二次イオン質量分析法のための装置が提供され、該装置は、標的面上の試料を支える、標的面と、一次イオンのビームを試料の方に導き、試料から二次イオンと中性粒子とをたたき出すように構成されるイオン源とを有する。入口を有する第１のチャンバは、二次イオンと中性粒子とを冷却するために試料の位置において高い圧力を維持するために気体を提供し、高い圧力は、約１０^−３〜約１０００トルの範囲内である。二次イオン質量分析法の方法が提供され、該方法は、試料を支える標的面を有し、一次イオンのビームを試料の方に導いて、試料から二次イオンと中性粒子とをたたき出し、二次イオンと中性粒子とを冷却するために試料の位置に高い圧力を提供し、高い圧力は、約１０^−３〜約１０００トルの範囲内である。
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【課題】 試料を高効率かつ長時間安定にイオン化するコロナ放電を用いたイオ
ン源を提供する。
【解決手段】 高電圧を印加することにより針電極先端に生成するコロナ放電に
おいて、該コロナ放電の領域から試料ガス中の中性分子が移動する方向と、放電
により生じたイオンの引き出し方向が異なる構成とすることにより、イオン生成
効率を向上させると共に安定な放電を長時間持続させる。 （もっと読む）

【課題】レーザ脱離装置、マススペクトロメトリー組立、及び大気圧下で液体試料を直接、質量分析することができる質量分析法を提供する。
【解決手段】ノズルを有するエレクトロスプレーユニット、前記ノズルとレシービングユニットとの間に、前記ノズルで形成されるエレクトロスプレー用溶媒の液滴が帯電し、移動経路に沿ってノズルから前記レシービングユニットに強制的に向かうような電位差を生じさせる電圧供給部、試料にレーザーを照射するために設けられたエレクトロスプレー支援レーザー脱離ユニットであって、レーザー照射時に前記試料に含まれる分析物が脱離し、前記移動経路と交差する飛行経路に沿って飛行することにより前記多価帯電液滴に閉じ込められ、前記移動経路に沿って移動し液滴のサイズがだんだん小さくなり、前記液滴の電荷が前記液滴に閉じ込められた分析物の少なくとも一つに移動してイオン化分析物を形成するレーザー脱離ユニット。 （もっと読む）

イオン移動度分光計または質量分析計におけるガス分析用に正および／または負にイオン化したガス検体を生成するための方法を解決手段とし、この方法を用いて、従来のイオン化方式が伴う制約なしに、イオン移動度分光計または質量分析計におけるガス分析用にガス検体をイオン化して、正イオンおよび／または負イオンを形成することができる。これは、正および／または負のガスイオンがプラズマ（６）によって生成され、このプラズマが誘電体バリア放電によって引き起こされ、この誘電体バリア放電が、誘電体材料から成る毛細管（２）を通じて希ガスが誘導されることによって生成され、その際、毛細管の出口領域に隣接して前記毛細管に配置された、電気絶縁された２つの電極（３、４）を用いて交流電圧が印加され、前記ガス検体が前記毛細管の外側の前記出口領域へ誘導されることによって実現される。
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【課題】質量分析計による検体からの検体イオン及び中性分子の採取を誘導し、それによって所定の面積又は容積から採取し、かつ化学的予備段階の必要なく固体又は液体を採取する装置を提供する。
【解決手段】本発明は、質量分析計による表面から検体イオン及び中性分子の採取を制限する装置であり、それによって所定の面積又は容積から採取する。本発明の様々な実施形態では、大気圧で又はその近くで脱離イオン化から所定の空間解像度で形成されたイオンを採取するのに、管が用いられる。本発明の一実施形態では、静電界は、分析されている試料の表面の近傍に位置決めされた個々の管又は複数の管のいずれかにイオンを誘導するのに用いられる。本発明の一実施形態では、分析のためにイオン及び中性分子を分光計に引き込むために、広直径試料採取管を真空注入口と共に用いることができる。本発明の一実施形態では、静電界と共に広直径試料採取管は、イオン収集の効率を改善する。 （もっと読む）

【課題】質量分析計による検体からの検体イオン及び中性分子の採取を誘導し、それによって所定の面積又は容積から採取し、かつ化学的予備段階の必要なく固体又は液体を採取する装置を提供する。
【解決手段】本発明は、質量分析計による表面から検体イオン及び中性分子の採取を制限する装置であり、それによって所定の面積又は容積から採取する。本発明の様々な実施形態では、大気圧で又はその近くで脱離イオン化から所定の空間解像度で形成されたイオンを採取するのに、管が用いられる。本発明の一実施形態では、静電界は、分析されている試料の表面の近傍に位置決めされた個々の管又は複数の管のいずれかにイオンを誘導するのに用いられる。本発明の一実施形態では、分析のためにイオン及び中性分子を分光計に引き込むために、広直径試料採取管を真空注入口と共に用いることができる。本発明の一実施形態では、静電界と共に広直径試料採取管は、イオン収集の効率を改善する。 （もっと読む）

ガス噴霧器チューブ（２）に取り囲まれているキャピラリーチューブ（３）を備えたエレクトロスプレーイオン化イオン源が開示される。１つ以上のワイヤー（４）がキャピラリーチューブ（３）内に設けられている。被分析物溶液がキャピラリーチューブ（３）に供給され、噴霧ガスがガス噴霧器チューブ（２）に供給される。 （もっと読む）

【課題】大気圧雰囲気下で粒子線を試料に照射してイオン化を行う場合、粒子線の照射範囲を絞ることができないため空間分解能を高めることが困難であった。
【解決手段】大気圧雰囲気にあるイオン化室１内でノズル８から噴射される粒子線の経路に小孔６を穿設した粒子線遮蔽板５を配設し、該小孔６を通過した一部の粒子線を試料３に照射する。そして、試料３上の粒子線の照射部位４から発生したイオンをイオン輸送管７で収集して質量分析部に送る。さらに、この遮蔽板５の位置を固定し試料３を保持する試料ステージ２を二次元面内で移動させることにより、試料３上での粒子線の照射部位４を移動させる走査を行い、それにより試料３上の所定範囲の定性情報や定量情報の二次元分布を取得可能とする。 （もっと読む）

【課題】ナノスプレーキャピラリニードル、１組の電極、および質量分析器へのキャピラリ入力部を位置合わせする方法を提供すること。
【解決手段】この電極システムは、微細加工技術を利用して、２つの別々のチップからなるアセンブリとして形成される。各チップは、絶縁プラスチック基板上に形成される。第１のチップは、キャピラリエレクトロスプレーニードルおよびＡＰＩ質量分析器入力部用の機械的位置合わせフィーチャを、１組の部分電極と共に担持する。第２のチップは、１組の部分電極を担持する。完全な電極システムは、これらのチップがスタック構成で組み立てられるときに形成され、テイラーコーンのきっかけをつくることができ、かつ集束させることによって電気的中性物からイオンを分離し得るアインツェルレンズを含む。 （もっと読む）

【課題】 蒸留水など大きな表面張力を持つ溶液でも安定したエレクトロスプレーを可能にする。
【解決手段】本発明は、本体が入口孔、出口孔、それらをつなぐチャンネルからなり、少なくとも出口先端外壁の溶液と接しうる部分が低表面エネルギー化合物でコーティングされているエレクトロスプレーエミッタであり、スプレーを補助するガスを一切使用せずに毎分マイクロリットルからナノリットルの低流速域で安定なエレクトロスプレーである。本エミッタは電気非伝導性であるので、陰イオン測定で起こりやすい放電の危険性がなく陽イオン・陰イオンどちらの測定でも安定したエレクトロスプレーが可能である。エミッタと液体クロマトグラフィーなどの分析機器とを接続するラインの内壁を低表面エネルギー化合物でコーティングすることにより分析対象化合物の吸着による損失を防ぐ。
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【課題】 エーロゾルの噴霧生成に空気圧の助けを必要としないイオン源を提供する。
【解決手段】 本発明はイオン源は、（ａ）イオンを生成するための第１のイオンスプレーエミッタと、（ｂ）前記第１のイオンスプレーエミッタに隣接して、前記第１のイオンスプレーエミッタからイオンを受容するように設計されている開口を備えている導管と、（ｃ）前記導管に隣接して、前記第１のイオンスプレーエミッタからのイオンを前記毛細管の前記開口に向けて方向付ける第１の電極と、（ｄ）イオンを前記導管に方向付ける導管電極とを備えていることを特徴とする。 （もっと読む）

プラズマ装置と、分析測定においてかかるプラズマ装置を使用する方法とを開示する。いくつかの例において、低流量プラズマは、毎分約５リットル未満の総アルゴンガス流を、いくつかの実施形態においては毎分約４リットル未満のプラズマアルゴンガス流を用いて、作動可能である。別の例においては、誘導及び容量結合を用いて生成されるプラズマを開示する。
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マトリックス支援レーザ脱離イオン化イオン源又はイオンイメージングデバイスであって、レーザ（１）及びズームレンズ（３、４、５）を備えるものを開示する。ズームレンズ（３、４、５）は、イオン源又はイオンイメージングデバイスの標的領域、試料表面又は標的プレート（１３）に方向付けられたレーザビームの倍率を変動できるように配置される。 （もっと読む）

直交加速式飛行時間質量分析器（１３）に連結されたＭＡＬＤＩイオン源を備えた質量分析計を開示する。前記質量分析計は、特定の親イオンが質量フィルターにより選択され、第１の軸方向エネルギーをもつように加速される、第１機器設定で操作される。そして、フラグメントイオンは、第１遅延時間の後直交方向に加速され、第１質量スペクトルデータが得られる。続いて、前記質量分析計は、親イオンの軸方向エネルギーを増加させ、その結果得られるフラグメントイオンが、短縮された遅延時間の後、直交方向に加速される、第２機器設定で操作される。そして、第２質量スペクトルデータが得られる。その後、第１および第２質量スペクトルデータを組み合わせ、最終的な複合質量スペクトルを提供する。 （もっと読む）

【課題】高分子用の装置で、テイラー円錐の体積を大きくすることなく再現することのできるエレクトロスプレー装置を提供する。
【解決手段】エレクトロスプレー装置（１０８）は、本体部分（１１６）と、本体部分（１１６）から延びて、高分子材料を含む先端部分（１１８）と、先端部分（１１８）をほぼ選択的に被覆する疎水性コーティング（１６０）とを有する。疎水性コーティング（１６０）は、非導電性の材料により形成される。 （もっと読む）

【課題】 粒子状物質の内部に含まれる成分の分析を良好に行うことができる微量成分分析装置及び微量成分分析方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 微量成分分析装置１を、チャンバー２内に、粒子状物質のイオン化が行われるイオン化部３が設けられた構成とする。チャンバー２の一端に、図示せぬ粒子状物質供給源に接続される供給路１１を接続し、この供給路１１上に、前室１２を設ける。前室１２の内部を、粒子状物質へのレーザー光の照射が行われる成分抽出部１３とする。イオン化部３にパルス状のレーザー光を供給するイオン化用レーザー発振装置１６と、成分抽出部１３にパルス状のレーザー光を供給する成分引き出し用レーザー発振装置１７とを設ける。 （もっと読む）

【課題】感度の高い、小型の汚染がない直角スプレー方式イオン化方式質量分析装置を提供する。
【解決手段】スプレー方式をアングル方式ではなく、直角にして真空度が低く小型のイオン化部により高感度の質量分析をする。
（イ）スプレー式 試料噴霧方向は試料吸引方向に対して９０度の角度を設ける。
（ロ）その後、流速を吸引部からオリフィス部まで１５００ｍ／ｓから３００ｍ／ｓにダウンさせるために４．０ｍｍＤから１０．０ｍｍＤのサイズとする。
（ハ）その後、オリフィス部の流速を１００ｍ／ｓにするために２０ｍｍＤのサイズとする。
以上の構成よりなる直角スプレーイオン化方法である。 （もっと読む）

【課題】 ２個以上の原子からなる粒子団を試料表面に照射することにより、試料表面から放出される２次粒子量を大幅に増大させるようにすること。
【解決手段】 炭素非粒子団及び粒子団荷電粒子ａを、質量分析器１により粒子団荷電粒子ｂ１と非粒子団荷電粒子ｂ２とに選別し、これらの粒子団荷電粒子ｂ１と非粒子団荷電粒子ｂ２を物質表面に照射する。荷電粒子を粒子団で物質に照射すると、粒子団が被照射物質と衝突する際に、粒子の有するエネルギーが物質表面の狭い領域に集中し、エネルギー密度の高い場が生じる。このような荷電粒子団の照射による特異的な高密度エネルギー場の中では、イオン化反応が促進され、非粒子団照射時に比べて生成される２次粒子の量が増加する。また、荷電粒子団の代わりに中性粒子団を用いた場合にも同様の効果を奏する。 （もっと読む）