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Fターム[2G051AB01]の内容

光学的手段による材料の調査の特殊な応用 (70,229) | 調査・分析パラメータ (9,064) | 表面上のゴミ (1,307)

Fターム[2G051AB01]に分類される特許

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【課題】試料に実在する欠陥に起因する輝度変化を、各種ノイズから分離して検出できる検査装置を実現する。
【解決手段】本発明では、試料表面上に主走査方向に整列した複数個の走査スポットを形成し、試料表面の同一の部位を、主走査方向に整列したn個の走査スポットにより所定の時間間隔で順次走査する。n個の走査スポットからの反射ビームをそれぞれ光検出素子により受光する。信号処理装置は、n個の光検出素子から出力される輝度信号中に、所定の閾値を超えると共に互いに時間的又は位置的に対応する輝度変化が存在する場合、試料上に欠陥が存在するものと判定する。本発明によれば、試料表面上に形成された欠陥に起因する輝度変化は、光源ノイズや光検出器の熱雑音から分離して検出されるので、疑似欠陥が増大することなく、欠陥の検出感度を高く設定することが可能になる。 (もっと読む)


【課題】管内面の状態や寸法によらずに管内面を検査することができる管内面検査装置およびその検査方法を提供する。
【解決手段】本発明の実施形態は、管2内面の検査箇所にパターンを有するパターン光P1を管2内面の周方向にわたって投影する投影手段11と、検査箇所に投影され反射されたパターン光を反射パターン光P2として投影する表示手段12と、反射パターン光P2の形状を観測する観測手段13とを備える。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板の表面に沿って欠陥検知手段を走査することで表面上の欠陥を検出する場合において、設備投資を抑えつつも欠陥の検出精度を高めること、並びにガラス基板の波打ち等に起因した種々の問題発生を可及的に回避することを可能とする。
【解決手段】ガラス基板10と、このガラス基板10の表面10aに対向配置した欠陥検知手段5とを相対移動させ、ガラス基板10の表面10aに沿って欠陥検知手段5を走査させることにより、ガラス基板10が欠陥を有するか否かを検査するに際し、ガラス基板10を、上記相対移動方向と直交する断面において、その表面10a側が凹状となる湾曲形態で保持する。ガラス基板10は、例えば縦姿勢とされ、その上辺11と下辺12とを一対の端部保持手段3,4でそれぞれ保持することにより上記の湾曲形態で保持される。 (もっと読む)


【課題】ユーザそれぞれが、自身がその存在を感得しているレシピについて、他のユーザがその存在を含めた設定内容を感得できないように、そのレシピの存在自体も含めてレシピの設定内容を隠蔽しておくことができる検査装置及びその隠蔽方法を提供する。
【解決手段】ユーザそれぞれが、自身の閲覧設定画面500上でその存在を感得しているレシピについて、他のユーザがその存在を含めた設定内容を感得できないように他のユーザを隠蔽先に含む隠蔽ID情報を生成するレシピ隠蔽情報作成機能部116と、ユーザそれぞれの閲覧設定画面500を表示する際、隠蔽ID情報ファイル240に格納されている隠蔽ID情報に基づいて、ユーザそれぞれの閲覧設定画面500の生成のためのレシピ表示情報を作成する表示情報作成機能部120とを備える。 (もっと読む)


【課題】検査速度の低下を伴うことなく、かつ装置容積に占める信号処理部の比率を増加させることなく、データメモリのオーバーフローを回避し、ウエハ全面の検査データを取得するが可能な表面検査装置を実現する。
【解決手段】後処理手段111のブロック化手段300は前処理手段からのデータを任意のデータ数で1ブロックとし1ブロックで1データを取り出す。ブロック化手段300は状態監視手段302の指示でブロック化数を変更する。閾値処理手段301は設定閾値に従いブロック化手段300からのデータに対し閾値を越えた場合にデータを取得しメモリ303へ送る。状態監視手段302はメモリ303の空容量を監視しメモリ303内の空き容量の減少を検知した場合ブロック化手段300に対し、メモリ303がオーバーフローしないように1ブロックのデータ数を増加させる。 (もっと読む)


【課題】積層フィルムの擬似欠陥の有無の判定を簡単に行う。
【解決手段】偏光板13とセパレータ15を有する積層フィルム9上に、偏光フィルタ19を配置する。偏光フィルタ19の偏光軸を、偏光板13の偏光軸と略直交させる。積層フィルム9の直下にライン光源17を配置し、偏光フィルタ19の直上にラインセンサカメラ20を配置する。ライン光源17から積層フィルム9に向けて検査光24を照射する。積層フィルム9及び偏光フィルタ19を透過した検査光24をラインセンサカメラ20で撮像する。撮像により得られた画像データ41から、輝度が高くなる高輝度領域40を欠陥画像データとして抽出する。欠陥画像データが2つの高輝度領域40が並ぶ特定欠陥画像データである場合に、この欠陥画像データに対応するフィルム欠陥部分を、擬似欠陥であると判定する。 (もっと読む)


【課題】微細化あるいはハイアスペクト化された凹部を有する構造体に対するパターン検査の精度を向上させることができるパターン検査方法およびパターン検査装置を提供することである。
【解決手段】本発明の実施態様によれば、構造体が有する凹部にX線または真空紫外線を集光させ、前記集光させた前記X線または前記真空紫外線を前記凹部の内部において伝播させて前記凹部の底面に到達させ、前記底面で反射または前記底面を透過した前記X線または前記真空紫外線の強度を検出することにより前記凹部の欠陥の有無を検査することを特徴とするパターン検査方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】 作業者が疲労し難く、作業効率を維持でき、視力を損なう虞がなく、健康上も問題なく、目視による検査が効率的にできる光透過性物品検査装置を提供する。
【解決手段】 半透明の搬送ベルト16上に物品を載置させて移動させる搬送装置2と、搬送装置2を支持する支持架台3と、搬送ベルト16の下方に、半導体発光素子59,63,64,65をプリント基板57,61上に載置、固定したLED装着体53,54を配設し、搬送ベルト16を下方から照射する照射装置4と、搬送ベルト16を作動、制御すると共に、半導体発光素子59,63,64,65の発光を制御する制御装置5とから物品検査装置1を構成する。 (もっと読む)


【課題】陽極酸化アルミナの状態(微細凹凸構造の形状、欠陥等)を簡易に検査できる検査装置および検査方法、ならびに陽極酸化アルミナの微細凹凸構造の形状等のムラや表面の欠陥が抑えられた、陽極酸化アルミナを表面に有する部材の製造方法を提供する。
【解決手段】モールド100に光を照射するライン状照明装置10(第一の照射手段)と;モールド100の陽極酸化アルミナで反射した光を撮像するカラーラインCCDカメラ12(第一の撮像手段)と;モールド100に光を照射するライン状照明装置20(第二の照射手段)と;モールド100の陽極酸化アルミナで反射した光を撮像するモノクロラインCCDカメラ22(第二の撮像手段)と;2つのカメラによって撮像された画像から得られた色情報および輝度情報に基づいて陽極酸化アルミナの状態の良否を判定する画像処理装置30(画像処理手段)とを有する検査装置を用いる。 (もっと読む)


【課題】検査装置における伝送プロトコルは画像データの送信側と受信側が使用する伝送プロトコルに応じて最適化されている。このため、使用する伝送プロトコルが変更されると、データの分配を実行する部分の再開発が必要とされる。
【解決手段】画像データに付加情報を付して出力する撮像部と画像データを処理する画像処理部との間に画像分配部を配置する。さらに、画像分配部を、第1の伝送プロトコルにより撮像部から入力される画像データを所定のデータ形式に変換する画像入力部と、所定のデータ形式に変換されたデータの分配を制御する分配制御部と、所定のデータ形式のデータを第2の伝送プロトコルの画像データに変換して画像処理部に出力する画像出力部とで構成する。 (もっと読む)


【課題】異物を伴わない単なるフィルム基材の波打ち現象を欠陥と誤認識することのない反射防止フィルム基材の欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】フィルム基材5に照射された照射光のうち斜め方向に反射する光を受光する第一の反射撮像光学系7,10とフィルム基材5に照射された照射光のうち垂直方向に透過する光を受光する第二の透過撮像光学系6,9とを備え、第一の反射撮像光学系が欠陥を検出した場合、第二の透過撮像光学系もフィルム基材上の同じ位置に欠陥を検出していた場合に限り、当該部位に欠陥があると判定することを特徴とする反射防止フィルム基材5の欠陥検査方法である。 (もっと読む)


【課題】高精度なウエハステージの移動制御を行う。
【解決手段】ウエハステージの位置を計測するために用いられるスケール39Y2に対して検出装置PDY1の照射系69Aからの検出ビームを照射し、スケール39Y2を介した検出ビームを受光系69Bで検出することにより、スケールの表面状態(異物の存在状態)を検出する。これにより、スケールに対して非接触で表面状態の検出を行うことができる。さらに、この表面状態を考慮することで、ウエハステージの移動制御を高精度に行うことができる。 (もっと読む)


【課題】ウェハを外周で保持する機構では、ウェハが自重で撓む場合がある。そこで平面度を保持するためにウェハとウェハ下の保持台との間に空気を供給する方法がある。しかし、この方法では異物がウェハに付着する場合がある。
【解決手段】ウェハの平面度を保持するためにウェハ、及びウェハ下の保持台に負電圧をかける。この静電力によってウェハに上向きの力を与え、平面を保持する。また、この方法により負に帯電した異物の付着を防止する。 (もっと読む)


【課題】被検レンズが曲率半径の小さい形状であっても、1回の撮像によって被検レンズの全体について異物の検出を可能とする手段を提供する。
【解決手段】本発明に係るレンズ異物検出装置10は、被検レンズLを挟んで光軸方向一方側に配置され、平行でコヒーレントなレーザ光束を被検レンズLに照射するレーザ照射機構12と、被検レンズLを挟んで光軸方向他方側に配置され、被検レンズLを透過したレーザ光束を受光して被検レンズLの画像15を取得する撮像機構13と、被検レンズLの画像中における干渉縞17の存否に基づいて、被検レンズLにおける異物16の付着の有無を判定する制御部141と、を備えるものである。 (もっと読む)


【課題】 多様な種類のボトルに適用可能であり、ボトル底面に存在する欠陥の有無を高精度に判定することができる、透明体ボトルの外観検査装置を提供する。
【解決手段】 開口部103を有する透明体ボトルの底外面102に向けて第1の周波数の拡散光を照射可能な第1光源部3と、前記透明体ボトルの底外面102に向けて第2の周波数の平行光を照射可能な第2光源部4と、前記透明体ボトルの開口部103に隣接し、前記第1光源部3及び第2光源部4から照射された光を判別して、前記開口部103を通して前記底内面を撮像するエリアカメラ2と、前記エリアカメラ2により撮像された前記第1光源部3からの光による第1画像及び第2光源部4からの光による第2画像に基づいて、前記透明体ボトルの底面の欠陥の有無を判定する欠陥判定部6と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 被検査画像から微小欠陥を検出するとともに、当該欠陥の色の違いを識別することができる外観検査装置および外観検査方法。
【解決手段】 被検査基板を撮像部30で撮像することで被検査画像を取得する。被検査画像に対して微分処理部412は水平方向に微分演算処理を行う。そして、微分処理部412は、水平方向の微分処理結果に対して、さらに垂直方向に微分演算処理を行い欠陥候補検出画像423を生成する。欠陥検出部403が欠陥候補検出画像423中の欠陥候補と、欠陥候補が示す特徴を記録した欠陥識別情報428とを比較することで、欠陥を検出するとともに、検出された欠陥が白欠陥であるか黒欠陥であるか識別することができる。 (もっと読む)


【課題】鋼材を加熱する際に生じる温度ムラの影響を受けずに鋼材表面の欠陥、例えば、溶融亜鉛メッキを施す際に生じるいわゆるドロス疵を正しく認識する鋼材の欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】予め、無欠陥部を加熱した上で赤外線サーモグラフィカメラを用いて材料の表面温度を熱画像データとして取得し、表面温度のラプラシアン標準偏差を鋼材表面温度の関数として定めておく。被検査鋼材を加熱した上で赤外線サーモグラフィカメラを用いて材料の表面温度を熱画像データとして取得し、表面温度のラプラシアンを算出し、そのラプラシアンを、表面温度に対応するラプラシアンの標準偏差で補正し、補正したラプラシアンに基づいて被検査材表面付近の欠陥の有無を評価する。 (もっと読む)


【課題】微量な光硬化性樹脂を高感度かつ簡便に検出可能な光硬化性樹脂の検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】光硬化性樹脂の検査装置は、検査対象物における光硬化性樹脂を検査するための検査装置であって、パルス光源1と、ストリークカメラ7とを備えている。パルス光源1は、プリント配線板5にパルス状の紫外光を照射するためのものである。ストリークカメラ7は、パルス光源1から照射される紫外光のパルスの幅よりも遅れた時間に、プリント配線板5における紫外光の照射部のソルダーレジスト53の残渣から生じる蛍光を検出するためのものである。 (もっと読む)


【課題】被検物を高温に加熱することなく、被検物の放射率を測定する放射率測定方法及び装置を提供する。
【解決手段】第1放射エネルギの赤外光を被検物に照射する赤外光照射工程と、前記赤外光を照射された前記被検物からの反射赤外光から第2放射エネルギを測定する測定工程と、前記第2放射エネルギと前記第2放射エネルギとに基づいて前記被検物の放射率を算出する算出工程と、を含む放射率測定方法である。 (もっと読む)


【課題】工場、サービスステーションおよび生コン工場等での現場での品質管理の精度向上を課題とした。特に、セメントの色調を測定して、セメントの種類の特定、異物混入の判定、混合物の濃度管理を簡便にできるセメント用色彩色差計およびその使用方法を実現することを課題とした。
【解決手段】そこで、波長域が400〜750nmを含む光源、波長域400〜750nmの光を検知できる検知部と、透光性の試料カバー部、を含み、試料カバーを通して試料に照射する光源からの光の照射方向と、試料からの反射光を検知する検知管の取付け方向のなす角度が30度から60度に設定されて配置されることを特徴とするセメント用色彩色差計、を提供する。 (もっと読む)


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