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Fターム[2G001CA01]の内容

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【課題】分析チャンバ内の雰囲気をヘリウムガスで置換する際のヘリウムガス消費量を低減可能な蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】
蛍光X線分析装置において、試料Sに一次X線を照射するX線源12と、前記一次X線の照射により試料Sから放出される蛍光X線を検出するX線検出器13と、前記一次X線と蛍光X線の光路を内包する分析チャンバ10と、分析チャンバ10内にヘリウムガスを導入するヘリウムガス導入手段17と、分析チャンバ10内のヘリウムガス濃度を測定するヘリウムガス濃度測定手段18と、ヘリウムガス濃度測定手段18によるヘリウムガス濃度の測定結果に基づき、分析チャンバ10内のヘリウムガス濃度が予め定められた目標値となるようにヘリウムガス導入手段17を制御する制御手段31とを設ける。 (もっと読む)


【課題】X線検出領域を挟んで搬送方向の上流側と下流側に搬送コンベア分割されている場合でも、上流側コンベアと下流側コンベアとの隙間から落下する被検査物からの落下物がX線検出領域内に侵入しないX線異物検出装置を提供する。
【解決手段】被検査物Wを所定の搬送方向Yに搬送する搬送コンベア8と、搬送コンベア8により搬送される被検査物WにX線を照射するX線発生部21と、被検査物Wを透過したX線を検出するX線検出部22とを備え、搬送コンベア8がX線検出領域Aを挟んで搬送方向Yの上流側(上流側コンベア8a)と下流側(下流側コンベア8b)とに分割されたX線異物検出装置1において、X線発生部21によるX線照射中はX線検出領域A内に被検査物Wからの落下物Dが侵入しないように、X線検出領域Aに向けて常にエアーを吹き付けるエアー吹付け手段31を備えた。 (もっと読む)


【課題】被検査物に突き刺さることを確実に防いでX線が漏洩する危険性を更に低減し、簡素な構成とすることで低コストとなるX線遮蔽カーテンを備えること。
【解決手段】筐体3と、筐体3内の搬送路に被検査物を搬送するベルトコンベア8と、ベルトコンベア8により搬送される被検査物にX線を照射するX線発生部11と、被検査物を透過したX線を検出するX線検出部12と、搬送路にベルトコンベア8の搬送方向Yと直交して設けられた水平軸22と、水平軸22にその基端側が取り付けられることでこの水平軸22に揺動可能に吊り下げられたカーテン片23が、水平軸22に複数の短冊状に設けられたX線遮蔽カーテン20とを備えたX線異物検出装置1において、X線遮蔽カーテン20を、カーテン片23が鉛直よりも搬送方向Yの下流側に揺動可能に設けるとともに、搬送方向Yの上流側への揺動を規制する構成とした。 (もっと読む)


【課題】容易に精度良く鋼種判定を行うことができる断面略円形の鋼材の鋼種判定方法を提供する。
【解決手段】鋼種判定方法は、X線を照射する照射部21及び蛍光X線を検出する検出部22を具備した測定部2を、予め定めた分析必要時間だけ鋼管4の外周面に沿って鋼管4に対して相対移動させながら照射部21からX線を鋼管4に照射すると共に鋼管4から放射される蛍光X線を検出部22によって検出する検出ステップと、検出ステップによって検出された蛍光X線に基づいて鋼管4の組成を算出する算出ステップと、算出ステップによって算出された組成によって鋼管4の鋼種を判定する判定ステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】アッテネータのみを移動させるだけの簡単な構造でコストダウンを図り、試料の測定領域の面積を可変して精度のよい分析ができる蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】本発明の蛍光X線分析装置は、X線源1と、1次X線2が照射された試料Sから発生する2次X線4を検出する検出手段9と、試料を回転させる試料回転手段10とを備え、試料を回転させながら試料から発生する2次X線を検出する蛍光X線分析装置であって、試料と検出手段9との間に配置され、所定の半径の仮想円30内に2次X線を通過させる複数の絞り孔32を有し、仮想円30を通して検出手段9が見込む試料領域から発生する2次X線4を複数の絞り孔32によって通過させるアッテネータ3と、アッテネータ3を移動させるアッテネータ移動手段11とを備え、アッテネータ3の移動距離Xに応じて、2次X線4が検出される試料の測定領域の面積が可変である。 (もっと読む)


【課題】 X線分析方法及びX線分析装置に関し、参照孔を加工可能なサイズに保った状態において、高い分解能の試料イメージを得る。
【解決手段】 測定用窓部に配置した試料からのX線散乱強度を測定する工程と、参照孔からの参照光振幅を推定する工程と、前記X線散乱強度を推定した前記参照光振幅により補正して補正X線散乱強度を求める工程と、前記補正X線散乱強度をフーリエ逆変換して試料のイメージを再生する工程とを設ける。 (もっと読む)


【課題】構造が簡単であり、グローブを着けての作業も行い易く、電極と外部電位との電気的な接続を安定的にとることができる電池構造体を提供する。
【解決手段】電界物質を含んでいるセパレータ7の両面に配置された正極材8及び負極材9と、正極材8に接触している正極側シール部材3bと、負極材9に接触している負極側シール部材3aと、正極側シール部材3bに接触している正極側弾性部材4bと、負極側シール部材3aに接触している負極側弾性部材4aと、正極側弾性部材4bと負極側弾性部材4aとを互いに近づく方向へ押し付ける弾性部材押圧機構5a、5b,18、22とを有するX線測定用電池構造体1である。シール部材3b,3aは耐食性を有しており、シール部材3b,3a及び弾性部材4b,4aはX線を通過させる部分を有しており、弾性部材押圧機構5b、5a、18、22はX線経路を妨げない。 (もっと読む)


【課題】屋外に配置されている構造物の表面に付着している物質の正確な量がより簡便に分析できるようにする。
【解決手段】ステップS101で、屋外に配置された測定対象となる構造物の表面に直接X線を照射する。次に、ステップS102で、元素の蛍光X線測定を行い元素の第1蛍光X線強度を得る。次に、ステップS103、X線の吸収量が既知の基材に対象となる元素が既知の含有量で含まれている内標準試料を構造物に重ねた状態で、内標準試料を通して構造物の表面にX線を照射する。次に、ステップS104で、元素の蛍光X線測定を行い上記元素の第2蛍光X線強度を得る。 (もっと読む)


【課題】広いエネルギー帯にわたってぼけの少ない放射線検出画像を取得すること。
【解決手段】この放射線検出器3は、対象物Aを透過した放射線の入射に応じてシンチレーション光を発生させる平板状の波長変換板6と、波長変換板6を透過した放射線を検出する直接変換型検出器5と、波長変換板6と直接変換型検出器5との間に配置され、シンチレーション光の直接変換型検出器5への入射を防止する遮光板7とを備える。 (もっと読む)


【課題】測定対象試料中に含まれる分析対象元素が極めて微量であっても、その分析対象元素の構造解析を従来よりも正確に行うことができる構造解析方法を提供する。
【解決手段】分析対象元素に関するX線吸収スペクトルを得るための標準試料と、測定対象試料に含まれる分析対象元素の0.1〜10倍の分析対象元素をマトリックス中に含む2次試料とを用意する。次いで、標準試料のX線吸収スペクトル(標準スペクトル)と、2次試料のX線吸収スペクトル(2次スペクトル)とを比較することで、測定対象試料における分析対象元素に関連する蛍光X線のエネルギー範囲である関心領域を決定する。そして、その決定した関心領域に基づいて測定対象試料のX線吸収スペクトルである目的スペクトルを求める。 (もっと読む)


【課題】 トールボット干渉法において、従来よりも回折格子及び遮蔽格子の移動の調整が容易で、かつ被検体に対して入射する光の入射方向の変化による位相像のぼけを抑制して縞走査法を行うことができる撮像装置を提供すること。
【解決手段】 撮像装置1は、光源からの発散光を回折することで干渉パターンを形成する回折格子310と、干渉パターンの一部を遮蔽する遮蔽格子410と、遮蔽格子を経た光を検出する検出器510と、回折格子310及び遮蔽格子410を移動させる移動手段1010と、を備え、移動手段1010は、回折格子310及び遮蔽格子410が相対移動しないように回折格子310及び遮蔽格子410を移動させることで、干渉パターン及び遮蔽格子410を相対移動させ、検出器510は、干渉パターン及び410遮蔽格子の相対移動に対応して、光を検出する。 (もっと読む)


【課題】広いエネルギー帯にわたってノイズの低減された放射線検出画像を取得すること。
【解決手段】この放射線画像取得装置1は、放射線を出射する放射線源2と、放射線源2から出射され、対象物Aを透過した放射線の入射に応じて、シンチレーション光L,Lを発生させる平板状の波長変換板3と、波長変換板3の放射線の入射側の面3aから放射されるシンチレーション光Lを導光するミラー6a,6bと、波長変換板3の入射側の面3aとは反対側の面3bから放射されるシンチレーション光Lを導光するミラー7a,7bと、ミラー6a,6b,7a,7bによって導光されたそれぞれのシンチレーション光L,Lを撮像する光検出器4と、ミラー6a,6b,7a,7bによって導光されたそれぞれのシンチレーション光L,Lを光検出器4に向けて導光するミラー8とを備える。 (もっと読む)


【課題】Fe化合物が形成されたFe基材料において、Fe化合物中の元素比率が不明な場合でも非破壊で材料上のFe化合物を確実に定量する。
【解決手段】Fe基材料1のMn及びFe元素の蛍光X線強度を測定する第1ステップと、Fe化合物2が表面に形成されたFe基材料1のMn及びFe元素の蛍光X線強度を測定する第2ステップと、第1ステップで測定したMn元素の蛍光X線強度と第2ステップで測定したMn元素の蛍光X線強度からFe化合物2によるMn元素の減衰比を算出する第3ステップと、前記第3ステップで算出されたMn元素の減衰比からFe化合物2によるFe元素の減衰比を算出する第4ステップと、前記第4ステップで算出されたFe元素の減衰比から前記Fe化合物2から放出されたFe元素の蛍光X線強度を求める第5ステップと、前記第5ステップで求められたFe元素の蛍光X線強度から前記Fe化合物を定量する第6ステップを有する。 (もっと読む)


【課題】軽量かつ設置が容易で、さらにX線被爆なく、直線状の被検査物をその場で非破壊に多方向からのX線透過像を取得し、被検査物の劣化状況等を高精度で検査できるX線非破壊検査装置を提供する。
【解決手段】上記課題を解決するため、直線状の被検査物をその場で非破壊検査するX線検査装置であって、前記被検査物を挟み対峙する1組のX線源及び2次元検出器を3組以上搭載し、前記被検査物に沿って手動或いは自動的に移動させながら、前記X線源からパルス状のX線を順次発生させ、前記2次元X線検出器でX線透過像データを検出することにより、前記被検査物の全周を長い距離にわたって検査することを特徴とするX線非破壊検査装置の構成とした。 (もっと読む)


【課題】樹脂被覆金属部材における被覆層の厚さなどの被覆状態を、簡易に且つ正確に測定することが可能な樹脂被覆金属部材の被覆状態測定方法を提供する。
【解決手段】樹脂被覆金属部材の被覆状態測定方法は、次の工程を備える。金属粉末を含有する金属ペーストを用意する準備工程。樹脂被覆金属部材の表面に金属ペーストを塗布する塗布工程。樹脂被覆金属部材の表面に金属ペーストを塗布した状態で、X線CT装置により樹脂被覆金属部材の断層像を得る撮影工程。断層像から、基材の表面の基材輪郭線、及び金属ペーストの表面のペースト輪郭線をそれぞれ抽出し、基材輪郭線とペースト輪郭線とに挟まれる領域を被覆層と仮定して、被覆層の被覆状態を計測する測定工程。ただし、基材を構成する金属、及び金属粉末の金属はいずれも、遷移金属及び卑金属の群(但し、Alを除く)から選択される少なくとも一種の金属である。 (もっと読む)


【課題】線質の異なるX線が検出段階で干渉することを防止することができるX線異物検出装置を提供すること。
【解決手段】被検査物Wを搬送路上で搬送する搬送部2と、搬送路上を搬送される被検査物に複数本のX線を照射するX線発生器9と、X線発生器9から照射され被検査物Wを透過するX線に応じた検出データを出力するX線検出器10と、X線発生器9とX線検出器10との間に配置されて回転軸周りに高速回転し、X線を遮蔽する遮蔽部71とX線を透過する透過部72とが回転方向に交互に設けられ、回転軸を中心に高速回転することでX線発生器9からの複数本のX線を時間分離し、該複数本のX線の何れかを順次透過する回転板70と、X線検出器10の出力する検出データに基づいて被検査物W中の異物の有無を判定する判定部48と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】本発明は、シリコン(Si)基板を用い電鋳法で格子の金属部分をより緻密に形成し得る金属格子の製造方法および前記金属格子ならびにこれを用いたX線撮像装置を提供する。
【解決手段】本発明の金属格子DGは、第1Si部分11とこの上に形成され第2Si部分12aおよび金属部分12bを交互に平行に配設した格子12とを備え、第2Si部分12aは、金属部分12bとの間に第1絶縁層12cを有し、その頂部に第2絶縁層12dを有する。金属格子DGは、シリコン基板上にレジスト層を形成し、これをリソグラフィー法でパターニングして除去し、ドライエッチング法で除去部分を所定の深さHまでエッチングして凹部(例えばスリット溝等)を形成し、この凹部の形成面側の全面に堆積法によって絶縁層を形成し、凹部の底部の絶縁層を除し、電鋳法で凹部を金属で埋めることで製造される。 (もっと読む)


【課題】本発明はEPMA(電子プローブマイクロアナライザ)におけるX線像データ処理方法及び装置に関し、異なるシーケンスで取得し位置ずれが存在しているX線像データ同士であっても、相関演算処理を正確に行なうことができるようにすることを目的としている。
【解決手段】 EPMAを用いて試料の同一領域について異なるタイミングでそれぞれX線像のデータを取得して記憶する場合において、各タイミングで前記領域について2次電子又は反射電子検出に基づく電子像データを併せて取得して記憶し、異なるタイミングで取得した電子像データを比較して位置ずれ量を算出し、算出した位置ずれ量に基づき、前記異なるタイミングで得た各X線像データに対して、各X線像データに共通して存在する領域を切り出す処理を施すことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】放射光装置(高エネルギー電子蓄積リング)等の大がかりな装置を用いることなく、比較的簡易な連続X線光源を用い、被測定物に含有される各元素の平均密度、全量等を非破壊で測定することのできる定量分析方法、及び、そのような定量分析方法を実施することのできる元素別定量分析装置を提供する。
【解決手段】炭素系冷陰極電子源、チタンよりも原子番号の小さい導電性の軽元素からなり、冷陰極電子源から放出された電子が入射面に入射され、入射方向に対して前方にX線を放出するターゲット、及び、該ターゲットで発生したX線以外のX線を遮蔽する遮蔽部材を具備する連続X線光源と、エネルギー弁別型検出器とを用いて、被測定物のX線吸収スペクトルにおける含有各元素の吸収端ジャンプ量を求め、あらかじめ標準試料等で決定した元素別の質量吸収端ジャンプ係数と前記含有各元素の吸収端ジャンプ量に基づき、被測定物に含有される各元素について同時にX線透過経路上の面密度を測定することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】比較的低廉な方法で精度の高い検査画像を得ること。
【解決手段】検査対象品の検査要部101を通る垂直線回りの角度Rと、前記垂直線と直交する線分回りの角度θとを組み合わせて、当該検査要部をX線が斜めに透過する方向を含む複数の透過方向ψ(R,θ)をX線CTでの撮像よりも少ない数だけ設定する。設定された透過方向ψ(R,θ)に基づいて、当該透過方向ψ(R,θ)毎にX線撮像を実行する。撮像された複数のX線画像を所定の条件で重ね合わせて合成画像を生成する。 (もっと読む)


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