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Fターム[4K024AB01]の内容

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Fターム[4K024AB01]に分類される特許

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【課題】Snめっき被膜の摺れや脱落を防止することにより、ロールのメンテナンス性に優れ、生産性を向上させることができるSnめっき被膜及びそれを有する複合材料を提供する。
【解決手段】樹脂層又はフィルム4を積層した銅箔又は銅合金箔1の他の面に形成され、電着粒の大きさが1.0μm以上であるSnめっき被膜2である。 (もっと読む)


【課題】半田接合時に生じる熱応力を均一に吸収し、セルの反りの発生を防止することが可能な太陽電池用インターコネクタ材及び太陽電池用インターコネクタ材の製造方法、並びに、この太陽電池用インターコネクタ材によって構成された太陽電池用インターコネクタを提供する。
【解決手段】太陽電池モジュール30においてセル31間同士を接続する太陽電池用インターコネクタ32として使用される太陽電池用インターコネクタ材であって、質量百万分率で、Zr及びMgのうち少なくとも1種を3〜20ppm、Oを5ppm以下、を含み、残部がCu及び不可避不純物からなり、平均結晶粒径が300μm以上とされていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】
加工機械に設置する金属ローラ表面の改質を行い、フィルム等基材の離型性(ローラ離れ)と指向性の向上を図り、皺のない高品質のフィルム等基材を得るための金属ローラを提供する。
【解決手段】
金属ローラ母材2表面がめっき処理されており、表面粗さがJIS−B0601:2001規定による算術平均粗さRaで、0.05〜25μmのめっき層3を有する金属ローラ1であって、該金属ローラ1の円周方向に測った少なくとも2種の表面粗さRaで、0.6〜15μmの差異を有する帯状層A・Bが、ローラ軸4の軸方向に交互に並んで配置形成される。 (もっと読む)


【課題】電着組成物、及び、該組成物を用いた半導体基板のコーティング方法の提供。
【解決手段】本発明は、電着組成物、特に、集積回路内の配線を形成するために、「貫通ビア」型構造の形成用の半導体基板を銅でコーティングするための電着組成物に関する。本発明によれば、該溶液は、14〜120mMの濃度の銅イオンと、エチレンジアミンとを含み、エチレンジアミンと銅とのモル比は1.80〜2.03であり、該電着溶液のpHは6.6〜7.5である。本発明はまた、銅シード層を堆積させるための上記電着溶液の使用、及び、本発明に係る電着溶液を用いた銅シード層の堆積方法に関する。 (もっと読む)


【課題】シアン化合物を使用することなく、目的組成を有する均一で光沢のあるめっき層を広い電流密度範囲で形成することができる銅‐亜鉛合金電気めっき浴およびこれを用いためっき方法を提供する。
【解決手段】銅塩と、亜鉛塩と、ピロりん酸アルカリ金属塩または酒石酸アルカリ金属塩と、硝酸イオンとを含む銅‐亜鉛合金電気めっき浴である。前記硝酸イオンの濃度は0.001〜0.050mol/Lであることが好ましく、また、前記銅‐亜鉛合金電気めっき浴のpHは8〜14の範囲であることが好ましく、さらに、銅塩と、亜鉛塩と、ピロりん酸アルカリ金属塩と、硝酸イオンに加え、アミノ酸またはその塩から選ばれた少なくとも一種を含むことが好ましく、前記アミノ酸としてはヒスチジンを好適に用いることができる。 (もっと読む)


【課題】活物質との密着性に優れた粗化表面を有する高強度の銅箔及びその製造方法、並びにリチウムイオン二次電池用集電銅箔及びその製造方法を提供する。
【解決手段】Cr0.1〜0.5質量%、Sn0.1〜0.5質量%、Zn0.1〜0.5質量%を含有させた銅合金箔を用いた銅箔であって、前記銅合金箔の表面部にCrからなる微粒子層を有し、前記微粒子層の表面に表面粗さRzが1μm以上5μm未満の銅めっき層を有する。 (もっと読む)


【課題】高感度の電気伝導度を必要とし、ON−OFFの反復回数の激しい接点のスパークによる、接点面の損傷及び酸化等による劣化を防止する為に、その耐久性の向上を目的として、前記接点部に施工される電解ロジュウムめっきに関して、改良されたRh−Re合金めっき浴および合金めっき被膜を提供する。
【解決手段】Rhめっき浴にReを添加したRh−Re合金めっき浴組成とし、当該めっき浴から電解により合金比率Rh:Reが1.0:0.1〜1.0、かつ膜厚が0.1〜10.0ミクロンとなるRh−Re合金めっき薄膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】加熱処理後の表面性状が良好で、かつ後工程におけるはんだ付け性が良好な接続部品用金属材料およびその製造方法を提供する。
【解決手段】銅または銅合金の角線材を母材とし、その最表面に実質的に銅およびスズで構成される銅スズ合金層が形成されている接続部品用金属材料において、前記最表面の銅スズ合金層は、さらに亜鉛、インジウム、アンチモン、ガリウム、鉛、ビスマス、カドミウム、マグネシウム、銀、金、アルミニウムの群から選ばれる少なくとも1種を、総量で前記スズの含有量に対する質量比で0.01%以上1%以下含有することを特徴とする接続部品用金属材料。耐熱性を向上させるために、母材からの金属拡散を防止するバリア性を持つニッケル等の下地めっきを母材表面に施してもよい。 (もっと読む)


【課題】高い生産性を有しNiめっきの均一性に優れた容器および容器用Niめっき鋼板を提供する。
【解決手段】プレス成型により容器内面となる面に厚さ0.5μm以上、4μm以下のFe−Ni拡散層を有し、さらにその上に厚さ0.25μm以上、4μm以下のNi層を有し、容器外面となる面に付着量0.05 g/m2以上、1.5g/m2未満のNiを有し、そのNiが内部に拡散しており、表層のNi/(Fe+Ni)質量比が0.9以下の鋼板である。またその鋼板をNi層、Fe−Ni拡散を有する面が内面となるようにプレスし、容器外面に厚さ0.5μm以上、5μm以下のNiめっきを施した容器である。これにより、高い生産性を有し、Niめっきの均一性に優れた容器および容器用Niめっき鋼板を提供する。 (もっと読む)


【課題】ピンホールの数が抑制された極薄めっき層およびその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明のAuめっき層10は、厚さが50nm以下であり、Feの含有率が0.32at.%以上である。Auめっき層10にFeが含まれることで、このめっき層を構成する結晶が微細且つ緻密になり、厚みが50nm以下であっても出現するピンホールの数が抑制され、かつ十分な耐摩耗性を有する。また、この様な極薄のAuめっき層は、所定量のFeイオンが添加されためっき液に被めっき材を浸漬して通電させることで形成される。 (もっと読む)


【課題】本発明は、被締結物である鋼材等に対して、ねじの下穴を開けるためのドリル部位をタッピンねじの先端に一体化して形成されたドリリングタッピンねじの防錆被覆の改良に関する。
【解決手段】ドリリングタッピンねじの表面に、ニッケル又はコバルトの1種または2種を、質量%で、合計で0.1%以上7%以下含有し、残部が亜鉛及び不可避不純物からなる亜鉛系合金めっき層を有することを特徴とするドリリングタッピンねじとその製造方法。 (もっと読む)


【課題】 高価な貴金属や有害な鉛を使用せず、ウィスカの発生を防止できると同時に、従来の錫めっきに比べて摩擦係数が低く、多ピン化したコネクタ用端子として使用したとき小さな挿入力で挿着することが可能な錫めっき銅合金材を提供する。
【解決手段】 銅合金母材上に銅−錫合金被覆層3を備え、その上に最表面として錫被覆層4を有する錫めっき銅合金材であって、銅−錫合金被覆層3と錫被覆層4の界面に複数の山と谷とが形成されている。その界面の断面において、山の頂点の高さとその両側の谷の平均高さとの差の平均値が0.2μm以上0.7μm以下であり、谷の周期の平均値が1.5μm以上5.0μm以下であって、且つ錫被覆層の厚みの平均値が0.2μm以上0.7μm以下である。 (もっと読む)


【課題】本発明は、高温焼鈍の際に十分な固溶Cを確保し、これを炭化物として析出させることなく、室温でも多量の固溶C量を確保する手法、あるいは、フェライト中での固溶限がCに比較し、十分多いNを活用するという従来の手法とは全く異なる手法を用いて、フェライト中の固溶Cを高め、優れた焼付け硬化性と耐時効性の両立手法を確立することを課題とする。
【解決手段】本発明は、質量%でC、Si、Mn、P、S、Al、N、Oを規定量含有し、残部が鉄および不可避的不純物からなる鋼板であり、鋼板組織が主としてフェライトとベイナイト組織からなり、焼付け処理後のBHが60MPa以上であり、引張最大強さが540MPa以上であることを特徴とする時効性劣化が極めて少なく優れた焼付け硬化性を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】硫化に対する耐性が強く、かつ、単純な手法で得られる軟質合金めっき皮膜が形成されためっき部材を提供する。
【解決手段】本発明のめっき部材は、基材に銀めっきとインジウムめっきとを施し、熱拡散によってインジウムを銀中に拡散させることによって形成することができる。インジウムの膜中における含有率は、重量%で0.1%以上60%未満が望ましい。硬度の調整のために、銅、亜鉛、ガリウム、ゲルマニウム、錫、アンチモン、金、又は、ビスマスから選ばれる1種以上の金属を、膜中の含有率(重量%)で1%以下加えることができる。 (もっと読む)


【課題】線膨張係数を任意に変化させることを可能としたキャリア付き極薄銅/合金複合箔または極薄合金箔を使用することで、金属張板、プリント配線板または積層板において生じる反りや、銅箔を実装するパッケージとの接続箇所における半田クラック等の問題を抑制すること。
【解決手段】回路基板と積層するキャリア付きFe−Ni合金箔、またはキャリア付き銅箔とFe−Ni合金箔の複合箔であって、前記Fe−Ni合金箔の線膨張係数をFe成分とNi成分との配合比を変えることで前記回路基板の線膨張係数にあわせる。 (もっと読む)


【課題】半導体装置におけるナノスケールの微細構造物を用いた配線部分に金属をボイドなく埋め込み、電気的な不良を抑制して半導体装置の歩留りを向上させる。
【解決手段】半導体基板上に形成された絶縁膜に設けられたヴィアホール又はトレンチに金属めっき膜を埋め込む工程において、まず、最初のめっき液の容積、補充しためっき液量、処理したウェーハ枚数、流した電流値及び排出しためっき液量の各データを収集する。次いで、取得した電流値に基づいてめっき処理の累積電荷量を算出する。また、全めっき液の容積を算出する。そして、取得した、全めっき液の容積、排出しためっき液量および累積電荷量に基づいて、めっき液に含まれる抑制剤の分解物量を算出する。分解物量が予め設定された閾値以下である場合にのみ半導体基板のめっき処理を実施する。 (もっと読む)


【課題】耐ウイスカー性を改善すること、耐食性や挿抜耐久性等の接触信頼性及びはんだ濡れ性にも優れた良好なフレキシブルフラットケーブル用の平角導体を得ることを目的とする。更に、錫系合金めっきを用いて単層でウィスカー抑制効果の高いめっきを施すことにより、めっき工程を簡易にすること、めっき厚さを管理しやすくすることを目的とする。
【解決手段】少なくとも一部の下地銅或いは銅合金配線2上に、錫−パラジウム合金めっき層3が形成され、前記錫−パラジウム合金めっき層3において、めっき層3の厚さが0.3〜1.0μm且つ、パラジウム含有量が3〜25質量%であることを特徴とするケーブル用平角導体。 (もっと読む)


【課題】プリント配線基板内に庇が発生しない程度のレーザー光エネルギーで良好なレーザー穴開け性を持ち、電気機器の小型化、軽量化に伴う高度に集積化されるプリント配線板の製造を可能とするレーザー穴開け用銅箔を提供すること。
【解決手段】銅箔のレーザーが照射される面にCuとNi及びCoからなる合金微細粗化粒子層を施し、その上にCo又はNiによる平滑カバーめっき層を設け、銅箔の樹脂に接着される側の面にCuとCo又はCuとNi及びCoからなる合金微細粗化粒子層が付着され、該合金微細粗化粒子層の表面にシランカップリング処理が施されている、レーザー穴開け用銅箔である。 (もっと読む)


【課題】活性化された酸素を含む照射処理をした後でも、レジストパターンが開口しているシード層、あるいは、金属構造体の表面に対し、メッキの堆積が均一で、且つ、制御性よく行えるようにする。
【解決手段】O2プラズマ(RFパワー:100W)による照射処理を6分間行うことで、レジストパターン104の開口領域におけるシード層103の表面に付着している有機物(残渣)が除去された状態とする。この有機物の残渣の処理において、シード層103の上にシード層103を構成している金の酸化物などからなる表面層103aが形成される。この表面層103aを、塩酸溶液などの酸の溶液(pH3以下)による浸漬処理(表面処理)を1分間行うことで除去する。 (もっと読む)


【課題】FFCとして用いる錫系めっき銅または銅合金の平角導体に関するもので、熱処理を行ったSn系めっきCu平角導体は、コネクタと長期間嵌合して使用してもウイスカーの発生が、銅配線間等での短絡等が生じることがない程度に抑制されるようにすることにある。
【解決手段】Cu平角導体の端子部が熱処理されることによって、前記Cu平角導体の表面から順次、CuSn金属間化合物相(以下、B相)、CuSn金属間化合物相(以下、A相)および純Sn或いはSn合金層が形成されたSn系めっきCu平角導体であって、前記純Sn或いはSn合金層の最大厚さが1.0μmで、かつ平均厚さが0.3〜1.0μmであると共に、前記B相とA相の生成割合の比がA相/B相として1.5以上であるFFC用のSn系めっきCu平角導体とすることによって、解決される。 (もっと読む)


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