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Fターム[2G059JJ25]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 光学要素 (16,491) | 減光板、中性濃度フィルタ (169)

Fターム[2G059JJ25]に分類される特許

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【課題】近赤外領域の画像を高精度に撮影する。
【解決手段】所定の近赤外領域による被写体の対象部位を撮影するための照明装置において、開口部から前記対象部位に対して前記所定の近赤外領域の光を照射する複数の光源と、前記複数の光源により照射された前記対象部位を撮影する撮像手段とを有し、前記光源から前記撮像手段までの光路上に、前記対象部位からの表面反射光を除去する第1のフィルタと、前記光源からの光量を調整するための第2のフィルタと、予め設定された波長領域のみを通過させる第3のフィルタとを有することにより、上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】試料ガスが低濃度の場合にも高精度の測定が可能な赤外線ガス分析計の提供。
【解決手段】本発明は、赤外線光源1からの赤外光の光路上に配置され試料ガスが流通される試料セル3と、試料セル3を透過した赤外光の光路上に配置される赤外線検出器4と、を備える。赤外線検出器4は、受光室41、42、圧力センサ43、および光学フィルタ44、45を備える。受光室41、42のそれぞれには、被検出成分ガスの赤外線吸収波長と少なくとも一部が重なる赤外線吸収波長を有するガスが封入されている。圧力センサ43は、受光室41と受光室42とにおける赤外光の吸収量の差を検出する。光学フィルタ44、45は、受光室41、42に封入されているガスの赤外線吸収帯のうちの予め定めた異なる一部をそれぞれ反射する。また、光学フィルタ44、45は、受光室41よりも後段側の位置にそれぞれ配置されている。 (もっと読む)


【課題】 参照光の光路に設けられた光学部材が光源からの熱の影響を受けると、光学部材の形状変化等により、光学部材の機能が低下する。
【解決手段】 本発明に係る光断層画像撮像装置は、光源101−1〜3を格納する光源格納部302と、参照光の光路の一部を格納し且つ光源格納部302の側面に離間して設けられた参照格納部301と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】測定時のS/N比(シグナル/ノイズ比)の低下を抑制し、短時間の測定で精密な測定を行い、リアルタイム性の向上が図られるような光学的検知装置を提供する。
【解決手段】測定用の光が通過する測定光路と、前記測定光路に測定用の光を照射する光源と、前記測定光路を通過した光を受光し、吸収スペクトルの検出を行う検出器と、を有し、前記測定光路と前記光源とを連結させる第1の連結路と、前記測定光路と前記検出器とを所定の間隔でもって連結させる第2の連結路と、が設けられ、前記第1の連結路は前記測定光路と前記光源との間の空間を密閉可能な構成であり、前記第2の連結路は前記測定光路と前記検出器との間の空間を密閉可能な構成であり、前記第1の連結路及び前記第2の連結路の内部を排気する排気機構と、前記第1の連結路及び前記第2の連結路の内部に不活性ガスを供給する不活性ガス供給機構と、を備えた光学的検知装置が提供される。 (もっと読む)


【課題】ワイドギャップ半導体においても、CPM測定による欠陥密度の精度の高い評価を可能とする。
【解決手段】ワイドギャップ半導体のバンドギャップの波長(λEg)以下、所定の波長範囲以上におけるCPM測定で得られた照射光量から導出した吸収係数と、別途測定したワイドギャップ半導体のλEg以下の所定の波長範囲以上における吸収係数とのフィッティング値F(x)を0.0001以上1以下、好ましくは0.0001以上0.1以下とする。 (もっと読む)


【課題】眼底の表面画像と断層画像の双方を取得可能な技術を提供する。
【解決手段】実施形態の眼底観察装置は、第1及び第2の画像形成手段を有する。第1の画像形成手段は、眼底に照明光を照射し、その眼底反射光を検出し、その検出結果に基づき眼底表面の2次元画像を形成する。第2の画像形成手段は、上記照明光と異なる波長の光(1000nm〜1100nmの範囲に含まれる波長を有する)を出力し、この光を信号光と参照光に分割し、眼底を経由した信号光と参照光との干渉光を生成し、この干渉光を検出し、その検出結果に基づき断層画像を形成する。信号光は、光路合成分離手段により第1の画像形成手段の光路に合成されて眼底に照射される。この信号光の眼底反射光は、光路合成分離手段により第1の画像形成手段の光路から分離されて参照光と重畳される。 (もっと読む)


【課題】実効散乱係数が未知の三次元光散乱体に対して、実効散乱係数を精度よく算定する方法を提供する。
【解決手段】本発明の三次元光散乱体の実効散乱係数の算定方法は、実効散乱係数が未知の三次元光散乱体に対して、散乱係数μを測定するステップと、算出した散乱係数μに基づき、計算機シミュレーションを用いて散乱光の伝搬における非等方散乱因子gを0〜1まで変化させて、散乱光からの出力ビーム径との相関関係もしくは散乱光の透過/反射出力パワー比との相関関係を算出するステップと、三次元光散乱体にビーム光を照射した際の散乱光からの出力ビーム径の実測値と、前記相関関係とから、非等方散乱因子gを決定するステップを備える。 (もっと読む)


【課題】分析モードに応じて絞りを高速かつ高精度に調節可能な分析装置を提供すること。
【解決手段】本発明による分析装置では、絞り部に絞り調節機構がついていることにより、比色系項目等の散乱光の影響を受けにくい分析項目や必要光量の大きい分析項目の測定の際には絞りを広げるように構成されており、より多くの光量を得ることができ、比濁系項目等の散乱光の影響を受けやすい分析項目や必要光量の少ない分析項目の測定の際には絞りを狭めるように構成されており、余計な散乱光を遮断でき、両項目測定において測定精度を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】被検体を透過した透過光の偏光状態を測定する新たな手法の提案。
【解決手段】光学装置3は、光源300から出射し、第2偏光部308によって変換された直線偏光が被検体Sを透過した透過光を検光して出射する検光部314を有する。また、光学装置3は、検光部314からの出射光を直交分離する直交分離部316と、直交分離部316によって直交分離された光を受光する受光部320とを有する。演算装置は、回転装置330に回転制御信号を出力し、回転面が透過光の光路に対して直交するよう検光部314を回転制御する。そして、演算装置は、検光部314の回転中に直交分離部316によって直交分離された光を受光部320で受光した強度を用いて、被検体Sを透過した透過光の偏光状態を測定する。 (もっと読む)


【課題】小型化及びそれに伴う低価格化を実現することが可能な光断層画像形成システム及びそれに用いる検出ユニットを提供することにある。
【解決手段】光断層画像形成システム100は、光学偏光素子250を有し、物体反射光ビームと参照反射光ビームを干渉させた干渉偏光ビームを波長毎に分離しつつ、各波長毎の各偏光成分を検出する検出ユニット200を備えている。また、偏光用光学素子250は、分離された各波長の干渉偏光ビームが波長順に並列に入射されるとともに、所定の条件を具備する第1屈折率及び第2屈折率を有する複屈折の特性を有し、当該入射された各波長の干渉偏光ビームを透過しつつ偏光成分毎に分離して当該分離した各波長における各偏光成分を同一方向にそれぞれ異なる光軸によって出射するようになっている。 (もっと読む)


【課題】光学顕微鏡法を用いて解剖学的構造またはサンプルと関連付けられた情報を取得するための装置、構成および方法を提供する。
【解決手段】例えば、解剖学的サンプルに与えるように方向付けられた少なくとも1つの第1の電磁放射、および参照物に方向付けられた少なくとも1つの第2の電磁放射を含む放射を提供することができる。放射の波長は時間とともに変化することができ、波長は約1150nmより短い。干渉は、第5の放射と関連付けられた少なくとも1つの第3の放射と、第2の放射と関連付けられた少なくとも1つの第4の放射との間に検出することができる。サンプルの少なくとも一部分に相当する少なくとも1つの画像を、干渉と関連付けられたデータを用いて生成することができる。さらに、時間とともに変化する波長を有する電磁放射を与えるように構成された少なくとも1つの光源構成部を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】光学顕微鏡法を用いて解剖学的構造またはサンプルと関連付けられた情報を取得するための装置、構成および方法を提供する。
【解決手段】例えば、解剖学的サンプルに与えるように方向付けられた少なくとも1つの第1の電磁放射、および参照物に方向付けられた少なくとも1つの第2の電磁放射を含む放射を提供することができる。放射の波長は時間とともに変化することができ、波長は約1150nmより短い。干渉は、第5の放射と関連付けられた少なくとも1つの第3の放射と、第2の放射と関連付けられた少なくとも1つの第4の放射との間に検出することができる。サンプルの少なくとも一部分に相当する少なくとも1つの画像を、干渉と関連付けられたデータを用いて生成することができる。さらに、時間とともに変化する波長を有する電磁放射を与えるように構成された少なくとも1つの光源構成部を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】より大きなダイナミックレンジかつ実用的な精度で物体との相互作用によって生じる光の強度を測定することが可能な光強度計測装置を提供することである。
【解決手段】光強度計測装置は、照射系、計測系及び減光フィルタを備えている。照射系は、被検物体に照射光を照射する。計測系は、照射光と被検物体との相互作用によって生じた光の強度の計測を行う。減光フィルタは、照射光及び相互作用によって生じた光の少なくとも一方を互いに異なる複数の減光率で減光する。計測系は、光の計測に先だってフォトンカウンタを用いて複数の減光率で減光された光を構成する光子をそれぞれ計数し、光子の計数結果に基づいて求められた減光率の校正値に基づいて、複数の減光率で減光されていない場合又は同一の減光率で減光された場合において相互作用によって生じる光の強度を求めるように構成される。 (もっと読む)


【課題】被測定物体からの強反射光の影響を低減させて被測定物体の撮影を行うことが可能な干渉光計測装置を提供する。
【解決手段】干渉光計測装置は、光源ユニットと、干渉光学系と、走査部と、撮影光学系と、特定部と、制御部とを有する。干渉光学系は、光源ユニットからの低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼による信号光の反射光と参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する。走査部は、被検眼に対する信号光の照射位置を走査する。撮影光学系は、干渉光学系における信号光の光路と同軸で被検眼の前眼部を撮影する。特定部は、撮影光学系による撮影画像に基づいて、信号光の反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置である強反射位置を特定する。制御部は、特定された強反射位置に対して信号光を照射させるときに、光源ユニットを制御して低コヒーレンス光の光量を低下させる。 (もっと読む)


【課題】検出感度の維持及び歩留まりの向上を図った紫外線検出装置を提供する。
【解決手段】少なくとも紫外線を含む光線を測定試料15に向け照射する光源10と、測定試料15を透過した光線から紫外線を分光する分光手段19と、分光手段19により分光された紫外線を検出する光検出手段20とを有する紫外線検出装置であって、記測定試料15を透過した光線の光検出手段20に至るまでの経路途中に、光線の強度レベルを光検出手段20の検出可能な強度レベルに変換するフィルタGFを設ける。 (もっと読む)


【課題】セルと電極部を一体型にし、電極部もセルとともに使い捨て可能とし、試料溶液の注入時に気泡が残りにくい電気泳動移動度測定用セルを提供する。
【解決手段】試料溶液を導入するための直方体状の内部空間11を有する容器と、容器と一体化して容器の内部に形成され内部空間11に電場をかけるための少なくとも2つの電極14と、内部空間11に連通した管状の試料注入部17と、内部空間11に連通した管状の試料注出部18と、試料注入部17に蓋をして内部空間11を密閉するための第一のキャップ21、試料注出部18に蓋をして内部空間11を密閉するための第二のキャップ22とを有し、第一のキャップ21は、キャップの装着時に管状の試料注入部17の内側面17aに接触する第一側面21bを有し、内側面17aは、内部空間11から離れるに従って管の断面積が広がるように形成され、第一側面21bは、その断面の面積が第一のキャップ21の挿入方向に沿って徐々に狭くなっている。 (もっと読む)


【課題】被検眼の撮影部位に関わらず、固視の適正化を図ることが可能な眼科撮影装置を提供する。
【解決手段】眼科撮影装置は、被検眼の第1の深さ位置を撮影する第1モードと、第1の深さ位置とは異なる第2の深さ位置を撮影する第2モードとで動作可能な眼科撮影装置である。眼科撮影装置は、撮影光学系と、固視光学系と、制御手段とを有する。撮影光学系は、第1モード及び第2モードのうち予め選択されたモードで被検眼を撮影する。固視光学系は、固視標を表示する固視標表示部を撮影光学系から分岐した光路に有し、固視標表示部により表示された固視標の像を被検眼に投影する。制御手段は、選択されたモードに対応して固視光学系を制御し、固視標の呈示態様を変更する。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、試料面上の光沢ムラ特性を評価できる反射光ムラの測定方法および装置を提供することである。本発明により、反射光ムラの簡易で精度良い測定方法および装置を提供する。
【解決手段】平行光を試料に入射する入射工程と、その試料の表面をテレセントリック光学系により測定する受光工程と、その入射工程の光軸かつ/またはその受光工程の光軸をその試料上の1点を中心として回転させその試料の法線に対して任意の角度に設定する工程と、その試料の反射光分布を測定する工程と、を含むことを特徴とする反射光ムラ測定方法である。 (もっと読む)


【課題】被写体の歯番を入力する手間を低減して被写体の画像をファイル管理する。
【解決手段】OCT装置(歯科用光干渉断層画像生成装置)のOCT制御装置100は、患者ファイル121を作成するファイル作成処理手段160と、歯番と歯列弓の位置とを対応付けた歯牙位置情報124と患者ファイル121とを記憶する記憶手段120とを備え、ファイル作成処理手段160は、患者毎に歯列弓と歯牙一覧表とを一画面に表示させ、歯列弓から歯牙が選択された場合、当該歯牙の歯番を記録すると共に、画面に歯列弓と同時に表示している歯牙一覧表に対応付ける入力支援処理手段161と、撮影後に表示された画面において、歯列弓側から歯牙が選択された場合には、表示中の患者ファイル一覧表からファイルを抽出して表示し、一方、患者ファイル一覧表側から歯番が選択された場合には、歯列弓から歯牙を抽出して表示する撮影部位確認表示処理手段162とを備える。 (もっと読む)


【課題】 経過観察に適した断層像の撮影を容易に行うことが可能な光干渉断層撮影技術を提供すること。
【解決手段】 光干渉断層撮影装置は光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、参照光を参照光路に導き、参照光と被検眼からの戻り光とを干渉させた干渉光を出力する撮影光学系と、撮影光学系から出力された干渉光に基づき、被検眼の断層像を生成する生成部と、撮影光学系を構成する部材を駆動するための駆動部と、生成部によって生成された2つの断層像の画像情報の差分が所定の範囲以内になるように駆動部を制御する制御部とを備える。 (もっと読む)


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