【課題】光学系21のフォーカスを自動的に調整できるＸ線イメージ管11における撮像装置20のフォーカス調整装置31を提供する。
【解決手段】光学系21のフォーカス状態を測定する指標となる治具32を、Ｘ線イメージ管11および撮像装置20を用いて撮像する。撮像したデータから、測定手段33がフォーカス状態を測定する。測定したフォーカス状態に応じて、制御手段34がフォーカス調整手段23により光学系21のフォーカスを調整する。 （もっと読む）

【課題】タンパク質結晶に損傷を与えることなく、かつ、簡便に、室温およびクライオ条件下でのＸ線回折実験に適用するためのタンパク質結晶試料の調製方法を提供する。
【解決手段】Ｘ線回折測定に適した大きさの結晶の流出を防止する絞り領域を有するキャピラリーを用いて、その内部で結晶化、クライオプロテクタント処理およびＸ線回折測定による回折データ収集までの一連の工程を行う。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線分析装置及びＸ線分析方法において、Ｘ線源を安定に挙動させ、定量分析を安定して行なうこと。
【解決手段】 １次Ｘ線を試料１に照射するＸ線管球３と、１次Ｘ線の強度を調整可能な１次Ｘ線調整機構４と、試料１から放出される特性Ｘ線を検出し該特性Ｘ線及び散乱Ｘ線のエネルギー情報を含む信号を出力するＸ線検出器５と、上記信号を分析する分析器６と、試料１とＸ線検出器５との間に配設されＸ線検出器５に入射される特性Ｘ線及び散乱Ｘ線の合計強度を調整可能な入射Ｘ線調整機構７とを備えている。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、食品等に残存する包装材片をＸ線検査装置によって検出可能とすると共に、残存包装材片がそのまま消費者の口に入ったとしても消費者に健康上の影響を及ぼさないようにすることにある。
【解決手段】発明に係る食品包装材は、本体及び低Ｘ線透過率物質を備える。低Ｘ線透過率物質は、本体の単位物理量当たりのＸ線透過率よりも低いＸ線透過率を有すると共に人体に対して無害であり、本体の表面に付されるか本体中に含有される。 （もっと読む）

【課題】化学反応により生成した結晶を、容易にかつ効率良く採取することができるキット及び方法の提供。
【解決手段】反応容器に挿脱自在の非磁性有底筒状体と、当該非磁性有底筒状体に挿脱自在な、かつ磁石又は磁性体を備えた挿入体と、反応液中に投入される磁石とから成る結晶採取キット；反応液中に磁石を投入するステップと、当該磁石を取り出すことなく結晶化せしめるステップと、結晶が付着形成された磁石を反応容器から取り出すステップとを有する結晶採取方法。 （もっと読む）

【課題】微量の液体試料を所定の部位に精度よく試料点滴基板上に点滴乾燥させている全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板および全反射蛍光Ｘ線分析装置ならびに全反射蛍光Ｘ線分析方法を提供し、液体試料の全反射蛍光Ｘ線分析の感度と精度を向上させることを目的とする。
【解決手段】液体試料を点滴乾燥させるための試料点滴基板であって、表面が疎水性であり、鏡面研磨の平面度を有する平面基板１５Ｋと、平面基板１５Ｋの表面の所定の部位に、合成樹脂を溶剤にて所定の濃度に溶解された合成樹脂溶液４０の所定量を点滴乾燥された合成樹脂点滴乾燥痕４１とを有する全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板１５。この全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板１５の合成樹脂点滴乾燥痕４１に試料溶液７０を点滴乾燥させて全反射蛍光Ｘ線分析を行う全反射蛍光Ｘ線分析装置およびその方法。 （もっと読む）

【課題】 被検査物を移動させながら行う検査において、被検査物中の異物を正確に検出することができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線を照射するＸ線源１と、Ｘ線源１と対向配置され、Ｘ線を検出して検出信号を出力するＸ線検出器３と、Ｘ線源１とＸ線検出器３との間で、被検査物７を載置し移動させるための被検査物載置部５と、Ｘ線検出器３のキャリブレーションデータを作成して記憶させるキャリブレーションデータ作成部３１と、キャリブレーションデータに基づいて、被検査物７のＸ線透過像データを作成するＸ線透過像データ作成部３３とを備えるＸ線検査装置８０であって、キャリブレーションデータ作成部３１は、被検査物載置部５を所定の時間駆動しながら取得した複数の検出信号に基づいて、キャリブレーションデータを作成することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】高い分析精度を維持しつつ、非常に短時間で分析を行うことができるアスベストの定量分析方法を提供する。
【解決手段】被検試料Ｓに含まれるアスベストの回折線強度を求め、検量線に基づいてその回折線強度からアスベストの重量を求める定量分析方法である。アスベストの回折線強度を求める際、受光スリット５のスリット幅をアスベストの回折線幅と等しい幅に設定し、その受光スリット５及びＸ線検出器８をアスベストの回折線角度位置（２θ）に停止させた状態でＸ線検出器８によって所定時間、回折線を計数する。受光スリット５及びＸ線検出器８のスキャンによってアスベストの回折線強度を測定することに比べて、測定時間を大幅に短縮できる。 （もっと読む）

【課題】キャピラリーの回転ぶれを簡便に抑制することができるキャピラリー回転装置を提供する。
【解決手段】キャピラリー回転装置１０は、キャピラリーＣの先端部側から後端部側に向けて順に配置された第１案内部材１１と第２案内部材１２と第３案内部材１３と回転支持機構１４とを備える。回転支持機構は、キャピラリーの後端部を支持すると共に、キャピラリーを軸方向周りに回転させるように動作する。第１及び第３案内部材の凹溝はキャピラリーの同じ側面側に配置される一方、第２案内部材の凹溝は対向する側面側に配置され、少なくとも回転支持機構によってキャピラリーを軸方向周りに回転させる際、第１及び第２案内部材の凹溝の離間距離はキャピラリーの外径と略同等に設定される一方、第３案内部材の凹溝は該凹溝によってキャピラリーが第２案内部材の凹溝側に押圧されるように位置決めされる。 （もっと読む）

【課題】種々の形状の試料に対応した試料ホルダにより、試料より発生する蛍光Ｘ線の強度が最大になるようにＸ線源からの一次Ｘ線の照射位置を自動調整し、常に短時間で高感度、高精度の分析が行える斜入射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】環状の側部１１および底部１３を有する本体１８と、試料載置台１４と、試料載置台１４を支持し、その高さを調整する少なくとも３個の高さ調整具１５を有する試料ホルダ１と、試料ホルダの当接面１０４をセラミックスボール４７に押圧する押圧手段４０と、検出器３７が測定する試料Ｓより発生する蛍光Ｘ線３６の強度に基づき、Ｘ線管位置調整手段５５、分光素子位置調整手段５７および分光素子角度調整手段５８を制御する制御手段５６とを備え、試料Ｓより発生する蛍光Ｘ線３６の強度が最大になるようにＸ線源３からの一次Ｘ線３４の試料Ｓへの照射位置を自動調整する斜入射蛍光Ｘ線分析装置。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線回折の測定結果に悪影響を及ぼすことなく、ヒータの小型化が図れながら試料を加熱する均熱領域を広くできるＸ線回折装置を提供し、複数の試料に対して同時にＸ線回折測定が良好に行えるようにする。
【解決手段】試料が配置されるケーシング1と、ケーシング1内に配置された試料にＸ線を照射するＸ線照射器2と、試料を透過した回折Ｘ線を検出するＸ線検出器3と、ケーシング1内に配置され、このケーシング1内に配置された試料を加熱するヒータ4とを備える。ヒータ4は、試料に入射するＸ線（入射Ｘ線）の光軸の周りに、試料を囲むように配置する。ヒータ4は、試料を囲む筒状に形成したときは、筒部の中心軸が入射Ｘ線の光軸と平行となるように配置する。 （もっと読む）

【課題】試料基板交換時に、操作が簡単で、短時間に試料基板の分析面を検出器の受光面に対し常に一定の面間距離に精度よく設定し、正確で精度の良い分析を行うことができ、かつ安価な全反射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】試料基板１５に１次Ｘ線１４を照射するＸ線源２と、１次Ｘ線が照射される試料基板１５より発生する蛍光Ｘ線１６を検出する検出器１７とを備える全反射蛍光Ｘ線分析装置であって、試料基板１５の分析面１５ａに当接する当接部２７と当接部２７を保持する保持部２６とを有する当接手段２５と、試料基板の分析面１５ａを当接部２７に押圧する押圧手段２０とを備え、試料基板の分析面１５ａと当接手段の保持部２６の試料対向面との間隙を１次Ｘ線１４および試料基板で反射する反射Ｘ線１８のＸ線通路Ｌとする全反射蛍光Ｘ線分析装置。 （もっと読む）

【課題】被検体の目的位置を容易に透過画像の視野に入れることが可能なＸ線透視検査装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線源１とＸ線検出器３の間に配置されたテーブル５面をｘｙ方向に移動させる移動機構６と、テーブル５をＸ線源１とＸ線検出器３の方向に移動させる拡大率変更手段７と、所定の拡大率において複数の移動位置で得た透過画像から一つの合成透過画像を形成する画像合成手段１１と、表示部９に表示された合成透過画像上で位置を指定する位置指定手段１２と、指定された位置が透過画像に入るよう移動機構６を制御する移動制御手段１３を備え、所定の最低拡大率で視野に入りきらない被検体４に対して全体を含む所望の範囲の合成透過画像を得、合成透過画像上で所望の位置を指定することで、容易にこの位置が視野に入る透過画像を得る。 （もっと読む）

【課題】２次ターゲット26の交換を容易に可能とし、複数種類の特性Ｘ線25を容易に放出できるＸ線源11を提供する。
【解決手段】Ｘ線透過窓13を有する真空容器12内に、電子ビーム15を発生する電子銃14、電子ビーム15が入射して１次Ｘ線21を放出する１次ターゲット20を設ける。１次Ｘ線21は、真空容器12のＸ線透過窓13を透過する。真空容器12のＸ線透過窓13の外側を囲って、ボックス形の２次ターゲット体23を着脱可能に取り付ける。２次ターゲット体23は、Ｘ線透過窓13を透過する１次Ｘ線21が入射して特性Ｘ線25を放出する２次ターゲット26を備える。２次ターゲット体23には、特性Ｘ線25を外部に放出する特性Ｘ線取出窓27を設ける。 （もっと読む）

【課題】 既存技術よりはるかに安価に、かつ簡便に平面観察を行ってから観察後に断面を加工することができる試料作製方法を提供する。
【解決手段】 集束イオンビーム装置のチャンバ内で試料１をブロック状に切り出し、その試料ブロック（バルク）４を真空外に取り出して、マニピュレータの先端にセットしたガラスプローブ５に接触させて支持する。次に、バルク４を試料台である円筒状のピン６の先端にエポキシ樹脂で固定する。次に、平面観察用の薄膜試料をＦＩＢ加工により作製する。次に、内部の欠陥位置を２次元的にＴＥＭ／ＳＴＥＭで観察し同定する。その後、ピン６を手動で９０°回転させてから、欠陥部位を含む位置を断面加工する。 （もっと読む）

【課題】基底基準吸収回折法に基づいたＸ線回折定量装置において、基底板を改良することにより安定した再現性の高い測定データを得ることができるようにする。
【解決手段】物質Ｓが無いときに基底板３１で回折した回折線の強度と、物質Ｓを透過した後に基底板３１で回折した回折線の強度とによって物質ＳのＸ線吸収量を求め、Ｘ線を用いて測定した物質Ｓの重量をその求められたＸ線吸収量に基づいて補正する基底基準吸収回折法を用いたＸ線回折定量装置である。この装置は、物質Ｓを保持するフィルタ３３と、物質Ｓに照射するＸ線を発生するＸ線源Ｆと、物質Ｓで回折した回折Ｘ線を検出するＸ線検出器２０と、フィルタ３３におけるＸ線照射面の反対側に設けられた基底板３１とを有し、基底板３１のＸ線が照射される表面は結晶の配向性が低くなる処理、例えばサンドブラスト処理、ショットピーニング処理を受けている。 （もっと読む）

【課題】メッキ中の鉛含有量を容易に検出することができる分析技術を提供する。
【解決手段】金属基材、該金属基材上にメッキされた第１の金属成分と５重量％以下の鉛を含有するメッキ層と有するメッキ標準物質を用いて蛍光Ｘ線分析を行い、検量線を作成する。 （もっと読む）

【課題】酸・アルカリや有機溶剤などの環境下で使用でき，さらに検出部と線源との間に介在する水分による検出精度の低下を生じない放射線応用測定装置及びコンパクトにして放射線源と検出器が簡単に同一光軸上に設置できるような構造を持つ放射線応用測定装置を提供すること。
【解決手段】放射線源部３と該放射線源部３に対向して配置された放射線検出部５との間に検出対象空洞１を挟んで配置し，放射線源部３から放出され検出対象空洞１を通過した放射線を放射線検出部５で検出することにより検出対象空洞内１の検出対象物の特性を計測する放射線応用計測方法において，放射線検出部５と検出対象空洞１との間に，非吸水性で且つ熱伝導度が０．１W/m・K以下，望ましくは０．１W/m・K以下の部材１１を介在させて放射線を検出する。 （もっと読む）

【課題】試料に含有する硫黄を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、Ｘ線管からの連続Ｘ線による試料からの散乱Ｘ線および比例計数管のアルゴンガスによるエスケープピークを大幅に減少させることにより、極微量の硫黄の分析精度を向上させることを目的とする。
【解決手段】Ｘ線管からの一次Ｘ線を試料Ｓに照射し、試料Ｓから発生する蛍光Ｘ線を分光素子で分光しＸ線検出器で検出することにより、試料Ｓを分析する蛍光Ｘ線分析装置であって、クロムを含むターゲットを有するＸ線管１１と、Ｘ線管１１と試料Ｓとの間のＸ線通路に配置され、Ｘ線管１１からのＣｒ−Ｋα線に対し所定の透過率を有し、Ｓ−Ｋα線とＣｒ−Ｋα線のエネルギ間に吸収端が存在しない元素の材質によるＸ線フィルタ１３と、ネオンガスまたはヘリウムガスを含む検出器ガスを有する比例計数管１８とを備え、試料Ｓに含まれる硫黄を分析する蛍光Ｘ線分析装置１。 （もっと読む）

【課題】
Ｘ線ＣＴ装置の計測誤差を減少することにある。
【解決手段】
Ｘ線ＣＴ装置であって、該計測対象物の少なくとも二つの異なる高さに前記Ｘ線を透過させて任意の単一の前記断層像を得る手段を備える。又は、Ｘ線源から放出されるＸ線を計測対象物に透過させ断層像を得る手段と、該計測対象物の少なくとも二つの異なる高さに前記Ｘ線源を位置させ、前記Ｘ線を放出させて、任意の単一の前記断層像を得る手段とを備える。或いは、Ｘ線源から放出されるＸ線を計測対象物に透過させ断層像を得る手段と、該計測対象物の第一の高さ位置及び第二の高さ位置の断層像データに基づき、両者の高さの間の第三の高さ位置の断層像データを得る手段とを備える。
【効果】
Ｘ線ＣＴ装置及びＸ線ＣＴ装置による撮像方法で、計測対象物にとらわれずに、高さ方向の計測誤差を低減することができる。 （もっと読む）