【課題】より高効率に、かつより高精度に極点図測定することが可能なＸ線回折用治具を提供する。
【解決手段】主表面１２ｃを有するベース体１２０と、一方の主表面１２ｃから突出するようにベース体１２０に固定された複数の側壁部１２１と、一方の主表面１２ｃ上に載置され、試料１１の高さを調整可能な調整部材１４とを備えている。上記側壁部１２１の最上面１２ａ、１２ｂは主表面１２ｃに沿う方向に配置され、複数の最上面１２ａ、１２ｂのそれぞれの、主表面１２ｃからの距離は等しく、複数の側壁部１２１は主表面１２ｃを挟みながら互いに対向する。 （もっと読む）

【課題】回折格子と遮蔽格子を有するタルボ干渉法を用いた撮像装置において、回折格子および遮蔽格子の姿勢のずれによるキャリア周波数に対応するスペクトル強度の低下を軽減する。
【解決手段】撮像装置はＸ線源１１０とＸ線源１１０から出射したＸ線を回折する回折格子１３０と回折格子１３０によって回折されたＸ線の一部を遮る遮蔽格子１５０と遮蔽格子１５０を経たＸ線の強度分布を検出する検出器１７０とを有する。更に、撮像装置は、調整部１９０を有する。調整部１９０は、検出器１７０で検出された強度分布を複数の領域に分割し、複数の領域の強度分布に基づいて、回折格子１３０および遮蔽格子１５０のうち少なくともいずれか一方の姿勢を調整する。 （もっと読む）

【課題】簡易な測定が可能であり、かつ、測定対象物を破壊することなく、浸炭深さを定量的に把握しうるＣｒ含有合金の浸炭深さ測定方法を提供する。
【解決手段】浸炭深さが異なるＣｒ含有合金の複数の試料についてポータブル型蛍光Ｘ線分析装置により分析を行って（ステップＳ２）、クロム及びクロム以外の金属元素の濃度と浸炭深さとの関係を予め求めておく（ステップＳ４）。次に、測定対象物であるＣｒ含有合金について前記ポータブル型蛍光Ｘ線分析装置により分析を行って、該測定対象物中のクロム及びクロム以外の金属元素の濃度を測定する（ステップＳ６）。この後、予め求めた前記関係に基づいて、前記測定対象物中のクロム及びクロム以外の金属元素の濃度の測定結果から、前記測定対象物の浸炭深さを求める（ステップＳ８）。 （もっと読む）

【課題】 本発明は回折装置及びその使用に関する。
【解決手段】
本発明の回折装置は、コンパクト粉末回折装置であり、１以上の検出装置（１８）を持ち、これは、粉末サンプル（１４）を配置するためのサンプル台（１７）から３００ｍｍ未満、例えば５５ｍｍに設けられる。小さい寸法であるにもかかわらず、本発明の装置は、前記サンプルへの適切に広がったＸ線入射ビームと、単色化結晶を用いたグレージング条件での放出による小さいスポットサイズとを達成する構成を用いることで、小さい寸法であるにもかかわらず高分解能が得られる。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線検査を効率的に実施することができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】対象物に欠陥を意図的に発生させたり、全ての検査位置（観察ポイント）に欠陥を持つ対象物を準備しなくとも、従来では固定であった基準画像に替えて、当該基準画像よりも後に得られるＸ線画像を新たに基準画像としてステップＳ１０で置き換えることで、必要最小限の構成により、基準画像としてより適切なＸ線画像が得られた段階で基準画像のデータを改善して、Ｘ線検査を効率的に実施することができる。さらに、好ましくは、評価値として欠陥度合い（気泡の面積比率等）を採用し、ステップＳ４，Ｓ７で画像を当該評価値として数値化することによりＸ線画像を評価し、評価値に最も近い画像を基準画像として置き換えることで、基準画像を自動的に置き換えることができる。 （もっと読む）

【課題】検査時間を短縮しつつ、被検体の断層像又は立体像の再現性を向上させることができる放射線検査システムを提供する。
【解決手段】画像補正装置１５は、１回目の走査の際で放射線源１が任意の目標位置に移動されたときに放射線検出器２から得られた放射線の強度分布と、２回目の走査の際で放射線源１が同じ目標位置に移動されたときに放射線検出器２から得られた放射線の強度分布とを照合する。そして、それら放射線の強度分布が重なり合うはずの部分のずれ量を演算し、そのずれ量に基づき放射線源１の焦点位置の誤差を演算し、その誤差に基づき複数の透過画像Ｐを補正する。 （もっと読む）

【課題】背景技術よりも小型化が可能なＸ線発生装置及びＸ線管の駆動方法を提供する。
【解決手段】レンズ電極とグリッド電極、またはレンズ電極とカソード電極に所定の電圧を供給する各駆動回路でインバータ回路を共用する。レンズ電極にはインバータ回路から出力されたパルス列を全波整流することで得られる直流電圧を供給し、グリッド電極またはカソード電極にはインバータ回路から出力されたパルス列を半波整流することで得られる直流電圧を供給する。そして、Ｘ線の発生期間におけるインバータ回路の最初の動作時及び最後の動作時、トランス回路から全波整流回路及び半波整流回路にそれぞれ負極性の電圧が出力されるようにインバータ回路の動作を制御する。 （もっと読む）

【課題】 ２次元トールボット干渉法を用いた撮像装置において、キャリア周波数の強度を大きくすること。
【解決手段】 撮像装置は電磁波源と、電磁波源から出射した電磁波を回折する回折格子と、回折格子からの電磁波を遮る遮蔽部１５１（１５１ａ，１５１ｂ，１５１ｃ）と透過させる複数の透過部１５２（１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｂ）とを有する遮蔽格子と、遮蔽格子を経た電磁波を検出する検出器と、を備える。回折格子は電磁波を回折することによって、井桁状の干渉パターンを形成する。また、遮蔽格子には、複数の透過部が２次元的に配列しており、遮蔽部の一部と複数の透過部のうち１つの透過部とからなる単位パターン１５３（１５３ａ，１５３ｂ，１５３ｃ）において、単位パターンの面積に対して透過部の面積が占める面積比は、０．２５より大きい。 （もっと読む）

【課題】簡易かつ高速にＸ線立体画像表示を可能にして被検査物の欠陥や異物を容易に発見できるようにする。
【解決手段】通過する被検査物Ｍに対して直交する平面内でＸ線光源３１から拡散して被検査物Ｍを横断する帯状のＸ線を照射するＸ線発生器３と、被検査物Ｍを透過したＸ線を入光させて、被検査物Ｍの通過に伴って当該被検査物Ｍの透過二次元画像を得るラインセンサ４およびインターフェース回路５４と、透過二次元画像の各部分につき、当該各部分をその位置情報に基づいて二次元平面上に配置するとともに、上記各部分における透過光量に応じた高さを上記二次元平面に直交する軸方向にとって透過三次元画像を得るパソコン５とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 回転軸方向に複数のX線発生点が配置されたX線管装置の冷却効率を向上させ、X線管内の過熱を防止できる構造のX線管装置を提供すること、及びそのX線管装置を搭載するX線CT装置を提供することである。
【解決手段】 電子線を発生する陰極と、前記電子線が照射された点であるX線発生点からX線を放射する陽極と、前記陰極と前記陽極を真空雰囲気内に保持する外囲器と、を備えたX線管装置であって、前記陰極と前記陽極からなる対を2つ有し、2つの陽極はX線発生点を有する面の裏側が対向するように配置されており、2つの陽極の間に冷却媒体を流すための冷媒流路をさらに備えたことを特徴とするX線管装置である。 （もっと読む）

【課題】従来は測定し難かった測定対象物であっても容易に測定できるＸ線回折装置及びＸ線回折の測定方法を提供する。
【解決手段】Ｘ線を照射するＸ線照射源１と、Ｘ線が測定対象物９に照射されて回折したＸ線を検出する検出器２と、Ｘ線照射源１と検出器２とを移動可能に支持する支持部材１０と、を備えているＸ線回折装置１００であって、支持部材１０は、直交する二軸のそれぞれの軸方向に、それぞれ独立して移動可能な第１の位置決め手段１３及び第２の位置決め手段１４と、二軸に垂直な軸の軸方向に移動可能な第３の位置決め手段１５とを備え、Ｘ線照射源１及び検出器２が固定された第１の位置決め手段１３、第２の位置決め手段１４及び第３の位置決め手段１５が所定の位置に移動することにより、Ｘ線の照射位置及び回折したＸ線の検出位置が決定されるように構成されているＸ線回折装置。 （もっと読む）

【課題】地質資源コアの分析用コンピューター断層撮影装置を提供すること。
【解決手段】産業用で便利にコンピューター断層撮影装置を利用することができ、ＣＴビーム送出部とディテクター間の動きを減らして精密な測定が可能であり、同時に故障が少なく、特に、地質資源コア試料と同じく長い長軸をもったシリンダー型（または棒型）の試料を手軽く断層撮影することができる地質資源コアの分析用コンピューター断層撮影装置。 （もっと読む）

【課題】 本発明の課題は、ナノ電子線回折パタンにおける各スポットの座標を適切に定義し、格子面距離を精度良く算出することを目的とする。
【解決手段】 上記課題は、回折スポット及び透過スポットを含む複数のスポットを表す電子線またはＸ線回折パタンを二階調化して二階調化データを生成するステップと、前記二階調化データを用いて、前記スポットの領域に相当する定義円を作成するステップと、前記スポットと前記定義円の各画素における差の二乗和が最小になるように前記定義円のサイズ又は座標の少なくとも１つを変化させて該スポットへフィッティングさせることによって、該スポットの近似円を取得するステップと、前記近似円の中心座標で前記スポットの座標を定義することによって、スポット間の距離を算出し格子面距離を取得するステップとをコンピュータが実行する半導体素子の評価方法により達成される。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の電気的な接続信頼性を向上させる。
【解決手段】（ａ）半導体基板の主面上に、主導体膜（下地膜）７Ａおよび主導体膜７Ａ上のストッパ絶縁膜（被測定膜）６ｓを積層する工程、（ｂ）ストッパ絶縁膜６ｓに開口部８を形成する工程、を含んでいる。また、（ｃ）開口部８に電子ビーム（励起線）ＥＢを照射して、特性Ｘ線を放出させる工程、および（ｄ）特性Ｘ線を検出し、特性Ｘ線の検出結果に基いて開口部８の底部８Ｂにおけるストッパ絶縁膜６ｓの有無または膜厚を判定する工程、を含んでいる。また、（ｄ）工程では、特性Ｘ線に含まれる複数の元素成分の比率により、ストッパ絶縁膜６ｓの有無または膜厚を判定する。 （もっと読む）

【課題】高時間分解能、欠落データ及び長手方向打ち切りによる画像アーティファクトの低減、並びに放射線量を低減する。
【解決手段】撮像データはＸ線源の単一の回転から取得され、単一の回転は第一のハーフ・スキャン及び第二のハーフ・スキャンに分割される。制御器は、第一のハーフ・スキャン及び第二のハーフ・スキャンの一方にわたりＸ線源によって放出されるＸ線ビームの中央部分を遮断するように、第一のハーフ・スキャン及び第二のハーフ・スキャンの一方からの画像データを取得した後に、第一のハーフ・スキャン及び第二のハーフ・スキャンの他方からの画像データの取得の開始と同時に、動的コリメータを配置するように構成されている。ＣＴスキャナはさらに、第一の撮像データ集合及び第二の撮像データ集合を用いてＣＴ画像を再構成するように構成されている。 （もっと読む）

【課題】本発明は、全反射蛍光Ｘ線分析装置を用いた検査結果に基づいて、ミネラルの充足、不足を簡便に、正確に判別する方法を提供する。また、体内に蓄積した有害な重金属を簡便に検査する方法を提供する。
【解決手段】本発明の第１の形態は、蛍光Ｘ線分析により、被検者の前頭部、側頭部又は頂頭部の毛髪に含まれるミネラル金属の含有比率及び／又は含有量を測定し、前記含有比率及び／又は前記含有量が正常値を超える場合に生体内のミネラル金属量が異常であると判断する生体内金属元素検査方法であり、本発明の他の形態は、蛍光Ｘ線分析により、皮膚、爪、歯又は骨からなる生体内固形物や血液、尿、涙、汗又は唾液からなる生体液に含まれるミネラル金属量又は重金属量の含有比率及び／又は含有量を測定することを特徴とする生体内ミネラル検査方法である。 （もっと読む）

【課題】 連続した波長を有するＸ線から、所定の波長の回折Ｘ線を容易に選択して取り出すことができるＸ線分光システムを提供する。
【解決手段】 連続した波長を有するＸ線が、一定の角度で入射した際に、前記連続した波長を有するＸ線が回折角の異なる回折Ｘ線に回折され、かつ前記回折Ｘ線の回折角が前記回折Ｘ線の波長の増加関数となる関係を有する周期性構造体と、前記周期構造体によって回折された回折角の異なる回折Ｘ線を分離して、前記回折Ｘ線から所定の波長の回折Ｘ線を選択して取り出すためのスリットとを具備するＸ線分光システム。 （もっと読む）

【課題】簡易な方法で接触子の表面の状態を測定することができる碍子型ガス絶縁開閉装置の電気的接続部材の表面検査方法を提供する。
【解決手段】 碍子型ガス絶縁開閉装置１０の電気的接続部材の表面検査方法では、可動接触子２３の先端から突出部材２６を突出させ、突出部材２６の先端と、固定側接触部２５の先端との間を所定の距離とし、突出部材２６と固定側接触部２５との間に電圧を印加して、突出部材２６の先端部から部分放電５０を生じさせる。部分放電５０により発生したＸ線の、可動接触子２３の先端部および固定側接触部２５の先端部からの反射波を、容器２１の外部に設けたＸ線検知部４０で検知する。検知結果に基づいて、可動接触子２３の先端部および固定側接触部２５の先端部の表面の状態を評価する。 （もっと読む）

【課題】櫛形タイプの冷却フィンを備えた熱交換器であっても、パワーモジュールに使用して、Ｘ線検査によりボイドを正確に検出すること。
【解決手段】パワーモジュール２の熱交換器１は、ケース３と、ケース３に収容された櫛形タイプの冷却フィン４と、ケース３の上面に接合剤１０により接合されたヒートスプレッダとを備える。ＩＧＢＴ６は、ヒートスプレッダの上面に接合剤１０により固定される。冷却フィン４は、平板状のベース部４ａの下面から複数のフィン部４ｄが互いに隙間９を置いて平行かつ斜めに突き出している。冷却フィン４は、複数のフィン部４ｄにつき、隣り合う一方のフィン部４ｄ１の先端４ｅと他方のフィン部４ｄ２の基端４ｆとが同じ幅Ｗ２を有すると共に、ベース部４ａの上面及び下面と直交する方向に重なるように配置される。 （もっと読む）

【課題】
多元素同時分析を可能とし、運転に必要とされる洗浄作業や消耗品交換の保守作業を低減し、測定データをオンライン伝送する水質管理システムにも好適な蛍光Ｘ線水質計を提供する。
【解決手段】
測定試料の一部は脱泡槽１４の下部からノズル１３に導かれ、大気中に噴出することでセル等を用いずに流束を形成し、Ｘ線発生素子５からＸ線を投影する。陰極電圧可変用電源装置６はＸ線発生素子５が発生するＸ線のエネルギーが測定目的の元素に固有の蛍光Ｘ線エネルギーより大きくなるように調整され、流束から放射される固有の蛍光Ｘ線を半導体Ｘ線検出素子７で検出し、信号処理装置９で処理することで測定試料中に含まれる複数の元素を同時に測定し、その測定データを管理センターに伝送することで水質管理システムを構成する。 （もっと読む）