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Fターム[5F031JA22]の内容

ウエハ等の容器、移送、固着、位置決め等 (111,051) | 検出 (10,411) | 検出の目的 (2,253) | 存在の有無、存在位置(アドレス) (967)

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【課題】基板のずれ及び/又は破損を検出するのに必要なセンサの数を少なくし、比較的低コストで実施する。
【解決手段】移動中の基板106の少なくとも2つの平行な端部の長さに沿った、破損やずれ等の基板の欠陥の存在を検出する少なくとも2つのセンサ140A、140Bを組み込んだ装置及び方法を提供する。一実施形態において、装置は、基板の欠陥を検出するための、少なくとも2つの平行な端部近傍で、基板をセンシングするセンサ構成を含む。他の実施形態において、装置は、基板サポート表面を有するロボット114又は130と、基板の欠陥を検出するための、少なくとも2つの平行な端部近傍で、基板をセンシングするセンサ構成とを含む。 (もっと読む)


【課題】受け渡しチャンバ室の機構を大型化、複雑化させることなく、処理前後のウェハの退避場所を確保できる真空処理装置を提供する。また、ウェハの退避場所にウェハが置かれた状態で、受け渡しチャンバ室に新たに搬送されたウェハの位置を検出可能な真空処理装置を提供する。
【解決手段】2つの真空チャンバ間に設けられ、ノッチあるいはオリフラが設けられた基板の受け渡しを行う受け渡しチャンバ2を具備する真空処理装置において、前記受け渡しチャンバ2が、基板を支持するリフトピン111〜113と、基板を仮置き位置で保持するバッファーアーム13と、基板を載置する基板ステージ12と、前記基板のノッチあるいはオリフラを検出する第一のセンサ14とを具備する。 (もっと読む)


【課題】振動ミラーを用いて被検面の面位置を検出する際に、計測値のドリフトを小さくして、計測精度を向上させる。
【解決手段】被検面の面位置情報を検出するAF系90において、検出光DLを被検面に斜めに投射する投射系90aと、その被検面で反射される検出光を受光する受光系90bと、投射系90a内で検出光DLを反射する反射面が形成された可動部と、その可動部を支持する1対の支持部とを有する振動ミラー38と、振動ミラー38の支持部が固定される保持部材48と、振動ミラー38の可動部を振動させる駆動部49と、受光系90bで得られる検出信号をその可動部の振動に同期して処理する信号処理系25と、を備える。 (もっと読む)


【課題】横並びに複数配置された載置台上の搬送容器から基板搬送機構により基板を取り出して処理を行うにあたり、載置台上の搬送容器内の基板の高さ位置を正確に求めること。
【解決手段】載置台11を複数配置すると共に、少なくとも2つの載置台11の並びに沿って前記大気搬送室22内を移動自在な撮像ユニット41を設けて、載置台11上のFOUP1内においてウエハWが収納される収納領域2全体を撮像ユニット41により一括して撮像し、この撮像結果に基づいて前記FOUP1内のウエハWの高さ位置を検出する。 (もっと読む)


【課題】定盤上の塵を簡単な構造で容易に除去する。
【解決手段】重量キャンセル装置40のベース41aの下面に取り付けられたベースパッド100では、軸受面106aから定盤12に向けて噴出する加圧空気が、コアンダ効果により軸受面106aに連続して形成された傾斜面107に沿って流れる。この際、定盤12上の塵Dがベルヌーイ効果により加圧気体に引きつけられ、その加圧気体とともに、定盤12から離れる方向に案内される。加圧気体は、フィルタ部材126で濾過されてベースパッド100外に排気される。ベースパッド100は、特別な吸引装置などを用いることなく、定盤上12の塵Dを吸引できるので構造が簡単である。 (もっと読む)


【課題】インプリントリソグラフィ装置のスループットを改善することができる、インプリントリソグラフィ装置用の振動絶縁システムを提供する。
【解決手段】インプリントリソグラフィ装置100は、基板ホルダ120に対してインプリントテンプレートホルダ110を変位させるアクチュエータ130を備える。インプリントテンプレートホルダ110および/または基板ホルダ120の支持構造140は、基部160に取り付けられた振動絶縁システム150に取り付けられる。振動絶縁システム150は、基部160に対する支持構造140の振動を絶縁する。インプリント過程中にアクチュエータ130を制御する制御ユニットは、振動絶縁システム150の調節部材を制御して、インプリント過程の少なくとも一部の間、振動絶縁システム150の動特性を調節し、支持構造140に作用する力による、基部160に対する支持構造140の変位を低減させる。 (もっと読む)


【課題】重量キャンセル装置を含むステージ装置のメンテナンスを容易かつ迅速に行う。
【解決手段】X粗動ステージ23XをX軸方向に案内するベースフレーム14は、露光動作時を含む露光装置の通常使用時に重量キャンセル装置40をガイドする定盤12よりも+X側に大きく突き出しており、重量キャンセル装置40を定盤12から外れた位置に位置させることができる。従って、重量キャンセル装置40の上方に、その支持対象物である微動ステージ50を位置させたまま、その重量キャンセル装置40のメンテナンス作業を下方から行うことができる。また、重量キャンセル装置40を定盤12から外れた位置で下方に移動させることにより、その重量キャンセル装置40を基板ステージ装置PSTから取り外すことができるので、容易に重量キャンセル装置40を基板ステージ装置PSTから外部に搬出できる。 (もっと読む)


【課題】積層されたウエハを的確に1枚ずつ分離して、カセットに収納する。
【解決手段】ウエハ4の分離収納を水中で行なうように水が満たされた貯水槽3と、前記貯水槽3内に設けられ積層ウエハ4を載置するウエハ載置部5と、ウエハ載置部5上方の水面上に前下がり傾斜状態に設けられ、積層ウエハ4の上面から前方に向けて水流を噴射する第1噴射ノズル17と、貯水槽3内のウエハ載置部5の前方に積層ウエハ4の側面と対向するように設けられ、積層ウエハ4の前方側面に向けて気泡を含んだ水流を噴射する第2噴射ノズル18とから構成し、積層ウエハ4に第2噴射ノズル18から気泡を含んだ水流を噴射することによって積層ウエハ4間に気泡を介在させながらウエハ載置部5の上面のウエハ4に第1噴射ノズル17によって水流を搬送方向に向けて噴射することでウエハ4を1枚ずつ前方に送り出すようにしたウエハの分離収納装置。 (もっと読む)


【課題】 エンコーダシステムを用いた位置計測装置において、計測誤差による影響を低減させることを目的とする。
【解決手段】 対象物を搭載して移動可能な移動体と、前記移動体の位置を計測可能なエンコーダ型の第1の計測手段と、前記第1の計測手段による計測と同時に、前記移動体の位置を計測可能、あるいは前記対象物または前記移動体に形成されたマークの位置を検出可能な第2の計測手段と、前記第1および第2の計測手段の計測結果にもとづいて、前記第1の計測手段の計測誤差を算出し、該計測誤差にもとづいて前記第1の計測手段を補正する補正手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】極薄のウェーハを安全、簡単、確実かつ迅速に単離させることができ、かつ従来と比べて処理スピードが改善されたウェーハ単離方法及びウェーハ単離装置を提供する。
【解決手段】多数枚又は複数枚のウェーハが積層されたウェーハ積層体を液体中に浸漬させて準備するステップと、前記最上層のウェーハの一端部を吸着し、前記最上層のウェーハの他端部は吸着せずにおさえ、前記最上層のウェーハを水平方向で傾斜させる吸着ステップと、前記最上層のウェーハの下面と隣接する下側のウェーハの上面との間に流体を吹き込む流体吹き込みステップと、前記傾斜させた最上層のウェーハを、その傾斜の延長線上に沿って変位させて液中から前記最上層のウェーハを取出せしめるウェーハ変位ステップと、を含み、ウェーハを単離するようにした。 (もっと読む)


【課題】作業効率の低下を招くことなく、基板における露光領域の変形に関する情報を容易に計測する。
【解決手段】露光光の照射処理が行われる基板B上の複数の照射領域SAにそれぞれ設けられ、各照射領域における変形に関する情報を計測する変形計測装置Gと、温度による基板の変形に関する情報を、変形計測装置とは独立して計測する第2変形計測装置G2とを有し、変形計測装置及び第2変形計測装置は、露光光の照射処理によりパターニング形成されてなる。 (もっと読む)


【課題】 定盤から床に伝わる振動を低減することが可能な露光装置を提供する。
【解決手段】 本発明の露光装置は、定盤5と、前記定盤上で移動可能なステージ1と、前記ステージを駆動するアクチュエータ8と、質量体2と前記質量体を移動させるアクチュエータ9とを有し前記ステージの移動に起因して前記定盤に発生する振動を低減するための反力カウンタと、投影光学系4と、前記投影光学系を支持する構造体5と、前記投影光学系、前記構造体、前記定盤を支持する床6のいずれかに設けられた振動を検出するセンサ51〜54と、前記センサからの出力に基づいて、前記振動が小さくなるように前記質量体を移動させるアクチュエータを制御する制御手段14と、を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】太陽電池製造システムに対する需要が増え続けるにつれ、直線システムのスループットの利点を得つつ、メインフレーム構成の柔軟性も提供する。
【解決手段】数枚の基板を同時に処理する装置及び方法が提供される。システムは、直線状でありつつ、処理を自律的に順位付けして基板を必要に応じて異なる方向に移動させる新規なアーキテクチャを採用している。システムは、数枚の基板を同時に移動させるが、従来技術とは異なりトレイを使用しない。 (もっと読む)


【課題】半導体装置又は電子部品等のデバイスの姿勢矯正を、機械的接触なしに行なうことで、デバイスの品種ごとに部品交換を不要とするとともに、デバイスへの接触ダメージや矯正主体の磨耗によるトラブルを防止しつつ、位置決め精度を高めた位置補正装置及びそれを備えたハンドラを提供する。
【解決手段】吸着保持機構Vの先端部分に回転可能に取り付けられ、デバイスを直接的に保持する吸着ノズルNを備えたフランジ31と、吸着保持機構Vの直下に設けられた筒状の補正ブロック8と、この補正ブロック8にモータの動力を伝達し回転制御するベルト81及び第1のプーリー82と、フランジ31の筒状の開口部84を通してデバイスを下方より撮像する撮像機構9とからなる。 (もっと読む)


【課題】真空チャンバのシール性能が改善されたリソグラフィ装置を提供する。
【解決手段】装置は、第1本体と、第1本体に対して移動可能である第2本体と、第1本体、第2本体、およびシールによって第2空間から第1空間が分離されるように第1本体と第2本体の間に配置されるシールであって、第1本体からある距離に位置するシールと、第1本体とシールの間に流体流を作り出し、第1空間と第2空間の間に非接触シールを生成して第1本体と第2本体の間の移動を可能にするように配置された流体供給源と、第1本体と第2本体の互いに対する移動の間、距離を制御するように構成されたコントローラと、を備える。 (もっと読む)


【課題】加工装置のセンサが被検出領域を誤検出するのを防ぎ、後の作業にエラーが生じたり、プロセスの停止を招くおそれを払拭できる基板収納容器を提供する。
【解決手段】ロードポート1上に搭載される半導体ウェーハ収納用の容器本体10と、この容器本体10の底部に形成されてロードポート1の複数の位置決めピン4上にそれぞれ嵌合する複数の位置決め芯出し具14とを備え、容器本体10の底部に、ロードポート1の位置決めピン4に位置決め芯出し具14が適正に嵌合する場合にロードポート1のセンサ3に対向して検出される被検出領域50と、この被検出領域50の周囲に位置する非検出領域51とを配設し、被検出領域50の高さを非検出領域51よりも相対的に高くしてロードポート1のセンサ3が被検出領域50を誤検出するのを防止する。 (もっと読む)


【課題】検出結果の誤差を低減することが可能な干渉計システム、ステージ装置及び露光装置を提供すること。
【解決手段】移動体の位置情報を検出する干渉計システムであって、光を射出する光源と、光を分光して射出する分光装置と、移動体に設けられ、分光された光を反射させる移動鏡と、移動鏡を介した光を受光する受光装置と、光が分光装置から射出され移動鏡に入射し当該移動鏡で反射された後に分光装置へ向かう所定の光路を形成する第1光学系と、当該光路を進行した光が分光装置に入射せずに当該光路の進行方向とは逆向きに当該光路を進行するように光を導光する第2光学系と、第2光学系を進行する光のうち所定成分を前記受光装置に入射させ、所定成分以外の成分を光路に入射させないように当該光を分光する第2分光装置とを備える。 (もっと読む)


【課題】焦点位置検出系などを必ずしも設けることなく、デフォーカスの殆どない基板上へのパターンの転写を実現することが可能な露光装置を提供する。
【解決手段】露光装置は、互いに独立して移動可能な第1、第2テーブルと、投影光学系の直下に液体を供給して液浸領域を形成する液浸システムと、投影光学系と第1、第2テーブルの一方との間に液浸領域が維持される第1状態から、投影光学系と第1、第2テーブルの他方との間に液浸領域が維持される第2状態に遷移するように、投影光学系の直下に液浸領域を維持しつつ、投影光学系の下方で第1、第2テーブルを共に移動する駆動システムと、を備え、第1テーブルは、基板の載置領域及びその周囲領域を有し、周囲領域と基板との隙間からの液体の流出を抑制するように周囲領域に近接させて基板を載置領域に載置し、基板は、第1テーブルによって液浸領域に対して相対的に移動される。 (もっと読む)


【課題】複数の基板保持具を用い、移載及び回収位置が反応炉直下ではなかった場合でも基板の保持状態を確認でき、一方の基板保持具にて異常を検知した場合に該一方の基板保持具から正常な基板を回収すると共に、他方の基板保持具からも同様に正常な基板を回収できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板7を保持する複数の基板保持具21a、21bと、基板7に所定の処理を行う反応炉11と、前記基板保持具21a、21bに対して基板7の移載と回収を行う基板移載機41と、前記基板保持具21a、21bを識別する識別手段と、基板7の保持状態を検知する検知部と、前記基板移載機41を制御する制御部とを具備し、該検知部が基板7の異常を検知した際には、前記制御部は検知した基板7の保持状態、前記識別手段による識別結果に基づき、基板7を前記基板移載機41により回収する。 (もっと読む)


【課題】この発明は通常使用されるサイズよりも大きなサイズの半導体ウエハを使用することができる半導体チップの供給装置を提供することにある。
【解決手段】分割された1つの分割ウエハを保持したウエハリング8が供給されて水平方向に駆動位置決めされる供給テーブル4と、供給テーブルを水平方向に駆動しながら供給テーブルに供給保持された分割ウエハを上方から撮像する撮像カメラ41と、撮像カメラによって撮像された分割ウエハの撮像信号を処理する画像二値化処理部43と、画像二値化処理部で処理された撮像信号に基づいて供給テーブルに供給保持された分割ウエハが半導体ウエハのどの位置の部分のものであるかを判定する判定部57と、判定部の判定に基づいて供給テーブルの水平方向の駆動を制御し供給テーブルに保持された分割ウエハの複数の半導体チップを順次ピックアップ位置に位置決めする駆動制御部46を具備する。 (もっと読む)


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