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Fターム[4M104GG08]の内容

半導体の電極 (138,591) | 適用素子 (17,168) | MISFET (8,278)

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Fターム[4M104GG08]に分類される特許

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【課題】 本発明の課題は、銅層および/または銅合金層を有する金属膜や、該層と他の金属からなる層との積層膜を精度良くエッチングでき、液寿命が長いエッチング液組成物を提供することにある。
【解決手段】 本発明は、銅層および/または銅合金層を含む金属膜をエッチングするためのエッチング液組成物であって、銅(II)イオン、β−アラニンおよび水を含む、前記エッチング液組成物、ならびに、該エッチング液組成物を用いたエッチング方法に関する。 (もっと読む)


【課題】大型化に適した薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタアレイ基板、フレキシブル表示素子、フレキシブル表示装置及び薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を提供する。
【解決手段】フレキシブルな樹脂基板60に形成された薄膜トランジスタ200であって、周面の一部又は全部が導電性材料20により覆われたワイヤー10と、前記導電性材料を覆う絶縁膜30と、該絶縁膜を介して前記導電性材料上に形成された薄膜半導体40と、が一体的に構成されたゲート・チャネル一体形成部50を有し、該ゲート・チャネル一体形成部が前記樹脂基板の表面上又は内部の所定位置に設けられ、前記薄膜半導体の両側に第1及び第2の電極70、80が接続されて形成されたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ソースおよびドレインと半導体層との間において良好なコンタクトを確保することが可能な有機薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】有機薄膜トランジスタは、有機材料よりなる半導体層上のソース電極およびドレイン電極に対向する第1および第2の領域のそれぞれに導電層を有し、この導電層が、還元反応によって導電性が変化する酸化物を含むものである。導電層が、半導体層とソース電極およびドレイン電極とのコンタクト層として機能すると共に、トップコンタクト構造では、製造プロセスにおいて半導体層上に、上記導電層を含むエッチングストッパ層を形成可能となる。 (もっと読む)


【課題】結晶欠陥の発生を抑え、デバイスのリーク電流の発生、耐圧低下、しきい値電圧の継時変化、およびショートチャネル効果を抑制することが可能な半導体装置を提供すること。
【解決手段】単結晶AlNからなる基板を準備するステップと、前記単結晶AlNからなる基板の表面を酸素プラズマによって酸化し、単結晶AlNからなる基板上に酸化アルミニウムまたはアルミニウムオキシナイトライドからなる絶縁膜を形成するステップとを備えることを特徴とする半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】有機電子デバイスにおいて、仕事関数を制御することにより、電極から有機半導体への電荷注入障壁をより小さくすることが可能となる銀ナノ粒子を適用した電極及びそれを用いた有機電子デバイスを提供する。
【解決手段】平均粒径が30nm以下であり、沸点が100〜250℃の範囲内にある中短鎖アルキルアミンと沸点が100〜250℃の範囲内にある中短鎖アルキルジアミンを主成分とする保護分子により覆われた銀ナノ粒子を有機電子デバイス用電極として用いる。 (もっと読む)


【課題】アンチモン反応物質および酸素ソースを使用して酸化アンチモン薄膜を原子層堆積によって堆積させるプロセスを提供する。
【解決手段】アンチモン反応物質は、ハロゲン化アンチモン、例えばSbCl、アンチモンアルキルアミン、およびアンチモンアルコキシド、例えばSb(OEt)を含んでもよい。酸素ソースは、例えばオゾンであってもよい。いくつかの実施形態では、この酸化アンチモン薄膜は、バッチ反応器の中で堆積される。この酸化アンチモン薄膜は、例えば、エッチング停止層または犠牲層としての役割を果たしてもよい。 (もっと読む)


【課題】データ配線が銀や銀合金により形成されており、またデータ配線に、ゲート絶縁層によって被覆されておらずむき出しとなっている部分があった場合でも、当該むき出しとなっている部分でマイグレーション現象が生じることがないトップゲート型アクティブマトリックスを提供する。
【解決手段】基材と、前記基材上に直接または間接的に形成された、ソース電極、ドレイン電極、半導体層、ゲート絶縁層、ゲート電極、層間絶縁層、画素電極、および前記ソース電極と接続したデータ配線と、を有するトップゲート型アクティブマトリックス基板において、前記ソース電極と前記データ配線をともに銀または銀合金で形成し、前記ゲート電極を銀または銀合金以外で形成し、前記データ配線においてむき出しとなっている部分をゲート電極と同じ材質からなる被覆層によって被覆する。 (もっと読む)


【課題】長期にわたって安定した動作が可能な化合物半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】化合物半導体装置の一態様には、基板1と、基板1上方に形成された電子走行層3及び電子供給層5と、電子供給層5上方に形成されたゲート電極11g、ソース電極11s及びドレイン電極11daと、電子供給層5とゲート電極11gとの間に形成された第1のp型半導体層7aと、ソース電極11sと電子供給層5との間に形成されたp型半導体層7と、が設けられている。第2のp型半導体層7上のソース電極11sには、第1の金属膜11saと、第1の金属膜11saにゲート電極11g側で接し、第1の金属膜11saよりも抵抗が大きい第2の金属膜11sbと、が設けられている。 (もっと読む)


【課題】ゲートリーク電流が低減され、かつ、ノーマリーオフ動作する半導体装置を提供する。
【解決手段】基板11の上に形成された第1の半導体層12と、第1の半導体層12の上に形成された第2の半導体層13と、第2の半導体層13の上に形成された下部絶縁膜31と、下部絶縁膜31の上に、p型の導電性を有する酸化物により形成された酸化物膜33と、酸化物膜33の上に形成された上部絶縁膜34と、上部絶縁膜34の上に形成されたゲート電極41と、を有し、ゲート電極41の直下において、下部絶縁膜31の表面には凹部が形成されている半導体装置。 (もっと読む)


【課題】オン抵抗を増加させることなく、ノーマリーオフとなる半導体装置を提供する。
【解決手段】基板11の上に、第1の半導体層14、第2の半導体層15及びp型の不純物元素が含まれている半導体キャップ層16を順次形成する工程と、前記半導体キャップ層を形成した後、開口部を有する誘電体層21を形成する工程と、前記開口部において露出している前記半導体キャップ層の上に、p型の不純物元素が含まれている第3の半導体層17を形成する工程と、前記第3の半導体層の上にゲート電極31を形成する工程と、を有することを特徴とする半導体装置の製造方法により上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】絶縁耐圧が高く、オン抵抗を増加させることなく、ノーマリーオフとなる半導体装置を提供する。
【解決手段】基板11の上に形成された第1の半導体層13と、前記第1の半導体層の上に形成された第2の半導体層14と、前記第2の半導体層の上に形成された第3の半導体層15と、前記第3の半導体層の上に形成されたゲート電極21と、前記第2の半導体層に接して形成されたソース電極22及びドレイン電極23と、を有し、前記第3の半導体層には、半導体材料にp型不純物元素がドープされており、前記第3の半導体層は、前記ゲート電極の端部より、前記ドレイン電極が設けられている側に張出している張出領域を有していることを特徴とする半導体装置。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体を用いた電界効果トランジスタのしきい値電圧がより容易に制御できるようにする。
【解決手段】基板101の上に形成されたGaNからなる緩衝層102と、緩衝層102の上に形成されたAlGaNからなる障壁層103と、障壁層103の上に形成されたゲート電極104とを備える。また、障壁層103の上にゲート電極104を挟んでゲート電極104とは離間して形成されたソース電極105およびドレイン電極106を備える。加えて、障壁層103とゲート電極104との間に形成されたInAlNからなるキャップ層107を備える。 (もっと読む)


【課題】高いバリア性を有するCu−Mn合金膜を形成する。
【解決手段】半導体素子の配線の形成に用いられるCu−Mn合金スパッタリングターゲット材10であって、濃度が8原子%以上30原子%以下のMnと、不可避的不純物とを含むCu−Mn合金からなり、Cu−Mn合金の平均結晶粒径が10μm以上50μm以下である。 (もっと読む)


【課題】ノーマリオフ型のHEMT構造を有し、かつ優れたデバイス特性を有する窒化物半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体装置は、窒化物半導体からなる電子走行層3と、電子走行層3に積層され、電子走行層3とはAl組成が異なり、Alを含む窒化物半導体からなる電子供給層4と、電子供給層4と電子走行層3との界面に連続する界面を有し、電子走行層3上に形成された酸化膜11と、酸化膜11を挟んで電子走行層3に対向するゲート電極8とを含む。 (もっと読む)


【課題】チャネル長Lが短く微細化が可能な、酸化物半導体を用いたトップゲート型の半
導体素子を提供することを課題とする。また、該半導体素子の作製方法を提供することを
課題とする。
【解決手段】絶縁表面上に酸化物半導体層と、酸化物半導体層上にソース電極層及びドレ
イン電極層と、酸化物半導体層、前記ソース電極層、及び前記ドレイン電極層上にゲート
絶縁層と、ゲート絶縁層上にゲート電極層とを有し、ソース電極層及びドレイン電極層は
側壁を有し、側壁は前記酸化物半導体層の上面と接する半導体素子である。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いたパワー絶縁ゲート型電界効果トランジスタ(パワーMISFET)を提供する。
【解決手段】半導体層103を挟んでゲート電極105とドレイン電極102を形成し、ゲート電極105の側面に半導体層109を形成し、ゲート電極105の頂上部と重なる部分で、半導体層109とソース電極112が接する構造を有する。このようなパワーMISFETのドレイン電極とソース電極の間に500V以上の電源と負荷を直列に接続し、ゲート電極105に制御用の信号を入力して使用する。 (もっと読む)


【課題】higher-k材料であるチタン酸化膜の半導体基板との界面を安定化でき、さらなる微細化に対応できるゲート構造を実現できるようにする。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板1の上に形成されたゲート絶縁膜と、該ゲート絶縁膜の上に形成されたゲート電極とを備えている。ゲート絶縁膜は、アナターゼ型酸化チタンを主成分とする高誘電率絶縁膜5であり、ゲート電極は、第1の金属膜6又は第2の金属膜8を含む導電膜から構成されている。 (もっと読む)


【課題】低オン抵抗であって、かつ、ノーマリーオフの電界効果型トランジスタを提供する。
【解決手段】基板10の上に形成された電子走行層11と、電子走行層11の上に、電子走行層11よりもバンドギャップの広い半導体により形成された電子供給層12と、電子供給層12の上に、電子供給層よりもバンドギャップの狭い半導体により形成されたバリア形成層13と、バリア形成層13の上に、不純物のドープされた半導体により形成された上部チャネル層14と、バリア形成層13及び上部チャネル層14を除去することにより形成されたバリア形成層13及び上部チャネル層14の側面と、側面に形成された絶縁膜20と、絶縁膜20を介し形成されたゲート電極21と、上部チャネル層14と接続されるソース電極22と、電子供給層12または電子走行層11と接続されるドレイン電極23と、を有する。 (もっと読む)


【課題】端子部のコンタクトホールのテーパー形状を高い精度で制御する。
【解決手段】酸化物半導体層7a、ソース配線13as、ドレイン電極13adを備えた薄膜トランジスタと、第1接続部3c、第2接続部13cおよび第2接続部上に形成された第3接続部19cを備えた端子部とからなる薄膜トランジスタである。第2接続部は、第1および第2絶縁膜5,9に設けられた第1開口部内で第1接続部と接し、第3接続部19cは、保護膜に設けられた第2開口部内で第2接続部と接する。第1開口部は、第1絶縁膜5および第2絶縁膜9を同時にエッチングすることによって形成、第2開口部は、保護膜15を前記第1および第2絶縁膜とは別個にエッチングすることによって形成される。第2接続部13cは、第1開口部における第1および第2絶縁膜の端面を覆い、かつ、第2開口部における保護膜15の端面を覆っていない。 (もっと読む)


【課題】ゲートリーク電流が少なく、かつ電流コラプスが抑えられた半導体装置の提供。
【解決手段】第1の態様においては、窒化物系半導体で形成された半導体層110と、半導体層上に開口を有して設けられ、タンタル酸窒化物を含む第1絶縁膜120と、第1絶縁膜の開口において半導体層上に積層された第2絶縁膜130と、第2絶縁膜上に設けられたゲート電極140と、を備える半導体装置を提供する。ここで、第2絶縁膜は、第1絶縁膜より絶縁性が高い絶縁膜により構成される。 (もっと読む)


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