【課題】ナノ粒子からなる集積体の局在表面プラズモン共鳴（ＬＳＰＲ）による消光スペクトルのピーク波長を変動可能な光学材料及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の光学材料は、被覆材料で被覆される金属又は合金のナノ粒子を複数集積させた集積体と、前記集積体の前記各ナノ粒子間に充填される光透過性エラストマーとを有する。また、本発明の光学材料の製造方法は、金属又は合金のナノ粒子を被覆材料で被覆し、該ナノ粒子を溶媒に分散させてコロイドサスペンション溶液を調製する工程と、前記コロイドサスペンション溶液を基板上に塗布して、前記コロイドサスペンション溶液の液膜層を形成してから、前記液膜層中の前記溶媒を揮発させて、前記ナノ粒子からなる集積体を形成する工程と、前記ナノ粒子の間に光透過性エラストマー前駆体を充填し、前記光透過性エラストマー前駆体を重合して光透過性エラストマーを形成する工程と、を有する。 （もっと読む）

【課題】表面プラズモン共鳴（ＳＰＲ）現象を応用して電場増強度を測定する方法に基づいて、金属薄膜の光学特性を正確かつ容易に測定することができる金属薄膜の光学特性測定方法及び金属薄膜の光学特性測定装置を提供する。
【解決手段】第１の励起光を照射し、金属薄膜表面に表面プラズモン光を発生させるとともに、金属薄膜に向かって、第１の励起光とは別の第２の励起光を照射して、金属薄膜表面に第２の光を発生させ、表面プラズモン光と前記第２の光とによる干渉縞を発生させ、第２の励起光の光量を変えながら、干渉縞のコントラストが最大となる時の干渉縞ピッチ及び伝搬長を測定し、干渉縞ピッチ及び伝搬長に基づいて、金属薄膜の光学特性を算出する。 （もっと読む）

【課題】微小な領域の薄膜の厚さや光学定数の２次元分布を高速かつ高精細に計測することのできる測定機の提供。
【解決手段】入射・受光光学系と偏光測定モジュール１０５と解析装置とを具えるエリプソメータで、入射光学系は平行光ビームを出射する機構と光ビームの偏光状態を定める偏光子１０２あるいは波長板を有し、受光光学系は測定試料１０３から反射された光ビームを受光し、測定試料面の像を前記偏光計測モジュールに含まれるエリアセンサ１０６に結像させるレンズ系、偏光計測モジュールは波長板アレイ１０７と、均一偏光子１０８と、エリアセンサとを含む。波長板アレイは１次又は２次元的に繰り返し配置された複数の単位ユニットを含み、該ユニットは同異方性軸の方向が異なる少なくとも４種類の波長板を含む。均一偏光子は一方向の透過軸を有し、エリアセンサは前記波長板アレイおよび前記均一偏光子の順に通過した光を独立にその強度を測定できる。 （もっと読む）

【課題】透過型偏光素子が利用できない真空紫外領域においても円偏光もしくは直線偏光の利用ならびにそれら偏光状態の変調が放射光源を用いずとも可能とする反射型偏光変調素子を提供すること。
【解決手段】光源からの光を略直線偏光状態にする偏光子部と、偏光子部からの略直線偏光を略円偏光または略直線偏光状態にする位相子部とを備えた反射型偏光変調素子において、前記偏光子部は、金属鏡を備え、当該金属鏡による反射で入射光を略直線偏光状態にして位相子部に入射させ、前記位相子部は、位相子部への入射光と透過光の光軸が一致するように配置された平面鏡の組とを備える。 （もっと読む）

【課題】構造色を呈する物体表面にも適用可能な、新たな光沢度の測定方法及び測定装置を提供する。
【解決手段】サンプル表面に対して入射角φで測定光を照射し、散乱光強度の角度分布関数を測定し、前記散乱光強度の角度分布関数の散乱角に関する微分値に基づいて光沢度Ｇφを決定することを特徴とする光沢度の測定方法。 （もっと読む）

【課題】被検物の屈折率分布を高精度に計測する。
【解決手段】屈折率分布計測方法は、媒質Ｍ中における被検物１４０の配置が互いに異なる複数の配置について、第１の波長による被検物の第１の透過波面の計測結果と基準被検物が該媒質中にて被検物の配置と同じ配置とされているときの第１の波長による透過波面との差分である第１の波面収差を複数の配置について算出し、第２の波長による被検物の第２の透過波面の計測結果と基準被検物が該媒質中において被検物の配置と同じ配置とされているときの第２の波長による透過波面との差分である第２の波面収差を複数の配置について算出する。第１及び第２の波面収差に基づいて、被検物の形状成分を除去しつつ、複数の配置のそれぞれにおける被検物の屈折率分布投影値を取得し、複数の配置に対応する複数の屈折率分布投影値に基づいて被検物の３次元屈折率分布を算出する。 （もっと読む）

【課題】低コストでありながら操作性及び機能の優れた干渉対物レンズ装置、及び当該干渉対物レンズ装置を備えた光干渉測定装置を提供する。
【解決手段】光出射部１０から出力された光をワークＷに対して収束させる対物レンズ３１と、対物レンズ３１よりもワークＷ側に配される参照ミラー３２と、対物レンズ３１を透過してきた光を、参照ミラー３２を有する参照光路とワークＷを配置した測定光路とに分岐させると共に、参照ミラー３２からの反射光とワークＷからの反射光とを合成して干渉光として出力させる分岐合成部材３３と、参照ミラー３２からの反射光又はワークＷからの反射光の何れか一方の他方に対する光量を調節する光量調節手段（液晶パネル３４及び制御部７０）を備える。 （もっと読む）

【課題】被検物の屈折率を短時間で高精度に計測すること
【解決手段】第１の媒質６０と被検物５０に光を入射させて第１の容器４０内の第１の媒質と被検物の光路長の和Ｚ_１を計測し、被検物を配置せずに第１の媒質に光を入射させて第１の容器内の第１の媒質の光路長Ｚ_１０を計測し、第１の媒質とは異なる屈折率を有する第２の媒質６１と被検物に光を入射させて第２の容器４１内の第２の媒質と被検物の光路長の和Ｚ_２を計測し、被検物を配置せずに第２の媒質に光を入射させて第２の容器内の第２の媒質の光路長Ｚ_２０を計測する。Ｚ_１、Ｚ_１０、Ｚ_２、Ｚ_２０と、第１の容器の被検物を挟む面間隔Ｌ_１と、第２の容器の被検物を挟む面間隔Ｌ_２から被検物の屈折率を算出する。 （もっと読む）

【課題】白色干渉法を用いて、μメートルオーダの高精度で測定対象物の位置を決定し、さらに測定対象物の振動周波数をｋＨｚオーダの高速で検出でき、かつナノメートルオーダの振動変位量を測定できる振動測定装置及び振動測定方法を提供する。
【解決手段】白色光を参照光と測定光に分割する光カプラと、参照光の進行方向を変える光学素子、参照光の進行方向を反転する反射素子、光学素子を往復移動させる直動ステージ及び光学素子の位置を取得するスケールヘッドからなる参照光路長スキャナ部と、測定光を発散又は収束させる集光レンズと集光レンズを移動させるレンズ移動機構からなるセンサ部と、反射して返った参照光と測定光を合成して干渉信号を出力する光検出器と、所定時間取得した干渉信号の強度を高速フーリエ変換処理で解析して、測定対象物の振動周波数及び振動変位量を求める処理装置とからなる振動測定装置の構成とした。 （もっと読む）

【課題】左右それぞれの円偏光の分光データを一括取得する。
【解決手段】分光計測装置は、測定対象の光を左円偏光と右円偏光の２つに分離する円偏光スプリッター（３，４）と、スリットに入射した光を分光する分散素子及び分散素子によって分光された光を受光する２次元ＣＣＤアレイからなる分光器（１１）と、左円偏光、右円偏光を導く光ファイバー（６，９）と、光ファイバー（６，９）の出射側の端面から出射する２つの円偏光を分光器（１１）のスリットに集光するファイバー集光光学系（１０）とを備える。ファイバー集光光学系（１０）は、光ファイバー（６，９）の出射側の端面を、２つの円偏光による干渉の影響を受けない間隔であって、かつ２つの円偏光を２次元ＣＣＤアレイの受光面上の別々の位置に独立に集光可能な間隔で並べて配置する。 （もっと読む）

【課題】測定対象物による測定光の吸収特性を適切に検出することができる分光分析装置を提供する。
【解決手段】分光分析装置１０では、光源１１からの光が第２ファイバカプラＦＣ２で分岐し、固定鏡１８及び可動鏡１５とで反射する。各鏡１５，１８で反射した光は、第２ファイバカプラＦＣ２において同位相で合波され、第３ファイバカプラＦＣ３で分岐されて測定光と参照光となる。測定光と参照光の位相は、第３位相調整器Ｐ３及び第４位相調整器Ｐ４で同位相となるように調整される。光検出器３０は、参照光と試料測定部２０を透過した測定光とを受光し、これらの光を光電変換してフーリエ変換した後に減算処理する。 （もっと読む）

【課題】立体形状を有する対象物に対しても、簡便に分光反射率の絶対値を求めることができる分光反射率取得装置を提供する。
【解決手段】物体の分光反射率を取得する分光反射率取得装置であって、分光分布が既知の光源と、光源により照明し、物体の相対分光強度分布を取得する相対分光強度分布取得手段と、相対分光感度が既知の撮像装置と、光源と、撮像装置により物体の拡散反射率を取得する拡散反射率取得手段と、相対分光強度分布と拡散反射率と光源の分光分布と撮像装置の相対分光感度から求めるべき物体の分光反射率の絶対値を算出する分光反射率算出手段とを備えた。 （もっと読む）

【課題】標本を染色している色素の分光特性を染色工程の増加を招くことなく高精度に取得すること。
【解決手段】本発明のある実施の形態の画像処理システム１は、Ｈ＆Ｅ染色された対象標本の多バンド信号値を取得する多バンド信号取得部１２と、予め設定される標準的な色素Ｈおよび色素Ｅの分光特性を分光特性変化モデルに従って変化させることで新たな色素Ｈおよび色素Ｅの分光特性を生成し、生成した新たな色素Ｈおよび色素Ｅの分光特性と多バンド信号値とをもとに色素Ｈおよび色素Ｅの分光特性を決定する色素分光特性決定部２５１とを備える。 （もっと読む）

【課題】金属材料サンプルのサブミリ波反射特性（反射損失、反射率）を高精度に測定するための装置、及び方法を提供する。
【解決手段】本発明は、温度の異なる２つの熱放射体それぞれから発生する放射光について、当該放射光が参照経路を進行した場合と金属材料サンプルによる反射を伴って測定対象経路を進行した場合とで異なるサブミリ波の強度を測定し、当該測定結果を用いてサンプルの反射特性を算出するための装置、及び方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】低侵襲かつ連続に、血糖値を検出する。
【解決手段】光学センサ１は、血糖値に関する情報を経皮的に検出する。ゲル部１０は、グルコース応答性を有し、皮膚４に貼り付けられるグルコース応答性ゲルを有する。ゲル部１０には、グルコース応答性ゲルに水分を補給するグルコース非応答性ゲルも含まれている。検出部１１は、皮膚４を通して浸透するグルコースによるグルコース応答性ゲルの膨潤度を光学的に検出する。検出された膨潤度に基づいて、血糖値の推定値が算出される。 （もっと読む）

【課題】試料の光吸収係数を高感度で測定する装置を実現する。
【解決手段】リングダウン分光装置は、波長可変フェムト秒ソリトンパルス光源１を用いる。パルス光は、第１光伝送路４、光切換スイッチ５を介して、ループ状の光ファイバー６に入力する。リングダウンパルス光は、光切換スイッチ５を介して、ホモダイン検波器４０に入力する。一方、第１光伝送路４を伝搬するパルス光は、光方向性結合器８、第１光スイッチ素子１２を介して、第２光伝送路２０を構成する各光伝送路に分岐入力される。この第２光伝送路２０を伝搬するパルス光が参照光として、ホモダイン検波器４０に入力して、同期検波される。第２光伝送路２０を構成する複数の光伝送路の光路長は、光ファイバー６の長さだけ、順次、異なると共に、それぞれの光伝送路は、光路長を微小変動させることができる。 （もっと読む）

【課題】表面の反射特性を客観的に決定することができ、さらに、下流側システムに利用できるパラメータに反射特性を変換し、これらの特性をデータレコードの形態で利用可能にする方法を提供する。
【解決手段】オリジナル圧刻表面のトポロジを３次元の走査方法を用いて走査し、表面のトポロジデータを決定し、オリジナル圧刻表面を走査したラスタの各々の面素に属する深さ値を実質的に含むトポロジデータを第１のデータレコードに記憶し、第１のデータレコードについて、エッジ検出を行い、次に、深さ値を参照して平均計算を行って、反射特性に対する深さ値の影響に関する深さ値の評価を行い、平均計算で得られた、エッジの周波数及び／又は高さを記述する値を、反射値として各々の面素に割り当てて、第２のデータレコードに記憶し、第２のデータレコードが、別の加工システム又は試験システムに利用可能になる。 （もっと読む）

【課題】試料セルの形状に起因して発生する試料セル内の試料溶液の濃度ムラが測定に与える影響を小さくする。
【解決手段】示差屈折率計のフローセルは、測定光の光軸に対して傾斜した隔壁２ａと、隔壁２ａによって仕切られた参照セル３ａ及び試料セル３ｂを備えている。参照セル３ａと試料セル３ｂは同一三角形断面をもつとともに、測定光の光軸に対して垂直な面をもつ。両セル３ａ，３ｂは、それぞれ隔壁２ａの測定光の光軸に対して垂直な面と隔壁２ａとの間の鋭角部の近傍に入口２２ａ，２４ａ、出口２２ｂ，２４ｂを備えている。 （もっと読む）

【課題】サンプルの光学特性値を簡便に利用することができる。
【解決手段】本発明による表示装置（１００）は、処理部（１０）と、特定サンプルに照射された光の特定波長の散乱係数及び吸収係数を記憶する記憶部（２０）と、処理部（１０）が記憶部（２０）に記憶された特定波長の散乱係数及び吸収係数に対して所定の処理を行った結果を表示する、表示部（３０）とを備える。また、本発明による光学特性表示システム（２０0）は、表示装置（１００）と、特定サンプルの散乱係数及び吸収係数を計測する光学特性値計測装置（３００）とを備える。 （もっと読む）

【課題】所望の光学定数を正確かつ簡便に導出することができる全反射分光計測におけるデータ解析方法を提供する・
【解決手段】この全反射分光計測におけるデータ解析方法では、リファレンス振幅Ｒ_ｒｅｆとサンプル振幅Ｒ_ｓｉｇとの比Ｐ、及びリファレンス位相Φ_ｒｅｆとサンプル位相Φ_ｓｉｇとの位相差Δに基づく値ｑを求めている。そして、この値ｑをフレネルの反射式及びスネルの式と組み合わせることにより、被測定物３４の複素屈折率が求まり、被測定物３４の所望の光学定数を正確かつ簡便に導出することができる。 （もっと読む）