【課題】液体試料だけでなくスラリー試料であっても、さらに液体中に浸漬した状態の固体粉末試料であっても、電磁波吸収測定により適切なデータが得られる試料測定用セル、及び電磁波吸収測定方法を提供すること。
【解決手段】電磁波透過性の材料で形成された２つの窓を相対する位置に有し、２つの窓の間に試料を存在させることが可能な電磁波通過部位と、電磁波通過部位の下方に設けられた、内部の液体を撹拌可能な攪拌手段を有する撹拌手段設置部位と、を有するセル構造を為しており、（１）セル構造内の電磁波通過部位の上方に、少なくとも１つの空孔を有する仕切り板を有する、又は（２）セル構造内の電磁波通過部位に、固体粉末試料を所定の電磁波通過長となるように配置可能でかつ固体粉末試料中に液体が浸透可能な試料容器を有する、試料測定用セル。 （もっと読む）

【課題】金属帯上に塗布されるワックスの付着量を短時間で正確に測定することを可能としたワックス付着量測定方法を提供する。
【解決手段】本発明のワックス付着量測定方法は、ワックスが付着された金属帯を、500〜950℃の温度で熱処理し、該熱処理前後の金属帯上の炭素量の差からワックスの付着量を求めることを特徴とする。さらに、蛍光Ｘ線分析法を用いて、熱処理前後の金属帯上の炭素量の差を求めることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】 従来では測定試料として作製することが困難であった粗くて硬い粉体を試料についても、均一な成形体とすることができる蛍光Ｘ線分析用試料の作製方法及びその作製に用いる加圧成形治具を提供することである。
【解決手段】 鏡面を有する２つの加圧片２０ａ，２０ｂのうちの一方の加圧片の鏡面と、第１の粉体保持リング２２の内周面とで囲まれた空間に試料成形用補助粉体を供給し、平板層状の下地層を形成する工程、該平板層状の下地層の表面と前記第１の粉体保持リングの内側に所定の間隔を隔てて配置される第２の粉体保持リング２４の内周面とで囲まれた空間に、被分析用試料粉体を供給し平板層状の試料層を形成する工程、及び前記平板層状の下地層と前記平板層状の試料層と少なくとも第２の粉体保持リング全体とを、前記２つの加圧片の鏡面により同時に加圧成形する工程を含む蛍光Ｘ線分析用試料の作製方法である。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】 結晶の高解像度三次元再構成を達成する方法で、結晶を微結晶に粉砕し、微結晶の試料をクライオＴＥＭ用にガラス状にし、傾斜系列を記録し、ＦＢ＋ＣＯＭＥＴ法を用いて最初の三次元再構成を得る工程を特徴とする技術で知られる方法で結晶を成長させる工程からなる方法。試料が高品質であれば、反復構造と、可能であれば、結晶の空間群が決定される。空間群が決定されれば、第二の三次元再構成が空間群についての情報をも含めて得られる。結晶の高解像度三次元再構成を達成する方法で、結晶を微結晶に粉砕し、微結晶の試料をクライオＴＥＭ用にガラス状にし、傾斜系列を記録し、ＦＢ＋ＣＯＭＥＴ法を用いて最初の三次元再構成を得る工程を特徴とする技術で知られる方法で結晶を成長させる工程からなる方法。試料が高品質であれば、反復構造と、可能であれば、結晶の空間群が決定される。空間群が決定されれば第二の三次元再構成が空間群についての情報をも含めて得られる。本発明の方法によれば、１ｎｍオーダでの高解像度三次元再構成を達成するために、微結晶を使用することができる。
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【課題】 単結晶試料の結晶方位を高精度に測定する。
【解決手段】 後方散乱電子線回折パターン法（ＥＢＳＰ法）を用いて、同じ試料座標上で外形形状と結晶方位の位置関係が明確な基準試料を用いて比較測定する事で、被検体の外形形状と結晶方位の位置関係を明確にする。 （もっと読む）

【課題】 単結晶試料又は配向性が高い多結晶試料であっても、電子後方散乱回折像のコントラストを改善することができる方法を提供する。
【解決手段】 試料の観察領域以外の領域にイオンビームを照射して結晶性を劣化させた劣化領域を形成する（ステップＳ１２）。その後、劣化領域における電子後方散乱回折像を撮像する（ステップＳ１３）。さらに、試料の観察領域における電子後方散乱回折像を撮像する（ステップＳ１４）。最後に、各回折像の間で、同一画素毎に回折強度の差を算出することにより回折像のコントラストを改善する（ステップＳ１５）。 （もっと読む）

【課題】 浮遊粒子状物質中の元素状炭素、有機炭素および水分を連続的に測定することを可能にする浮遊粒子状物質の連続測定装置を提供する。
【解決手段】 連続測定装置１は、連続的に送給される捕集フィルタ４上に、浮遊粒子捕集手段２によって大気中で浮遊する粒子状物質を捕集し、捕集された浮遊粒子状物質３を容器６内へ捕集フィルタ４とともに送給し、光源９から出射されて浮遊粒子状物質３を透過した光の吸光度を検出器１１によって測定する。吸光度の検出に際しては、捕集されたままの状態にある浮遊粒子状物質３透過光の吸光度と、減圧雰囲気下で加熱された後の浮遊粒子状物質３透過光の吸光度とが、検出される。加熱前後の吸光度を用いて演算手段１２が、浮遊粒子状物質３中の元素状炭素、有機炭素および水分の定量値を算出する。 （もっと読む）

【課題】薄層の積層構造を有する分析試料中の薄層測定層の元素組成を決定することをすることができる方法および装置を提供する。
【解決手段】本発明は、薄層の積層構造を有する分析試料に斜めエッチングまたは斜め研磨を行なって、測定層を露出させる工程；電子線照射によって、露出させた測定層から特性Ｘ線を励起させる工程；測定層からの特性Ｘ線のみを検出する工程；および検出した特性Ｘ線から元素組成を決定する工程からなる薄層の分析方法を提供する。本発明はまた、照射手段；試料保持手段；入射Ｘ線調整手段；および、Ｘ線検出手段を備える特性Ｘ線分析装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】 液体を収容した容器内に沈殿している異物の有無を正確に判定することのできるＸ線異物検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線源１とＸ線検出器２とを水平に対向させ、容器内に液体を収容した被検査物を搬送手段３，４によりこれらの間を通過させることによって被検査物ＷのＸ線透過情報を得るＸ線異物検査装置において、搬送手段３により搬送される被検査物Ｗに対して振動を与えて、容器中に沈殿している異物を液中に浮遊させた状態でＸ線透過情報を得ることによって、容器底部のＸ線透視像Ｓｂと異物ＳのＸ線透視像Ｓｓとを離隔させた状態とし、異物Ｓの有無の判定を容易化する。 （もっと読む）

【課題】 表面より十分に深い位置にまで欠陥を有する試料であっても、欠陥の有無を的確に評価できる試料内部欠陥の評価方法を提供すること。
【解決手段】 本発明は、モリブデンを含むモリブデン含有溶液に試料を浸漬する浸漬工程と、試料が浸漬されたモリブデン含有溶液を減圧する減圧工程と、試料を乾燥する乾燥工程と、試料中の前記モリブデンの分布を検出する検出工程とを含む試料内部欠陥の評価方法である。 （もっと読む）

【課題】 成形品に形成された気孔に、特定のマーカー元素を分子内に有する樹脂を含有する樹脂組成物を充填した後、その形状を実質的に維持した状態で固形化して、このマーカー元素を検出することにより、成形品の表面や内部における気孔の分布を精度よく分析する方法を提供する。
【解決手段】 樹脂材料又は樹脂成形材料の成形品に形成された気孔の分布状態を分析する方法であって、
（ａ）ホウ素、窒素、フッ素、ケイ素、リン、硫黄、塩素、臭素、ヨウ素から選ばれるマーカー元素を分子内に有する樹脂を含有する樹脂組成物を、上記気孔内に充填する第１の工程と、
（ｂ）上記気孔内に充填された樹脂組成物を、その形状を実質的に維持して固形化する第２の工程と、
（ｃ）上記固形化した樹脂組成物中のマーカー元素を検出することにより、上記成形品に形成された気孔の分布状態を分析する第３の工程と、
を有することを特徴とする、成形品の気孔分布の分析方法。 （もっと読む）

【課題】 被検査物を均一な層厚で安定供給できるならし方法を実現し、被検査物を連続的に安定供給可能な構成簡素な被検査物のならし装置およびＸ線異物検出システムを提供する。
【解決手段】 搬送路２１を搬送される粘ちょう性の被検査物にＸ線を照射し、透過Ｘ線量に基づいて被検査物中の異物を検出するＸ線異物検出装置２０の搬送路２１の上流側に配置される被検査物のならし装置５０であって、外部から圧送供給される被検査物を取り込む導入部と、搬送路２１と平行な一対の平行壁面および該平行壁面の両端部同士を連結する連結壁面が形成され、導入部からの被検査物を導入部内とは異なる所定の断面形状で吐出する吐出口部と、を有する吐出ノズル５１を備え、その吐出口部は、被検査物の搬送路上の層厚に対応する一定の開口高さおよび該高さより大きい開口幅を有する横長の吐出口形状を有している。 （もっと読む）

【課題】 数十ｍｇ程度の微量の粉体試料について蛍光Ｘ線分析で軽元素の測定ができ、かつ分析後に試料を容易に回収できる前処理方法を提供する。
【解決手段】 微量の粉体試料１Ａを蛍光Ｘ線分析に供するために１枚の高分子フィルム２とともにその高分子フィルム２の厚み方向に加圧成形して前記高分子フィルム２に付着させる。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、結晶表面層における結晶の歪みを、直接かつ確実に評価することができる結晶表面層の結晶性評価方法を提供する。
【解決手段】 Ｘ線回折法を用いて、結晶１の表面１ｓから深さ方向への結晶性の変化を評価することにより、結晶表面層の結晶性を評価する方法であって、結晶の一つの結晶格子面に対する回折条件を満たすように、連続的にＸ線侵入深さを変えて結晶にＸ線を照射して、この結晶格子面についての回折プロファイルにおける面間隔および回折ピークの半価幅ならびにロッキングカーブにおける半価幅のうち少なくともいずれかの変化量を評価することを特徴とする結晶表面層の結晶性評価方法。 （もっと読む）

【課題】 試料表面の平滑性が求められる分析において、粉体であっても容易に測定用試料を製造することができ、測定効率の向上を可能とする粉体ホルダ、測定用試料製造方法及び試料分析方法を提供すること。
【解決手段】 本発明の粉体ホルダは、基台部と、基台部上に設けられた粉体保持部と、を備え、粉体保持部が、粉体保持部の基台部と反対側に粉体を収容する粉体収容孔を少なくとも１つ有し、粉体保持部の硬度が、基台部の硬度よりも小さい。 （もっと読む）

【課題】 カーボンナノチューブ集合体を形成する各単層カーボンナノチューブの特性を効率的且つ精度良く測定して解析する。
【解決手段】 バンドル状のカーボンナノチューブ集合体とシクロアミロース溶液とを混合し、超音波処理を行うことで、単層カーボンナノチューブが分散して含まれるカーボンナノチューブ含有溶液を生成する。カーボンナノチューブ含有溶液を濾過してから回転している基板に滴下し、乾燥させることでカーボンナノチューブ薄膜を形成する。カーボンナノチューブ薄膜に均等に分散する単層カーボンナノチューブに対してラマン顕微分光方法を用いて単層カーボンナノチューブの特性を解析する。 （もっと読む）

【課題】
包埋材料に包埋する前の試料の状態を正確に分析することができる被検査物の断面分析方法を提供する。
【解決手段】
下記の（１）〜（３）の工程を含む被検査物の断面分析方法。
（１）試料表面に不活性層を形成する工程
（２）不活性層を形成した試料を包埋材料に包埋して被検査物を作製する工程
（３）被検査物を切断して断面を形成し、該断面を分析する工程 （もっと読む）

【課題】蛋白質結晶のＸ線結晶解析を行うに当たり、蛋白質結晶を崩壊させることなく、かつ該結晶を結晶母液のない状態で凍結させる。
【解決手段】一方の端部に内径５０〜１０００μｍの環状突起体を備えたキャピラリーに母液を含む結晶をすくい取り、母液を吸引除去すると同時に結晶を凍結し、環状突起を屈曲し、Ｘ線結晶回折測定を行う。 （もっと読む）

【課題】
本発明は、試料の内部Ｘ線画像を取得するとともに、電子顕微鏡の機能も実現できるようにする。
【解決手段】
電子鏡筒１の電子線を可動式のターゲット９により遮蔽し、Ｘ線を発生させることで、Ｘ線発生器を電子線発生器と共用させる。これにより試料への照射Ｘ線と照射電子線が同軸上に落射されるため、同一視野で試料内部情報、表面情報の両方を観察することができる。また、試料全体の内部形態情報を示すＸ線画像に目的部位１５の元素分布像を重ねがきして表示することも可能となる。機械的切断手段１０を備えているため、試料内部の電子線画像などを表示することも可能である。 （もっと読む）

【課題】 被測定物の形状が不揃い、かつ微量でも、測定精度良くかつ測定時間を短くすることを可能とする。
【解決手段】 物質測定装置は、被測定物を高温に熱し柔らかくする溶融ステーション３と、被測定物をプレスするプレスステーション４と、被測定物に含まれる物質を蛍光Ｘ線分析方法によって測定する測定ステーション５と、被測定物を前記各装置間で移動させる回転テーブル１とを備えている。 （もっと読む）