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Fターム[4K030CA05]の内容

CVD (106,390) | 基体 (14,903) | 材質 (8,740) | セラミックからなるもの (756)

Fターム[4K030CA05]に分類される特許

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【課題】プラズマからラジカルのみを確実に選択的に通過させることができるラジカル選択装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置10のチャンバ11内において、載置台12に載置されたウエハW及びプラズマジェネレータ13の間に配置されるラジカルフィルタ14は、上部シールドプレート17と、プラズマジェネレータ13との間に上部シールドプレート17を介在させるように配置される下部シールドプレート18とを備え、上部シールドプレート17は当該上部シールドプレート17を厚み方向に貫通する複数の上部貫通孔17aを有し、下部シールドプレート18は当該下部シールドプレート18を厚み方向に貫通する複数の下部貫通孔18aを有し、上部シールドプレート17には負の直流電圧が印加され、下部シールドプレート18には正の直流電圧が印加される。 (もっと読む)


【課題】LEDまたはSiCデバイスのコスト低減のために、GaN、AlNまたはSiCバファー膜を大量に堆積できる装置、及び、GaNまたはSiCエピタキシャル層のストレスの低減法、基板形成方法を提供する。
【解決手段】縦型ホットウォールタイプのクリーニング用プラズマ手段つき、減圧CVDおよびリモートプラズマCVD装置によりデバイスのコストを低減する。基板のデバイス形成領域の周辺に深い溝を形成することで、GaNまたはSiCエピタキシャル層のストレスを低減する。さらに基板表面を異方性、等方性パターンをエッチングにより形成する基板形成する。LEDデバイス基板に関しては、その表面にSiO2パターンを形成し、マイクロチャネルエピタキシーによって良好なエピタキシャル膜を形成し、欠陥の少ない良好な膜を得るようにする。 (もっと読む)


【課題】ガスをベント管側へ流すことなく安定化した流量のガスを処理容器内へ導入することが可能なガス供給装置を提供する。
【解決手段】薄膜が形成される被処理体Wを収容する処理容器4内へガスを供給するガス供給装置40において、処理容器に接続されてガスを流すためのガス通路48と、ガス通路に介設された流量制御弁64と、流量制御弁よりも下流側のガス通路に介設された開閉弁機構68と、流量制御弁と開閉弁機構との間のガス通路である中間ガス通路72内の圧力を検出する圧力検出部74と、圧力検出部の検出に基づいて流量制御弁を制御することにより中間ガス通路内の圧力を処理容器内の圧力の2倍以上の一定値になるように制御する弁制御部76とを有するガス供給系42を備える。 (もっと読む)


【課題】気相成長反応が行われる空間からの反応ガスの流出を制御して、基板上で安定した成膜処理をする成膜装置および成膜方法を提供する。
【解決手段】成膜装置100は、反応ガス4が供給されて成膜処理が行われるチャンバ1と、チャンバ1の内部に設けられた中空筒状のライナ2と、ライナ2の上方に設けられて反応ガス4が透過するシャワープレート15と、ライナ2とチャンバ1の内壁1aとの間の空間Bにパージガス52を導入するパージガス供給口50と、ライナ2の上部と下部の周囲に配設されて空間Bの上端部と下端部を塞ぐシール51とを有する。成膜装置100は、空間Bをパージガス52でパージし、基板7上での気相成長反応が行われる空間A内の反応ガス4が空間Bへ流入することを抑制するとともに、空間Bに導入された所定量のパージガス52が空間Aへ流入するように制御する。 (もっと読む)


【課題】HEMT及びその他の高速スイッチングデバイスにおいて、意図しない不純物のドープはを防ぎ高性能なデバイスを提供する。
【解決手段】半導体構造は、基板、基板上方の遷移体、及び遷移体上方に底面を有するIII−V族中間体を備える。半導体構造はさらに、III−V族中間体の頂面上方にIII−V族デバイス層を備える。III−V族中間体213は、前記底面211において高く、前記頂面213において低くなる形で連続的に減少された不純物濃度を有する。 (もっと読む)


【課題】3価のA元素と、4価のB元素と、酸素Oとを含有し、組成式がAx61.5X+12(ただし、6≦X≦30)で表される複合酸化物からなる膜のA/B組成比を所望の値に制御するとともに、該膜を薄膜として得る。
【解決手段】メインチャンバ32に、例えば、酸化剤、La(A元素)供給源、Si(B元素)供給源をそれぞれ収容した第1、第2及び第3原料ボトル34、36、38を接続する。メインチャンバ32の室内へのLa源の供給、パージ、酸化剤の供給、パージ、Si源の供給、パージ、酸化剤の供給、パージを行うことにより、Si(100)等からなる基板12上に、La23膜、SiO2膜を順次積層する。La源とSi源の供給回数比を調節することにより、最終的に得られるLaxSi61.5X+12におけるLa/Si組成比を制御することができる。なお、La源、Si源及び酸化剤は、基板12の水平な上端面に対して平行に流通する。 (もっと読む)


【課題】基板に対する誘導電流の影響を排除して均一に熱処理を行うことができる、誘導加熱を利用した熱処理装置を提供すること。
【解決手段】熱処理が施される複数の基板Sを収容する処理容器2と、処理容器2内で複数の基板を保持する基板保持部材3と、処理容器2内に誘導磁界を形成して誘導加熱するための誘導加熱コイル15と、誘導加熱コイル15に高周波電力を印加する高周波電源16と処理容器2内に処理ガスを供給するガス供給手段8,9,10と、処理容器2内を排気する排気手段11,12,14と、処理容器2内で基板保持部材3を囲うように誘導加熱コイル15と基板保持部材3との間に設けられ、誘導磁界によって形成された誘導電流により加熱され、その輻射熱で基板保持部材3に保持された基板Sを加熱する誘導発熱体7とを具備し、誘導発熱体7により、基板Sへ誘導電流が流れることが阻止される。 (もっと読む)


【課題】摩擦接触面に、形状や高さが均一でエッジ部分が丸みを帯びたセグメントで構成される無機質膜を形成する方法を提供する。
【解決手段】成膜面にマスク形成用の金属層40を形成するステップと、金属層40にエッチングを施して、セグメントを区画する溝位置に金属層40の突起部を形成するステップと、突起部40を形成した成膜面が露出するように陰極を構成する基板ホルダ上に載置し、プラズマCVD法を用いて突起部40の間の成膜面に、突起部40に対向するエッジ部分が丸みを帯びたセグメント7から成る無機質膜を成膜するステップと、突起部40を除去するステップとを備える。セグメントのエッジ部分が丸みを帯びているため、予圧された接触部材と接触したときの接触圧力がセグメント全体で均一化し、エッジ部分の破損が生じない。 (もっと読む)


【課題】大気中で熱処理を実施することにより、トンネル炉等の気密性の低い簡易な設備を用いて行うことができるフッ素ドープ酸化錫膜の形成方法の提供。
【解決手段】フッ素ドープ酸化錫膜を形成する基体表面の温度(成膜面温度)が500℃以上となる条件で、CVD法を用いてフッ素ドープ酸化錫膜を該基体上に形成し、該成膜面温度が280℃以下になるまで冷却した後、該成膜面温度を280〜540℃の温度域に大気中で加熱した後、該成膜面温度を280℃以下に冷却するフッ素ドープ酸化錫膜の形成方法であって、大気中での加熱時において、フッ素ドープ酸化錫膜から酸素の脱離が起こり、かつ、該フッ素ドープ酸化錫膜への酸素の再吸着が起こらないように、280℃と該成膜面の最高到達温度との間の温度域における積分温度値を設定することを特徴とするフッ素ドープ酸化錫膜の形成方法。 (もっと読む)


【課題】結晶性が良好な高濃度硫黄ドープ窒化物半導体結晶を提供する。
【解決手段】HVPE法による窒化物半導体結晶の成長において、硫化水素、メチルメルカプタンおよびジメチルサルファイド等の硫黄原子を含む原料を供給して、下地基板上に窒化物半導体結晶を+c軸方向以外の方向へ成長させることにより、S濃度が1×1018〜1×1020cm-3であり、かつ対称反射のX線ロッキングカーブの半値全幅が100秒以下である窒化物半導体結晶が得られる。 (もっと読む)


【課題】炭窒酸化チタンコーティングが施された切削インサートおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】コーティングされた切削インサートの製造方法、およびコーティングされた切削インサートは、表面を有する基材を提供するステップと、炭窒酸化チタンのCVDコーティング層を被覆するステップとを含む。炭窒酸化チタンコーティング層を被覆するためのガス状混合物は、窒素、メタン、塩化水素、四塩化チタン、アセトニトリル、一酸化炭素および水素の組成物を有する。炭窒酸化チタンコーティング層は、2次元平面図で測定すると、平均長が約1.0μmより大きく、平均幅が約0.2μmより大きく、平均アスペクト比が約2.0より大きい炭窒酸化チタンウィスカを含む。 (もっと読む)


【課題】冷媒の流通により気相成長装置本体の少なくとも一部(サセプタの対面、ヒータへの通電を制御する制御機器等)が冷却される構成を備えた気相成長装置であって、外気から冷媒中への雑菌や藻等の異物の混入を防止することができる気相成長装置を提供する。
【解決手段】冷媒の循環流路が密閉系であり、外部に設けられた冷却手段との熱交換により該冷媒を冷却できる構成とする。さらに好ましくは、該冷媒をイオン交換水とする。 (もっと読む)


【課題】数十nmから数十μmの大きさの、任意の材料の微粒子を、任意の場所に、任意の形状に短時間で配列させる微粒子配列装置および微粒子配列方法を提供する。
【解決手段】微粒子配列装置20は、プラズマ3を発生させるプラズマ発生装置10と、プラズマを発生させている領域に微粒子6を注入する微粒子注入部16と、プラズマ発生装置内で、プラズマに面する位置に微粒子を配列させるための基板を保持する基板保持部と、基板12上に配置するパターン14であって、基板上に微粒子を配列させる箇所を中心とする開口部を設けたパターンと、を備え、プラズマを発生させている領域に微粒子を注入した後、プラズマ発生装置内のプラズマを消滅させて基板上にパターンに対応して微粒子を配列させる。 (もっと読む)


【課題】PBN製品に適用可能な新規有用なトレーサビリティ表示手法を提供する。
【解決手段】少なくとも表面2がPBNからなる本体1を製造した後、該本体表面の任意箇所に純化黒鉛でトレーサビリティ表示2を設け、該トレーサビリティ表示を含めた本体表面をPBNオーバーコート3で被覆して、PBNオーバーコート製品4が製造される。PBNオーバーコートの膜厚を700μm以下とすれば、本体表面に表示した製品シリアル番号を読み取るに十分な透明性を与えることができるので、トレーサビリティ表示手法として好適である。黒鉛はPBNの物性に悪影響を与えないので、これを用いて形成されるトレーサビリティ表示が本体PBN表面とPBNオーバーコートとの間に介在しても、PBN製品本来の機能や耐久性を損なわない。 (もっと読む)


【課題】 固体原料或いは液体原料を加熱して生成した原料蒸気を圧力式流量制御装置を用いて流量制御しつつプロセスチャンバへ安定して供給できるようにすることにより、原料の気化供給装置の小型化と、半導体製品の品質向上を図ると共に、原料の残量管理を容易に出来るようにする。
【課題解決手段】 原料を貯留したソースタンクと,ソースタンクの内部空間部から原料蒸気をプロセスチャンバへ供給する原料蒸気供給路と,当該原料蒸気供給路に介設されプロセスチャンバへ供給する原料蒸気流量を制御する圧力式流量制御装置と,前記ソースタンクと供給路と圧力式流量制御装置とを設定温度に加熱する恒温加熱部とから成り、ソースタンクの内部空間部に生成した原料蒸気を圧力式流量制御装置により流量制御しつつプロセスチャンバへ供給する。 (もっと読む)


【課題】複数の基板ホルダーをサセプタにより保持するフェイスダウン型の気相成長装置であっても、1000℃を超える気相成長温度を必要とする3族窒化物半導体のフェイスダウン型の気相成長装置であっても、前記サセプタの重力あるいは加熱による変形を抑制できる気相成長装置を提供する。
【解決手段】基板1を保持する基板ホルダー2、及び該基板ホルダーを回転自在に保持するサセプタ3が備えられた気相成長装置であって、中心部が上向きに凸となるように撓ませたサセプタを、基板ホルダーに回転駆動力を伝達するための回転駆動軸10を介して、上から中心部を押圧して配置した気相成長装置とする。 (もっと読む)


【課題】 HVPE法のサファイア基板上又はSi基板上に、所望の組成比率xのAlGa1−xNの結晶を成長させることができるエピタキシャル成長方法を提供する。
【解決手段】 アルミニウム原料と、ガリウム原料と、アンモニア原料と、キャリアガスとを用いたHVPE法によって、AlGa1−xNを結晶成長させる。この際、キャリアガスは、不活性ガスと水素からなり、この水素分圧を0以上0.1未満の範囲に置く。その結果、原料の供給比率と、成長させた結晶の組成比率との間の関係を線形なものにすることができ、結晶組成の制御性が向上する。 (もっと読む)


【課題】 大きな直径を有する複数枚の基板(4インチ基板、6インチ基板)の表面に、1000℃以上の温度で窒化ガリウムの気相成長を行なっても、基板が割れず高品質の結晶成長が可能な気相成長方法を提供する。
【解決手段】 前記のような基板を保持するためのサセプタ、該サセプタの対面、該基板を加熱するためのヒータ、該サセプタと該サセプタの対面の間隙からなる反応炉、原料ガス導入部、及び反応ガス排出部を有する気相成長装置を用いた窒化ガリウムの気相成長方法であって、基板表面の温度、基板表面と該基板の対面表面との温度差を適切な範囲内に設定し、かつ基板の位置における原料ガスの線速を適切な範囲内となるように原料ガスの供給を調整して基板表面に窒化ガリウム層の形成を行なう気相成長方法とする。 (もっと読む)


【課題】互いに異なる流動ガスを交互に注入して工程温度を変化させる化学気相蒸着方法を使用した発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の化学気相蒸着方法を使用した発光素子の製造方法は、第1工程温度で、サテライトディスクに載置された基板上に量子ウェル層を形成する段階と、第2工程温度で、量子ウェル層上に量子障壁層を形成する段階と、を有し、量子ウェル層と量子障壁層とを形成する段階を少なくとも一回遂行する。 (もっと読む)


【課題】反応ガスを供給するノズルが詰まる現象を緩和して工程効率及び生産性を向上させた半導体エピ薄膜の成長方法及びこれを用いた半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体エピ薄膜の成長方法は、ウェハーホルダーに積載された複数のウェハーを反応チャンバの内部に配置する段階と、ウェハーの積載方向に沿って延長されて備えられたガス供給部を通じて塩素系有機金属化合物を含む反応ガスをウェハーに噴射し、各ウェハーの表面に半導体エピ薄膜を成長させる段階と、を有する。 (もっと読む)


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