【課題】対象物からの反射光の波長スペクトルを計測タイミングに応じて適切に計測することができる分光計測装置を提供する。
【解決手段】 第１結像光学系１２は、互いにレンズピッチが異なる３つのマイクロレンズアレイを含み、開口系１３は、互いに開口ピッチが異なる３つの開口部材を含み、分光系１５は、互いに格子ピッチが異なる３つの回折素子を含んでいる。駆動装置１２３によって、任意の１つのマイクロレンズアレイを反射光の光路上に配置させることができ、駆動装置１３３によって、任意の１つの開口部材を反射光の光路上に配置させることができ、駆動装置１５３によって、任意の１つの回折素子を反射光の光路上に配置させることができる。 （もっと読む）

【課題】白色板等の基準板を撮影することなく、対象物の陰部分について正確に反射率を算出する。
【解決手段】対象物の反射率スペクトル分布を算出する際、反射率算出装置は、前記対象物の撮影により、画素毎に反射スペクトルを含む撮影画像を参照画像データとして取得し、さらに、前記対象物の形状を模擬した形状を有し、かつ前記撮影と同じ照明条件により同じ陰影を有する白色参照モデルの白色参照データを取得する。さらに、反射率算出装置は、参照画像データのうち前記白色参照モデル上の陰部分に対応する部分参照画像データと、前記白色参照モデル上の前記陰部分に近接する非陰部分に対応する第２の部分参照画像データとの差分に基づいて、照明光の光強度の減衰率を算出する。反射率算出装置は、この減衰率を用いて、白色基準データの補正を行い、前記撮影画像データとともに用いて前記対象物の反射率スペクトルを算出する。 （もっと読む）

【課題】紫外領域から近赤外線領域にわたる波長域の光線に対する被験物質の光線阻害能を、ｉｎ ｖｉｔｒｏで精度良く評価するための新規な評価装置を提供す。
【解決手段】本発明に係る光線阻害能の評価装置は、標準物質を用いて被験物質の光線阻害能を評価するための装置であって、紫外可視近赤外分光光度計と、積分球と、を備えた光線透過率検出手段と、被験物質および標準物質の各測定試料を搭載するための第１の光線透過性スライドガラスと、各測定試料を挟み込むための第２の光線透過性スライドガラスと、前記第１および第２のスライドガラスを固定し、各測定試料の厚さを均一にするためのスライドホルダーと、を有しており、第１のスライドガラスは、各測定試料の搭載領域を画成するための溝を有している。 （もっと読む）

【課題】撮像領域内の偏光特性分布の誤認識が発生することを避けることを課題とする。
【解決手段】受光素子Ｃ０〜Ｃ５が２次元配置された画像センサ４の入射側に、偏光方向が互いに異なるＰ偏光成分及びＳ偏光成分のいずれかを透過させるフィルタ領域ｆ０〜ｆ５が画像センサ上における１つの受光素子４ａに対応して配置された偏光フィルタアレイ２を配置し、画像センサで検出された各受光素子の受光量に基づいて、Ｐ偏光成分及びＳ偏光成分についての偏光画像情報を出力する。この撮像装置には、撮像領域内の位置Ａからの光の入射光路１０それぞれを、偏光フィルタアレイ上のＳ偏光フィルタ領域ｆ１に向かう直進光路１０ＡとＰ偏光フィルタ領域ｆ２に向かうシフト光路１０Ｂとに分岐させる光路分岐手段３が設けられている。 （もっと読む）

【課題】 走行している長尺の光学異方性膜が所望の光学特性が得られているか否かの判定をインラインでの測定で可能にする評価方法、かかる評価方法を可能にする測定装置、および該評価結果を用いて所望の光学特性を有する光学異方性膜を製造する方法を提供する。
【課題手段】 光学異方性膜に対し垂直方向、面内遅相軸方向に対し方位角−５°〜＋５°かつ極角θ_１（ただし、３０°≦θ_１≦７０°である）の方向、および面内遅相軸方向に対し方位角θ_２（ただし、３０°≦θ_２≦６０°である）かつ極角θ_３（ただし、３０°≦θ_３≦７０°である）の方向に光を照射してそれぞれの透過偏光状態の変化を測定する工程、およびその測定値と、所望の光学特性を有する光学異方性膜について同様の測定を行って得られる透過偏光状態の変化とを対比する工程、を有する光学異方性膜の評価方法。 （もっと読む）

【課題】ＬＥＤを選別しなくても、ＬＥＤが測定試料を照射したときの、ＬＥＤの波長及び発光強度の設計値からのずれによる反射強度のずれを精度良く補正する。
【解決手段】ＬＥＤ制御部４１は、ＬＥＤ１〜ＬＥＤ３が白色分光ターゲットＴＷを照射したときの反射強度が所定の基準反射強度Ｅ０Ｒ０となるように、ＬＥＤ１〜ＬＥＤ３の駆動電流を調節する。ＰＤは、ＬＥＤ１，ＬＥＤ２が基準発光強度Ｅ０で傾斜分光ターゲットＴＧを照射したときのＬＥＤ１，ＬＥＤ２の反射強度Ｒ１Ｌ１１，Ｒ１Ｌ２１を検出する。波長算出部４２は、ＰＤにより検出されたＬＥＤ１，ＬＥＤ２の反射強度Ｒ１Ｌ１１，Ｒ１Ｌ２１を、傾斜分光ターゲットＴＧを基準発光強度Ｅ０で照射したときに得られる反射特性を規定する関数に代入し、ＬＥＤ１，２の実波長を求める。ＬＥＤ１，２の実波長と、ＬＥＤ１，２の設計値の波長とのずれから反射強度Ｒ１Ｌ１１，Ｒ１Ｌ２１を補正する。 （もっと読む）

【課題】ＬＥＤを用いた分光測定装置において、ＬＥＤの選別を行わなくても、目標とする波長の光を測定対象に照射する。
【解決手段】グラフＧ３１に示すように、ＬＥＤ１はピーク波長が７０５ｎｍであり、半値幅が２０ｎｍである。グラフＧ３２に示すように、ＬＥＤ２はピーク波長が７１５ｎｍであり、半値幅２０ｎｍである。したがって、ＬＥＤ１とＬＥＤ２とを同時に照射するとグラフＧ３３の放射強度分布を持つ合成光が得られる。これにより、目的とする７１０ｎｍのピーク波長を持つ合成光を測定対象Ｓに照射することができる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、成形可能温度で光学材料を金型成形する光学素子の製造方法に関するものであり、金型成形後の光学素子について、屈折率分布の全数確認を実現することを目的とする。
【解決手段】この目的を解決するために、本発明の光学素子１の製造方法は、成形可能温度の光学材料５に成形金型２の成形面２ａを転写し光学素子１を成形する成形工程と、光学素子１の屈折率分布を評価する評価工程を含み、評価工程は、光学素子１の内部応力分布を測定して、この内部応力分布を用いて屈折率分布を評価するとしたのである。 （もっと読む）

【課題】測定対象からの光を精度良く検出する。
【解決手段】ＬＥＤ取付孔１２は、ＬＥＤの放射面ＳＦよりも空間部１４側に多少突出しており、フード１２Ｆを構成している。フード１２Ｆは、ＬＥＤからの光がＰＤに直接入射することを防止する。また、フード１２Ｆは、ＬＥＤの光が散乱して測定対象Ｓに導かれることを防止する。また、複数のＬＥＤから変調周波数の異なる光を測定対象Ｓに同時に照射し、ＰＤの検出した光を変調周波数別に分離し、各ＬＥＤによる測定対象からの光を分離する。 （もっと読む）

【課題】パターンドガラス基板の透過率を高い信頼度で測定することのできる透過率測定装置を提供する。
【解決手段】本発明は、パターンドガラス基板の透過率測定装置であって、レーザービームを放射するレーザービーム照射部と、レーザービーム照射部から放射されるレーザービーム（ｂｅａｍ）を反射する反射ミラー（ｍｉｒｒｏｒ）と、反射ミラー（ｍｉｒｒｏｒ）で反射されるレーザービーム（ｂｅａｍ）をコリメートするコリメーションレンズと、コリメーションレンズでコリメートされたレーザービーム（ｂｅａｍ）のサイズを拡大するビーム拡大器（ｂｅａｍ ｅｘｐａｎｄｅｒ）と、ビーム拡大器（ｂｅａｍ ｅｘｐａｎｄｅｒ）で拡大された後にパターンドガラス基板を透過したレーザービーム（ｂｅａｍ）を受光する受光部を含むディテクターと、ディテクターで受光されたレーザービーム（ｂｅａｍ）を利用してパターンドガラス基板の透過率を測定する測定部とを含む。 （もっと読む）

【課題】基板に形成された凹部の深さを、加工方法の制約を受けず、かつ、任意の時間に、非破壊、非接触で測定する技術を提供する。
【解決手段】基板９に形成された貫通ビア９Ｈ（凹部）の深度を検査する基板検査装置１００であって、基板９に向けて電磁波パルスを照射する電磁波パルス照射部１３と、電磁波パルスを検出する電磁波パルス検出部１５とを備える。また、基板検査装置１００は、貫通ビア９Ｈが形成されているビア形成領域９２Ｒを透過した電磁波パルスの時間波形と、ビア形成領域９２Ｒとは異なる参照領域を透過した電磁波パルスの時間波形とを比較して、その位相差を取得する位相差取得部２５と、前記位相差に基づいて、前記ビア形成領域に形成された貫通ビアの深度を取得するビア深度取得部２７とを備える。 （もっと読む）

【課題】液体に含まれる気泡に影響されずに液体の濁度を正確に測定することが可能な濁度測定装置を提供する。
【解決手段】導出管１５２は、出口１４２を介してセル１００に接続され、出口１４２からセル１００の外部に流出した液体が流通する導出路１５４を形成する。細管１５５は気体流路１５６を形成する。気体流路１５６は、導出路１５４の流路断面積よりも小さい流路断面積を有し且つ導出路１５４と接続空間１３４とを接続する。発光部は、セル１００の内部のうち流路空間１３２と接続空間１３５と流路空間１３３とのいずれかに向かって光を照射する。受光部は、発光部が発した光を受光する。 （もっと読む）

【課題】表面プラズモン共鳴（ＳＰＲ）現象を応用して電場増強度を測定する方法に基づいて、金属薄膜上誘電体の光学特性を正確かつ容易に測定することができる金属薄膜上誘電体の光学特性測定方法及び金属薄膜上誘電体の光学特性測定装置を提供する。
【解決手段】金属薄膜に向かって、第１の励起光を照射し、金属薄膜表面に表面プラズモン光を発生させるとともに、金属薄膜に向かって、第１の励起光とは別の第２の励起光を照射して、金属薄膜表面に第２の光を発生させ、表面プラズモン光と第２の光とによる干渉縞を発生させ、干渉縞の干渉縞ピッチ及び伝搬長を測定し、干渉縞ピッチ及び伝搬長に基づいて、金属薄膜上誘電体の光学特性を算出する。 （もっと読む）

【課題】参照光の位相設定精度に限界がある場合でも、測定対象物による位相シフト量を用いた計測する光位相測定装置を提供する。
【解決手段】コヒーレント光源８１、光源よりの光波を２分岐する光分岐手段８２、光波のうちの参照光波８９を周波数ωｍで位相変調する位相変調手段８３ａ、分岐された後に被測定対象物８５を透過又は反射した信号光波と位相変調された参照光波８９とを合成する光合成手段９７と、合成された干渉光の強度を測定する光強度測定手段８８を有する光干渉計を備えた光位相測定装置で、干渉光の強度を一定の時間に亘って取得し、取得した時系列の強度信号をフーリエ変換し、位相変調の周波数ωｍの整数倍の周波数成分のうち少なくとも２つの成分の光強度を演算して、位相変調手段の変調指数ｍを同定して、該変調指数ｍに基づいて前記被測定対象物８５による信号光波の位相変化量φを算出する演算手段９５を備えた光位相測定装置。 （もっと読む）

【課題】試料の全反射光のみならず、拡散反射光や反射ヘイズ率などの反射特性を個別に測定（算出）可能にし、この特徴を活かして試料の膜厚を算出する。
【解決手段】全反射光を積分球２により集光させる第１反射光測定光学系３と、拡散反射光を前記積分球２により集光させる第２反射光測定光学系３と、積分球２により集光された光を検出する検出光学系７とを備え、第１反射光測定光学系３及び検出光学系７により得られた全反射光と第２反射光測定光学系３及び検出光学系７により得られた拡散反射光から反射ヘイズ率を算出するとともに、全反射光から試料の膜厚を算出する。 （もっと読む）

【課題】非接触三次元測定器による測定対象物の表面における光沢が異なる場合においても測定精度を保証することが可能な、標準ゲージ、測定器の測定精度保証方法、標準ゲージの製造方法、及び、測定器の性能評価方法を提供する。
【解決手段】標準ゲージＧ１は、所定の強さで入射光を対象物に照射した場合に、入射光の強さに対する正反射光と拡散反射光との両方の強さの割合を計測した積分反射率ＳＣＩと、入射光の強さに対する拡散反射光の強さのみの割合を計測した拡散反射率ＳＣＥと、がそれぞれ異なる１２枚の平板ａから平板ｊを組合せて構成したものである。 （もっと読む）

【課題】高コスト化及び大型化を招くことなく、対象物を従来よりも精度良く特定することができる光学センサを提供する。
【解決手段】 光源１１、コリメートレンズ１２、受光器１３、偏光フィルタ１４、受光器１５、及びこれらが収納される暗箱などを有している。そして、受光器１３は、内部拡散反射光に含まれるＰ偏光成分を受光し、受光器１５は、表面正反射光を主として受光するように配置されている。この場合は、受光器１３の出力信号と、受光器１５の出力信号とから、記録紙の銘柄を特定することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】液晶パラメータ測定の方法及び装置の提供。
【解決手段】第１電気コントローラにより線偏光ジェネレータを調整し、第２電気コントローラにより偏光分析器を調整する。該線偏光ジェネレータは光源からの入射光を受け取り並びに複数の偏光の特徴を抽出し、第１電気コントローラにより制御されて、この複数の偏光を測定サンプルに照射する。該測定サンプルを透過した光は偏光分析器に受け取られる。第２電気コントローラは該偏光分析器を制御して特定の偏光を抽出して後端のデータ処理装置に送る。該データ処理装置は該偏光分析器からの偏光データを受け取り液晶分割層モデルを使用して少なくとも一つの液晶パラメータを得る。 （もっと読む）

【課題】 質感の定量化を結合変換相関演算（JTC）で実現する。
【解決手段】 質感定量化装置１は、レーザー光を出力するレーザ・ダイオード２と、対物レンズ３と、レーザー光を点光源とするピンホール部４と、波面位相の揃った平行光線とするコリメートレンズ５と、偏光子６と、ハーフミラー７と、検索ヒストグラム及び参照ヒストグラムとが並置された像を入力しこの像に基づいて空間光変調を行い、光像を生成する光像生成装置である空間光変調器８と、空間光変調器８からの光像をハーフミラー７、偏光子９を介して受け光学的にフーリエ変換して、フーリエ変換光像を形成するフーリエ変換レンズ１０と、フーリエ変換レンズ１０からのフーリエ変換光像を画像として検出するＣＭＯＳカメラ１１と、を有する光演算相関部１２と、相互相関スポットの強度に基づいて、検索ヒストグラムと参照ヒストグラムを照合し、質感の類似性を判断する質感定量化部１３とを備える。 （もっと読む）

【課題】波の影響を受けることなく、透明度を高精度で測定できる器具を提供する。
【解決手段】水の透明度を測定する不透明の板状の標識板２と、該標識板２を吊り下げるロープ１０、１２と、該標識板２の下部に取り付けられる重り８とを備えた透明度測定器具１であって、前記標識板２に上下面間を貫通する通水孔５、６、７を設ける。標識板２及び重り８を水中に沈めていく際に、標識板２の水が通水孔５、６、７を上面側に通り抜けるので、標識板２に作用する水の抵抗を軽減させることができ、波の影響を受けることなく、標識板２を水平に保った状態で鉛直に沈めていくことができるので、水の透明度の測定精度を高めることができる。 （もっと読む）