【課題】非接触三次元測定器による測定対象物の表面における光沢が異なる場合においても測定精度を保証することが可能な、標準ゲージ、測定器の測定精度保証方法、標準ゲージの製造方法、及び、測定器の性能評価方法を提供する。
【解決手段】標準ゲージＧ１は、所定の強さで入射光を対象物に照射した場合に、入射光の強さに対する正反射光と拡散反射光との両方の強さの割合を計測した積分反射率ＳＣＩと、入射光の強さに対する拡散反射光の強さのみの割合を計測した拡散反射率ＳＣＥと、がそれぞれ異なる１２枚の平板ａから平板ｊを組合せて構成したものである。 （もっと読む）

【課題】高コスト化及び大型化を招くことなく、対象物を従来よりも精度良く特定することができる光学センサを提供する。
【解決手段】 光源１１、コリメートレンズ１２、受光器１３、偏光フィルタ１４、受光器１５、及びこれらが収納される暗箱などを有している。そして、受光器１３は、内部拡散反射光に含まれるＰ偏光成分を受光し、受光器１５は、表面正反射光を主として受光するように配置されている。この場合は、受光器１３の出力信号と、受光器１５の出力信号とから、記録紙の銘柄を特定することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】液晶パラメータ測定の方法及び装置の提供。
【解決手段】第１電気コントローラにより線偏光ジェネレータを調整し、第２電気コントローラにより偏光分析器を調整する。該線偏光ジェネレータは光源からの入射光を受け取り並びに複数の偏光の特徴を抽出し、第１電気コントローラにより制御されて、この複数の偏光を測定サンプルに照射する。該測定サンプルを透過した光は偏光分析器に受け取られる。第２電気コントローラは該偏光分析器を制御して特定の偏光を抽出して後端のデータ処理装置に送る。該データ処理装置は該偏光分析器からの偏光データを受け取り液晶分割層モデルを使用して少なくとも一つの液晶パラメータを得る。 （もっと読む）

【課題】Ｓ／Ｎの低下を抑制しつつ、各セルにより検出された光のゲインをセル毎に設定することができる光検出装置および観察装置を提供する。
【解決手段】標本Ａからの光を検出して電気信号に変換するセルを複数有するマルチセル光検出器５２と、マルチセル光検出器５２により変換された電気信号を増幅する光検出回路５３とを備え、光検出回路５３が、各セルにより変換された電気信号のそれぞれの増幅率を設定する入力部４４と、入力部４４により設定された増幅率に応じて１画素として積算する電気信号のサンプリング数を決定し、決定したサンプリング数の電気信号を積算するＡＤデータ演算部とを備える光検出装置５０を採用する。 （もっと読む）

【課題】
フェムト秒レーザなどの高額な装置を追加することなく、テラヘルツ周波数を用いた物性測定の高速化を図る。
【解決手段】
フェムト秒レーザ１からのレーザはポンプ光３とプローブ光４に分け、ポンプ光３でテラヘルツ波発生素子６を照射する一方、プローブ光４はビームスプリッタ１６ａ、１６ｂ、１６ｃで４本に分岐し、夫々時間遅延ステージ１３ａ、１３ｂ、１３ｃ、１３ｄを介して複数のテラヘルツ波検出素子１０a〜１０dを照射する。テラヘルツ波検出素子１０a〜１０dは、プローブ光が照射された瞬間のテラヘルツ波受信強度に応じた電流を出力するので、プローブ光４ａ〜４ｄに波形測定範囲の４分の１ずつ遅れ時間を持たせることにより、
測定範囲を4分割して並行処理可能とし、物性測定の高速化を実現する。 （もっと読む）

【課題】測光装置において、被検面上で集光される照明光束の集光位置が被検面の面頂位置になるように被検体の位置を容易に調整して精度よく測光を行うことができるようにする。
【解決手段】光源１と、コリメータレンズ３と、照明光路に対して進退可能に保持され、進出時に、照明光束Ｌ_１を被検面６ａに集光しその反射光を測定光束Ｌ_３として集光する対物レンズ５と、測定光束Ｌ_３を測定光束Ｌ_４Ａとして集光する集光光学系８と、分光器９と、第２ビームスプリッタ７と、対物レンズ５の進出時には被検面６ａの像を結像し、退避時には被検面６ａに照射された平行な照明光束Ｌ_１の反射光による像を結像する観察光学系Ｏｂ_１と、結像された光像を撮像するカメラ１２と、この光像の位置を表示する位置表示部１３と、被検体６を測定基準軸Ｐ_０に沿う方向およびそれに直交する方向に移動可能に保持する移動ステージ１４と、を備える測光装置５０を用いる。 （もっと読む）

【課題】 被測定物内の線状領域に直交する方向において、複数個所のイメージングを同時に行う技術が望まれる。
【解決手段】 第１の光学系が、パルス状の検出用電磁波を被測定物に照射し、透過、又は反射した前記検出用電磁波を電気光学結晶に入射する。第２の光学系が、検出用電磁波のパルス面に対して、プローブ波のパルス面を傾斜させて、プローブ波を電気光学結晶に照射する。電気光学結晶を透過したプローブ波をカメラで検出する。第１の光学系又は前記第２の光学系は、検出用電磁波のパルス面とプローブ波のパルス面とに直交する仮想平面内において、検出用電磁波またはプローブ波のビーム断面を複数の単位領域に区分し、単位領域を通過するビームの光路長を相互に異ならせる補償光学部材を含む。補償光学部材は、電気光学結晶の表面と、前記仮想平面との交線方向の複数個所で、検出用電磁波のパルス面とプローブ波のパルス面との位相ずれを補償する。 （もっと読む）

【課題】磁気光学効果として観測される信号の絶対値を校正すると共に効率よく測定する。
【解決手段】磁気光学スペクトル分光装置１は、偏光面の角度φ_１，φ_２が調整可能な回転機構付き直線偏光板４，７と、回転偏光子法を用いた各直線偏光板４，７における偏光面の角度別のそれぞれの測定値４１に基づいてカー回転角の絶対値４３をそれぞれ算出する第１算出手段５１と、カー回転角の絶対値４３と第１直線偏光板４における偏光面である入射光偏光面の角度φ１との相関の有無を判別する相関判別手段５２と、相関が無いと判定された場合、偏光変調法を用いた測定値４２に基づいて試料のカー回転角のスペクトル４４を算出する第２算出手段５３と、スペクトル４４におけるカー回転角の値をカー回転角の絶対値４３に適合させる乗算を行い、校正されたスペクトルを当該試料の磁気光学特性のスペクトル４５として算出する第３算出手段５４とを備える。 （もっと読む）

【課題】光学マルチ波長インターフェロメトリーを使用した薄膜素子測定方法の提供。
【解決手段】光学マルチ波長インターフェロメトリー使用の薄膜素子測定方法が開示される。本発明は異なる波長での薄膜の反射係数を使用して薄膜の厚さと光学定数を測定する。試験表面と参考表面の間の反射位相差由来の位相差は異なる波長での測定を行うことで参考光束と試験光束の間の空間経路差に由来する位相差と区別され、なぜならそれらは測定波長変化に伴い異なった変化を示すためである。反射位相がそれから得られる。薄膜の測定反射率と結合され、薄膜の反射係数が得られる。各点の反射係数が収集され、該薄膜の厚さと２次元の光学定数分布が計算される。表面輪郭が、参考光束と私見光束の間の空間経路差を通して知られる。これらは動的干渉計で測定されて振動影響が回避される。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ分光法を用いて有機物質を検出する方法を提供すること。
【解決手段】本明細書において、有機物質を検出する方法、より具体的には、テラヘルツ分光法を用いて有機物質を検出する方法が開示される。テラヘルツ分光法を用いて有機物質を検出する方法は、有機物質を媒体中に懸濁させてサンプルを形成し、サンプルに、約１００ＧＨｚから約２ＴＨｚまでの範囲の複数の周波数を有する電磁放射の照射ビームを照射し、サンプルを透過した及び／又はサンプルから反射された放射を検出し、検出された放射を分析して有機物質を識別することを含み、ここで、媒体は、アガー、グアーガム、ジェランガム、カラギーナン、キサンタンガム、繊維状ペクチン酸ナトリウム、及び他のアガー代替物からなる群から選択される。 （もっと読む）

【課題】装置の大型化を回避しつつ計測精度を確保できる全反射分光計測装置を提供する。
【解決手段】全反射分光計測装置１では、テラヘルツ波発生素子３２が設けられた内部全反射プリズム３１の入射面３１ａに対し、被測定物３４が配置される反射面３１ｃが鈍角となっている。これにより、テラヘルツ波発生素子３２で発生したテラヘルツ波Ｔを第１光学面３１ｄに対して垂直に近い状態で入射させることが可能となり、テラヘルツ波Ｔの広がり角度に対して第１光学面３１ｄのサイズを最小化できる。したがって、装置の大型化を回避できる。また、このことは、同一のサイズの第１光学面３１ｄで対応できるテラヘルツ波Ｔの広がり角度を大きくできることを意味し、テラヘルツ波Ｔの損失を抑えることで反射分光計測の精度を確保できる。 （もっと読む）

【課題】 試料の量子収率を正確にかつ効率良く測定することができる量子収率測定装置を提供する。
【解決手段】 量子収率測定装置１Ａは、試料セル２の試料収容部３が内部に配置される暗箱５と、励起光Ｌ１を発生させる光発生部６と、被測定光Ｌ２を検出する光検出部９と、暗箱５内に配置された積分球１４と、暗箱５内において積分球１４を移動させる移動機構３０と、を備える。光発生部６は、暗箱５に接続された光出射部７を有し、光検出部９は、暗箱５に接続された光入射部１１を有する。積分球１４は、励起光Ｌ１を入射させる光入射開口１５、及び被測定光Ｌ２を出射させる光出射開口１６を有する。移動機構３０は、試料収容部３が積分球１４内に位置する第１の状態、及び試料収容部３が積分球１４外に位置する第２の状態の各状態となるように、試料収容部３、光出射部７及び光入射部１１を移動させる。 （もっと読む）

【課題】被写体の画像と被写体の任意の箇所におけるスペクトルデータの両方を、簡易な構成で精度良く取得可能な光学装置を提供することを目的とする。
【解決手段】被写体からの光を結像させる結像光学系と、結像光学系により結像された光を受光する撮像部と、撮像部の撮像領域において、所定の領域を覆う反射型分光素子と、反射型分光素子により反射された光の分光スペクトルを検出するスペクトル検出部と、を含む光学装置とする。 （もっと読む）

【課題】 二種の層からなる光学異方性膜の各層のレターデーションを、各層を分離することなく測定する方法を提供する。
【課題手段】 光学異方性膜に対し略垂直方向に光を照射してその透過偏光状態の変化（１）を測定する工程、前記光学異方性膜の面内遅相軸方向に対し方位角−５°〜＋５°かつ極角θ_１（ただし、３０°≦θ_１≦７０°）の方向に光を照射してその透過偏光状態の変化（２）を測定する工程、前記光学異方性膜の面内遅相軸方向に対し方位角θ_２（ただし、３０°≦θ_２≦６０°）かつ極角θ_３（ただし、３０°≦θ_３≦７０°）の方向に光を照射してその透過偏光状態の変化（３）を測定する工程、ならびに前記透過偏光状態の変化（１）〜（３）を用いて各層の面内レターデーションＲｅおよび厚さ方向のレターデーションＲｔｈを算出する工程により、光学異方性膜のレターデーションを測定する。 （もっと読む）

【課題】広面積の光学フイルムの光学特性を迅速且つ精度良く測定する。
【解決手段】測定対象である光学フイルム１２は面照明部１４上に載せられている。面照明部１４からは光学フイルム１２に向けて円偏光が投光される。光学フイルム１２がＸ方向に移動することで、光学フイルム１２上の測定画素Ｅは、撮像部１５内のＣＣＤカメラの第１〜第４撮像エリアを順に通過する。ＣＣＤカメラは、測定画素Ｅが各撮像エリアを通過するときに、測定画素Ｅを複数回撮像する。この複数回の撮像により得られる出力値を加算したものをその撮像エリアでの測定値とする。測定画素Ｅのストークスパラメータは、４つの撮像エリアの測定値から算出する。光学フイルム１２上の全ての測定画素Ｅについてストークスパラメータを取得する。 （もっと読む）

【課題】検出感度に優れるＳＰＲセンサセルおよびＳＰＲセンサを提供すること。
【解決手段】検知部３０と、検知部３０に隣接するサンプル配置部３１とを備えるＳＰＲセンサセル１において、検知部３０に、第１樹脂からなるアンダークラッド層３と、第２樹脂からなり、アンダークラッド層３に被覆されるコア層４とを備える光導波路を備えて、コア層４のアンダークラッド層３と接触する表層に、第１樹脂が第２樹脂に浸透されている樹脂混合層２３を形成する。 （もっと読む）

【課題】高反射性面の表面特性測定に適した装置および
方法を提供する。
【解決手段】測定面（１０）は少なくとも１つの放射線装置（２）によって照射され、測定面で散乱された前記放射線のうち少なくとも１つの測定信号を出力する少なくとも１つの第１の放射線検出装置（４）とを備え、前記測定面（１０）の光沢度測定を実施するための第２の放射線装置（１２）と第２の放射線検出装置（１４）とを含む。前記第２の放射線装置（１２）は、前記測定面（１０）に所定の入射角（ａ）で放射を行い、前記第２の放射線検出装置（１４）は少なくとも前記第２の放射線装置（２）によって照射され、その後に、前記測定面（１０）から反射された前記放射線の少なくとも一部を受信する。本発明によれば、前記第２の放射線装置（１２）が前記測定面に放射するにあたり、前記測定面（１０）に垂直な方向（Ｍ）に対して形成される前記入射角（ａ）が５０°以下である。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で、樹脂片の高さの測定可能な許容範囲を大幅に増大できて、大量評価が可能で、かつ作業環境を損なうことのない樹脂識別装置を得る。
【解決手段】この発明に係る樹脂識別装置は、樹脂片８に赤外光源１からの赤外線を照射し、樹脂片８からの反射あるいは乱反射された赤外線を検出器１０で検出し、その検出結果に基づいて樹脂片８の種類を識別する、赤外分光光度計を用いた樹脂識別装置において、赤外光源１からの赤外線を受ける第１のミラーである、曲面ミラー部１２ａ，１２ｂ，１２ｃ、赤外光源１と樹脂片８との光路の途中であって、焦点位置が樹脂片８の高さ方向で異なった位置に複数存在するように配置されている。 （もっと読む）

【課題】ナノ粒子からなる集積体の局在表面プラズモン共鳴（ＬＳＰＲ）による消光スペクトルのピーク波長を変動可能な光学材料及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の光学材料は、被覆材料で被覆される金属又は合金のナノ粒子を複数集積させた集積体と、前記集積体の前記各ナノ粒子間に充填される光透過性エラストマーとを有する。また、本発明の光学材料の製造方法は、金属又は合金のナノ粒子を被覆材料で被覆し、該ナノ粒子を溶媒に分散させてコロイドサスペンション溶液を調製する工程と、前記コロイドサスペンション溶液を基板上に塗布して、前記コロイドサスペンション溶液の液膜層を形成してから、前記液膜層中の前記溶媒を揮発させて、前記ナノ粒子からなる集積体を形成する工程と、前記ナノ粒子の間に光透過性エラストマー前駆体を充填し、前記光透過性エラストマー前駆体を重合して光透過性エラストマーを形成する工程と、を有する。 （もっと読む）

【課題】位相差板のリタデーション値及び透過光強度の直流成分とは無関係に光学的異方性を評価する。
【解決手段】数列｛t_i｝＝｛t₀，t₁，…，t_N｝(t_iの単位は時間)から数列｛φ_P,i｝=｛c_P+A_Pt_i｝，｛φ_A,i｝=｛c_A+A_At_i｝，｛φ_R,i｝=｛c_R+A_Rt_i｝を計算する。偏光子と検光子と位相差板の角度をそれぞれ、iで指定されるφ_P,i，φ_A,i，φ_R,iとした時の光強度I_iを取得する。複数のI(t_i)から周波数2F(A_A-A_P+A_R)の成分と周波数2F(A_A+A_P-A_R)の成分とのうちの少なくとも1つの成分の振幅及び位相を求める。複数のI(t_i)から周波数2F(A_A-A_P)の成分と周波数2F(A_A+A_P)の成分と周波数2F(A_A+A_P-2A_R)の成分と周波数2F(A_A-A_P+2A_R)の成分とのうちの少なくとも2つの成分の振幅及び位相のうちの2つを求める。上記振幅及び位相に基づいて試料3の光学的異方性の大きさ及び方向を評価する。 （もっと読む）