被塗装面の領域内に設定された特定位置を記憶する記憶部22と、記憶部22に記憶された特定位置と距離センサ12によって標定された測定位置とを比較し、両者の差分を求める比較部24と、比較部24によって求められた差分を通知する通知部20と、をさらに備えることができる。 (もっと読む)


【課題】フレキシブルエレクトロニクスに使用されるフレキシブル配線基板製造工程中に、フレキシブル基板上に形成された金属層の厚さを測定する方法を提供する。
【解決手段】金属層に引張応力又は曲げ応力を加えることにより金属層にシワを生成し、このときに発生したシワの周期を光学顕微鏡などで現場で直接測定することにより薄い金属層の厚さを容易に測定することができる。 (もっと読む)


【課題】配管表面に生じる歪みのうち熱による歪み分を除去して配管の肉厚を正確に測定できる配管肉厚測定装置を提供する。
【解決手段】圧力検出器17で配管の内圧を検出し、歪み検出装置15で配管表面の周方向の歪み及び軸方向の歪みを検出し、温度検出器11で配管の温度を検出し、ヤング率算出手段13は温度検出器11で検出した配管温度に基づいて配管材のヤング率を求め、内圧分歪み算出手段16は歪み検出装置15で検出した配管表面の周方向の歪み及び軸方向の歪みから熱による歪み分を除去し、配管の内圧による配管表面の周方向の歪み及び軸方向の歪みを算出し、肉厚算出手段14は圧力検出器17で検出した配管の内圧、内圧分歪み算出手段16で算出した配管の内圧による配管表面の周方向の歪みまたは軸方向の歪み、及びヤング率算出手段13で求めた配管材のヤング率に基づいて配管の肉厚を求める。 (もっと読む)


【課題】折り畳み可能な測定機器用架台を提供して、組み立てを簡単にするだけでなく、輸送スペースをコンパクトにする。
【解決手段】測定機器MUを長手方向に沿って移動させる長尺部材3と、長尺部材3の両端部それぞれに設けられ、長手方向とは異なる方向に長尺部材3を移動させるためのガイドレール71を有する一対の第1枠体4とを備え、長尺部材3の両端部がそれぞれに対応する第1枠体4のガイドレール71に沿って互いに異なる方向に移動して第1枠体4同士の間隔が狭まるように構成されている。 (もっと読む)


【課題】帯状基材とローラの間に空気の巻き込みが発生した場合でも、その影響を受けず、塗膜の膜厚を測定できる膜厚測定装置を提供する。
【解決手段】膜厚測定装置100は、ローラ30上を搬送される帯状基材10の長さ方向に塗工部40から塗液44を塗工して形成された塗膜12の膜厚を測定する。この装置100は、基材10の搬送方向90に対して塗工部40よりも上流側の位置に設けられ、ローラ外表面30aから基材表面10aまでの厚みX1を測定する第1厚みセンサ50と、塗工部40よりも下流側の位置に設けられ、ローラ外表面30aから塗膜表面12aまでの厚みX2を測定する第2厚みセンサ60とを備え、第1厚みセンサ50で測定された厚みX1と、第2厚みセンサ60で測定された厚みX2との差分から塗膜12の膜厚を算出し得るように構成されている。 (もっと読む)


【課題】測定値の正確性や信頼性を担保しつつ、コンピュータに入力されて処理の対象となる測定値の確定に必要な作業時間や労力を削減する。
【解決手段】 測定対象物の特性を測定する測定装置10と、測定装置10の表示部12から測定者が目視で読み取った測定値を入力するマイクロホンセット30と、測定装置10によって測定された測定値を測定者の指示したタイミングで読み取る計測部13、計測部13で読み取られた測定値を一時的に記憶する記憶部21、マイクロホンセット30から入力された測定値と記憶部21に記憶された測定値を照合する照合部23、照合の結果、マイクロホンセット30から入力された測定値と記憶部21に記憶された測定値が一致した測定値を記録する記録部24、記録部24に記録されたデーから測定結果を求めるデータ処理部40とを備えた携帯情報装置20とから測定システムを構成する。 (もっと読む)


【課題】 試験片の位置を正確に設定することができ、試験片の寸法を精度よく測定することが可能な測寸装置を提供する。
【解決手段】 試験片1の両端をその下方より支持して搬送する一対のコンベア11と、このコンベア11により搬送された試験片1を撮影することにより試験片1の幅を光学的に測定する幅測定機構3と、このコンベア11により搬送された試験片1を上下方向から挟持することによりその上下方向の厚さを測定する厚さ測定機構4と、コンベア11による試験片1の搬送経路上に配設され試験片1の両端部に当接可能な当たりブロック6とを備える。 (もっと読む)


【課題】スループットの低下を低減する基板処理装置及び基板搬送方法を提供すること。
【解決手段】基板処理装置は、計測ユニット10と、搬送機構とを備える。計測ユニット10は、基板Wの状態を所定の計測位置Pmで計測する計測器15と、第1のトレイ11と、第2のトレイ12と、所定の計測位置Pmと第1のトレイ11及び第2のトレイ12との間で基板Wを移動させるステージ16とを有する。搬送機構には、基板Wを把持する第1の把持部21及び第2の把持部22を有するロボットハンド25が設けられている。第1のトレイ11に基板Wを載置したロボットハンド25が計測ユニット10から出ずに計測後の基板Wを計測ユニット10の外に取り出すことで、計測ユニット10に対する1回のアクセスで計測前後の基板Wを入れ替えることができてスループットの低下を低減することができる。 (もっと読む)


【課題】 特に薄層の厚さ測定に適した、測定用プローブを保持する測定スタンドおよびその制御方法の提供。
【解決手段】 測定用プローブ(26)を保持する保持器(24)を担持する変位部材(23)と、その変位部材を測定用プローブとともに上下に駆動する駆動ユニット(35)との間に、フリーホイール機構(51)を介在させ、測定用プローブ(26)または保持器(24)が測定対象(14)に接触すると、駆動ユニット(35)による駆動が変位部材(23)から切り離され且つスイッチング・デバイス(58)がスイッチング信号を制御ユニットへ送出する。 (もっと読む)


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