【課題】凝集性のある被測定物を高感度に測定することのできる測定方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、金属からなり、複数の空隙部が少なくとも１つの配列方向に規則的に配列された空隙配置構造体の少なくとも一方の主面側に、凝集性を有する被測定物を保持し、上記空隙配置構造体に対して一方の主面側から電磁波を照射し、上記空隙配置構造体を透過した電磁波、または、上記空隙配置構造体で反射された電磁波を検出し、検出された電磁波の周波数特性から上記被測定物の物質量を測定する測定方法に関する。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で、広い波長帯域で使用でき、測定精度を向上し得る、屈折率および屈折率温度係数の測定装置を提供する。
【解決手段】窓６０１を介して恒温槽６内部に入射し、ウェッジプリズム型試料７の第１面７０１で反射した後に窓６０１を介して恒温槽６外部へ射出した平行光束か、または窓６０１を介して恒温槽６内部に入射し第１面７０１から試料７内部に入射し第２面７０２の裏面で反射した後に第１面７０１を経て試料７外部へ射出し、窓６０１を介して恒温槽６外部へ射出した平行光束が、コリメータ部５に戻りコリメータミラー５０２で集光された後にミラースリット５０１のミラー面５０１ａで反射された光束を受信する測定光デテクタ１１と、試料回転ステージ８の回転制御を行い、測定光デテクタ１１からの出力と回転角度検出部８ａで検出された試料回転ステージ８の回転角度との関係に基づき、試料７の屈折率を算出する解析制御部１５とを有する。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、迅速に布帛in vitroＳＰＦ値を、低コストで客観的に評価することのできる布帛用in vitroＳＰＦ評価装置を提供する。
【解決手段】本発明の測定方法はＵＶＢ及び／又はＵＶＡを放射する光源と、該光源より放射された紫外線Ｕ１の所望の波長λを選択する分光器と、布帛が入れられ、該分光器からの紫外線Ｕ２が該布帛に照射されるように設置された紫外線透過材料からなる試料保持板と、該布帛からの拡散透過光Ｕ３を集光する積分球と、該拡散透過光Ｕ３の光量を検出する検出器と、所定の測定波長範囲及びスペクトルバンド幅の拡散透過スペクトルが得られるように該分光器を制御する分光器制御手段と、該スペクトルＴを用いて、式（１）に従いＳＰＦ相当値を計算する算定手段と、を備えたことを特徴とする布帛用in vitroＳＰＦ評価装置。 （もっと読む）

【課題】異なる波長特性を有する複数の撮像手段を用いて、特定の対象物までの距離を精度よく測定することができるようにする。
【解決手段】各々感度を有する波長帯が異なる第１撮像装置１２及び第２撮像装置１４によって、各々異なる視点から所定領域を撮像する。対象物抽出部３２によって、撮像された撮像画像の各々から、人間の肌についての光の波長帯の各々の反射強度に関する予め定められた条件に基づいて、人間の肌領域を抽出する。位置合わせ部３４によって、撮影画像の各々から抽出された人間の肌領域の位置合わせを行って、人間の肌領域における視差量を算出する。距離測定部３６によって、算出された視差量に基づいて、人物までの距離を測定し、分光データ生成部３８によって、人間の肌領域の分光データを生成する。 （もっと読む）

【課題】割れたりしたガラスびん、キャップやラベルなどが付いているガラスびんなどからガラスの原料であるカレットを製造できるようにするガラスびんの処理方法および処理システムを提供する。
【解決手段】ラベルが付着したり、キャップが付いたままのびん首、アルミや鉄などが混入したりした原料から、ラベルをガラス片を転動流下させながら擦り合わせて剥離させ、キャップが付いたびん首を原料から除去し、剥離させたラベルを原料から吸引除去し、その上原料に混入しているアルミと鉄をアルミと鉄とガラスとの磁気特性の相違を利用して原料から除去してカレット製造に適する原料とするものである。 （もっと読む）

【課題】検光子を一定の回転速度で回転させ、かつ被計測物の計測を比較的短い時間で行う偏光解析装置を提供する。
【解決手段】照明装置１０は被計測物１に光を照射し、撮像手段２０は被計測物１からの反射光を受光する。被計測物１と撮像手段２０との間には、回転手段２２により回転される検光子２１が配置される。検光子２１の回転角度は角度センサ２３が検出する。角度センサ２３が規定の回転角度を示す時点で、トリガ手段２５が照明装置１０と撮像手段２０とにトリガ信号を出力し、撮像手段２０が被計測物１からの反射光を受光している間に、照明装置１０が閃光を発生させる。解析手段２４は、照明装置１０が閃光を発生させた時点で角度センサ２３が検出した検光子２１の回転角度と、撮像手段２０が受光した光の強度とを用いて反射光の偏光状態を解析する。 （もっと読む）

【課題】ヒトの皮膚の視覚的魅力を改善するために、反射変性剤を塗布するための好適なシステムおよび方法を提供すること。
【解決手段】コンピュータ制御システムは、ヒトの皮膚のエリアであるフレキセルの属性を決定し、一般に皮膚をより若々しく且つより一層魅力的に見せるために、変性剤（ＲＭＡ）を画素レベルで塗布する。当該システムは、フレキセルをスキャンし、魅力的でない属性を識別し、一般にインクジェットプリンタでＲＭＡを塗布する。識別される属性は反射率に関するものであり、不規則に見える濃淡の斑、老斑、傷、および痣等の特徴を指す場合がある。識別される属性はまた、皮膚の表面トポロジに関するものであってよく、より正確には、瘤およびシワ等のムラを改善することである。 （もっと読む）

【課題】高速且つ高精度に円二色性イメージを撮像することが可能な円二色性イメージング装置を提供する。
【解決手段】円二色性イメージング装置１では、右円偏光画像を撮像するための第１の期間では、光源１０からパルス光を出射しているときに、変調器３０によってパルス光が右円偏光に変調され、この結果カメラ５０によって撮像された画像が右円偏光画像として右円偏光画像格納部６３に格納される。また、左円偏光画像を撮像する第２の期間では、光源１０からパルス光を出射しているときに、変調器３０よってパルス光が左円偏光に変調され、この結果カメラ５０によって撮像された画像が左円偏光画像として左円偏光画像格納部６３に格納される。そして、上記の結果得られた右円偏光画像と左円偏光画像とから円二色性イメージを作成・出力する。 （もっと読む）

【課題】光学フィルムを停止させることなく、光学フィルムの光学特性を高精度に測定する。
【解決手段】光学フィルム１１に円偏光を測定光として照射する投光部１２と、Ｙ方向に配列された複数種類の波長板と、ひとつの測定値を得る単位となる結合画素を波長板の各々に対応するように設けた単位受光エリアがＸ方向に複数配列された撮像素子とを有し、光学フィルム１１を透過した測定光を複数種類の偏光状態で単位受光エリア毎に受光する受光部１３と、光学フィルム１１をＸ方向に搬送することにより、単位測定エリアを移動させる搬送ローラ１４と、単位測定エリアを移動させながら測定光を複数の単位受光エリアで受光することによって、同一の単位測定エリアについて複数得られる測定値から単位測定エリアのミュラー行列を算出するとともに、算出したミュラー行列の要素を用いて光学特性を算出する制御部１６と、を備える。 （もっと読む）

【課題】高速且つ高精度に円二色性イメージを撮像することが可能な円二色性イメージング装置を提供する。
【解決手段】円二色性イメージング装置１では、カメラ５１が右円偏光及び左円偏光の一度の出射時間と等しいか又はそれよりも短い撮像時間での撮像可能とされ、右円偏光及び左円偏光のいずれかが試料１００により透過された透過光による画像がカメラ５１により撮像される。このとき、タイミング信号発信器７０からのタイミング信号と、変調信号発振器３２による変調信号の周期とに基づいて、各画像が右円偏光及び左円偏光のいずれの透過光を撮像したものであるかが判断部６１により判断され、右円偏光画像であると判断された画像は右円偏光画像格納部６２に格納されると共に、左円偏光画像であると判断された画像は左円偏光画像格納部６３に格納される。この結果得られた右円偏光画像と左円偏光画像とから円二色性イメージを作成・出力する。 （もっと読む）

【課題】光学フィルムを停止させることなく、光学フィルムの光学特性を高精度に測定する。
【解決手段】光学フィルム１１に円偏光を測定光として照射する投光部１２と、Ｘ方向に配列された複数種類の波長板と、各波長板に対応する領域内に、ひとつの測定値を得る単位となる単位受光エリアが複数配列された撮像素子とを有し、光学フィルム１１を透過した測定光を複数種類の偏光状態で単位受光エリア毎に受光する受光部１３と、光学フィルム１１をＸ方向に搬送することにより、単位測定エリアをＸ方向に移動させる搬送ローラ１４と、単位測定エリアをＸ方向に移動させながら単位測定エリアを透過した測定光を複数の単位受光エリアで受光することによって、同一の単位測定エリアについて複数得られる測定値から単位測定エリアのミュラー行列を算出するとともに、算出したミュラー行列の要素を用いて光学特性を算出する制御部１６と、を備える。 （もっと読む）

【課題】 発光材料の評価に好適に用いることが可能な分光測定装置、方法、及びプログラムを提供する。
【解決手段】 試料Ｓが内部に配置され、励起光を入射する入射開口部２１及び試料Ｓからの被測定光を出射する出射開口部２２を有する積分球２０と、被測定光を分光して波長スペクトルを取得する分光分析装置３０と、データ解析装置５０とを備えて分光測定装置１Ａを構成する。解析装置５０は、波長スペクトルにおいて励起光に対応する第１対象領域、及び試料Ｓからの発光に対応する第２対象領域を設定する対象領域設定部と、第１、第２対象領域を用いて波長スペクトルを解析する試料情報解析部とを有し、試料情報解析部は、励起光スペクトルについて、参照波長スペクトルでの励起光ピークを、試料の波長スペクトルでの励起光ピークに合わせ、その状態でスペクトルの減算を行う。 （もっと読む）

【課題】波面の分解能を改善した波面測定装置の提供。
【解決手段】電磁波パルス１の電場強度に関する信号を検出する検出部３と、電磁波パルスの伝搬経路として第一の伝搬経路と前記第一の伝搬経路と異なる領域に前記第一の伝搬経路と異なる長さの第二の伝搬経路とを備えるように前記検出部に到達する電磁波パルスを遅延させる遅延光学部と、前記検出部により検出された電場強度に関する信号を用いて電磁波パルスの時間波形を構成する波形構成部４ａと、前記電磁波パルスの時間波形と前記遅延光学部における前記第一、前記第二の伝搬経路の長さに関する情報とに基づき電磁波パルスの波面を取得する波面取得部４ｂと、を有する。 （もっと読む）

【課題】キャリア寿命を短縮（制御）することで、テラヘルツ電磁波の発生または検出を効率良く行うことのできる光伝導基板およびこれを用いた電磁波発生検出装置を提供する。
【解決手段】本発明の電磁波発生検出装置１は、基板３と、基板３上に成長させたバッファ層４と、バッファ層４上に成長させた半導体層５と、を備え、半導体層５は、光電効果が生じる領域内に転位を有した光伝導基板２を備え、半導体層５上に形成されたアンテナ６を備えている。 （もっと読む）

【課題】単結晶シリコン太陽電池表面上に成膜された反射防止膜の膜厚および屈折率を有効に測定するためのエリプソメーター装置を得ること。
【解決手段】実施の形態にかかるエリプソメーター装置１０は、反射防止膜が形成された測定試料１の反射防止膜が形成された面へレーザー光を照射する光源５と、前記測定試料から反射された反射光に基づいて反射光の偏光変化量を測定することにより前記反射防止膜の膜厚および屈折率を測定する検出器６と、前記測定試料を試料設置面にて保持し、前記試料設置面と垂直な方向を軸にして前記測定試料を回転する回転角度調節部と、前記測定試料を傾斜させる傾斜調節部とを有するステージ２と、前記ステージをステージ設置面上に保持する支持部７と、を備える。 （もっと読む）

【課題】分光システムにおいて、反射しないで受信される信号と反射してから受信される信号を分離する。
【解決手段】各信号強度検出回路（狭帯域フィルタ１１８、検波器１１９、ＡＤ変換器１２０）は、受信用ミキサ１１５からの信号から予め定められた各周波数の成分を分離して抽出する。また、波長可変レーザ光源１０１からの光の波長が一定の期間において波長可変レーザ光源１０３からの光の波長を当該波長が複数の波長のそれぞれに等しくなる期間が離散的になるように変化させる。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ電磁波の検出または発生が効率良く行われ、Ｓ／Ｎ比を向上させることができる光伝導基板およびこれを用いた電磁波発生検出装置を提供する。
【解決手段】基板３と、基板３上に積層された半導体積層群５と、を備え、半導体積層群５は、第１化合物半導体層５１と、第１化合物半導体層５１上に、第１化合物半導体層５１と屈折率が異なると共に励起光の表面反射を低減できる層厚で成長させた第２化合物半導体層５２と、を有している。 （もっと読む）

【課題】測定装置を較正するため、較正位置に移動した場合にも、より高い正確性で較正できる較正方法を提供する。
【解決手段】光出口開口部１７を含む中空体３と光検出器４，５および光源６は、測定位置から較正位置へスイッチするため、回転可能である。中空体は、その内部に拡散散乱層１５があり、光源から発せられる光は、中空体の内部で全方向に拡散され、この拡散光の一部は、光出口開口部を通して中空体を出る。測定装置の位置に応じて、その後、試料Ｘ（測定位置）へ、又は、参照基準７（較正位置）へ通過する。そこから、少なくとも部分的に、光出口開口部を通って中空体の中へ送り戻される。第１光検出器４は両位置において光出口開口部を通って中空体の中に入射する光を受信するよう整列され、第２光検出器５は両位置において拡散散乱層による散乱光を受信するよう整列される。 （もっと読む）

【課題】 簡易な測定によってアモルファス有機半導体等の物質のキャリア挙動を測定する。
【解決手段】 本発明のある態様においては、試験片１の被測定物質１Ｓのうち電界が印加されているある領域に励起光パルスを照射する光励起工程と、ＴＢＣ用プローブ光を試験片１の領域に対し照射する工程と、変形ＨＴＯＦ強度を測定する工程と、ＴＢＣ強度を測定する工程とを含む被測定物質１Ｓのキャリア挙動の測定方法が提供される。励起光パルスは、互いに可干渉な２光束の所定の短時間照射の光パルスであり、ＴＢＣ用プローブ光は、励起光パルスと同一波長の互いに可干渉な２光束の光である。励起光パルスとＴＢＣ用プローブ光は、ともに光路の組１４および１６により照射される。変形ＨＴＯＦ強度は、回折強度測定用プローブ光の回折強度の時間変化として測定され、ＴＢＣ強度はＴＢＣ用プローブ光の時間変化として測定される。 （もっと読む）

【課題】大表面半透明物体（１）の透過特性及び／又は反射特性を判定するための光学測定方法を提供する。
【解決手段】方法は、特に表面を被覆された基板（１）の製造時のプロセス監視及び品質検査に用い得る。本発明は更に本方法を適用する光学測定装置に関する。本発明によれば、透過特性及び反射特性は、連続して、物体（１）の第１の大表面（３）が第１の照明装置（９）により照明され、光検出器（１４）が全透過率を測定し、第１の大表面の反対側に第１の大表面と平行に位置する物体（１）の第２の大表面（２）が第２の照明装置（７）により照明され、光検出器（４）が拡散透過率を測定し、任意選択で、物体（１）の第１の大表面（３）が第１の照明装置（９）により照明され、光検出器（４）が反射率を測定し、及び／又は物体（１）の第２の大表面（２）が第２の照明装置（７）により照明され、光検出器（１４）が反射率を測定するという方法で測定される。 （もっと読む）