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Fターム[5F033JJ01]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 層間接続のコンタクト層の材料 (22,060) | コンタクト層なし、上層配線と一体形成 (1,607)

Fターム[5F033JJ01]に分類される特許

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【課題】対向するバンプ、パッド等を良好に接続し、接続部分の水平強度を高めるための半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板2の上方に形成される第1絶縁膜15と、第1絶縁膜15内に形成される導電パターン19と、第1絶縁膜15上に形成される第2絶縁膜21と、第2絶縁膜21内に形成され、導電パターン19に接続されるビアプラグ24と、記ビアプラグ24の上に接続され、開口部25aを有する電極パッド25と、第2絶縁膜21内でビアプラグ24の周辺に形成される内部空間21aとを有し、電極パッド25上面及び開口部25a内には外部の突起状電極58が接続される。 (もっと読む)


【課題】コンタクトホール内にめっき層から成るコンタクト層を埋め込んで上下層の電気的接続を行うときの、コンタクト層の埋め込み性を良好にする構造の半導体装置を提供する。
【解決手段】配線層12,16と、少なくとも底部において、三角形の平面形状であるコンタクトホール14と、めっき層から成り、コンタクトホール14の内部を埋めて形成され、配線層12,16に接続されたコンタクト層15とを含む、半導体装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】貫通孔の側面のスキャロップ形状及びアンダーカットを修復する。
【解決手段】半導体装置は、第1の基板と、第2の基板と、前記第1の基板と前記第2の基板との間に配置され、前記第1の基板と前記第2の基板とを接着する接着層と、を備え、前記第2の基板及び前記接着層には、前記第2の基板及び前記接着層を貫通する貫通孔が形成されており、前記貫通孔の側面には、凹部が形成されており、前記凹部には、少なくとも有機骨格を有する樹脂が埋め込まれており、前記貫通孔の中には、導電体が形成されている。 (もっと読む)


【課題】 フローティングディフュージョン部の容量の増大を抑制することが可能な光電変換装置を提供する。
【解決手段】 光電変換素子と、フローティングディフュージョン部と、転送トランジスタと、増幅トランジスタとが配された半導体基板と、第1の配線層と、第2の配線層とを含む複数の配線層と、を有する光電変換装置において、転送トランジスタのゲート電極と、前記第2の配線層とがスタックコンタクト構造で接続されている。 (もっと読む)


【課題】製造コストの低減を図ることができる。
【解決手段】シリコンウェハ31の上面側の内部にメタルパッド32が形成され、シリコンウェハ31の上面にガラスシール材33が積層され、メタルパッド32がシリコンウェハ31の上面に露出するようにシリコンウェハ31およびガラスシール材33に加工された開口部にストッパ層34が形成される。そして、シリコンウェハ31の下面からストッパ層34まで開口するように縦孔35が形成され、縦孔35の先端部においてストッパ層34を介してメタルパッド32に電気的に接続され、シリコンウェハ31の下面まで延在するようにメタルシード層37が形成される。本発明は、例えば、固体撮像装置に適用できる。 (もっと読む)


【課題】 はんだからなるバンプの形成工程中やフリップチップ実装時に、スズのようなはんだ成分がバンプ電極のアンダーバリアメタルを透過してその下のパッド電極と反応し、バンプとパッド電極間の接合信頼性が低下することを防止する。
【解決手段】 半導体基板1上に形成されたパッド電極3とはんだからなるバンプ8間にアンダーバリアメタル6が形成される。アンダーバリアメタル6は保護絶縁膜4に形成された開口5に露出するパッド電極3上から開口5周囲の保護絶縁膜4上までを被覆する。しかしバンプ8の底面はアンダーバリアメタル6より小さく、望ましくは開口5より小さく、且つ開口5内部領域の垂直上方に形成される。 (もっと読む)


【課題】 密着性を低下させることなく切削性を向上させることが可能な半導体装置及びその配線の形成方法を提供する。
【解決手段】 基板1上に開口部を形成するように絶縁樹脂4を形成する工程と、前記絶縁樹脂4上と、前記開口部の側壁面5aと底面とに第1配線層7を形成する工程と、前記第1配線層7上に第2配線層8を設ける工程と、前記開口部の前記側壁面5a上に形成された前記第1配線層7を露出するように切削して平坦化する工程とを含み、前記第1配線層7を形成する工程では、前記開口部の前記側壁面5aに形成される前記第1配線層7の厚さより前記底面に形成される前記第1配線層7の厚さの方が厚くなるように形成することを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】小型化、薄型化、軽量化を実現した半導体装置の提供を課題とする。また、作製時間を短縮し、歩留まりを向上することができる半導体装置の作製方法の提供を課題とする。
【解決手段】トランジスタと、トランジスタ上に設けられた絶縁層と、絶縁層に設けられた開口部を介して、トランジスタのソース領域又はドレイン領域に電気的に接続された第1の導電層(ソース配線又はドレイン配線に相当)と、絶縁層及び第1の導電層上に設けられた第1の樹脂層と、第1の樹脂層に設けられた開口部を介して、第1の導電層に電気的に接続された導電性粒子を含む層と、第2の樹脂層及びアンテナとして機能する第2の導電層が設けられた基板とを有する。上記構成の半導体装置において、第2の導電層は、導電性粒子を含む層を介して、第1の導電層に電気的に接続されている。また、第2の樹脂層は、第1の樹脂層上に設けられている。 (もっと読む)


【課題】簡略化された構成を有するトランジスタアレイを、簡易的に製造することが可能なトランジスタアレイの製造方法を提供することを主目的とする。
【解決手段】金属基板を用い、上記金属基板上に、絶縁性材料からなり、貫通孔を有する絶縁層を形成する絶縁層形成工程と、上記絶縁層上に、ドレイン電極が上記絶縁層に形成された貫通孔を介して上記金属基板に接続されるように薄膜トランジスタを形成する、薄膜トランジスタ形成工程と、上記金属基板をパターニングすることにより、上記金属基板を画素電極とする画素電極形成工程と、を有することを特徴とする、トランジスタアレイの製造方法を提供することにより、上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】外からの圧力を用いることなく、低温または室温でウエーハーを貼り合わせる。
【解決手段】貼り合わされたデバイス構造であって、デバイスまたは回路に接続された第1の組の金属ボンディングパッドおよび第1の基板10上の金属ボンディングパッドに隣接する第1の非金属領域を有する第1の基板、デバイスまたは回路に接続された第1の組の金属ボンディングパッドに隣接する第2の組の金属ボンディングパッド、および第2の基板13上の金属ボンディングパッドに隣接する第2の非金属領域を有する第2の基板、および第2の非金属領域に対して第1の非金属領域を接触ボンディングさせることにより形成される第1と第2の組の金属ボンディングパッドの間の接触ボンディングされた界面を含むボンディングされたデバイス構造。第1と第2の基板の少なくとも一方は弾性的に変形され得る。 (もっと読む)


【課題】可撓性を有する基板上に有機化合物を含む層を有する素子が設けられた半導体装置を歩留まり高く作製することを課題とする。
【解決手段】基板上に剥離層を形成し、剥離層上に、無機化合物層、第1の導電層、及び有機化合物を含む層を形成し、有機化合物を含む層及び無機化合物層に接する第2の導電層を形成して素子形成層を形成し、第2の導電層上に第1の可撓性を有する基板を貼りあわせた後、剥離層と素子形成層とを剥す半導体装置の作製方法である。 (もっと読む)


【課題】セル面積増大を抑制しつつゲート形成時のパターンずれによる特性低化を有効に防止し、さらに電源電圧供給線を低抵抗化する。
【解決手段】第1の電源電圧供給線VDDと第2の電源電圧供給線VSSとの間に電気的に直列接続されてゲートが共通に接続された第1導電型の駆動トランジスタQn1,Qn2と第2導電型の負荷トランジスタQp1,Qp2とからそれぞれが構成され、入力と出力が交叉して接続された2つのインバータをメモリセルごとに有する。第1の電源電圧供給線VSSと第2の電源電圧供給線VSSの少なくとも一方が、層間絶縁層の貫通溝内を導電材料で埋め込んだ溝配線からなる。 (もっと読む)


【課題】ピラーを確実に配置することが可能な半導体装置、及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様にかかる半導体装置30は、内部回路領域20と、内部回路領域20の外側に設けられたI/O領域10と、を備える半導体チップ1と、半導体チップ1とフリップチップ接続されたパッケージ基板6と、半導体チップ1とパッケージ基板6との間に配置され、半導体チップ1の最上層配線層12に含まれる2本以上の接地配線12a上に形成されて、2本以上の接地配線12aを接続する導電性のピラー4と、を備えるものである。 (もっと読む)


【課題】基板を介したクロストークを抑制でき、放熱性が高い半導体装置を提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体装置1は、半導体基板10を備える。前記半導体基板の内部には空洞11が形成されている。また、前記半導体基板の内部には、前記空洞を前記半導体基板の上面に連通させる連通孔12も形成されている。前記半導体装置は、さらに、前記空洞及び前記連通孔の内面上に設けられた絶縁膜13と、前記空洞及び前記連通孔の内部に埋め込まれ、熱伝導率が前記絶縁膜の熱伝導率よりも高い伝熱部材14と、前記半導体基板における前記空洞の直上域に形成された素子21,22と、を備える。 (もっと読む)


【課題】トレンチゲートを有する半導体装置に関して、ゲートの取り出し抵抗の低減を図り、動作速度の高速化をはかる。
【解決手段】この半導体装置は、リードフレーム30のリード端子30Rの一端に連結導体15を介して電気的に接続されている。この連結導体は、Cu箔で構成され、本体部15Mと、リード端子30Rに当接し、リード端子30Rに接続されるリード接続部15Rと、トレンチMOSFET(チップ)のソースパッドに当接するフィンガー部15Fと、フィンガー部15Fの先端を空間部で一体化する連結部15Bとで構成されている。この連結導体を用いることで、第1の外部取り出し電極を構成するソース電極35s間に第2の外部取り出し電極としてのゲートパッド35gが伸張して形成されている場合にも、低抵抗で信頼性の高い実装が実現される。 (もっと読む)


【課題】プロセス加工性と信頼性に優れた半導体装置を提供する。
【解決手段】必要な回路が形成された半導体表面に、エポキシ樹脂、エポキシ樹脂硬化剤及び平均一次粒子径1μm以下の有機フィラーの成分を含む樹脂組成からなる絶縁層を1層又は複数層備え、かつ同一層内及び層間接続の配線導体として銅を用いた回路3を任意の箇所に形成してなる半導体装置。 (もっと読む)


【課題】単膜でCu拡散のバリア膜及びめっきシード層として機能するとともに、Cuとの密着性にも優れた金属薄膜の成膜方法を提供する。
【解決手段】金属薄膜の成膜方法は、Ti膜を成膜する工程(STEP1)、Ti膜上にCo膜を形成する工程(STEP2)、Ti膜及びCo膜を熱処理してCoTi合金を含む金属薄膜を形成する工程(STEP3)を備えている。CoTi合金を含む金属薄膜は、優れた導電性とCu拡散バリア性を有し、Cuとの格子不整合が0.15%と非常に小さいため、Cu配線と優れた密着性が得られる。 (もっと読む)


【課題】めっき液への溶解性が低く、かつ単膜でCu拡散のバリア性にも優れたコバルト膜の成膜方法及び成膜装置を提供する。
【解決手段】炭素含有コバルト膜の成膜方法は、成膜装置100の処理容器1内にウエハWを搬入し、ステージ3上に配置する工程と、処理容器1内の圧力及びウエハWの温度を調節する工程と、処理容器1内にCo(CO)とアセチレンとをそれぞれ供給して処理容器1内で混合し、CVD法によりウエハWの表面に炭素含有コバルト膜を堆積させる工程と、成膜原料の供給を停止し、処理容器1内を真空引きする工程と、処理容器1内からウエハWを搬出する工程とを備えている。 (もっと読む)


【課題】導電性ビアおよびそれを形成する方法に関する。
【解決手段】導電性ビアが、導電性接触構造と該導電性接触構造上に配置された誘電体層の突出部との間に配置された部分を含む。1つの実施形態において、突出部は、導電性接触構造上にアンダーカット層を形成し、次に、該導電性接触構造およびアンダーカット層上に誘電体層を形成することによって形成される。誘電体層に空洞を形成し、誘電体層の突出部を形成するようにアンダーカット層の材料が該空洞を通して除去される。導電性ビアの導電性材料は次に、突出部の下および空洞に形成される。 (もっと読む)


【課題】絶縁膜を貫通するコンタクトプラグの抵抗を改善させられる半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板上に形成された第1層間絶縁膜と、前記第1層間絶縁膜を貫通して形成されたコンタクトホールと、前記コンタクトホールの内部に形成されたコンタクトプラグと、前記コンタクトホール内で前記コンタクトプラグの上部側壁を部分的に覆うスペーサと、を含む。 (もっと読む)


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