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Fターム[2G001PA12]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 測定前後の試料の動き (2,337) | 自転 (321)

Fターム[2G001PA12]に分類される特許

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【課題】自由に動かすことのできない被検体に対し、観察部分の拡大率と透視方向を自由に操作性よく設定して透視する。
【解決手段】X線管2を位置決めするロボット7と、ロボット7を制御する制御部9と、X線検出器5を位置決めするロボット8と、ロボット8を制御する制御部10と、被検体1の着目点を基準とした被検体座標に基づいたX線焦点Fの位置と透過像の拡大率とに関する透視条件データを受け付けて、透視条件データを実現するためのロボット7の所定の姿勢、およびロボット8の所定の姿勢を計算し、それぞれ制御部9と制御部10に送信するデータ処理部11とより成り、被検体座標に基づいて透視方向と拡大率を変更する放射線透視検査装置。 (もっと読む)


【課題】 衝突危険領域を過大に設定することを防止し、スムースにX線透検査を行うことができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】 衝突危険領域設定部33は、X線測定光学系13が被測定物に接触する可能性のある衝突危険領域を設定するものであり、背景モデル作成部34と、外観形状抽出部35と、衝突危険領域算出部39とを備える。外観形状抽出部35は、背景モデル作成部34において作成された背景モデルと、回転ステージ14a上に被測定物Sを載置している状態で、回転ステージ14aを回転させながら光学カメラ16により撮影して得た複数の試料画像と、を比較することで被測定物Sの外観形状を抽出するものであり、外観形状候補作成部36と、影除去部37と、最適化部38とを有する。 (もっと読む)


【課題】シースの除去を伴う超電導フィラメントの検査を迅速かつ精度よく行うことができる超電導線材の検査方法を提供する。
【解決手段】超電導線材50は、超電導フィラメント10と、銀または銀合金から作られ超電導フィラメント10を被覆するシース20とを有する。硝酸を含有する第1のエッチング液により、シース20が厚さ方向に途中まで除去される。アンモニアおよび過酸化水素を含有する第2のエッチング液により、厚さ方向に途中まで除去されたシース20を除去することで、超電導フィラメント10が露出させられる。露出させられた超電導フィラメント10が検査される。 (もっと読む)


【課題】2次元検出器を用いた場合であっても極点図測定を正確に行うことが可能なX線回折装置を提供する。
【解決手段】X線回折装置は、X線源と、試料を保持し、移動可能な保持台と、試料から回折により出射されるX線を検出する2次元検出器と、X線源と保持台と2次元検出器とを制御する制御処理部とを備える。制御処理部は、記憶手段と演算手段(工程(S50))と極点図作成手段(工程(S70))とを含む。記憶部は、2次元検出器により複数の条件下で検出されたX線の複数の強度データを記憶する。演算手段(工程(S50))は、複数の強度データについて、それぞれの強度データに対応するX線の試料における吸収量の差を補正するように、強度データに対する補正演算を行う。極点図作成手段(工程(S70))は、補正演算された補正後の複数の強度データを用いて試料の極点図データを作成する。 (もっと読む)


【課題】 ダイナミックレンジが広くかつ密度分解能が高い屈折コントラスト型X線撮像方法を提供する
【解決手段】 被写体の密度分布に応じて、非対称結晶の非対称度を変化させることによって、入射X線と回折X線がほぼ比例する角度領域を広げ、回折X線強度が最大値の半分となる低角および高角の入射角度で測定を行う。 (もっと読む)


【課題】X線検査を効率的に実施することができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】対象物に欠陥を意図的に発生させたり、全ての検査位置(観察ポイント)に欠陥を持つ対象物を準備しなくとも、従来では固定であった基準画像に替えて、当該基準画像よりも後に得られるX線画像を新たに基準画像としてステップS10で置き換えることで、必要最小限の構成により、基準画像としてより適切なX線画像が得られた段階で基準画像のデータを改善して、X線検査を効率的に実施することができる。さらに、好ましくは、評価値として欠陥度合い(気泡の面積比率等)を採用し、ステップS4,S7で画像を当該評価値として数値化することによりX線画像を評価し、評価値に最も近い画像を基準画像として置き換えることで、基準画像を自動的に置き換えることができる。 (もっと読む)


【課題】複数の読取りヘッドを用いて回転ステージを所望の回転角度で高精度に回転させることができる定量移動装置を提供する。
【解決手段】回転ステージ2を回転させるサーボモータ4と、回転ステージ2又は回転ステージ2と一体に動く物体に設けられたスケール3と、スケール3を検知して信号を出力する複数の読取りヘッド8a〜8hと、複数の読取りヘッド8a〜8hの各出力信号に基づいて回転角度データの平均値を演算しその平均値を信号S1として出力するデータ処理部9と、回転角度の平均値の信号S1に基づいてモータ4の回転を制御するサーボアンプ6とを有する定量移動装置1である。 (もっと読む)


【課題】帯電粒子ビームの角状変位を判断し、高い側壁角度均一性の側壁を含むテストオブジェクトの複数の測定値に基づく帯電粒子ビームシステムを較正する為のシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】帯電粒子ビームの経路は、複数のビーム制御パラメータにより制御される。方法は、角状変位を実質的に減少させるパラメータを判断し、これらを適用して帯電粒子ビームシステムを較正する。 (もっと読む)


【課題】透過型電子顕微鏡法(TEM)研究に適した材料試料(TEM「薄片」)、特にHRTEM薄片(HR=高分解能)、その製造プロセス、及び当該プロセスを実行する装置。
【解決手段】TEM薄片を製造するプロセスは、厚さを有する板状基板を支持体に取り付けるステップ(S1)と、第1ストリップ状凹部を基板の第1面に、支持体に対して第1角度で、粒子ビームを用いて製造するステップ(S3)と、第2ストリップ状凹部を基板の第2面に、支持体に対して第2角度で、粒子ビームを用いて製造するステップ(S5)であって、第1ストリップ状凹部第2ストリップ状凹部が、薄肉の重なり領域を形成するようにする。薄片は、厚肉のリム領域及び薄肉の中央領域を有し、第1ストリップ状凹部を薄片の第1の平坦面に、第2ストリップ状凹部を薄片の第2平坦面に有し、第1凹部及び第2凹部は、相互に鋭角又は直角を形成する。 (もっと読む)


【課題】層状構造を有する被検体の断面像を短い断層撮影時間で得るCT装置を提供する。
【解決手段】層状構造を有する被検体5の断面像を撮影するCT装置であって、回転・昇降機構7とX線検出器3を制御して、第一の角度範囲で回転をさせつつ第一の角度間隔毎に検出された複数の透過像を第一のスキャンデータとして取り込んで記憶する第一のスキャン、および、第二の角度範囲で前記回転をさせつつ第一の角度間隔より小さな第二の角度間隔毎に検出された複数の透過像を第二のスキャンデータとして取り込んで記憶する第二のスキャンを実施するスキャン制御部9cと、第一のスキャンデータに基づいて、層面が放射線光軸Lと平行となる回転位置から±60°内にあって平行となる回転位置を包含する第二の角度範囲を設定する角度範囲設定部9dと、少なくとも第二のスキャンデータを用いて被検体5の断層撮影面に平行な断面像を再構成する再構成部9eとを有するCT装置。 (もっと読む)


【課題】X線が筺体の外部に漏洩してしまうのを防止することが可能なX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置100は、筺体910と、被検査物が載置される載置面を有する回転テーブル711と、回転テーブル711の上方に配置され、回転テーブル711で搬送される被検査物にX線を照射するX線源210と、X線源210から照射されるX線を検知するラインセンサ400と、X線が回転テーブル711の載置面とX線源210との間から筺体910の外部に漏洩するのを防止するX線漏洩防止部300とを備える。 (もっと読む)


【課題】透過型電子顕微鏡を用いて角層細胞間の微細構造の全体の詳細を簡便かつ明瞭に観察することができる角層細胞間の微細構造の観察方法を提供する。
【解決手段】透過型電子顕微鏡を用いた角層細胞間の微細構造の観察方法であって、皮膚面に対して垂直方向に切断面を有するように切り出した皮膚試料4に対して、角層細胞間脂質の層構造14の面内方向に電子線10が照射されるように、透過型電子顕微鏡用試料ホルダー上の、該皮膚試料を載せたグリッド1の向きを調整し皮膚試料の向きを調整する、角層細胞間の微細構造の観察方法。 (もっと読む)


【課題】層状構造を有する被検体の断面像を短い断層撮影時間で得るCT装置を提供する
【解決手段】層状構造を有する被検体の断面像を撮影するCT装置であって、X線管1により発生して被検体5を透過した放射線光軸Lを中心とするX線ビーム2を検出して透過データとして出力するX線検出器3と、被検体5とX線ビーム2とに放射線光軸Lを横切る方向の相対的な平行移動を与える平行移動機構7と、被検体5の撮影する層状構造の層面が放射線光軸Lに平行でかつ平行移動の方向に交差する姿勢で、平行移動をする間に所定の移動間隔毎に検出された透過データのみから放射線光軸Lと平行移動の方向で規定されるファン面に対する被検体5の断面像を再構成する再構成部11eとを有することを特徴とするCT装置。 (もっと読む)


【課題】効率的な試料表面検査システムを提供する。
【解決手段】試料の表面を平坦化する表面平坦化機構と、試料上に抵抗膜を形成する抵抗膜コーティング機構と、試料表面の評価を行う表面検査機構を備えている。表面検査機構は、紫外線発生源30と、電磁波を試料表面に斜め方向から導く光学系と、試料表面から放出された電子を試料表面に直交する方向に導く写像光学系40と、検出器50と、画像形成/信号処理回路60とを備えている。写像光学系は、3つのレンズ系41〜43と、アパーチャ44とを備えている。紫外線源の代わりにX線源を用いてもよい。また、電子線源から生成された電子線を試料の表面上に導く装置を設け、電磁波照射装置及び電子線照射装置の一方又は両方を駆動して、電磁波又は電子線の一方又は両方を試料の表面に照射するようにしてもよい。 (もっと読む)


【課題】、マスク上の欠陥とそれがウェハに及ぼす影響、修正による改善の程度まで推定可能な欠陥推定装置と欠陥推定方法を提供する。欠陥判定処理を容易にし、マスク上の欠陥とウェハ像への波及を推定可能な検査装置と検査方法を提供する。
【解決手段】マスク検査結果205のうち、欠陥箇所のマスク採取データは、模擬修正回路300に送られて模擬修正が行われる。模擬修正されたマスク採取データは、マスク検査結果205に戻された後、対応する箇所の参照画像とともにウェハ転写シミュレータ400に送られる。ウェハ転写シミュレータ400で推定されたウェハ転写像は比較回路301に送られ、比較回路301で欠陥と判定されると、その座標と、欠陥判定の根拠となったウェハ転写像とが、転写像検査結果206として保存される。マスク検査結果205と転写像検査結果206はレビュー装置500に送られる。 (もっと読む)


【課題】CT値のレベル変動や不均質が少ない着目部の断面像を得る。
【解決手段】X線管1と回転軸RAとの距離を変更して撮影倍率を設定し、被検体5について第一の撮影倍率で実施された第一のスキャンで得られた第一のスキャンデータと、被検体5の着目領域について第一の撮影倍率より大きな第二の撮影倍率で実施された第二のスキャンで得られた第二のスキャンデータとを入力し、再構成部9fを制御して、第一のスキャンデータからローパス処理を施した所定マトリックス数の着目領域の第一の断面像を作成し、第二のスキャンデータからハイパス処理を施した所定マトリックス数の着目領域の第二の断面像を作成し、第一の断面像と第二の断面像を加算して着目領域の合成断面像を作成する画像合成部9gとを有することを特徴とするCT装置。 (もっと読む)


【課題】屈折コントラスト法に替わるX線撮像装置およびX線撮像方法を提供する。
【解決手段】被検知物によるX線の位相変化を用いて撮像するX線撮像装置であって、X線発生手段101から発生したX線を空間的に分割する分割素子103と、分割素子により分割されたX線の入射により第1の蛍光を生じる第1の蛍光体が複数配列された第1の蛍光体アレイ105と、第1の蛍光体アレイを透過したX線の入射により前記第1の蛍光とは異なるスペクトルを有する第2の蛍光を生じる第2の蛍光体が複数配列された第2の蛍光体アレイ106と、前記第1の蛍光と前記第2の蛍光を検出する検出手段107と、を有し、第2の蛍光体は、前記X線の入射位置の変化に応じて蛍光の発光量が変化する発光量勾配を有する。 (もっと読む)


【課題】測定試料の結晶品質が著しく劣化し、twist分布に起因したピーク拡がりが著しく大きくなる場合にも、twist分布に起因したピーク拡がりを同定する結晶の構造解析方法を新たに提供する。
【解決手段】X線受光器12の位置は固定し、試料14のみを回転させるωスキャンモードを用いて、X線回折測定を行うことにより、横軸がスキャン角度Δθで縦軸がX線強度を表すhkl反射プロファイルを求め、求めたhkl反射プロファイルについて、再規格化工程、形状解析工程及び判定工程を適用して、ピーク拡がり形状が結晶のモザイク性により生じる局所的なtwist分布に起因して生じる形状か否か判定する。 (もっと読む)


【課題】挿入端子を有する電子部品が実装されたプリント基板に対して、安価に精度良く良否判定を行う。
【解決手段】プリント基板20にX線を照射するX線照射ステップと、X線照射ステップにおいて照射しプリント基板20を透過したX線を検出するX線検出ステップと、X線検出ステップにおいて検出したX線に基づいて、スルーホール21の複数位置での水平断面画像を生成する断面画像生成ステップと、断面画像生成ステップにおいて生成した水平断面画像に基づいて、半田上がり高さを検出する検査ステップと、検査ステップにおいて検出した半田上がり高さに基づいて、半田付け状態を判定する判定ステップとを有する。 (もっと読む)


【課題】画像処理時間を短縮して短時間で溶接部を検出することができる溶接部検出装置及び溶接部検出方法を提供する。
【解決手段】溶接部を有する測定対象に対して放射線を照射する放射線源と、該放射線源から前記測定対象を透過した放射線を所定範囲で撮影し、撮影画像信号を出力する放射線撮影手段と、該放射線撮影手段から出力される撮影画像信号を処理して溶接部を検出する溶接部検出手段とを備えた溶接部検出装置であって、前記溶接部検出手段は、前記放射線撮影手段から出力される撮影画像信号から溶接線方向に所定距離離れた少なくとも2個所の当該溶接線方向と交差する線画像情報を切り出す画像情報切り出し手段と、該画像情報切り出し手段で切り出した各線画像情報を2値化処理する2値化処理手段と、該2値化処理手段で処理された2値化処理画像に基づいて溶接部を特定する溶接部特定手段とを備えている。 (もっと読む)


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