本発明は、ポリマーおよびその添加物（エイジング添加物、熱安定剤添加物、光安定剤添加物、可塑剤添加物または難燃性添加物、ならびに染料および他の高価値添加物など）へ化学的標識を行う方法およびその標識された情報を識別する方法に関する。製造中にポリマーマトリックスに配合されて定着する化合物中の好適な元素の、規定の原子質量を有する同位体を使用することにより、標識が行われる。結果として、高濃度の異物質によるポリマー特性への悪影響がなく、全製品寿命にわたって読み取り可能な化学的コードが得られる。この方法により、ポリマーの供給源を追跡したり、他の生産者からの化学的に同一な生成物と混合されている可能性を検証したり、あるいは、添加物が特定の濃度で添加されているかどうかを後に明らかにできることができる。 （もっと読む）

【課題】 分析試料又はその溶剤によるカーボン析出を防ぐことができる新規なＧＣ／ＩＣＰ−ＭＳの提供。
【解決手段】 ＧＣ／ＩＣＰ−ＭＳにおいて、ＩＣＰ−ＭＳに導入するアルゴンなどのメイクアップガスを導入する部分に酸素を連続的に或いは特定の時間帯に導入することが有効であり、そのために、酸素透過性チューブ又は酸素透過性膜を用いて、空気中の酸素をガス供給ラインに導入する。透過した酸素を任意の時間帯だけ前記ガス供給ラインに導入するための切替バルブを用いる。 （もっと読む）

質量分析計のサンプリング注入口と同軸上にある入口点でチャンバを部分的に画定する境界部材を通じて、試料を導入するための方法を記載する。無電界状態が、チャンバの少なくとも１つの領域に確立され得る。試料は、サンプリング注入口の近接に導入され得て、少なくとも第２の試料の導入は、該サンプリング注入口に近接しないチャンバ内の少なくとも１つの他の入口点を通じて導入され得る。サンプリング注入口およびチャンバを部分的に画定する境界部材を有する装置もまた、記載する。無電界状態が、チャンバの少なくとも１つの領域において確立され得て、源が通って試料を放出する境界部材において、第１の開口が存在し得る。関連デバイス、使用、および質量分析計もまた、記載する。
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【課題】排水中の４価セレンと６価セレンとを迅速かつ正確にそれぞれの濃度が測定可能なセレン分析装置及びセレンの分別定量法を提供する。
【解決手段】セレン分析装置１０は、４価及び６価セレンを含む排水１１から採取した試料の一部を、前記４価セレンと前記６価セレンとを分別するセレン分離部１２と、前記試料の他の一部を、有機還元剤１４と酸１６と光触媒１７とを含有する溶液に供給して紫外光１８を照射し、前記６価セレンと前記４価セレンとを金属セレン、セレン化水素に還元するセレン還元部１９と、酸２１と還元剤２３とにより、前記４価セレン又は前記金属セレンをセレン化水素に還元するセレン水素化部２４と、前記セレン水素化部２４において還元されたセレン化水素を分析し、前記４価セレン濃度と全セレンの濃度を測定するセレン分析部２５とを有する。 （もっと読む）

【課題】従来困難であった、無電解ニッケルめっきに含まれる鉛及びカドミウム等の所定元素の精度のよい濃度分析を従来の装置を用いて行うことができる無電解ニッケルめっきの元素濃度分析方法を提供することを目的としている。
【解決手段】板材１に無電解ニッケルめっき２を施した後、その無電解ニッケルめっき２の一部に亀裂を生じさせて剥離させ、その剥離させた部分から元素濃度分析用の試料を採取する。そして、その採取した試料を酸の溶剤に溶解させて試料溶液４を生成し、その試料溶液４を誘導結合プラズマ発光分析装置１０若しくは誘導結合プラズマ質量分析装置に導入することによって試料溶液４中の試料、すなわち無電解ニッケルめっき２に含まれる鉛及びカドミウム等の所定元素の濃度分析を行う。 （もっと読む）

【課題】
酸素ボンベや酸素ガス供給ライン、流量制御器などが新たに必要としない装置、ＩＣＰのトーチ位置をサンプリングコーンから遠くに離すことなどの煩雑な操作を必要としない新規なＩＣＰ−ＭＳ及びＩＣＰ−ＯＥＳの提供。
【解決手段】 誘導結合プラズマ質量分析装置又は誘導結合プラズマ発光分析装置において、プラズマに導入されるガス或いはプラズマを形成するガスの供給ラインの少なくとも一部に、酸素又は空気透過性チューブ、若しくは、酸素又は空気透過性膜を備え、透過した酸素を任意の時間帯だけ前記ガス供給ラインに導入するための切替バルブを備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】高マトリクス試料を連続して再現性良く測定することのできる誘導結合プラズマ質量分析装置を提供する。
【解決手段】誘導結合プラズマ質量分析装置は、プラズマトーチ２０に供給されるエアロゾル中の液滴の量、当該エアロゾル中のキャリアガス７６Ａ、７６Ｂの流量、高周波電源８０のＲＦ出力、及びプラズマトーチ２０とサンプリング用インタフェース１５、１６との間の距離Ｚの全ての因子を合わせて制御する制御装置７０を備える。制御装置７０での制御によって、測定されるイオンの感度を所望の程度に変更して設定できるようにし、設定されるイオン検出程度の最大値と最小値の比は、イオンの感度の比で少なくとも１０倍とされる。 （もっと読む）

【課題】質量分析計から得られるスペクトル等の分光データのノイズを低減する、コンピュータにより実施される方法を提供する。
【解決手段】存在値をそれぞれ有する複数のスペクトルデータ点で構成される１つまたは複数のスペクトルデータスキャンを分光器から受け取る。ノイズバーストレベルを定義して、あるスペクトル点の強度がバーストレベルよりも大きい時、その隣接点を調べる。隣接点に相関があって離散イベントであることが示された場合には、バースト点の存在値を変更する。 （もっと読む）

【課題】 微量のイオンマイグレーションが発生しやすい２層フレキシブル基板の絶縁信頼性について、従来のＨＨＢＴ試験方法に代えて、簡単且つ迅速に実施できる評価方法を提供する。
【解決手段】 プリント配線基板への配線加工と同じ方法により２層フレキシブル基板にエッチング処理を施した後、金属層が除去された絶縁フィルム表層部に残留している金属成分を硝酸７０〜９０％と過酸化水素１０〜３０％からなる溶液で溶解し、得られた溶解液中の金属成分を誘導結合プラズマイオン源質量分析装置で定量分析する。その定量分析結果に基づいて、２層フレキシブル基板の絶縁信頼性を評価することができる。 （もっと読む）

【課題】高精度で再現性に優れ、信頼性の高い研磨スラリーの分析方法を提供すること。
【解決手段】シリコンウェーハを研磨することによって得られた研磨スラリー中の汚染物を分析する方法において、前記研磨スラリー中のシリコン成分を溶解してシリコン溶液とする溶解工程と、前記シリコン溶液２を蒸発乾固させる乾燥工程と、前記蒸発乾固させた前記残留物４中のシリコン成分を除去する除去工程と、前記除去工程後の残渣５を回収する回収工程とを備えるシリコンウェーハの研磨スラリーの分析方法とする。 （もっと読む）

【課題】イオン移動度分析計を含む装置
【解決手段】第１のチャンバ（１０）と第２のチャンバ（５）とを含むマススペクトロメータが開示される。第２のチャンバ（５）は、第１のチャンバ（１０）の下流に位置し、２つのチャンバ（５，１０）間には、チャンバ間アパーチャ（１２）が提供される。第１のチャンバ（１０）内には、イオンガイド（１３）が位置し、第２のチャンバ（５）内には、イオン移動度分析計（６）が位置する。第１のチャンバ（１０）に、ヘリウムガスが提供される。イオンは、比較的低圧の領域からイオン移動度分析計（６）に向かって加速されるに際し、先ず、第１のチャンバ（１０）内に入る。第１のチャンバ（１０）内に提供されるヘリウムガスは、イオンが比較的高圧の領域内へと加速される際のイオンフラグメンテーション効果およびイオン識別効果を最小限に抑える。イオンは、次いで、イオンガイド（１３）によって伝送され、引き続き、第２のチャンバ（５）内に位置するイオン移動度分析計（６）へと伝送される。 （もっと読む）

【課題】 試料のレーザアブレーション量を求めることができるレーザアブレーション装置及びレーザアブレーション量算出方法を提供する。
【解決手段】 レーザアブレーション装置２においては、試料Ｓに対するレーザアブレーションが開始されると、演算部５０によって、光検出器４５により測定されたレーザ光のエネルギから、光検出器４３，４４により測定されたレーザ光のエネルギが減ぜられて、試料Ｓに照射されたレーザ光のうち試料Ｓに吸収されたレーザ光のエネルギが算出される。更に、演算部５０によって、試料Ｓに吸収されるレーザ光のエネルギと試料Ｓのレーザアブレーション量との相関関係についての情報に基づいて、試料Ｓに吸収されたレーザ光のエネルギから、試料Ｓのレーザアブレーション量が算出される。 （もっと読む）

使用時にイオンが移送されるアパーチャを有する複数の電極を含む質量分析器（２）が提供される。複数の擬ポテンシャル波形が質量分析器（２）の軸に沿って生成される。擬ポテンシャル波形の振幅または深さは、イオンの質量電荷比に反比例する。イオンを質量分析器（２）の長さに沿って推進するために１つ以上の過渡ＤＣ電圧が質量分析器（２）の電極に印加される。電極に印加される過渡ＤＣ電圧の振幅は、時間とともに増加され、イオンは、質量電荷比の逆順に質量分析器（２）から射出される。２つのＡＣまたはＲＦ電圧が電極に印加される。第１のＡＣまたはＲＦ電圧は、最適な擬ポテンシャル波形を形成するように構成され、他方、第２のＡＣまたはＲＦ電圧は、質量分析器２内へのイオンの軸方向の最適な閉じ込めを実現するように構成される。 （もっと読む）

【課題】試料中の所定の元素の存在比率を高精度に求めることができる。
【解決手段】ＬＡ−ＩＣＰ−ＭＳ装置１を用いた質量分析方法では、元素のそれぞれについて所定の時間当たりのカウント数を検出する１サイクル検出が所定の回数行われる（ステップＳ５）。このカウント数に基づいて１サイクル検出ごとに所定の元素の濃度が算出される（ステップＳ６）。そして、１サイクル検出ごとに算出された濃度の平均値が算出される（ステップＳ９）。このように、一定以上の時間に亘り積算するという概念を用いずに、検出強度を取得した都度に存在比率を算出することによって、たとえ試料が突発的に多量にアブレートされ、且つ突発的アブレートによって生じた微粉体物又はガス化物中の各元素の存在比率がずれたとしても、所定の元素の存在比率を高精度に求めることができる。 （もっと読む）

衝突またはフラグメンテーションセル（８）の上流に配置されるイオン移動度分光計またはセパレータ（６）を含む質量分析計が開示される。イオン移動度分光計またはセパレータ（６）において、イオンがそのイオン移動度にしたがって分離される。イオンが衝突またはフラグメンテーションセル（８）に入射する際のイオンのフラグメンテーションエネルギーを最適化するために、イオン移動度分光計またはセパレータ（６）を出射するイオンの運動エネルギーを実質的に時間とともに直線的に増加させる。イオン移動度分光計またはセパレータ（６）のポテンシャルを変化させる期間中、イオン源（１）、イオンガイド（２）、四重極質量フィルタ（３）、必要に応じて設けられる第２の衝突またはフラグメンテーションセル（４）およびイオントラップデバイス（５）などのイオン移動度分光計またはセパレータ（６）の上流のイオン光学部品のポテンシャルは一定に保たれる。 （もっと読む）

【課題】良好な精度で、かつ容易に石英部材の分析を行う分析方法を提供する。
【解決手段】石英部材にエッチング液を供給してエッチングする第１の工程と、前記第１の工程で用いた前記エッチング液中の金属を分析する第２の工程と、を有する石英部材の分析方法であって、前記第１の工程の前記エッチング液の供給は、前記石英部材に形成された凹状のエッチング液保持部にされることを特徴とする石英部材の分析方法。 （もっと読む）

【課題】 導出されるキャリアガス中の微粉体物又はガス化物の元素組成比を時間の経過に対して安定化させることができる試料室、レーザアブレーション装置及びレーザアブレーション方法を提供する。
【解決手段】 試料室４０は、レーザアブレーションの対象となる試料Ｓが配置されると共に、試料Ｓに対するレーザアブレーションによって生じる微粉体物又はガス化物を搬送するためのキャリアガスＧが流通する内部空間４２を有している。内部空間４２を画定する側壁面４３には、試料Ｓが配置される位置に対して一方の側Ａに位置する複数のキャリアガス導入口４４、及び試料Ｓが配置される位置に対して他方の側Ｂに位置するキャリアガス導出口４５が形成されている。 （もっと読む）

【課題】プラズマ炎の発光光を分光器まで導く光導入管を内容積の相違する他のものに交換した場合に、光導入管内をパージするパージガスの使用量を抑制して且つパージに要する時間も短縮化する。
【解決手段】予め各種の光導入管に対応した初期目標流量値と定常目標流量値とを求めてメモリ２４ａに記憶しておく。装置起動時には光導入管識別部２９により装着されている光導入管の種類を判別し、それに応じた目標流量値をメモリ２４ａから読み出す。そして、元供給路２７０とパージガス供給路２７２とに設けた圧力センサ２７１、２７４の検出値から実流量を求め、実流量が初期流量目標値になるように流量調節弁２７５の開度を制御する。所定時間が経過して光導入管内がパージ状態になった後に流量目標値を定常目標流量値に変更して、パージ状態を維持できる程度まで流量を減らして分析を実行する。 （もっと読む）

【課題】質量分析計による検体からの検体イオン及び中性分子の採取を誘導し、それによって所定の面積又は容積から採取し、かつ化学的予備段階の必要なく固体又は液体を採取する装置を提供する。
【解決手段】本発明は、質量分析計による表面から検体イオン及び中性分子の採取を制限する装置であり、それによって所定の面積又は容積から採取する。本発明の様々な実施形態では、大気圧で又はその近くで脱離イオン化から所定の空間解像度で形成されたイオンを採取するのに、管が用いられる。本発明の一実施形態では、静電界は、分析されている試料の表面の近傍に位置決めされた個々の管又は複数の管のいずれかにイオンを誘導するのに用いられる。本発明の一実施形態では、分析のためにイオン及び中性分子を分光計に引き込むために、広直径試料採取管を真空注入口と共に用いることができる。本発明の一実施形態では、静電界と共に広直径試料採取管は、イオン収集の効率を改善する。 （もっと読む）

アナログ−デジタル変換器を備えるイオン検出器を備える飛行時間質量分析器を備えた質量分析計が開示される。アナログ−デジタル変換器からの信号がデジタル化され、イオンの到着時間および強度が決定される。各イオン到着イベントの到着時間Ｔ₀および強度Ｓ₀は、近接する時間ビンＴ_(n)、Ｔ_(n+1)に記憶された２つの別個の強度Ｓ_(n)、Ｓ_(n+1)に変換される。 （もっと読む）