【課題】 γ線を効果的に遮蔽して円滑に検査を行うことができる爆発物検査装置を提供する。
【解決手段】 手荷物３に対して中性子を照射する中性子発生管１１と、照射された中性子によって発生するγ線を検出するγ線検出器１３と、γ線検出器１３の検出結果から爆発物の有無を判定する爆発物判定部とを備えた爆発物検査装置である。手荷物を設置する際には開位置に位置するとともに検査時には閉位置にて密閉空間を形成する開閉蓋９と周壁部７によって、手荷物３から発生するγ線を遮蔽する。手荷物３が載置されるとともに、手荷物を設置位置から検査位置まで移動させるテーブルを備えている。 （もっと読む）

【課題】移動式処理機により生成される処理物の品質向上に寄与することができる移動式検査機を提供する。
【解決手段】被処理物の発生現場にて移動式処理機の被処理物又は処理物を検査する移動式検査機であって、下部車体上に設けた動力装置及びホッパと、ホッパの下方位置から延在するコンベヤ４０と、ホッパに受け入れた被検査物の検査データを検出する検出部５００と、検出部５００よりも下流側の位置で被検査物をコンベヤ４０上から除去する選別装置６０と、検出部５００で検出された検査データを基に算出された被検査物の特徴量を記憶部５９２から読み出した設定値と比較し、コンベヤ４０上の被検査物の品質の良否を判定する判定部５６４と、判定部５６４から入力された品質不良の被検査物の情報を基に選別装置６０を制御する選別装置コントローラ５８０とを備える。 （もっと読む）

【課題】即時的かつ連続的にＣＳＧ材の表面水率を得ることを可能とする表面水率測定システム及び表面水率測定方法を提供する。
【解決手段】表面水率測定システム１は、ＣＳＧ材が搬送される搬送路Ａ１を画成する排出筒部３３と、中性子線を出射する出射ユニット２１ａと、出射ユニット２１ａからの中性子線を入射させる入射ユニット２１ｂと、を有し、排出筒部３３内のＣＳＧ材に放射線を透過させてＣＳＧ材の含水量を測定するＲＩ水分計２１と、を備えている。出射ユニット２１ａ及び入射ユニット２１ｂは、それぞれ排出筒部３３の外壁面３３１，３３２に設置されており、稜線Ｅ１を挟んで近接している。 （もっと読む）

【課題】検査対象物のＸ線透視方向を最適に変更することにより、検査対象物を良好に検査および観察することができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】検査対象物が載置されるテーブルを有するベース部材と、検査対象物に対してＸ線を放射するＸ線発生点と、検査対象物を透過したＸ線を検出するＸ線画像検出手段と、ベース部材の前方両側に左右対称に配され、第１可動支点を介してベース部材を支持し、第１固定支点を介してフレームに固定される第１リンクバー部材と、ベース部材の後方両側に左右対称に配され、一端部で支持バー部材を介してＸ線画像検出手段を支持し、中間部で第２可動支点を介してベース部材を支持し、他端部で第２固定支点を介してフレームに固定される第２リンクバー部材と、テーブルの鉛直方向位置を調整する観察中心点調整手段と、ベース部材を揺動させる旋回駆動手段とを備えた。 （もっと読む）

【課題】操作者の熟練度に頼ることなく、再構成演算により算出された浮動小数点フォーマットの画素の濃淡データを、整数フォーマットの輝度データに変換するための１次変換係数を常に最適に設定することができ、もって常に高いコントラストの見やすい断層像を表示することのできる放射線断層撮像装置を提供する。
【解決手段】再構成演算により算出された浮動小数点フォーマットからなる画素の濃淡データから、最大値と最小値等の特徴値を抽出し、その特徴値を用いて最適な１次変換係数を自動的に算出して設定する。例えば濃度データの最大値を最大輝度値またはその近傍、最小値を最小輝度値またはその近傍となるような１次変換係数を算出することで、常に高いコントラストの断層像の表示を可能とする。 （もっと読む）

【課題】 ビニング処理を実行するか否かの選択等によって、画像データの画素数を切り替えても、所望の画像処理を実行し続けることができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 標準画像データを作成する標準画像データ作成部３１と、複数個のブロック画素からなる画像を示すビニング画像データを作成するビニング処理制御部３２と、標準画像データかビニング画像データのいずれを作成させるかを決定する画像データ決定部３５と、コンボリューションフィルタを用いて所望の画像処理を実行するコンボリューションフィルタリング処理制御部３６とを備えるＸ線検査装置１であって、コンボリューションフィルタリング処理制御部３６は、画像データ決定部３５で標準画像データを作成させると決定されるに伴い、標準画像データ用コンボリューションフィルタに切り替え、一方、ビニング画像データを作成させると決定されるに伴い、ビニング画像データ用コンボリューションフィルタに切り替えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ハーフスキャンやヘリカルスキャンで得られる被検体からの透過データを用いて、短い計算時間で真の回転中心を求めることにある。
【解決手段】放射線源１と、被検体４を通して放射線ビームを検出する放射線検出器３と、この放射線ビームに対して被検体を相対回転させる回転手段５，１３と、１回転に満たない被検体の相対回転の間に得られる被検体の多数の透過データの集まりのサイノグラム上で回転の方向に連なる多数点での透過データの加算値と、仮想回転中心の設定により決まる前記多数点とそれぞれ逆向きの放射線経路をなす多数点での透過データの加算値との相関を仮想回転中心を変えながら求め、当該相関が最良となる仮想回転中心を回転中心とする回転中心求出部２０Ｂと、放射線検出器３で検出される多数の透過データから被検体の断層像を得る再構成部２０Ｃとを備えたコンピュータ断層撮影装置である。 （もっと読む）

【課題】ウェハに打ち込んだイオンの影響や、パターン接続の有無、パターンエッジの形状などの影響による検出画像誤差を生じることなく画像を検出する。
【解決手段】パターン検査方は、対象物基板を撮像してディジタル画像を得、このディジタル画像を用いて予め座標データで登録した領域、又は予め登録したパターンと一致するパターンをマスクして欠陥を検出し、この検出した欠陥を表示するようにした。又本発明によるパターン検査方法においては、対象物基板を撮像してディジタル画像を得、このディジタル画像を用いて欠陥を検出し、この検出した欠陥のうち登録した特徴に一致する欠陥の表示非表示を切替えるか他と識別可能なように表示するようにした。 （もっと読む）

【課題】３次元的にスキャン領域を広げて被検体の３次元画像を再構成する。
【解決手段】 放射線源１と、被検体２を透過してくる放射線ビームを検出する放射線検出器４と、放射線ビームと端部付近で交差する回転軸に対し、被検体を、前記放射線ビームに対して相対的に回転させ、かつ、回転軸の方向に相対移動させるヘリカルスキャン手段５，７と、このヘリカルスキャンの間に検出された多数の透過画像から、回転軸を中心として片側が放射線ビームに包含される半径の円柱領域をスキャン領域とし、当該スキャン領域内の被検体の３次元画像を再構成処理する再構成処理手段８ｅとを設けたコンピュータ断層撮影装置である。 （もっと読む）

【課題】試料の元素分析機構を、試料を観察する顕微鏡機構に搭載してなる複合的な元素分析装置において、試料を顕微鏡機構及び元素分析機構の双方に最適な位置及び角度に容易且つ性格に調整し、顕微鏡像と元素分析機構の３次元情報とを正確に対応させて、３次元再構築時のスケールや検出効率の不足を容易に補正し、高精度な元素分析を行う。
【解決手段】試料１１が設置される試料ホルダ３１にＸ軸方向、Ｙ軸方向及びＺ軸方向への各平行移動と、Ｘ軸回り及びＹ軸回りの各回転移動とを行う機能（第１の移動部３５）を付加することに加えて、試料１１から離脱した元素を検出する位置敏感型検出器３に、電子顕微鏡機構における光軸と一致するＺ軸回りの回転移動を行う機能（第２の移動部２６）を付加する。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線回折法に基づいて硬組織を評価する際に、硬組織を破壊することなく測定を行うことができるようにし、もって、硬組織の評価を簡単且つ短時間で行えるようにする。
【解決手段】Ｘ線源１から出射したＸ線を硬組織４に入射させ、硬組織４で回折して硬組織４の透過側に出射したＸ線をＸ線検出器５で検出する硬組織の評価方法である。Ｘ線源１はＭｏＫα線以上のエネルギを有する特性Ｘ線を発生し、硬組織４は自身の長手方向にｃ軸配向した性質を有し、硬組織４は自身の長手方向がＸ線の光軸と交差するように配置され、Ｘ線検出器５はｃ軸に対応する格子面である（００２）面で回折した回折線の子午線Ａ−Ａ方向の強度を検出し、さらにＸ線検出器５は参照面である（３１０）面で回折した回折線の子午線Ａ−Ａ方向の強度を検出し、参照面と（００２）面の回折線強度との比較に基づいて硬組織を評価する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、液体物品のパッケージを開けないままその液体物品に麻薬が隠れているかを判断することができる、液体物品に隠れている麻薬を検査する方法及び装置を開示している。
【解決手段】前記方法は、放射線ビームを発生して前記液体物品を透過させるステップと、前記液体物品を透過した放射線ビームを受け取って多角度投影データを形成するステップと、前記液体物品の均一性に基づき、前記多角度投影データに対して逆演算を行うことにより、被検液体物品の属性値を計算して取得するステップと、前記液体物品の識別情報を索引として、予め作成したデータベースから参照属性値を検索し、計算した属性値と参照属性値との差分値を算出するステップと、前記差分値が所定の閾値より大きいかを判断するステップと、を含み、前記差分値が所定の閾値より大きい場合には、前記液体物品に麻薬が隠れていると認める。 （もっと読む）

【課題】 被写体の関心領域の断層像を得るためにＣＴ撮像するべき位置を、三次元的に把握することができるＸ線ＣＴ装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線測定光学系１３と、テーブル１４と、テーブル駆動機構１６と、入力装置２２と、表示装置２３と、ＣＴ撮影を実行するＣＴ撮影実行部３４と、ＣＴ撮影された透視Ｘ線画像データを用いて、被写体の断層画像を再構成する再構成演算部３５とを備えるＸ線ＣＴ装置１であって、被写体の第一の透視Ｘ線画像２４ａと第一の透視Ｘ線画像２４ａと異なる方向の第二の透視Ｘ線画像２４ｂとを含む少なくとも二面の透視Ｘ線画像である試し撮り透視Ｘ線画像２４の一部の領域が、目的撮像領域２７として入力装置２２で指定されることにより、目的撮像領域２７を示す目的撮像領域データを記憶部２５に記憶させるデータ記憶制御部３０とを備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】検査開始前に行われる放射線照射領域と放射線検出領域との位置姿勢関係を調整する作業の労力を低減又は不要として、検査効率の向上を図ると共に放射線画像の画質の向上を図ることができるモバイル放射線検査装置を提供する。
【解決手段】車両２と、検査対象物Ｃに放射線Ｂを照射する放射線照射部１０と、検査対象物Ｃを透過した放射線Ｂを検出する放射線検出部３０と、車両２に対して姿勢変化自在に車両２に設けられると共に、放射線照射部１０及び放射線検出部３０を対向した状態に支持するブーム構造体７と、を具備する。 （もっと読む）

毛髪試料分析システムであって、該システムは、容器内に位置する複数の試料列と、上記容器から個々の列を取出し、上記試料列の毛髪試料を第１概略位置に付勢する自動駆動機構と、該駆動機構を調節して前記試料をＸ線回折ビームと略一致させるよう配置するモニタリング及び制御システムと、を備え、上記試料を、上記Ｘ線回折ビームと略一致させるよう配置し、上記試料に上記ビームを所定時間照射し、上記毛髪試料を照射する上記ステップから得たデータを、分析するために受信し、保存し、上記試料列を、上記容器の元の位置に戻し、上記試料容器から別の列を取出し、上記ステップを連続する列に対して繰り返すこと、を特徴とする毛髪試料分析システム。 （もっと読む）

【課題】スピン偏極走査電子顕微鏡において、２次電子収集効率やスピン偏極度を維持しながら、試料に１ｋＯｅレベル以上の高磁場を印加しながら測定できる装置を提供する。
【解決手段】電子銃から出射される１次電子線を磁性体試料２０２に照射する照射光学系と、試料を載置する試料載置手段と、１次電子線の照射により試料から放出される２次電子を搬送する搬送光学系と、搬送された２次電子のスピン偏極度を信号として検出するスピン検出器とを有し、スピン偏極度にかかる信号をもとに試料の磁区像を観察するスピン偏極走査電子顕微鏡において、試料載置手段は、試料に磁界を印加する磁場印加機構２０３、２０６、２０７を有し、該磁場印加機構は、１次電子線および２次電子２１０が通過する開口部を備えた磁気シールド部材２０３を有し、該磁気シールド部材を試料の電子銃側表面に配置して、試料面上の浮遊磁界を封じるようにしたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 被検体の着目点高さが未知であっても、確実に視野ずれをなくすことにある。
【解決手段】 Ｘ線源１と、テーブル２に載置された被検体３の着目点の透過像を検出するＸ線検出器４と、Ｘ線検出器４を移動させる移動機構６と、テーブル２を平行移動させる移動機構８と、データ処理部５とを備え、このデータ処理部５は、着目点までの推定高さを入力する推定高さ入力手段１７と、Ｘ線源とＸ線検出器との距離とＸ線源と着目点との距離との比である透過像の拡大率を設定する拡大率設定手段１１，１５ａと、Ｘ線の光軸が所要傾斜角度となるようにＸ線検出器を制御する移動制御手段１８と、拡大率と傾斜角度と推定高さをパラメータとし、テーブル２の移動位置を計算し、テーブルを移動制御する視野ずれ補正手段１１，１５ｂと、透過像上の着目点のずれ量に基づき、着目点の真の高さを求める高さ修正手段１１，１５ｃとを設けたＸ線透視検査装置である。 （もっと読む）

【課題】検査対象物の所定の検査エリアを選択的に高速に検査することができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線検査装置１００は、Ｘ線を出力する走査型Ｘ線源１０と、複数のＸ線センサ２３が取り付けられ、回転軸２１を中心に回転するセンサベース２２と、センサベース２２の回転角やＸ線センサ２３からの画像データの取得を制御するための画像取得制御機構３０等を備える。走査型Ｘ線源１０は、各Ｘ線センサ２３について、Ｘ線が検査対象２０の所定の検査エリアを透過して各Ｘ線センサ２３に対して入射するように設定されたＸ線の放射の起点位置の各々に、Ｘ線源のＸ線焦点位置を移動させてＸ線を放射する。画像制御取得機構３０はＸ線センサ２３が検出した画像データを取得し、演算部７０はその画像データに基づき検査エリアの画像の再構成を行なう。 （もっと読む）

【課題】迅速かつ簡便に、また試料の損傷を抑えながら最適な観察条件を見出して試料観察を可能にする試料観察条件設定方法及び装置、並びに試料観察方法及び装置を提供する。
【解決手段】本発明による試料観察条件設定は、電子線装置によって、基準となる観察条件の下、試料の所定の評価箇所におけるプロファイルを取得し、処理部が、上記取得されたプロファイルが所定の設定範囲内にあるか否かを判定し、この判定結果に基づいて、試料観察に用いる最適な観察条件を設定することによって実現される。より具体的には、まずあらかじめ条件検討可能な箇所を登録した後、該当する場所に移動し低倍率で電子線照射（以下プレドーズ）を行い、試料表面を帯電させた後、観察倍率に拡大して対象箇所の二次電子情報を得る。その後プレドーズを行いながら随時二次電子情報を得、その情報からパターン底部が観察・測定可能な状態であるかまた試料の破壊が発生しないかを逐次判断し、最適な観察条件を見出すものである。 （もっと読む）

【課題】
パッケージに封入された結晶試料の形状を非破壊で評価できる技術を提供する。
【解決手段】
結晶試料の形状評価方法は、（ａ）仮想ｘｙｚ直交座標系を有する空間の、ｘｙ面上に結晶試料を配置し、ｘｚ面に平行にＸ線を結晶試料上に照射し、結晶試料の所定結晶面からｘｚ面に平行に回折されるＸ線を検出するように、Ｘ線ソース、Ｘ線検出器を配置し、ｙ軸回りのωスキャンを行なって回折Ｘ線強度が最大となる角度ωを、結晶試料面内の位置の関数として検出する工程と、（ｂ）回折Ｘ線強度が最大となる角度ωを結晶試料のｘ軸方向に積分し、結晶試料のｘ軸方向の形状を評価する工程と、を含む。 （もっと読む）