【課題】高エネルギーの荷電粒子ビームにより測定試料中の物質ごとに１μｍ〜０．１μｍ等といった高空間分解能で定量的に材料分析できるとともに、前述した高精度の材料分析を研究室規模の施設で可能とする材料分析装置を提供する。
【解決手段】パルスレーザを射出するパルスレーザ射出部１と、前記パルスレーザが照射される金属薄膜Ｆを有し、当該金属薄膜Ｆから荷電粒子ビームを生成する荷電粒子ビーム生成部２と、前記荷電粒子ビーム生成部２から射出された荷電粒子ビームＩＢを磁場又は電場により収束して、測定試料Ｓに照射する荷電粒子ビーム制御部３と、前記荷電粒子ビームＪＢが測定試料Ｓに照射された際に生じる放射線Ｒを測定する放射線測定部４と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】本発明は、光ポンピング法を用いず、スピン偏極率の絶対値が０．０５以上である電子スピン偏極イオンビーム発生方法及びその発生装置を提供することを課題とする。
【解決手段】希ガス元素イオンからなるイオンビームを発生させる工程と、前記イオンビームを標的１２の一面１２ａに入射して、散乱イオンビームを出射させる工程と、前記散乱イオンビームを静電アナライザ１３内に取り込んで、電界を印加して、電子スピン偏極イオンビームを発生させる工程と、を有する電子スピン偏極イオンビーム発生方法であって、前記イオンビームを標的１２の一面１２ａに入射する際、前記イオンビームの入射方向と前記散乱イオンビームの出射方向の両者を含む散乱面に対して、磁場の方向が８０°以上１００°以下の方向となるように、磁場を印加する電子スピン偏極イオンビーム発生方法を用いることによって前記課題を解決できる。 （もっと読む）

【課題】試料ガス中のキセノンガス等の測定対象ガスを、バックグランド放射能の影響を受けずに高感度で測定し、しかも、試料ガスの制約を少なくする。
【解決手段】試料ガス中の、キセノンガス、クリプトンガス及びラドンガスのうちの少なくとも１つのガスである測定対象ガスを測定する測定装置１は、前記試料ガスとアルゴンガス及び／又はヘリウムガスとを混合して混合ガスを得る混合手段３４と、混合手段３４により得られた前記混合ガスから不活性ガス以外の成分を選択的に低減させる低減手段３３と、低減手段３３により前記成分が選択的に低減された前記混合ガスが導入され、当該導入されたガスの質量分析を行う大気圧イオン化質量分析装置２と、を備える。 （もっと読む）

【課題】イオン源、システム及び方法を開示する。
【解決手段】気体を気体電界イオン源の導電性先端の末端棚の二つ以上の原子と相互作用させることによって、イオンビームを発生させることと、（ここで、前記末端棚は３〜２０個の原子を含み）、前記イオンビームを活性化ガスと相互作用させて、試料の表面にて化学反応を促進させることと、前記試料に達する前記イオンビーム中のイオンの７０％以上を前記期待と前記先端棚の一つの原子だけとの相互作用によって発生させるように、該イオンビーム中のイオンをブロックすることと、を含む方法。 （もっと読む）

【課題】一次イオンとしてセシウムを使用した場合に、最適な分析条件を判断できる二次イオン質量分析方法及び二次イオン質量分析装置を提供する。
【解決手段】入射角が０度、加速エネルギーが２５０ｅＶの条件でセシウムイオンを第１の試料に照射し、第１の試料から放出される二次イオンを質量分析して不純物元素の分布を測定する。次に、入射角が０度、加速エネルギーが１ｋｅＶの条件でセシウムイオンを第２の試料に照射し、第２の試料から放出される二次イオンを質量分析して不純物元素の分布を測定する。その後、２つの不純物元素の分布のピーク値のシフト方向を調べ、その結果に応じて予め設定された分析条件から特定の分析条件を決定する。 （もっと読む）

【課題】
本発明の目的は、土壌の油汚染状態の把握、土壌の改質や浄化程度の評価を目的として土壌中の不揮発性油分量を測定するための、簡便かつ精度的に優れた方法を提供することにある。
【解決手段】
油汚染土壌より抽出した不揮発性油分をｎ−ヘキサン、トルエン、ジクロロメタン／メタノールを展開溶媒に用いた薄層シリカゲルクロマトグラフィーによって多段展開し、飽和分、芳香族分、レジン分、またはアスファルテン分に分画した後、飽和分をＣ１４〜Ｃ４０の脂肪族アルカンを標準物質として、芳香族分、レジン分、またはアスファルテン分をＣ１０〜Ｃ２０の多環芳香族炭化水素を標準物質として用い、水素炎イオン化検出器で定量することにより、土壌中の不揮発性油分を簡便かつ精度よく定量することが可能になる。 （もっと読む）

【課題】イオンバランスの適切な維持を可能にするイオン濃度測定回路と、このイオン濃度測定回路に使用して好適なイオン電流センサを提供する。
【解決手段】コロナ放電により放電電極１０１の周囲に発生したイオンをイオン電流センサにより捕集してその濃度を測定するイオン濃度測定回路において、イオンを捕集してイオン電流が流れると共に放電電極１０１により形成される電界によって誘導電流が流れる第１のセンサＳ１、及び、第１のセンサＳ１とは絶縁して配置され、かつ、前記電界によって導電性のセンサ部Ｓ２ａに誘導電流が流れると共にセンサ部Ｓ２ａがイオンを捕集しないようにセンサ部Ｓ２ａの表面が周囲から絶縁された第２のセンサＳ２、からなるイオン電流センサＳと、第１のセンサＳ１の出力信号と第２のセンサＳ２の出力信号との差を検出するための第１〜第３のアンプＡ１〜Ａ３等を備える。 （もっと読む）

イオン顕微鏡法およびシステムを開示する。概して、本システムおよび本方法により、イオンビームの高安定性を得ることができる。一方法によれば、ガスの最良結像電圧よりも少なくとも５％高い電圧で動作するチップを有するガス電界イオン源を用いて、イオンビームを生成する。その他の方法として、混合気体を用いてイオンビームを生成する方法も開示する。 （もっと読む）

【課題】中エネルギーイオンビーム散乱を用いた分光分析器を提供する。
【解決手段】本発明による中エネルギーイオンビーム散乱を用いた分光分析器は、イオンを発生させるイオン源１０と、イオンを平行ビームとするコリメータ（collimator）２０と、平行ビームを加速する加速器３０と、加速されたイオンビームをパルス化するイオンビームパルス発生器４０と、パルス化されたイオンビームを試片１に集束させる集束対物レンズ５０と、集束されたイオンビームが試片１で散乱されたイオンビームパルスの分光信号を検出する検出器６０と、検出器６０により検出された分光信号を分析処理するデータ分析器７０と、を含んで構成されることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】煤を焼失させるように発熱体を備えていても、煤以外の導電性に寄与する粒子の影響を受けることなく放電することにより煤を適正に検出し得るようにした煤センサを提供する。
【解決手段】中心電極３２０は、その電極部３２２にて、外側電極１２０の電極部１２３に対向している。電極部３２２の先端部（放電部）の外径は、電極部１２３の放電部の外径よりも小さく、かつ、各電極部３２２、１２３の放電部の表面積が、共に、０．００８（ｍｍ²）〜１．８（ｍｍ²）の範囲以内にある。ヒータ４００は、筒部材２００の先端側部位６３０の外周面に貼着されている。ヒータ４００の発熱抵抗部４３１の下縁部４３５と中心電極３２０の電極部３２１の先端部との間には、所定の距離として、１０（ｍｍ）以上２００（ｍｍ）以下の範囲以内の距離が設けられている。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、試料ガスを低パルス発光レートのレーザ光源で、効率良くイオン化できるイオン源とそれを用いた濃縮装置を提供することにある。
【解決手段】イオン源３Ａは、電極１１Ａやイオン引き出し電極２１Ａなどで形成された試料セルＳと、静電レンズ２２Ａと、レーザ光源２３Ａ、２３Ｂ、ミラー２５Ａおよびレンズ２７Ａを含むレーザ照射手段とから構成されている。電極１１Ａは、冷媒で冷却される。内周面１１ｂに向けられたノズル１５ａまで連通する試料ガス通路１５が形成されている。レンズ２７Ａは１対のシリンドリカルレンズで構成され、所定の間隔を設けて設置されている。レンズ２７Ａは、平行ビームである脱離用のレーザ光Ｒ_Ａとイオン化用のレーザ光Ｒ_Ｂを、凸レンズの作用で開口部２１ａ、２２ａを通過するように絞り込み、開口部２１ａ、２２ａを通過後に広がって、内周面１１ｂを広く照射する。 （もっと読む）

【課題】低速回転で帯電特性、抵抗、感度等のドラム状感光体の様々な特性評価に対応でき、かつ画像出しを実施せずに欠陥を判別可能な電子写真感光体の特性評価装置の提供。
【解決手段】少なくとも帯電手段、露光手段、及び表面電位検出手段を備え、前記表面電位検出手段が、ガラス基材上に導電性材料を塗布してなる透明プローブであり、前記透明プローブと前記露光手段とが一体化した露光・検出ユニットを有し、前記露光・検出ユニットが前記電子写真感光体周りに複数個配置されている電子写真感光体の特性評価装置である。 （もっと読む）

イオン移動度分光計は、被分析物質のイオンを生成するためのイオン化領域３に開口している、被分析物質のための導入口２を備えている。互いに平行なグリッド電極４１〜４３は、イオン流路を横切って横方向に延在しており、前記電界の強度が、複数周期にわたって変動する比較的小さい強度の交番電界と、前記電界の最大強度が、微分イオン移動度効果を発生させる程度に大きな強度の非対称交番電界との間で切替可能な電界をイオンに与える。集電極５は、通過したイオンを回収し、低電界期間および高電界期間双方の間に通過して回収されたイオンにより、被分析物質の性質の指標が生成される。また、略交番電界を電極間に印加することが開示され、この電界は、交番周期を超える時間にわたって低値と高値との間で変化する。
（もっと読む）

【課題】本発明は、知識と経験の少ない作業者であっても、ＦＩＭ試料の結晶方位及び粒界角度を容易に決定する装置を提供すると共に、結晶粒サイズが小さくて従来方位決定が困難であった試料でも結晶方位を決定する装置を提供する。
【解決手段】測定試料中の結晶粒に対する電界イオン顕微鏡（ＦＩＭ）像の画像データ取込手段と、取り込んだＦＩＭ像中の特定結晶方位極点に対して対象結晶粒の理論結晶方位極点を一致するように回転操作する手段と、前記回転操作の結果から特定結晶方位極点の結晶方位極点（ｌ，ｍ，ｎ）を決定する手段と、ＦＩＭ像と決定した結晶方位極点（ｌ，ｍ，ｎ）を重ねて表示する手段とを少なくとも有することを特徴とする結晶方位決定装置である。 （もっと読む）

電場非対称性イオン移動度分光計（ＦＡＩＭＳ）１は、被分析物質イオン源アセンブリ４を備えている。イオン源アセンブリ４によって、被分析物質がイオン化されて、分光計の導入口２に供給される。イオン源アセンブリ４は、清浄乾燥空気を供給する上流に設けられた供給源４１と、流路に沿って等距離に配置された、異なる極性を有する２つのイオン源４３、４４を備えている。イオン源４３、４４は、生成されるプラズマの全電荷がほぼ中性となるように配置されている。被分析物物質は、イオン源４３、４４の下流に設けられたインレット６１を介して、流れを減速させて被分析物分子がプラズマにさらされる時間を増大するように拡大された断面積を有する反応部６３に進入する。
（もっと読む）

【課題】測定時間を短縮して従来にはない高精度の測定が可能になるように、偏極率が18%を超える高い偏極率をもった偏極イオンビームを発生させる方法とその装置を提供する。
【解決手段】偏極イオンビーム発生方法は、２^３Ｐ_０への遷移に対応するＤ_０線に波長調整した円偏光と直線偏光とを互いに直角の照射方向から準安定ヘリウム原子へ照射して光ポンピングすることを特徴とする構成を採用した。 （もっと読む）

【課題】放電部の煤を焼失させるようにヒータを設けてなる煤センサにおいて、放電部との関係でヒータを設ける位置に工夫を凝らし、放電部にて煤以外の導電性に寄与する粒子の影響を受けることなく放電するように構成する。
【解決手段】煤センサは、金具部材１００、電気絶縁材料からなる筒部材２００及びロッド部材３００を備えている。筒部材２００は、金具部材１００の主体金具１１０内に同軸的に支持されている。ロッド部材３００は、筒部材２００内に嵌装されて、中心電極３２０にて、当該筒部材２００の先端から延出している。ここで、中心電極３２０は、電極部３２１にて、金具部材１００の外側電極１２０の電極部１２２に対向している。ヒータ４００は、筒部材２００の先端側部位６３０の外周面にその先端側にて貼着されている。ヒータ４００の発熱抵抗部４３１の下縁部４３５と中心電極３２０の電極部３２１の先端部との間には、２５（ｍｍ）が設けられている。 （もっと読む）

【課題】新たな手法で試料を分析する技術を提供する。
【解決手段】ハロゲンランプ２１から射出される光から、調整部２２により特定の波長の光を選択し、導入部２３を通して試料３の表面に定常的に照射する。これにより、試料３の表面の分子やポリマーなどが励起され、既定状態から励起状態に遷移する。つぎに、直流高圧電源２から試料へ高電圧を定常的に印加しつつ、導入部２３を通してレーザー７からパルスレーザー光を試料３に照射する。これにより、試料に瞬間的に光伝導を誘起し、表面の分子を電界蒸発させる。電界蒸発したイオンは、位置感知型イオン検出器１１又はリフレクトロン型質量分析器１３により検出され、同定される。 （もっと読む）

【課題】
従来の固体飛跡検出素子を使用するイオン分析装置と異なりその前処理が不要で、しかも高速読み取りができるイオン分析装置を提供することにある。
【解決手段】
イメージングプレートイオン分析装置では、輝尽性発光体であるイメージングプレートを検出素子として用いることにより、イオンを前処理不要で且つ高速読み取りができることを特徴としている。 （もっと読む）

【課題】高精度の均質な測定が可能であり、尚且つ、測定が容易な元素検出方法及び元素検出装置を提供する。
【解決手段】試料から離脱した元素を検出し、元素の位置及び飛行時間を測定する元素検出装置１であって、気圧調整が可能であり、内部に試料が配置されるチャンバー１０と、チャンバー内で試料と対向するように設置されており、試料から離脱した元素を検出する元素検出手段と、試料にエネルギービーム２４を照射する照射手段２３とを備え、元素検出手段が、エネルギービームが通過可能な孔１９を有するとともに、照射手段が元素検出手段を挟んで試料の反対側に設置され、孔を通過したエネルギービームが試料に照射される。 （もっと読む）