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Fターム[4M118GA10]の内容

固体撮像素子 (108,909) | 光照射 (2,492) | その他 (1,017)

Fターム[4M118GA10]に分類される特許

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【課題】 信号電荷の収集効率を向上する。
【解決手段】 半導体基板の表面1000の第1区域1001の下に設けられた第1半導体領域131と、表面1000の第2区域1002の下に設けられ、接続部300に接続された第2半導体領域132と、表面1000の第1区域1001と第2区域1002との間の第3区域1003の下に設けられた第3半導体領域133とを有するエネルギー線変換装置の製造方法において、
第1半導体領域131及び第3半導体領域131を、第1区域1001及び第3区域1003を覆い、且つ、第3区域1003を覆う部分203の厚さが第1区域1001を覆う部分201の厚さよりも薄い緩衝膜200を介して、半導体基板100にイオン注入を行うことによって形成する。 (もっと読む)


【課題】より良好な色再現性を有する固体撮像素子および電子機器を提供する。
【解決手段】同一の半導体基板22の内部における1画素ごとに、それぞれ異なる深さに、それぞれ異なる波長域の光を光電変換する複数の光電変換領域23B、23G、23Rが積層され、複数の光電変換領域23B、23G、23Rのうち、半導体基板の深さ方向に隣接する光電変換領域23Bおよび23G、または23Gおよび23Rの間に、その光電変換領域23Bおよび23G、または23Gおよび23Rの間の領域における光電変換で発生した電荷を排出する排出領域24が形成される。 (もっと読む)


【課題】一画素から出力される電荷量が少ない場合でも、特定信号配線の断線を検出することができる、放射線検出器、放射線画像撮影システム、断線検出プログラム、及び断線検出方法を提供する。
【解決手段】画素20にバイアス電圧を印加して画素20のセンサ部(フォトダイオード)103のリーク電流によるオフセット電荷を蓄積させ、順次、画素20のTFTスイッチ4のゲートをオンさせて蓄積されているオフセット電荷に応じた電気信号を出力させる。当該電気信号に基づいて、オフセット電荷量の累積値を検出し、制御部106は、検出した累積値と断線検出用に予め定められた閾値とを比較し、累積値が閾値未満の場合は信号配線3が断線していることを検出する。 (もっと読む)


【課題】 変換素子の不純物半導体層への有機材料の混入を低減し得る検出装置を提供する。
【解決手段】 画素11がスイッチ素子13と電極122の上に設けられた不純物半導体層123を含む変換素子12とを有し、複数のスイッチ素子13と複数の電極122との間に設けられた無機材料からなる保護層137と有機材料からなる層間絶縁層120とに設けられたコンタクトホールにおいてスイッチ素子13と電極122とが接続されている検出装置の製造方法であって、複数の電極122の間に層間絶縁層120を覆うように無機材料からなる絶縁部材121を形成する工程と、絶縁部材121と複数の電極122とを覆う不純物半導体膜123’を成膜する工程と、絶縁部材121を形成する際に層間絶縁層120のコンタクトホール内に位置する電極122の段差の部分の正射影が位置する保護層137の領域が被覆されるように、被覆層160を形成する工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】赤外線熱影像アレーモジュールの検証装置と検証方法の提供。
【解決手段】主に本発明の赤外線熱影像アレーモジュールの検証装置と検証方法は、熱影像モジュール規格設計、エピタキシャルと光学物性検証を含み、先ずエピタキシャルパラメーターの校正を行う。単乙型感知部品製造工程と変温光電量測定検証を行い、これによりエピタキシャルは感知部品の低温変温と変圧測定校正を完成する。焦平面アレー製造工程とその光電均一度の検証を行い、暗電流均一度テストを行う。焦平面アレーと信号読み出し集積回路の接着と研磨製造工程検証を行い、感知モジュールと信号読み出し集積回路間にインジウム接着を行い光電信号を転換する。熱影像品質統合テスト検証を行い、最適駆動と制御出力パラメーター分析と測定を調整する。熱影像アレーモジュール雛形を継続して行い、インジウム柱接合方式を利用し、焦平面感知アレーと接合し、影像感知アレーモジュール雛形を完成することができる。 (もっと読む)


【課題】 所望の回数の非破壊読み出しを行うことが出来ないフレームレート要求による動画像撮影を防止する放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 入射した放射線を電気信号に変換して放射線画像を取得する放射線検出手段と、前記放射線検出手段で放射線動画像を取得する際のフレームレートの設定要求を取得する取得手段と、前記放射線検出手段による単位フレームごとの非破壊読み出し回数を設定する設定手段と、前記設定要求されたフレームレートにおいて、前記非破壊読み出し回数の読み出しが可能か否かを判定する判定手段と、前記判定手段による判定結果を出力する出力手段と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ノイズ光の影響を軽減することが可能な光電変換素子および光電変換装置を提供する。
【解決手段】フォトダイオードは、基板上に、第1導電型(例えばp型)半導体層、i型半導体層および第2導電型(例えばn型)半導体層をこの順に備え、基板と第1導電型半導体層との間に遮光層を有している。第2導電型半導体層側から入射する光に基づいて信号電荷が取り出される(光電変換がなされる)。基板と第1導電型半導体層との間に遮光層が設けられていることにより、第2導電型半導体層側から入射した光のうち、吸収されずに第1導電型半導体層を透過して基板側へ出射した光が遮断されると共に、基板側から第1導電型半導体層へ向かう光が遮断される。 (もっと読む)


【課題】撮影によって得られた放射線画像の画像ムラの発生を抑制することのできる放射線検出器、放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システムおよび配線容量調整方法を得る。
【解決手段】複数の信号配線3の少なくとも1つに接続された調整素子(コンデンサ5)により、当該複数の信号配線3の各々の配線容量の差が小さくなるように調整する。 (もっと読む)


【課題】ウェハ1枚当たりの赤外線センサの取れ数の減少を抑えつつ、ウェハごとに2種類の熱電要素のゼーベック係数を管理することが可能な赤外線センサの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板1の基礎となるウェハ200の一表面側へのn形ポリシリコン層34(第1の熱電要素)の形成と同時に第1シート抵抗モニタ部234を形成し、且つ、ウェハ200の上記一表面側へのp形ポリシリコン層35(第2の熱電要素)の形成と同時に第2シート抵抗モニタ部235を形成するようにし、第1シート抵抗モニタ部234のシート抵抗および第2シート抵抗モニタ部235のシート抵抗それぞれを測定し、予めデータベース化されているシート抵抗とゼーベック係数との関係に基づいて、第1シート抵抗モニタ部234および第2シート抵抗モニタ部235のゼーベック係数がそれぞれの管理規格範囲内にある良品か管理規格範囲外にある不良品かを判定する。 (もっと読む)


【課題】貫通電極を生産性良く形成できる貫通電極の構造を提供する。
【解決手段】配線基板1は、第1面2aと第1面2aと対向する第2面2bとを貫通して開口するビアホール2cを有する基板2と、ビアホール2cの面に設置され基板2と同じ材質のシード膜5と、基板2の第1面2aに設置され熱酸化膜を含む第1絶縁膜3とシード膜5を囲む場所とに設置され熱酸化膜を含む第3絶縁膜6と、ビアホール2c内でシード膜5に囲まれた導電体7と、を有する。 (もっと読む)


【課題】フォトセンサを有する半導体装置において、外光のノイズを軽減し、且つトランジスタのオフ電流によるリークが原因となるノイズも低減する。
【解決手段】マトリクス状に配置された複数のフォトセンサを有する。複数のフォトセンサはそれぞれ、光電変換素子と増幅回路とを有する。バックライトを点灯して被検出物に光を照射して第p行目のフォトセンサでリセット動作及び蓄積動作を行った後、バックライトを非点灯として第(p+1)行目のフォトセンサでリセット動作及び蓄積動作を行い、その後全行のフォトセンサの選択動作を順次行う。隣接する行のフォトセンサで得られた出力信号の差分を取得し、差分を用いて被検出物の撮像画像の生成や被検出物の存在する領域の検出を行う。増幅回路は蓄積された電荷を保持するトランジスタを有し、当該トランジスタはチャネルが酸化物半導体層に形成される。 (もっと読む)


【課題】何れかの行選択用配線が断線している場合にも解像度が高い画像を得ることができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】固体撮像装置1は、受光部10、信号読出部20、行選択部30、列選択部40、溢れ出し防止部50および制御部60を備える。受光部10では、入射光強度に応じた量の電荷を発生するフォトダイオードと、このフォトダイオードと接続された読出用スイッチと、を各々含むM×N個の画素部P1,1〜PM,NがM行N列に2次元配列されている。第m行のN個の画素部Pm,1〜Pm,Nそれぞれは、第m行選択用配線LV,mにより行選択部30および溢れ出し防止部50と接続されている。 (もっと読む)


【課題】結露に起因する画質低下を抑制することが可能な放射線撮像装置および放射線撮像表示システムを提供する。
【解決手段】放射線撮像装置は、光電変換素子を有するセンサー基板10と、センサー基板上に設けられた非イオン性層20と、非イオン性層上に設けられると共に、放射線の波長を光電変換素子の感度域の波長に変換する波長変換部材30とを備える。入射した放射線は、波長変換部材を通過後、光電変換素子111Aにおいて受光され、その受光量に対応する電気信号(画像情報)が得られる。波長変換部材とセンサー基板10との間に、結露によって水が溜まると、水に含まれるイオン成分と光電変換素子(光電変換素子の電極等)とのカップリングが生じ、暗電流が増加することがあるが、非イオン性層20が設けられていることにより、そのようなカップリングが抑制され、暗電流が生じにくい。 (もっと読む)


【課題】高エネルギーγ線等の高エネルギー放射線に対しても、高感度かつ高いエネルギー識別能力を有するとともに、高い画像分解能を備えた半導体放射線画像検出器を得るための製造方法を提供する。
【解決手段】CdTe単結晶ウェーハ11上にp型CdTe単結晶層12をMOVPE法によりエピタキシャル成長させて形成する。次にp型Si単結晶基板14に導電性樹脂をコートし、前記CdTe単結晶ウェーハ上のp型CdTe単結晶層12と貼り合わせて硬化する。さらにCdTe単結晶ウェーハ11の非接合面およびSi単結晶基板14の非接合面にAuを蒸着して電極15および16を形成する。その後、溝17をCdTe単結晶ウェーハ側の電極16側よりSi単結晶基板14の内部に到達する深さで、X方向およびY方向にそれぞれ形成する。 (もっと読む)


【課題】 波長域1800nm程度にまで受光感度を有し、微弱な光に対応して、暗電流を低くできる受光素子等を提供する。
【解決手段】 選択拡散によってpn接合15が形成され、受光層3は、第1の組成のInGa1−xAs3aと第2の組成のInGa1−yAs3bとが交互に2対以上積層されてなり、第1の組成のInGa1−xAs3aはその吸収端波長が1.8μm〜1.75μmの間にあり、かつ第2の組成のInGa1−yAs3bはそれより短く、InP窓層5と受光層3との間に、該InP窓層および受光層に接してInPに格子整合するIn0.53Ga0.47AsまたはInAl0.48As0.52の中間層4が位置することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】センサ素子領域が形成されない領域を抑制し、センサ素子領域を広く確保したチップを形成することができる、フォトマスク、露光方法、及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】フォトマスク10では、センサ素子領域22の短辺側のみにガードリングパターン24aが設けられた第1エリア20と、センサ素子領域22の長辺に沿うような形状、かつガードリングパターン24aと接続されるように両端部が鉤状に曲折したガードリングパターン24bを線対称に一対形成された第2エリア40と、が形成されている。当該フォトマスク10を用いてウエハ基板50上に露光装置のブラインド機能を用いて各領域を露光する際は、ガードリングパターン24aの端部及びガードリングパターン24bの端部が接続されるように繰り返し露光すると共に、ガードリングパターン24aの端部同士が接続されるように繰り返し露光する。 (もっと読む)


【課題】シンチレータで発生した長波長成分の光による放射線画像のボケを抑制しながら、長波長成分の光を有効利用する。
【解決手段】制御部64は、シンチレータ37により放射線から変換された光の長波長成分90bが反射層25を透過して放射線検知用光検出部26に検出されたときに、センサパネル23の光電変換部をリセットして電荷蓄積モードに移行させる。シンチレータ37で発生した光の短波長成分90aは、柱状結晶39内を全反射しながら反射層25に向けて進行し、反射層25により反射されてセンサパネル23に向かうので、センサパネル23の検出光量が増加する。シンチレータ37で発生した光の長波長成分90bは、反射層25を透過してセンサパネル23には反射されないので、放射線画像のボケを抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、例えば、薄膜状電極、正孔注入阻止層などにキズや、ムラが発生した場合でも、それによる陰の出現が起きないようにすることを目的とするものである。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、下方側がX線入射面となったX線透過性基板17と、このX線透過性基板17の上面側の上方に順次設けた薄膜状電極18、正孔注入阻止層19、光変換膜層20、電子注入阻止層21とを備え、前記正孔注入阻止層19および薄膜状電極18を貫通し、前記X線透過性基板の上面に達する凹部32を形成。 (もっと読む)


【課題】ICチップの発熱に起因した赤外線センサチップの面内でのS/N比のばらつきを抑制することが可能な赤外線センサを提供する。
【解決手段】赤外線センサは、赤外線センサチップ100と、赤外線センサチップ100の出力信号を信号処理するICチップ102と、赤外線センサチップ100およびICチップ102が収納されたパッケージ103とを備える。赤外線センサチップ100は、複数の熱型赤外線検出部3が半導体基板1の一表面側においてアレイ状に配置されている。パッケージ103は、パッケージ本体104と、パッケージ本体104に接合されたパッケージ蓋105とを有する。ICチップ102は、パッケージ本体104に実装されている。赤外線センサチップ100は、パッケージ本体104に保持された支持部材106に支持され、パッケージ103内でICチップ102の厚み方向においてICチップ102から離れて配置されている。 (もっと読む)


【課題】本発明は、例えば、薄膜状電極、正孔注入阻止層などにキズや、ムラが発生した場合でも、それによる陰の出現が起きないようにすることを目的とするものである。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、下方面側がX線入射面となったX線透過性基板17と、このX線透過性基板17の上面の上方側に順次設けた薄膜状電極18、正孔注入阻止層19、光変換膜層20、電子注入阻止層21とを備え、前記電子注入阻止層21から前記X線透過性基板17の上方面に到達する凹部32を形成し、この凹部32内の前記X線透過性基板17の上方面には電子注入阻止層21を形成した。 (もっと読む)


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