【課題】ＡＥＣセンサを変更した場合に既存の装置を改造することなく変更前と同じＡＥＣを行う。
【解決手段】電子カセッテ１３のＡＥＣ部６７の補正回路７６は、電子カセッテ１３の検出画素６５の検出信号を旧ＡＥＣセンサ２５の検出信号に相当する検出信号とする。補正回路７６は、旧ＡＥＣセンサ２５に代えて検出画素６５をＡＥＣセンサとして用いた場合のＸ線源１０と電子カセッテ１３のＦＰＤ３５の撮像面３６との間に配置される中間部材の構成の違いによる検出信号への影響を排除するように補正を行う。検出信号は、そのまま（瞬時値）、または積分回路７７で積算値とされて、検出信号Ｉ／Ｆ８０から線源制御装置１１の検出信号Ｉ／Ｆ２６に向けて送信される。 （もっと読む）

【課題】画像データの転送におけるボトルネックの発生を抑制する。
【解決手段】Ｘ線平面検出器２０の動作は、読出工程と送出工程とを備える。読出工程では、１つのゲートラインに所定の信号を与えて、そのゲートラインに対応する複数の３１画素から画素値を読み出す行読出工程を、すべての前記ゲートラインに対して実行する。送出工程では、行読出工程で読み出された画素値を外部機器に送出する行送出工程をすべてのゲートラインに対して実行する。１回目の行読出工程で読み出された画素値（Ａ１〜Ａ６）は、画素値（Ｂ１〜Ｂ６）を読み出す２回目の行読出工程と並行して行われる行送出工程で通信部２６によって外部機器に伝達される。その後、順次、行読出工程と行送出工程を並行して行っていく。 （もっと読む）

【課題】補正精度の向上と画像再構成処理の高速化とが可能になる放射線撮像装置を提供する。
【解決手段】コリメータ２６の貫通孔２７に対し、複数の検出器２１が対応する放射線撮像装置１であって、前記検出器２１で取得された画像を、前記貫通孔２７に対する相対位置が等しい検出器２１ごとに分離して、分離画像を生成する分離画像生成手段１２と、前記分離画像生成手段１２で生成された分離画像ごとに画像処理を行う画像処理手段１２と、を備える。 （もっと読む）

【課題】コンパクトで操作性が良好なサーベイメータを構成する。
【解決手段】サーベイメータは可搬型の放射線測定装置であり、それは先端部１０、中間部１２及びグリップ部１４を有する。中間部１２の上面には表示部が設けられている。中間部１２に対して屈曲部を介して先端部１０が連なっており、先端部１０が傾斜部を構成している。グリップ部１４はくびれ形状を有している。先端部１０内には放射線検出部が設けられ、それは左右方向に並んだ複数のセンサを有している。 （もっと読む）

【課題】ＡＥＣセンサを変更した場合に既存の装置を改造することなく変更前と同じＡＥＣを行う。
【解決手段】電子カセッテ１３のＡＥＣ部６７の補正回路７６は、電子カセッテ１３の検出画素６５の検出信号を旧ＡＥＣセンサ２５の検出信号に相当する検出信号とする。補正回路７６は、旧ＡＥＣセンサ２５に代えて検出画素６５をＡＥＣセンサとして用いた場合のＸ線源１０と電子カセッテ１３のＦＰＤ３５の撮像面３６との間に配置される中間部材の構成の違いによる検出信号への影響を排除する。検出信号は積分回路７７で積算値とされて比較回路７８で線源制御装置１１側の照射停止閾値と比較される。積算値が閾値に達したとき照射信号Ｉ／Ｆ８１から線源制御装置１１の照射信号Ｉ／Ｆ２７に照射停止信号が送信される。 （もっと読む）

【課題】陽極照射型検出器モジュールを下流の回路に接続する際に用いるのに適した相互接続構造を提供する。
【解決手段】特定の実施形態では、相互接続構造は、低い原子番号の材料又はポリマー材料をベースとし又はそれらを含み、及び／又は該相互接続構造による放射線の減弱を最小にし又は小さくするようにな密度又は厚さで形成される。 （もっと読む）

【課題】前置増幅部前段の性能特性の変動による影響が抑制されたＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】標準サンプルから放出された蛍光Ｘ線を検出する半導体Ｘ線検出素子、及び半導体Ｘ線検出素子の出力信号を受信する初段ＦＥＴ回路を含む前置増幅部前段と、前置増幅部前段を冷却する冷却装置と、前置増幅部前段から出力される検出信号を分析する信号分析装置と、検出信号を分析して得られる前置増幅部前段の性能特性を示す性能値、及び前置増幅部前段の温度をリアルタイムで監視し、冷却装置を制御して性能値が規定値を満たすように前置増幅部前段の温度を調整させる制御装置とを備え、前置増幅部前段が調整された温度において、測定対象物から放出された蛍光Ｘ線を分析する。 （もっと読む）

【課題】放射線二次元検出器の大型化及びデータ収集の高速化が可能な放射線二次元検出装置を提供する。
【解決手段】放射線二次元検出装置１は放射線二次元検出器２、データ収集装置７を備える。放射線二次元検出器２は複数の画素電極５を検出素子３の一面に取り付ける。データ収集装置７は複数の計測装置８、複数のＡ／Ｄ変換器１２、制御装置１３及び複数の記憶領域（例えば１４Ａ）が形成されたメモリ１４を有する。放射線二次元検出器２は放射線の入射により画像電極５から放射線検出信号を出力し、計測装置８のチャージアンプがこの放射線検出信号の電荷を積分する。チャージアンプの出力である電圧がＡ／Ｄ変換器１２でデジタルデータに変換され、このデジタルデータが１つの記憶領域に格納される。各画像電極５からの放射線検出信号により得られたデジタルデータが、画像電極５に対応している記憶領域に別々に格納される。 （もっと読む）

【課題】画質の低下を抑制することができる、放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影プログラム、及び放射線画像撮影方法を提供する。
【解決手段】画素２０の列毎に、バイアス線２５が備えられており、複数のバイアス線２５のうち、１０ｍｍ間隔で設けられたバイアス線２５Ａが電流検出器１２０を介してバイアス電源１１０に接続されている。また、残りのバイアス線２５Ｂは、電流検出器１２０を介さずに直接バイアス電源１１０に接続されている。画素２０では、照射された放射線量に応じて放射線検知素子１０３で電荷が発生すると、発生した電荷に応じて、バイアス線２５に電流が流れる。電流検出器１２０は、バイアス線２５Ａに流れる電流を検出し、制御部１０６は、検出した電流（電流値）が閾値以上になった場合を、放射線の照射開始のタイミングとして検出し、放射線画像の撮影を開始させる。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線位相コントラストイメージング用の高アスペクト比グリッドの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板３０６に高アスペクト比の凹部３０２を形成すると共に、凹部底表面にメッキ金属の初期成長サイトの生成を凹部側表面よりも促進するための表面プロファイル特徴部を形成する。その後、メッキにより金属を凹部に充填する。金属が充填された高アスペクト比の凹部を、Ｘ線位相コントラストイメージング装置においてＸ線格子として用いることができる。 （もっと読む）

【課題】撮影画像と、その撮影情報とを、容易に、効率的に、且つ確実に一致させることが可能な撮影システムを提供する。
【解決手段】所定の撮像手段（Ｘ線フラットパネルセンサ）を用いた可搬型撮影装置１０７において、入出力手段１０４は、所定の情報管理側（ＲＩＳ）から可搬型記憶媒体１０２を介して撮影情報を取得する。記憶手段１０５は、撮影直後に当該撮影情報が付加された撮影画像を記憶する。 （もっと読む）

【課題】 人体をはじめとする被検体と回折格子の間での熱の伝達を従来よりも低減させることができるＸ線撮像装置を提供すること。
【解決手段】 被検体１０５を撮像するＸ線撮像装置は、Ｘ線源からのＸ線を回折して干渉パターンを形成する回折格子１０２と、回折格子の温度調節をする温度調節部と、回折格子からのＸ線を検出する検出器と、を備える。温度調節部は、被検体設置前の回折格子の温度Ｔａが下記式を満たすように回折格子の温度調節をする。
ａ×ｂ×｜（Ｔａ−Ｔｂ）｜＜（ｄ／２）
ａ：回折格子の周期方向における、回折格子の固定位置から回折格子のＸ線照射範囲の端部までの長さ
ｂ：回折格子の線膨張係数
ｄ：回折格子のピッチ
Ｔｂ：被検体撮像時の回折格子の温度 （もっと読む）

【課題】一般人が簡便かつ迅速に正確な放射線量等の情報を共有することが可能な線量計付き携帯通信端末装置及び環境放射線モニタリングシステムを提供する。
【解決手段】放射線検出部３と、前記放射線検出部３に接続され放射線量を演算する信号処理部４と、位置検出手段と、前記放射線量及び各種情報を保存するメモリ１２と、前記放射線量及び各種情報を表示する表示部５と、外部との間でデータの送受信をおこなう通信機能と、を有する線量計付き携帯通信端末装置１において、前記放射線検出部３、信号処理部４及び表示部５の電源として前記線量計付き携帯通信端末装置１に搭載された電源を共用する。 （もっと読む）

【課題】放射線撮影装置において、被写体に応じた適切な奥行感を有する立体視画像を撮影する。
【解決手段】第１の撮影方向から被写体へ放射線を照射して被写体を透過した放射線を放射線検出器１３１によって検出する。放射線検出器１３１に到達した到達線量Ｔを測定し、到達線量Ｔに基づいて、輻輳角Δθを設定する。第２の撮影方向から被写体へ放射線を照射して被写体を透過した放射線を放射線検出器１３１によって検出する。放射線検出器１３１からの検出信号に基づいて第１および第２の撮影方向毎の放射線画像データを生成する。 （もっと読む）

【課題】放射線撮影装置において、被写体の撮影部位に応じた適切な奥行感を有する立体視画像を撮影する。
【解決手段】被写体の撮影部位を受け付けて輻輳角Δθを設定する。第１の撮影方向から被写体へ放射線を照射して被写体を透過した放射線を放射線検出器１３１によって検出する。放射線検出器１３１に到達した到達線量Ｔを測定し、到達線量Ｔに基づいて、輻輳角Δθを調整する。第２の撮影方向から被写体へ放射線を照射して被写体を透過した放射線を放射線検出器１３１によって検出する。放射線検出器１３１からの検出信号に基づいて第１および第２の撮影方向毎の放射線画像データＤＬ，ＤＲを生成する。 （もっと読む）

【課題】装置自体で放射線の照射開始を検出する場合に、コンソール上にプレビュー画像を的確に表示させることが可能であり、１回の放射線画像撮影を短時間で行うことが可能な放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、放射線画像撮影前に読み出したリークデータｄleakに基づいて放射線の照射が開始されたことを検出すると電荷蓄積状態を経た後、画像データＤの読み出し処理を行わせ、読み出した画像データＤに基づくプレビュー画像用のデータＤｔをコンソール５８に送信する送信処理を開始すると同時に、リークデータｄleakの読み出し処理等を１回行わせ、放射線が照射されない状態で電荷蓄積状態を継続させた後、電荷蓄積状態の継続が終了した時点で、プレビュー画像用のデータＤｔの送信処理が完了していなければ当該送信処理を停止させた後、オフセットデータＯの読み出し処理を行わせる。 （もっと読む）

【課題】光子計数検出装置を小型化して高解像度画像を提供するためのマルチエネルギー放射線に含まれた光子のエネルギー帯域を区分する光子エネルギー帯域区分装置及びその方法を提供する。
【解決手段】センサに入射されたマルチエネルギー放射線に含まれた光子を、各エネルギー帯域に対して区分して計数する読み取り回路を含む光子のエネルギー帯域を区分する装置において、センサによる光子から光電変換を受けて変換された電気信号が入力されて累積する積分器と、積分器によって累積された電気信号と、複数の臨界値の内のいずれか一つの臨界値とを比較する比較器と、比較結果に従って、いずれか一つの臨界値から他の臨界値へ順次に変更することを指示し、比較器から入力された変更された臨界値それぞれについて順次に比較した結果に基づいて光子のエネルギー帯域を区分するデジタル信号を出力する信号処理部とを有する。 （もっと読む）

【課題】装置自体で放射線の照射開始を検出する場合に、放射線画像撮影装置からコンソールに対して、プレビュー画像用のデータを途中で送信が停止されることなく送信することが可能な放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、放射線画像撮影前にスイッチ手段８を介してリークした電荷ｑに相当するリークデータｄleakの読み出し処理を行い、読み出したリークデータｄleakに基づいて放射線の照射開始を検出し、放射線の照射開始を検出すると、電荷蓄積状態を経た後、各放射線検出素子７からの画像データＤの読み出し処理を行わせ、画像データＤの読み出し処理後に、オフセットデータＯの読み出し処理を行わせ、オフセットデータＯの読み出し処理の後で、読み出した画像データＤに基づくプレビュー画像用のデータＤｔをコンソール５８に送信する。 （もっと読む）

【課題】被測定試料中に含まれる元素および放射性物質をそれぞれ特定することができる、蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】
本発明の蛍光Ｘ線分析装置は、Ｘ線領域（１ｋｅＶ〜５０ｋｅＶ）を計測する蛍光Ｘ線検出器と、γ線領域（５０ｋｅＶ〜１．５ＭｅＶ）を計測するγ線検出器と、分析処理手段とを備える。励起Ｘ線管が、被測定試料に対してＸ線を照射する。蛍光Ｘ線検出器は被測定試料に含まれる元素固有の蛍光Ｘ線を検出し、γ線検出器は核種固有のγ線を検出する。分析処理手段が、蛍光Ｘ線のスペクトルとγ線のスペクトルとを求める。
必要に応じて、分析処理手段は、蛍光Ｘ線のスペクトルに基づいて試料に含まれる元素を特定してその含有量を求め、γ線のスペクトルに基づいて試料に含まれる放射性物質の核種を特定してその含有量を求める。 （もっと読む）

【課題】原子力発電所のような高バックグラウンド環境下で測定可能で多核種分析に好適な放射線検出装置および検出方法を提供する。
【解決手段】測定対象物１の周囲に設けられた少なくとも１組のガンマ線計測用の検出器２ａ〜２ｃを備え、当該検出器２ａ〜２ｃが検出したパルス状信号の時刻と波高値から、２つの検出器の検出時間差が所定の時間幅以内である波高値の情報のみを抽出し、波高値について、波高値が所定の大きさのパルス状信号を真の計数領域としてその個数を計測し、それ以外のパルス状信号をバックグラウンド領域としてその個数を計測し、真の計数領域の計数率とバックグラウンド領域の計数率の比を求め、所定の時間幅を変更して真の計数領域の計数率とバックグラウンド領域の計数率の比が最大となる時間幅を決定することで、信号数とバックグランド数との比が向上し、高バックグラウンド環境下での測定が可能となる。 （もっと読む）