Fターム[2G041DA20]の内容

Fターム[2G041DA20]に分類される特許

1 - 20 / 79


【課題】複数成分を含むマススペクトルを解析し、被験物質の同定に役立てることが可能な解析装置等を提供すること。
【解決手段】同一の被験物質について複数回取得された、複数の被験物質スペクトルを取得する被験物質スペクトル取得部と、既知物質についての複数の標準スペクトルが格納された記憶手段と、前記複数の被験物質スペクトルと前記複数の標準スペクトルから一データずつ抽出した組み合わせに対して、前記標準スペクトルのピーク強度比と、前記被験物質スペクトルにおける前記標準スペクトルのピークに該当する部分のピーク強度比との一致程度を示す第1の評価値を計算する第1評価値計算手段と、前記各組み合わせに対する第1の評価値に基づいて、前記被験物質と前記既知物質との一致程度を示す第2の評価値を計算する第2評価値計算手段と、を備える解析装置。 (もっと読む)


【課題】本発明は、皮膚に浸透した皮膚外用剤の成分を迅速に分析することが可能な分析方法を提供することを目的とする。
【解決手段】分析方法は、皮膚に浸透した皮膚外用剤の成分を分析する方法であって、皮膚外用剤を皮膚に塗布する工程と、複数の粘着テープを用いて、皮膚の皮膚外用剤が塗布された領域から複数層の角層を剥離する工程と、DARTイオン源200を用いて、剥離された複数層の角層から生成したイオンを順次質量分析計300に導入して質量分析する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】常に最良の条件で測定できるように、アセトンを用いて簡単に行なえるGC−MS用の電界イオン化イオン源の調整方法を提供する。
【解決手段】ガスクロマトグラフ装置から導入される試料分子をエミッターとカソードによって挟まれた高電界空間に導入管を介して導入し、該高電界空間を利用して試料分子をイオン化させる電界イオン化イオン源の調整方法であって、標準試料を前記導入管を介して前記高電界空間に導入し、生成された標準試料のイオンに基づいてイオン化条件を調整するようにした。 (もっと読む)


【課題】HIPIMSのスパッタ源のプラズマに含まれるイオンの生成分布を安定して検出する。
【解決手段】HIPIMSのスパッタ源で発生したプラズマに含まれるイオンをTOF質量分析にかけて、イオンの生成分布を検出する。その際、プラズマからの光を検出し、TOF分析装置におけるイオンの飛行時間の開始時刻をプラズマからの光に基づき定める。HIPIMSのスパッタ源に対向するTOF質量分析装置の開口部はスパッタ源のターゲットより低い電位とする。 (もっと読む)


【課題】イオン源、システム及び方法を開示する。
【解決手段】気体を気体電界イオン源の導電性先端の末端棚の二つ以上の原子と相互作用させることによって、イオンビームを発生させることと、(ここで、前記末端棚は3〜20個の原子を含み)、前記イオンビームを活性化ガスと相互作用させて、試料の表面にて化学反応を促進させることと、前記試料に達する前記イオンビーム中のイオンの70%以上を前記期待と前記先端棚の一つの原子だけとの相互作用によって発生させるように、該イオンビーム中のイオンをブロックすることと、を含む方法。 (もっと読む)


【課題】分析手段を組み合わせることなく、ソフトイオン化質量分析装置で得られる測定データから、成分識別を良好に行うことができる質量分析方法の提供を課題とする。
【解決手段】ソフトイオン化質量分析装置による三次元の測定データから二次元のマススペクトルデータを抽出するマススペクトルデータ抽出工程Aと、マススペクトルデータをデータベースと同じデータ条件に加工するマススペクトルデータ加工工程Bと、加工マススペクトルデータから多変量解析手段を用いてマトリックスの成分と混合比率を特定するマトリックス特定工程Cと、特定されたマトリックスの成分及び混合比率とデータベースとから標準マススペクトルデータを合成する標準マススペクトルデータ合成工程Dと、加工マススペクトルデータから標準マススペクトルデータを減算するノイズ除去工程Eと、を有する質量分析方法である。 (もっと読む)


【課題】RoHS規制対象物質であるPBBとRoHS規制対象物質ではないTBBPAとを、簡便かつ迅速に識別することのできる臭素系難燃剤の判定方法およびプログラムを提供することを目的とする。
【解決手段】イオン付着型質量分析装置で得られたデータを解析するデータ解析装置で実行される臭素系難燃剤の判定方法であって、第1判定工程と判定工程とを含む。第1判定工程では、第1判定手段が、第1の質量数におけるピーク強度に対する、第2の質量数におけるピーク強度の比である第1ピーク強度比が、第1の範囲内であるか否かを判定する。判定工程では、判定手段が、前記第1ピーク強度比が前記第1の範囲内である場合に、被検査体であるサンプルは規制対象ではない臭素系難燃剤を含んでいると判定する。 (もっと読む)


【課題】 デソープションイオン化方法において、試料台表面近傍のイオンを最大限に捕集する機構を提供する。
【解決手段】 生じたイオンの広がり以上の幅および高さをもつイオン取り込み口を設け、これを試料台に接するように位置させる。または、試料台に段差をつけて試料の積載された面よりも低い面を設け、生じたイオンの広がり以上の幅および高さをもつイオン取り込み口の開口部底面を、試料の積載された面よりも低く設置する。 (もっと読む)


【課題】ユーザビリティーに優れたアルカリ金属導入装置を提供する。
【解決手段】アルカリ金属導入装置1は、アルカリ金属ガスを使用する実験に供されるものであり、破砕専用チャンバー10および真空チャンバー20と、破砕専用チャンバー10および真空チャンバー20の内部を真空引きする真空ポンプ60a・60bと、破砕専用チャンバー10の内部において、アンプル16に封入されたアルカリ金属を、そのアンプル16を変形させて外部に露出させるアンプル破砕部18と、真空チャンバー20の内部に配設され、アンプル16の導入が可能なコリジョンセル40と、アンプル16に封入されたアルカリ金属が、変形されたアンプル16の外部に露出する露出位置と、アンプル16がコリジョンセル40に導入される導入位置との間でアンプル16を移動させるアンプル導入部12と、を備える。それゆえ、ユーザビリティーに優れたアルカリ金属導入装置を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】ヘリウムリークディテクタに使用するマイクロチャンネルプレートへの過大なイオン電流の入射によって、マイクロチャンネルプレートの寿命が短くなることを避ける。
【解決手段】ヘリウムイオンの検出用にマイクロチャンネルプレートを備えたヘリウムリークディテクタであって、ヘリウムイオンビームがマイクロチャンネルプレートに入射するように偏向するセクター電極を備える。グロスリークの場合は、ヘリウムイオンビームを偏向せず、マイクロチャンネルプレートに入射させないで、セクター電極に入射し、セクター電極でイオンビーム電流を検出する。 (もっと読む)


【課題】 金属元素の深さ方向分析方法及び二次イオン質量分析装置に関し、分析に用いる一次イオンとしての酸素イオンビーム照射に誘起される金属元素の拡散現象を抑制する。
【解決手段】 一次イオンに酸素を用いて単結晶シリコンを母材とする試料中のGa、In、Cu、Au或いはAgの少なくとも一つの金属元素の深さ方向分析を二次イオン質量分析法によって行う際に、前記試料が前記一次イオンとしての酸素により酸化される領域より少なくとも深い領域を、予め試料の酸化に伴う前記金属元素の拡散を抑制する拡散抑制領域に改質しておく。 (もっと読む)


【課題】GC×GC分析方法における装置の複雑さやその操作によるメンテナンス性の欠如、更には検出器に使用されることの多いTOFMSのダイナミックレンジの狭く、且つ大型、高価である点、又その解析はデコンボリューションソフトの使用による難点等を解消し、クロマトグラム上の不分離ピークを超えたピークの分離測定を簡単にコスト廉価に行える。
【解決手段】クロマトグラフに質量分析装置を接続した分析装置を使用する方法で、一のクロマトグラム上で分離可能なピーク数を超えたピークをイオンマススペクトル化し、又マスナンバー(m/z)の強度により成分分離する。 (もっと読む)


【課題】 3次元アトムプローブ構造データ解析方法に関し、処理が複雑で大きなリソースが要求されない簡便な方法で欠落している原子を補完して3次元的に構造を探索する。
【解決手段】 3次元アトムプローブ装置を用いて取得した試料の原子レベル微細構造データにおける原子間距離に基づいて、参照データなしに実際の試料の微細構造から欠落している原子の位置を求め、前記位置に前記原子を補完する。 (もっと読む)


【課題】有機化合物の合成や創薬分野に制限されず、環境、食品、工業品、その他における被測定成分の同定、定量分析を、複雑なインターフェースを必要とせず、且つ濃度の低い被測定成分にも適用して、簡単に、低コストで行うことを可能とする質量分析用プレートとそれを用いた薄層クロマトグラフィ−質量分析方法及び装置の提供を課題とする。
【解決手段】薄層クロマトグラフィ用プレート上で分離された被測定成分を該薄層クロマトグラフィ用プレートから転写させて質量分析に供するための質量分析用プレート30であって、プレート基板31上に被測定成分を担持するための固定相32として、吸着活性のない担体を積層してある。 (もっと読む)


【課題】試料を安定して保持することができる分析装置を提供する。
【解決手段】本体と、試料を載置する載置面を有し、当該載置面を前記本体外部に露出させる第1の位置と、当該載置面を前記本体内に収容する第2の位置とを通る軌道において往復移動可能に前記本体に設けられたスライダと、前記スライダに設けられ、前記本体と係合して前記スライダを係止させる係合部材と、を備え、前記係合部材は、前記スライダに沿って突出する突出部を有し、前記係合の解除に伴い前記突出部が前記載置面を覆うことを許容するとともに、前記係合に伴い前記突出部による前記載置面の覆いを解除することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】イオン化効率(感度)の低下と凝縮・吸着の両問題を改善する。
【解決手段】金属イオンを放出するエミッタを有するチャンバーと、前記チャンバー内に中性分子を導入する分子導入部と、前記チャンバー内に他のガスを導入するガス導入部と、前記チャンバー内における前記中性分子に前記金属イオンを付着させる領域の温度を制御する制御部と、前記金属イオンが付着した中性分子の質量を分析する質量分析計とを有し、前記制御部は、前記中性分子に前記金属イオンが付着したときの付着エネルギーを横軸、前記金属イオンを付着させる領域の温度[℃]を縦軸とすると、前記領域の温度[℃]=150×付着エネルギー[eV]及び100×付着エネルギー[eV]−50、20℃並びに、付着エネルギー[eV]=2.1及び0.5で囲まれる範囲から、前記領域の温度150℃以上かつ200℃以下の範囲を除いた範囲にあるように前記領域の温度を調整する。 (もっと読む)


【課題】エミッタからの安定したエミッション量を維持する。
【解決手段】本発明の一実施形態は、固体試料あるいは液体試料を加熱して、固体試料又は液体試料に含まれている測定対象物をガス化して中性気相分子とし、酸化表面を持つエミッタから放出された金属イオンを、前記中性気相分子に付着させることにより、前記中性気相分子をイオン化して、質量分析する。上記固体試料又は前記液体試料は加熱により還元性ガスを放出する試料である。上記測定対象物のガス化のための加熱は、固体試料又は液体試料の気化温度よりも低くかつ測定対象物の気化温度以上の温度で行われ、かつ、エミッタに酸化性ガスを付与する。 (もっと読む)


本発明の技術分野は大気圧質量分析法(MS)であり、より詳細には、赤外レーザアブレーションとエレクトロスプレーイオン化(ESI)を組み合わせた方法及び装置である。
(もっと読む)


イオン顕微鏡法およびシステムを開示する。概して、本システムおよび本方法により、イオンビームの高安定性を得ることができる。一方法によれば、ガスの最良結像電圧よりも少なくとも5%高い電圧で動作するチップを有するガス電界イオン源を用いて、イオンビームを生成する。その他の方法として、混合気体を用いてイオンビームを生成する方法も開示する。 (もっと読む)


【課題】分析装置の精度を向上させる。
【解決手段】走査型アトムプローブ200は、試料3の表面を走査する引出電極5と、試料3に電圧を供給する直流高圧電源2と、直流高圧電源2により供給された電圧により引出電極5と試料3の間に生じた電界によって、試料3の表面の原子又は原子団を試料3から脱離させたときに、脱離したイオン8を検出する位置感知型イオン検出器11とを備える。位置感知型イオン検出器11は、イオン8の入射により電子を放出する電子増倍板25と、電子増倍板25から放出された電子の一部が入射する螺旋状の遅延回路線41と、電子増倍板25から放出された電子のうち、遅延回路線41の線間を通過した電子が入射する導電板42とを含む。 (もっと読む)


1 - 20 / 79