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Fターム[4M104BB04]の内容

半導体の電極 (138,591) | 電極材料 (41,517) | 遷移金属 (20,763)

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Fターム[4M104BB04]に分類される特許

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【課題】微細化及び高集積化を達成した酸化物半導体を用いた半導体装置において、安定した電気的特性を付与し、高信頼性化する。
【解決手段】酸化物半導体膜を含むトランジスタ(半導体装置)において、酸化物半導体膜を、絶縁層に設けられたトレンチ(溝)に設ける。トレンチは曲率半径が20nm以上60nm以下の曲面状の下端コーナ部を含み、酸化物半導体膜は、トレンチの底面、下端コーナ部、及び内壁面に接して設けられる。酸化物半導体膜は、少なくとも下端コーナ部において表面に概略垂直なc軸を有している結晶を含む酸化物半導体膜である。 (もっと読む)


【課題】電極パターンが基板支持台に直接押し付けられることによって生じる電極パターンへのダメージの発生を防止することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板40の表面S1上に電極パターン41が形成される。半導体基板40の表面S1上において電極パターン41を覆う絶縁膜43が形成される。成膜装置の基板支持台100上に、絶縁膜43が基板支持台100に接するように半導体基板40が取り付けられる。基板支持台100に取り付けられた半導体基板40の裏面上に成膜装置によって電極層44が堆積される。電極層44が堆積された後に、電極パターン41の少なくとも一部が露出するように絶縁膜43がパターニングされる。 (もっと読む)


【課題】めっき後に細線乃至小ドットの金属パターンを高解像度で形成できる金属パターン材料及び金属パターン材料の製造方法の提供。
【解決手段】特定のめっき形成用光感応材料を6μm未満のピッチで露光する際に、6μmピッチ露光時の最適パワーに対し、100%未満であり、かつ〔(ピッチ(μm)×75/6+25)−30〕〜〔(ピッチ(μm)×75/6+25)+15〕%のレーザーパワーで露光する露光工程と、露光後のめっき形成用光感応材料を現像液で現像する現像工程と、現像後のパターンが形成されためっき形成用光感応材料を、めっき浴比が10未満でめっきを行うめっき工程とを含む金属パターン材料の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】トランジスタ特性(移動度、オフ電流、閾値電圧)及び信頼性(閾値電圧シフト、耐湿性)が良好で、ディスプレイパネルに適した電界効果型トランジスタを提供すること。
【解決手段】基板上に、少なくともゲート電極と、ゲート絶縁膜と、半導体層と、半導体層の保護層と、ソース電極と、ドレイン電極とを有し、ソース電極とドレイン電極が、半導体層を介して接続してあり、ゲート電極と半導体層の間にゲート絶縁膜があり、半導体層の少なくとも一面側に保護層を有し、半導体層が、In原子、Sn原子及びZn原子を含む酸化物であり、かつ、Zn/(In+Sn+Zn)で表される原子組成比率が25原子%以上75原子%以下であり、Sn/(In+Sn+Zn)で表される原子組成比率が50原子%未満であることを特徴とする電界効果型トランジスタ。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い半導体装置を提供する。また、不良を抑制しつつ微細化を達成した半導体装置を提供する。
【解決手段】トレンチを有する絶縁層に接して、ソース領域またはドレイン領域として機能する領域の膜厚が、チャネル形成領域として機能する領域の膜厚よりも厚い酸化物半導体層を形成する。該酸化物半導体層を用いたトランジスタは、ソース抵抗またはドレイン抵抗を低減することができると共に、しきい値のバラツキ、電気特性の劣化、ノーマリーオン化を抑制することができ、信頼性の高いトランジスタとすることができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、簡便な工程で製造可能な、電荷注入効率に優れた薄膜トランジスタ基板の製造方法を提供することを主目的とする。
【解決手段】本発明は、基板上に金属電極層を形成する金属電極層形成工程と、上記金属電極層の上面に、電子吸引性または電子供与性の官能基を有する表面処理剤で表面処理を行うことにより、表面処理層積層体を形成する表面処理工程と、上記表面処理層積層体をパターニングし、ソース電極およびドレイン電極を形成するパターニング工程と、上記ソース電極および上記ドレイン電極上に有機半導体層を形成する有機半導体層形成工程と、上記有機半導体層上にゲート絶縁層を形成するゲート絶縁層形成工程と、上記ゲート絶縁層上にゲート電極を形成するゲート電極形成工程と、を有することを特徴とする薄膜トランジスタ基板の製造方法を提供することにより、上記目的を達成する。 (もっと読む)


【課題】二重金属ゲートを有する構造体において金属膜の仕事関数を調整する為の改善した方法および半導体素子を提供する。
【解決手段】半導体素子は単一金属膜に対し、NMOSにおいてはフッ素、PMOSにおいては炭素をそれぞれ選択的にドーピングすることによって形成される二重仕事関数の金属ゲート電極108’、109’を有する。 (もっと読む)


【課題】2種類以上のめっきを同一の感光性材料を用いて選択的に成膜する場合、クラックの発生を抑制する。
【解決手段】この製造装置は、表面に絶縁膜330が形成された半導体ウェハ200表面
を第1のめっき液を用いてめっき処理する第1のめっき処理槽と、半導体ウェハ200表
面を第2のめっき液を用いてめっき処理する第2のめっき処理槽と、を備える。第1のめ
っき処理槽には、半導体ウェハ200の表面と重なる部分の長さがdであり、かつ絶縁
膜330との接触幅がwの第1のシール320が設けられ、第2のめっき処理槽には半
導体ウェハ200の表面と重なる部分の長さがdであり、かつ絶縁膜330との接触幅
がwの第2のシール340が設けられ、第1のシール320と第2のシール340の間
には、d<d−wの関係が成り立っている。 (もっと読む)


【課題】FETのソース領域にショットキー電極を形成し、内部にオミックパターン電極を備え、ゲート電極をソース電極の一部領域と窒化物半導体領域の一部に形成することによって、ノーマリ−オフ動作すると共に高耐圧及び高電流で動作可能な、半導体素子及び製造方法を提供する。
【解決手段】内部に2次元電子ガス(2DEG)チャネルを形成する窒化物半導体層30と、窒化物半導体層30にオーミック接合されたドレイン電極50と、ドレイン電極50と離間され、窒化物半導体層30にショットキー接合されるソース電極60と、ドレイン電極50とソース電極60との間の窒化物半導体層30上及びソース電極60の少なくとも一部上にかけて形成された誘電層40と、ドレイン電極50と離間されるように誘電層40上に配設され、一部が誘電層40を挟んでソース電極60のドレイン方向のエッジ部分上部に形成されたゲート電極70とを含む。 (もっと読む)


【課題】FETのソース領域にショットキー電極を形成し、ゲート電極をソース電極の一部領域と窒化物半導体領域の一部に形成し、ドレイン電極と該ソース電極との間にフローティングガードリングを設けることによって、ノーマリ−オフで動作する半導体素子を提供する。
【解決手段】内部に2次元電子ガス(2DEG)チャネルを形成する窒化物半導体層30と、窒化物半導体層30にオーミック接合されたドレイン電極50と、ショットキー接合されたソース電極60と、ドレイン電極50とソース電極60との間で窒化物半導体層30にショットキー接合されたフローティングガードリング75と、ドレイン電極50とソース電極60との間及びソース電極60の少なくとも一部上にかけて形成された誘電層40と、誘電層40上に形成され、一部が、誘電層40を挟んでソース電極60のドレイン方向のエッジ部分上に形成されたゲート電極70とを含む。 (もっと読む)


【課題】半導体基板の一表面上に絶縁膜を介して形成された導電層と、半導体基板の他面上に形成されたバンプ部と、導電層とバンプ部とを接続する半導体基板を貫通する貫通電極部とを有する半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板の他面側から導電層に接続する貫通孔を形成し、貫通孔及び他面上にメタル膜(バリアメタル及びシードメタル)6を形成し、その上にフォトレジスト10を形成し、貫通孔より大きなパターンに加工してメッキマスク層を形成し、電解メッキ法により銅からなる第1メッキ膜7を形成して、貫通電極部と第1バンプ部を形成し、第1バンプ部上に第2バンプ部となる第2メッキ膜8を形成する。 (もっと読む)


【課題】多孔性低誘電率絶縁膜のトレンチおよびビア内にカバレージ良くライニング層を形成する半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】第1パルス期間に供給される第1反応物と、第2パルス期間に供給される第2反応物とを利用する原子層堆積(ALD)プロセスにより成膜する。まずシーリング層を低コンフォマリティーを有する条件で成膜し、ポアをブロックする。この後、接着層を高いコンフォマリティーを有する条件で成膜する。 (もっと読む)


【課題】T−ゲート構造物の改良された形成法の提供。
【解決手段】a)基板を提供する工程、b)基板上に平坦化層を配置する工程、c)UV感受性第一フォトレジストの層を配置する工程、d)マスクを通してUV放射線に露光し、現像することによって、第一フォトレジストをパターン化して、T−ゲートの底部用の第一開口を規定する工程、e)パターンを平坦化層に転写する工程、f)このパターンをUV放射線に対して非感受性にする工程、g)UV感受性第二フォトレジストの層を配置する工程、h)第二フォトレジストをマスクを通してUV放射線に露光し、現像することによって、第二フォトレジストをパターン化して、第一開口の上のT−ゲートのキャップ用の第二開口を規定する工程、i)第一開口および第二開口内に導電性材料を堆積してT−ゲートを形成する工程、を含む方法。 (もっと読む)


【課題】高耐圧及び高電流の動作が可能な半導体素子及びその製造方法を提案する。
【解決手段】内部に2次元電子ガス(2DEG)チャンネルを形成する窒化物半導体層30と、窒化物半導体層30にオーミック接合されたドレイン電極50と、ドレイン電極50の方向に突出した多数のパターン化された突起61を備え、内部に窒化物半導体層30にオーミック接合されるオーミックパターン65を含むソース電極60と、ドレイン電極50とソース電極60との間の窒化物半導体層30上に、且つ、パターン化された突起61を含んでソース電極60上の少なくとも一部に亘って形成された誘電層40と、一部が、誘電層40を間に置いてソース電極60のパターン化された突起61部分及びドレイン方向のエッジ部分の上部に形成されたゲート電極70と、を含んでなる。 (もっと読む)


【課題】半導体素子、例えばFETのソース領域にショットキー電極を形成し、ゲート電極をソース電極の一部領域と窒化物半導体領域の一部に形成することによって、ノーマリ−オフまたはエンハンスメントモード動作する半導体素子及び製造方法を提供する。
【解決手段】基板10上に配設され、内部に2次元電子ガス(2DEG)チャネルを形成する窒化物半導体層30と、該窒化物半導体層30にオミック接合されたドレイン電極50と、該ドレイン電極50と離間して配設され、該窒化物半導体層30にショットキー接合されたソース電極60と、該ドレイン電極50と該ソース電極60との間の窒化物半導体層30上及び該ソース電極60の少なくとも一部上にかけて形成された誘電層40と、該ドレイン電極50と離間して誘電層40上に配設され、一部が誘電層40を挟んでソース電極60のドレイン方向のエッジ部分上に形成されたゲート電極70とを含む。 (もっと読む)


【課題】オン抵抗を低め、高電流で動作する半導体素子及び製造方法を提供する。
【解決手段】基板10上部に配設され、内部に2次元電子ガスチャネルを形成する窒化物半導体層30と、窒化物半導体層30にオーミック接合されたドレイン電極50と、ドレイン電極50と離間して配設され、窒化物半導体層30にショットキー接合されたソース電極60と、ドレイン電極50とソース電極60との間の窒化物半導体層30上及びソース電極60の少なくとも一部上にかけて形成され、ドレイン電極50とソース電極60との間にリセスを形成する誘電層40と、ドレイン電極50と離間して誘電層40上及びリセスに配設され、一部が誘電層40を挟んでソース電極60のドレイン方向へのエッジ部分上部に形成されたゲート電極70とを含む。 (もっと読む)


【課題】安定した電気特性を持つ、酸化物半導体を用いた薄膜トランジスタを有する、信頼性の高い半導体装置の作製方法の提供を目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体をチャネル形成領域に用いたトランジスタを有する半導体装置の作製において、酸化物半導体膜を形成した後、水分、ヒドロキシ基、または水素などを吸蔵或いは吸着することができる金属、金属化合物または合金を用いた導電膜を、絶縁膜を間に挟んで酸化物半導体膜と重なるように形成する。そして、該導電膜が露出した状態で加熱処理を行うことで、導電膜の表面や内部に吸着されている水分、酸素、水素などを取り除く活性化処理を行う。 (もっと読む)


【課題】さらなる微細化に対しても適正な閾値電圧Vtが得られるデュアルメタルゲート構造を実現する。
【解決手段】ゲート電極120bは、第1の仕事関数を有する第1の金属含有膜114bと、第1の金属含有膜114b上に形成されており且つ第2の仕事関数を有する第2の金属含有膜117bとを含む。ゲート電極120aは、第1の金属含有膜114を含まないと共に第2の金属含有膜117aを含む。ゲート電極120bにおける第1の金属含有膜114bと第2の金属含有膜117bとの間に拡散防止層115bが形成されている。 (もっと読む)


【課題】基板に定形された形態部の内部に、表面が平坦化された導電性材料を形成する方法を提供する。
【解決手段】平坦化表面を形成する方法であって、狭小形態部と幅広形態部が形成された基板上に、第1のプロセスでは電気めっき法により狭小形態部および幅広形態部の少なくとも一部を充填し、第1の層を形成し、第2のプロセスでは無電解めっき法により幅広形態部のに対応する第1の層中の孔および第1の層上に第2の層を充填形成し、表面が平坦な上層部110を形成する。 (もっと読む)


【課題】良好なオン特性を維持したまま、逆方向バイアスに対するリーク電流を低減した半導体デバイスを得る。
【解決手段】窒化物系化合物半導体からなるチャネル形成層と、チャネル形成層上に設けられ、第1の窒化物系化合物半導体からなる第1の半導体層、および、第2の窒化物系化合物半導体からなる第2の半導体層を有する疑似混晶からなる疑似混晶層と、疑似混晶層上に設けられ、窒化物系化合物半導体からなり、チャネル形成層の多数キャリアと反対の導電型を有する導電半導体層と、導電半導体層に接する第1の電極と、チャネル形成層に電気的に接続された第2の電極と、を備える半導体デバイスを提供する。 (もっと読む)


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