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Fターム[2G051AB01]の内容

光学的手段による材料の調査の特殊な応用 (70,229) | 調査・分析パラメータ (9,064) | 表面上のゴミ (1,307)

Fターム[2G051AB01]に分類される特許

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【課題】配線間の底部のショートに対する検査感度を向上させ、微細化されたパターンであり、平行に並んだ複数の配線間の底部におけるパターンショートであっても検出可能な欠陥検査方法を実現する。
【解決手段】欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光(アルファ)(s偏光からの角度(アルファ))を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。偏光(アルファ)は、p偏光とs偏光との間にある。算出した偏光(アルファ)の光を試料に照射して欠陥を検査する。これにより、配線間の底部のショートに対する検査感度を向上させ、微細化されたパターンであり、平行に並んだ複数の配線間の底部におけるパターンショートであっても検出可能な欠陥検査方法を実現することができる。 (もっと読む)


【課題】反射防止フィルムの低コントラストの欠陥を容易に検出するために、反射防止フィルムに付着した薬液を拭取る薬液拭取り装置を提供する。
【解決手段】反射防止フィルムの欠陥を検査する場合にフィルムに付着させた薬液を検査後に拭取る装置であって、土台に設けられ昇降が可能な支柱と、拭取りヘッドベースと拭取りヘッド中間部材と拭取り部材を順に重ねた構造を有し、前記支柱に支えられた拭取りヘッドと、を備え、前記拭取りヘッドを薬液が付着したフィルム面に接触させて薬液を拭取ることを特徴とする薬液拭取り装置。 (もっと読む)


【課題】本発明はカラーフィルタ基板の自動欠陥検査装置で、前記カラーフィルタ基板上の欠陥を平面の面積サイズ判定だけでなく、同時に高さ方向の欠陥判定を行うことで、極めて効率のよい欠陥検査が行える立体欠陥検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】カラーフィルタ基板の平面方向と高さ方向の欠陥を同時に検出する立体欠陥検査装置であって、前記カラーフィルタ基板を載置しXY平面上を搬送させる搬送手段と、前記カラーフィルタ基板上をカメラと光源が同期かつ軸移動可能な撮像手段と、前記撮像手段により得られた撮像データに対して演算処理を行う画像処理手段と、前記画像処理手段で得られた立体欠陥データにより前記カラーフィルタ基板の合否判定を行う手段を具備することを特徴とする立体欠陥検査装置である。 (もっと読む)


【課題】検査装置の透過光量分布のデータを用いて転写用マスクの内部欠陥等を検出する。
【解決手段】Die−to−Die比較検査法を適用し、薄膜の第1領域に対して検査光を照射して第1の透過光量分布を取得し、第2領域に対しても、検査光を照射して第2の透過光量分布を取得し、第1の透過光量分布と第2の透過光量分布との比較から算出される差分光量値が第1しきい値以上であり、かつ第2しきい値未満である座標をプロットした所定範囲差分分布を生成し、所定範囲差分分布でプロットの密度が高い領域が検出されない転写用マスクを選定する。 (もっと読む)


【課題】基板縁部の状態を簡単に早く検出することが出来る基板検査装置を提供する。
【解決手段】基板検査装置100は、表面に膜を塗布した基板Wを保持し回転する回転テーブル5と、基板Wに光を照射する光照射手段2と、光照射手段2による基板W表面からの正反射光を受光し、撮像画像の信号出力する光電変換手段4と、を備える。そして、基板Wの回転中心を含んで回転中心から半径方向の一走査分の電気信号の回転手段一周分の検出値を加算して二次元画像を生成し、二次元画像の一方向に沿って設定された判定バンドから変化点を判断する。したがって、基板W上においてEBR線の良否を簡単に判断することができ、処理効率の良い検査が可能になる効果を奏する。 (もっと読む)


【課題】光透過性を有するシート状物表面に生じた凹凸欠陥を、光学系起因の輝度分布に関わらず効果的に検出できる欠陥検出装置、欠陥検出方法、及び欠陥検出されたシート状物を提供する。
【解決手段】光透過性を有するシート状物1の走行経路上において、シート状物に平行光を照射する照射手段2bと、シート状物面に対して照射手段と反対側に設置され、シート状物を透過した照射手段からの光を投影するスクリーン3と、スクリーンに投影された光を暗視野方向から撮像する撮像手段4を有する凹凸欠陥の検出装置であって、スクリーンは、シート状物の欠陥のない状態を透過した光のうち、光量レベルの最も高い部分が投影される箇所の拡散反射率が、光量レベルの最も低い部分が投影される箇所の拡散反射率よりも低い。 (もっと読む)


【課題】複雑な画像処理を行うことなく、虚報を減らすことで、安定的に欠陥を検出し、かつ生産性が向上する外観検査装置を提供する。
【解決手段】検査対象物を撮像して欠陥を検出する外観検査装置であって、照明・撮像系と、画像処理装置と、欠陥判定統合パーソナルコンピューター(PC)と、検査対象物を移動(搬送)する搬送部とを備え、前記照明・撮像系において、画像撮像用受光部(カメラ)、レンズ、照明を1系統とし、それらが、同一軸上に2系統以上配置され、移動(搬送)される検査対象物の同一フレームを同一条件で2回以上撮像し、その後、前記検査対象物の撮像画像の処理を画像処理装置で行い、それぞれの系統毎で前記検査対象物の欠陥検出候補を抽出し、その結果を、欠陥判定統合PCに出力し、前記の結果の組み合わせにより、検査対象物の欠陥の有無を判定する、外観検査装置。 (もっと読む)


【課題】 発光素子の検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】 光を放出する少なくとも一つの発光セルを備える発光素子の特性を検査する検査装置であり、発光素子が搭載されるテーブルと、発光素子に電流を供給するプローブとが設けられたプロービングユニットと、発光素子の映像を獲得する映像獲得ユニットと、獲得された映像の輝度情報から少なくとも一つの発光セルの発光如何を検出して、発光素子のオープン/ショート不良を判定する判定ユニットと、を備える発光素子の検査装置。 (もっと読む)


【課題】不完全エリアを有効に検査することで歩留り管理の精度向上を図ることができる検査装置を提供する。
【解決手段】基板1に光を照明する照明部10と、前記基板1からの光を検出し検査画像を得る検出部20と、処理部100と、を有し、前記検査画像には、前記基板1の端部より内側の形成すべきパターンの一部が欠けた領域と、前記端部より外側の前記一部が形成されるべきであった領域と、が含まれ、前記処理部100は、前記検査画像と前記パターンよりも内側の完全なパターンの画像を含む参照画像とを使用して検査を行う。 (もっと読む)


【課題】製造ラインを連続して搬送される被検査物に対して、特殊領域検出のために準備工程を必要とせず、検査時間の大幅な短縮が可能な、効率の良い検査装置を提供する。
【解決手段】開口を塞ぐシール部を有する容器の欠陥を検査する検査装置であって、容器を搬送する手段と、容器を照明する手段と、容器を撮像する手段と、撮像するタイミングを出力する手段と、撮像した画像から特殊領域を検出する手段と、特殊領域内の複数の領域に対して異なる閾値で欠陥を検査する検査手段と、を備えたことを特徴とする欠陥検査装置。 (もっと読む)


【課題】透明シート材の外観検査を行うにあたり、シート材に光を照射し、その透過光及び反射光による光学画像のどちらを利用する場合であっても、再現性良くカメラの焦点をシート材の表面に合わせることができる外観検査用治具及び外観検査方法を提供する。
【解決手段】透明シート材に光を照射し、透過光及び/又は反射光による透明シート材の光学画像をカメラにより撮像することにより、透明シート材の外観を検査する方法における、カメラの焦点を透明シート材の表面に合わせるために用いる検査用治具であって、透明シート材を外観検査する位置に透明シート材に換えて載置可能な矩形状の額縁部材、並びに該額縁部材を前記外観検査位置に載置したときに、前記透明シート材の表面と同一の高さになるように前記額縁部材に張られた、少なくとも1本の明色糸状部材、及び/又は少なくとも1本の暗色糸状部材を有することを特徴とする検査用治具。 (もっと読む)


【課題】レーザー光を利用した基板上の異物を検知する異物検知装置の光軸がズレることなく、吐出装置と固定する。
【解決手段】シート状基板と相対的に移動することにより基板を走査し、基板表面に塗布液を吐出する塗布装置において、塗布液の吐出装置の走査方向上流側に配置され、基板上の異物を検知する異物検知装置を少なくとも有する塗布装置であって、前記異物検知装置はレーザー光を基板表面と平行に照射する投光装置、前記投光されたレーザー光を受光する受光装置、投光装置ならびに受光装置それぞれに当接する面に弾性体を有し前記投光装置または受光装置の保持部材に対し接離自在のL型部材、および前記L型部材を前記投光装置または受光装置の保持部材に対し接離動作を行う作動部材により構成する。 (もっと読む)


【課題】容器詰め液製品の検査において、未検査品の再検査や被検体の複数回検査を、人手を介することなくスムーズに行えるようにする。
【解決手段】被検体画像検査装置20は、検査ロータ10の外周部近傍に設けられ、検査ロータ10の保持部に保持されて移動する被検体の外観画像を取得して、その外観画像に基づきその被検体における不良の有無を検査する。検査制御装置30は、被検体画像検査装置20の検査結果の基づき、その被検体が良品、不良品および未検査品のいずれであるかを判定し、未検査品と判定した被検体については、被検体分別用スターホイル60を制御して、その被検体を被検体回帰用スターホイル70へ受け渡させ、その被検体が検査ロータ10に戻るように制御する。また、そのときには、検査制御装置30は、投入被検体搬送装置40に設けられた搬送抑制ゲート制御して、被検体の被検体供給用スターホイル50への搬送を停止させる。 (もっと読む)


【課題】表面に微細な凹凸形状等の地合パターンを有するシート材の欠陥を、迅速かつ再現性良く検査する方法を提供する。
【解決手段】焦点調整用シート材を欠陥検査位置に載置し、カメラの焦点を合わせる第1のフォーカス工程、前記焦点調整用シート材から当該カメラの焦点をずらすように調整する第1のデフォーカス工程、第1のフォーカス工程における焦点位置Aから第1のデフォーカス工程における焦点位置Bまでの距離dを計測及び記録する工程、被検査シート材を第1のフォーカス工程と同一又は異なる欠陥検査位置に載置し、その地合パターンにカメラの焦点を合わせる第2のフォーカス工程、及び当該カメラの焦点を、第2のフォーカス工程における焦点位置A’から、前記距離d分ずらした焦点位置B’に合わせる第2のデフォーカス工程、及び焦点位置B’に焦点を合わせたカメラで被検査シート材の欠陥を検査する工程、を含むことを特徴とする欠陥検査方法。 (もっと読む)


【課題】対象物の表面における光の照射位置に微小な凹凸が形成されている場合でも、この凹凸の影響を排除しつつ、予め規定された高さ以上の異物欠陥が対象物の表面上に存在するか否かを判定する。
【解決手段】表面欠陥検査装置10は、ウェハ26の表面に斜方から光を照射するラインレーザ14と、ウェハ26の表面におけるラインレーザ光28の照射位置P2よりもラインレーザ14側の位置であってウェハ26の表面から予め規定された高さ離間した規定高さ位置P1において反射したラインレーザ光28の反射光を検出するための第一ラインカメラ16と、照射位置P2において反射したラインレーザ光28の反射光を検出するための第二ラインカメラ18と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】検出系からの検出画像信号を補正することにより、複数の検査装置(機体)間での検査感度の機体差を低減することにある。
【解決手段】被検査対象001に光束を照射する光源と、被検査対象から反射する反射散乱光を導く光学系100と、導かれた反射散乱光を電気の検出信号に換える複数の光電セルが配列されている光電イメージセンサ400と、前記光電イメージセンサを分割した複数の領域ごとに、それぞれに対応する信号補正部、A/D変換器および画像生成部から構成される検出信号伝送部と、前記検出信号伝送部が出力する部分的な画像を合成する画像を作成する画像合成部と、合成された画像を処理することで被検査対象表面の欠陥あるいは異物の検査を行なう検査装置において、検出信号伝送部は、光電セルからの検出信号を各チャンネル毎に定めた基準検出信号強度の基準目標値に近づけるように補正できる検出信号補正機能を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】光弾性を有する板状体の欠陥を良好に検出可能な欠陥検出装置を提供することができる。
【解決手段】欠陥検出装置は、光弾性を有する板状体Pに光を透過させることにより、該板状体Pの欠陥を検出する。欠陥検出装置は、板状体Pより前に光が透過する直線偏光子2と、板状体Pより後に光が透過する1/4波長板3aと、1/4波長板3aより後に光が入射し、透過軸が1/4波長板3aの遅相軸に対して45度傾いている直線偏光子3bと、を有する。 (もっと読む)


【課題】誤って検出される擬似欠陥の数を低減できるとともに、欠陥の検出感度を落とすことなく、本来検出されるべき真の欠陥を検出できる基板検査方法及びその基板検査用のフィルタ画像の画像作成方法を提供する。
【解決手段】
基板の欠陥の有無を検査するために擬似欠陥を除去するためのフィルタ画像を作成する画像作成方法において、登録された画像の中心位置を中心とする円の円周上に位置するいずれかの画素の画素値を、円周上に位置する画素から選択した複数の画素の画素値のうちの最大値に置換することによって、フィルタ画像を作成するフィルタ画像作成工程S14とを有する。 (もっと読む)


【課題】被検査物が複雑な形状である場合でも、精度よく欠陥を検出することができる欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】欠陥検出方法は、撮像工程により被検査物を撮像し、エッジ検出工程により得られた画像データに基づいて、構造パターンの外周形状であるエッジを検出し、ライン検出工程により、エッジの最外周画素の集合であるラインを検出し、構造ライン取得工程によりエッジが境界となる複数の構造パターンに対してそれぞれに接するラインである構造ラインを取得し、エッジ幅取得工程により2つの異なる構造ライン間の距離をエッジ幅として取得し、平均エッジ幅算出工程により同じ構造ライン上の任意の2点を始点及び終点として設定し、始点から終点までの平均エッジ幅を取得する。そして、欠陥検出工程により、平均エッジ幅とエッジ幅とを比較し欠陥を検出する。 (もっと読む)


【課題】品質に問題とならないケーキ表面のケーキ崩れ、ケーキ片、表面凹凸により生じた影及び容器側面に付着したケーキ粉等と、品質に問題となる異物とを正確に識別して検出する。
【解決手段】ケーキ表面に対して一対のカメラ10,11を対角上に配置し、照明6はケーキ表面が均一に照射されるように拡散して片方のカメラ側に配置し、照明と反対側のカメラではケーキ崩れ、ケーキ片、表面凹凸部分に照明側のカメラに比べて影が出やすくする。異物は、ケーキ表面が照射されているため各々のカメラから明暗差を落とさず見ることができる。この特徴を利用して、双方のカメラで明暗差が発生している部分を異物として抽出し、片方のカメラのみで明暗差が発生している部分は、ケーキ崩れ、ケーキ片、表面凹凸による影と判定し、良品扱いとする。 (もっと読む)


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