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Fターム[4K029DC45]の内容

物理蒸着 (93,067) | スパッタリング装置 (13,207) | スパッタ方式 (5,546) | マグネトロンスパッタ (2,459) | ターゲット、磁石の相対運動 (334) | ターゲット、磁石の回転(自、公転) (176)

Fターム[4K029DC45]に分類される特許

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【課題】遮蔽体を利用して容易に膜厚分布の制御が可能なマグネトロンスパッタ装置及びマグネトロンスパッタ方法を提供する。
【解決手段】本発明のマグネトロンスパッタ装置は、基板保持部11と、基板保持部11に対向して設けられる板状のターゲット12の被スパッタ面12aの反対面に対向しつつ回転可能に設けられ、その回転中心C1に対して偏心した位置に中心C2を有する電子の周回軌道20を被スパッタ面12aの近傍に生じさせるマグネット13と、ターゲット12と基板10との間に設けられ、基板10側からターゲット12を見た平面視で電子の周回軌道20の一部を遮蔽しつつ電子の周回軌道20との相対位置は変えずに、マグネット13と同期して回転する遮蔽体14と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】真空チャンバを大気に曝すことなく、また、ターゲット冷却用の冷却水を飛散させることなく、短時間で磁石の交換、調整が可能なスパッタリング装置を提供する。
【解決手段】ターゲット2の冷却機構を内蔵したバッキングプレート4の一面側に取り付けベース18と側壁25からなる磁石収納容器を配置し、他面側に真空チャンバ2を配置し、側壁25とバッキングプレート4とを着脱可能に真空チャンバ2に固定し、さらに、取り付けベース18は側壁25に着脱可能に固定し、取り付けベース18に開閉機構5を取り付ける。 (もっと読む)


【課題】シャドーリングのような、基板の周縁に接近させて配置された部材がある場合に発生する異常放電であるアーキングを効果的に防止する。
【解決手段】プロセスチャンバー1内で、基板ホルダー3に保持された基板9に対しスパッタリングによるタングステン膜92の作成が行われる。吸着電源33が吸着電極32に印加する電圧により基板9が誘電体プレート31に静電吸着され、基板9の周縁から所定の距離の領域への薄膜堆積をシャドーシールド62が防止する。誘電体プレート31の表面の一部を覆う導電膜71は、基板9の裏面に接触し、アースから絶縁されているとともに短絡用配線76によりシャドーシールド62に短絡されている。導電膜71の電位が電圧計72により計測され、アーキングの発生を、電圧計72の測定値の急激な変動から判断手段74が判断する。 (もっと読む)


【課題】短冊形ターゲットを用いるマグネトロンスパッタ法においてスパッタ処理効率ないし生産効率の向上を実現する。
【解決手段】このマグネトロンスパッタ装置10は、被処理基板PL,PRを垂直に立てて移動(通過)させながらスパッタ成膜処理を行う縦型通過式のスパッタ装置であって、単一または共通の磁界発生機構42と、左右対称の双子ターゲット12L,12Rとを備える二枚同時処理型のスパッタ装置として構成されている。 (もっと読む)


パターンが形成された基板上に金属を堆積させる方法および装置を提供する。金属層が,第1のエネルギーを有する物理蒸着工程で形成される。第2のエネルギーを用いて金属層上に第2の物理蒸着工程が行われ、ここで、堆積層は、脆性および塑性表面修正工程の相互作用を受け、基板上にほぼ同形の金属層が形成される。
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天井にスパッタターゲットを有するPVDリアクタにおいて、回転磁石組立体を取り囲む導電性ハウジングは、回転磁石の軸用の中央ポートを有する。ハウジングの導電性中空シリンダは、スピンドルの外側部分を囲む。RF電力は、中空シリンダから半径方向に延びる半径方向のRF接続ロッドに結合され、DC電力は、中空シリンダから半径方向に延びる他の半径方向のDC接続ロッドに結合される。
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【課題】処理基板Sと処理基板Sに対向するターゲット6とを配置した真空チャンバー1内にスパッタガスと反応ガスとを供給する手段を備える反応性スパッタリング装置において、処理基板Sが大径化しても、処理基板Sの全域に亘り均質な化合物の薄膜を形成できるようにする。
【解決手段】ターゲット6にガス導入孔12を形成し、ガス導入孔12から処理基板Sに向けて反応ガスを供給する。 (もっと読む)


【課題】 安価な方法で高密度かつ均一な組織の円筒型の酸化物焼結ターゲット材を得ることが可能な製造方法を提供する。
【解決手段】 酸化物粉末を含むスラリーを円筒形状の吸水型に注入した後、前記吸水型の円筒内壁にスラリーを沈降させながら吸水型の中心線を回転軸心として回転速度30rpm以下で回転させことにより円筒形状の酸化物成形体を得、次いで前記酸化物成形体を焼結して円筒型酸化物焼結体を得る円筒型酸化物焼結ターゲット材の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】カソードを収容するカソードケースの周囲にガス噴出管を配置し、プロセスガスを基板中央付近まで均一に行き渡るようにして膜厚分布を改善したスパッタリング装置を提供する。
【解決手段】3個のマグネトロンカソードのうち、両側のカソード54a、54cは角度調整可能に真空容器32に取付けられている。真空容器32を1×10^4Paまで排気した後、カソードケース50に付属するガス噴出管82からプロセスガス(アルゴンと酸素の混合ガス)88を導入する。合計でアルゴンガスの流量を120SCCM、酸素ガスの流量を90SCCMとし、真空容器内の圧力を0.7Paに設定する。其々の直流電源72からカソード54a、54b、54cに1kWの直流電力を供給して、クロム製のターゲット78をスパッタリングし、基板10上に酸化クロム薄膜を形成する。200nmの膜厚を得た時に膜厚分布は±4%となった。 (もっと読む)


【課題】膜厚が均一な膜を手軽に成膜する。
【解決手段】ロータリーマグネトロンスパッタ装置300において、ターゲット330と、そのターゲット330のディスク基板201側に対する裏側に配置され磁界を発生させる、その磁界は頂点がターゲット330のディスク基板201側に達するアーチ状の磁界であり、その磁界をターゲット330に沿って周回移動させるロータリーマグネトロンカソード340との間に挿入され、上記磁界の周回移動経路上の一部でその磁界のターゲット330への到達を減らす軟磁性板360を備えた。 (もっと読む)


【課題】時間の経過に伴なってターゲット部材の一定のスパッタ速度を提供し、かつ変動しないプロセス条件を作ることのできるプラズマ支援スパッタ成膜装置を提供する。
【解決手段】本発明は、上部電極2、下部電極3、ガス導入口、真空排気口を有する反応容器1と、ターゲット2aと、複数のマグネット4と、マグネット支持金属シート9と、金属シートを上部電極の中心軸に沿う方向に移動させる移動機構(13,14,22)と、rf電源(15)と、移動機構の移動条件を決める電気回路(25)とを備える。電気回路は、上部電極の自己バイアス電圧をモニタし、複数のマグネットを、スパッタプロセスによる時間の経過に伴ってエロージョンを受けるターゲット部材の表面上で一定磁界を維持するようターゲット平面に垂直に移動させる。 (もっと読む)


プラズマ促進物理蒸着反応器において、ワークピース全体にわたる堆積速度の半径方向分布の均一性を、RFおよびDC電力の両方をターゲットに印加し、RFおよびDC電力の電力レベルを別個に調整することによって向上させる。さらなる最適化は、ターゲットの上の磁石の高さを調整すること、ターゲットの上の磁石の軌道運動の半径を調整すること、および角度をつけたターゲットのエッジ面を設けることによって得られる。
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【課題】 スパッタソースのターゲット有効期間に亘っての分布変化を補整可能にする、絶縁材料の被覆方法を実現することである。
【解決手段】
被覆さるべき基板上において、さらにスパッタさるべきターゲット(9)の全有効期間に亘り再現可能な方法で優れた分布が達成さるべき絶縁層を製造するための、真空スパッタ方法に関し、この発明では、高周波でスパッタされる絶縁ターゲット(9)の厚さにならい削りが施され、しかも浸食率が高い領域でのターゲット厚さはより厚く、かつ/または浸食率の低い領域ではターゲット厚さがより薄く選択されるように、ならい削りが選択されるよう、提案される。 (もっと読む)


【課題】テクスチャを設けることなしに磁気記録層に磁気異方性を付与することができる新規な構成を提供する。
【解決手段】 基板9上に形成された磁気記録層91より成る磁気記録ディスクは、基板9と磁気記録層91の間に磁気記録層91に磁気異方性を付与する異方性付与層92を有する。異方性付与層92は、タンタル、ニオブ合金又はタンタル合金であって窒化されたもの又は窒素を含む薄膜であり、表面が大気ガス、窒素ガス又は酸素ガスに晒されて変性されている。異方性付与層92は、例えばクロムニオブ合金製ターゲットを窒素を含むプロセスガスによってスパッタして作成した薄膜であり、成膜後に0.5〜10Pa程度の圧力の酸素ガスに晒す。ターゲットからのスパッタ粒子のうち、付与すべき異方性の方向に方向成分を持って飛行するスパッタ粒子を相対的多く基板9に入射させる方向制御が行われる。 (もっと読む)


【課題】マグネトロンスパッタ法において短冊形ターゲットを使用して半導体ウエハにスパッタ成膜を効率的かつ均一に行えるようにする。
【解決手段】被成膜体の半導体ウエハをウエハ配置面P上の円形基準領域Aにぴったり重ねて配置する。そして、円形基準領域Aの中心AOを通る法線を回転中心軸として半導体ウエハを所定の回転数で同軸回転させる。そうすると、半導体ウエハ表面の各部は、一回転毎に、半径R/2よりも内側のウエハ中心部は短冊形堆積領域B1のみを通過する間に短冊形ターゲット10(1)からのスパッタ粒子を浴び、半径R/2よりも外側のウエハ周辺部では両短冊形堆積領域B1,B2を通過する間に両短冊形ターゲット10(1),10(2)からのスパッタ粒子を浴びるという形態のスパッタ成膜処理を受ける。 (もっと読む)


【課題】 ターゲット面近傍のプラズマ状態の更なる安定化を図ること。
【解決手段】 磁場発生装置は、永久磁石と、前記永久磁石の外周側面を囲むように配置されている磁性体よりなる分離されているヨークと、前記ヨークの間に位置する非磁性体と、を有する磁石組立が、少なくとも3個以上一直線に沿って配置されることにより構成される磁石組立群を備える。 (もっと読む)


【課題】良好でかつ要求された特性を維持することができ、膜堆積の間停止状態にある温度制御性の良好なウェハーホルダを有するプラズマ支援スパッタ成膜装置を提供すること。
【解決手段】プラズマ支援スパッタ成膜装置は次の構成からなる。プラズマの生成のため使用されるプロセスガスが導入される反応容器1と、プラズマによってスパッタされる物質で作られるドーナツ型電極であって、その下面はウェハーの表面に対し傾斜されているドーナツ型電極2と、ドーナツ型電極の上方の円の上を移動しながらその中心軸で回転する回転プレートであって、その下面に取付けられかつドーナツ型電極の表面に平行なマグネット配列4を含む回転プレート3と、ドーナツ型電極に接続された電力源10と、そして膜堆積のためウェハー9を配置するためのウェハーホルダ5であって、膜堆積の間停止状態にあるウェハーホルダとから構成される。 (もっと読む)


本発明の実施形態は、一般に、基板上のアスペクト比の高い特徴部の底部及び側壁上に材料を均一にスパッタ蒸着させるための装置及び方法に関する。1つの実施形態では、スパッタ蒸着システムが、開口部を有するコリメータを含み、この開口部のアスペクト比が、コリメータの中心領域からコリメータの周辺領域にかけて減少する。1つの実施形態では、内部にねじ山のある留め具と外部にねじ山のある留め具との組み合わせを含むブラケット部材を介して、コリメータが接地されたシールドに結合される。別の実施形態では、コリメータが、接地されたシールドに一体的に取り付けられる。1つの実施形態では、材料をスパッタ蒸着させる方法が、基板支持部上のバイアスを高い値と低い値の間でパルスするステップを含む。 (もっと読む)


コア材料および表面材料を含むフィールド増加型スパッタリングターゲットを開示し、コア材料または表面材料のうちの少なくとも1つがフィールド増加設計プロファイルを有し、スパッタリングターゲットは実質的に均一の浸食プロファイルを有する。フィールド増加型スパッタリングターゲットおよび陽極シールドを含むターゲットアセンブリ・システムをまた開示する。加えて、スパッタリングターゲット上で実質的に均一の浸食を生成する方法を記載し、それは陽極シールドを提供し、陰極のフィールド増加型ターゲットを提供し、プラズマ点火アークを始めることを含み、アークは陽極シールドおよび陰極フィールド増加型ターゲットとの間で最少の抵抗のポイントに配置される。
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【課題】スパッタリング方法及び装置において、ターゲットへの再付着膜の堆積量を減少可能とすることを目的とする。
【解決手段】基板に所望の膜を成膜するスパッタリング方法において、ターゲットの表面に平行な磁場が、前記基板に対して実際に成膜処理を行う成膜モード中はスパッタリングされる前記ターゲットの他の部分の第1の強度と比較して弱い第2の強度であるターゲットの部分を、前記成膜処理を行わない待機モード中は前記第1の強度以上の磁場に制御することで、前記成膜モード中に前記ターゲットの部分に付着した再付着膜を前記待機モード中のスパッタリングにより除去する。 (もっと読む)


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