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Fターム[5F033RR21]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 絶縁膜の材料 (22,565) | 有機材料 (4,730)

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【課題】ダイシング工程におけるチッピング不良を低減させる。
【解決手段】一面側に複数の回路素子3が形成され、この回路素子が形成された領域間に第一スクライブライン領域R1が設けられたウエハ状の半導体基板2と、この半導体基板の他面2bから半導体基板の一面2aまで貫通する貫通孔7と、この貫通孔の内面及び半導体基板の他面側に形成された絶縁膜5と、この絶縁膜上に形成された配線6とを備えた半導体ウエハにおいて、半導体基板の他面側に形成された絶縁膜に、第一スクライブライン領域に沿って絶縁膜が離間した領域である第二スクライブライン領域R2が設けられている半導体ウエハを提供する。 (もっと読む)


【課題】低抵抗の微細配線構造を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】第1配線420は、半導体基板100上に設けられている。第1ビア440は、第1配線420上に設けられている。また、第1ビア440の底面は、第1配線420に接している。第1絶縁層330は、半導体基板100上に設けられ、少なくとも第1配線420の上面および第1ビア440の側面と接している。第1配線420および第1ビア440のうち各々の側面の少なくとも一部は、各々の金属の結晶粒を分断している。 (もっと読む)


【課題】本発明は、Cu及びlow-k膜にダメージを与えずに、従来のポリマー剥離液で解決し得なかったわずかな亀裂状のCu腐食の抑制が可能なドライプロセス後の残渣除去液を提供し、これを用いた半導体デバイスの製造方法を確立する。
【解決手段】ドライエッチング及び/又はアッシング後の半導体基板に存在する残渣の除去液であって、フッ素化合物を含まず、銅に配位し得る2以上の酸素原子を有する中性有機化合物及び/又はC4以上のモノアルコールのうち少なくとも1種と、水とを含むことを特徴とする残渣除去液、或いは、過塩素酸塩と水とを含むことを特徴とする残渣除去液に関する。 (もっと読む)


【課題】厚さが35nm以下でも十分に高い保磁力および角型比を有する磁性のコバルト薄膜を得ることができるコバルト薄膜の形成方法およびこの方法により形成したコバルト薄膜を用いたナノ接合素子を提供する。
【解決手段】ポリエチレンナフタレート基板11上に真空蒸着法などによりコバルト薄膜12を35nm以下の厚さに成膜する。こうしてポリエチレンナフタレート基板11上にコバルト薄膜12を成膜した積層体を二つ用い、これらの二つの積層体をそれらのコバルト薄膜12のエッジ同士が、必要に応じて有機分子を挟んで、互いに対向するように交差させて接合することによりナノ接合素子を構成する。このナノ接合素子により不揮発性メモリや磁気抵抗効果素子を構成する。ポリエチレンナフタレート基板11の代わりに、少なくとも一主面がSiO2 からなる基板、例えば石英基板を用いてもよい。 (もっと読む)


【課題】絶縁破壊が発生しにくい半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】集積回路13と電気的に接続する電極14が位置する半導体基板10を用意する。半導体基板の前記第1の面11とは反対側の第2の面12において等方性エッチングを行い、第1内壁面を有する第1凹部を形成する。第1凹部内から前記半導体基板を貫通して電極に至り、第2内壁面22aを有する第2凹部を形成する。第2の面と第1内壁面によって形成された第1の角部、及び第1内壁面と第2内壁面によって形成された第2の角部を除去するエッチバック処理を行い、第2の面と第2内壁面とを連続する第1内壁面を形成する。角部を除去した後、少なくとも第1内壁面、及び第2内壁面を覆うように、電極とオーバーラップする位置に開口部65を有する絶縁層30を形成する。絶縁層を介して第2凹部内に充填され、電極と接続し、かつ第2の面から突出する導電部40を形成する。 (もっと読む)


【解決手段】 切り分けられたダイまたはウェハのような素子を3次元的に集積する方法および切り分けられたダイまたはウェハのような素子が接続された集積構造。ダイまたはウェハの一方または両方は、その中に形成された半導体デバイスを有する。第1コンタクト構造を有する第1素子は、第2コンタクト構造を有する第2素子に接着される。第1、第2コンタクト構造は、接着の際に露出されることが可能で、また接着の結果、電気的に接続される。接着後にビアがエッチングされるとともに埋め込まれて電気的配線を露出および形成して第1、第2コンタクト構造を接続するとともに、この電気的配線への表面からの電気的なアクセスが可能になる。または、第1、第2コンタクト構造は接着の際に露出されず、接着後にビアがエッチングおよび埋め込みされて第1、第2コンタクト構造が電気的に接続されるとともに接続された第1、第2コンタクト構造への電気的なアクセスが得られる。 (もっと読む)


【課題】配線コーナーでの電子散乱を減らし、配線の抵抗率の増大を抑制する。
【解決手段】実施形態によれば、半導体装置は、半導体基板と、前記半導体基板上に形成され、配線溝を有する層間絶縁膜とを備える。さらに、前記装置は、前記配線溝内に形成された配線を備える。さらに、前記配線溝の底面と側面との間の角部の曲率半径は、前記配線の配線幅の1/10以上である。 (もっと読む)


【課題】電気的接続信頼性を向上させることができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体チップ3は、第1主面30Aと第2主面30Bとの間を貫通する貫通孔30Xを有する半導体基板30と、半導体基板30の第2主面30Bを覆うように形成され、貫通孔30Xと対向する位置に開口部31Xが形成された絶縁層31と、絶縁膜33によって覆われた貫通孔30X及び開口部31Xに形成された貫通電極32とを有する。絶縁層31から露出される貫通電極32の上端面は、当該半導体チップ3に他の半導体チップ4が積層される際のパッドになる。また、貫通電極32の上端面は、絶縁層31の半導体基板30と接する面と反対側の面と面一になるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】端子部のコンタクトホールのテーパー形状を高い精度で制御する。
【解決手段】酸化物半導体層7a、ソース配線13as、ドレイン電極13adを備えた薄膜トランジスタと、第1接続部3c、第2接続部13cおよび第2接続部上に形成された第3接続部19cを備えた端子部とからなる薄膜トランジスタである。第2接続部は、第1および第2絶縁膜5,9に設けられた第1開口部内で第1接続部と接し、第3接続部19cは、保護膜に設けられた第2開口部内で第2接続部と接する。第1開口部は、第1絶縁膜5および第2絶縁膜9を同時にエッチングすることによって形成、第2開口部は、保護膜15を前記第1および第2絶縁膜とは別個にエッチングすることによって形成される。第2接続部13cは、第1開口部における第1および第2絶縁膜の端面を覆い、かつ、第2開口部における保護膜15の端面を覆っていない。 (もっと読む)


【課題】貫通孔内に形成された導電層に加わる応力を抑制できるとともに、導電層からの効果的な放熱も促すことができる貫通配線基板、及びこの貫通配線基板の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板11(基板)の一方の面11aに配された電極層12と、電極層12の少なくとも一部が露呈するように半導体基板11内に開けられた貫通孔20と、貫通孔20の内側面20aを覆い、電極層12の少なくとも一部が露呈するように配された第一絶縁層15と、第一絶縁層15を介して、貫通孔20の内側面20a及び電極層12の露呈部を覆うように配され、電極層12と電気的に接続された導電層5と、導電層5を覆うように配された第二絶縁層16と、を少なくとも備えてなる貫通配線基板10であって、第二絶縁層16は、導電層5の表面形状に沿って形成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】層間絶縁膜のエッチングの際に半導体層がエッチングされることによるコンタク
ト抵抗の増大を防ぎ、書き込み特性及び電荷保持特性に優れた不揮発性半導体記憶装置及
びその作製方法を提供する。
【解決手段】ソース領域又はドレイン領域とソース配線又はドレイン配線との間に導電層
を設ける。また、該導電層は、制御ゲート電極を形成する導電層と同じ導電層からなる。
また、該導電層を覆うように絶縁膜が設けられており、該絶縁膜は該導電層の一部が露出
するコンタクトホールを有する。また、該ソース配線又はドレイン配線は、該コンタクト
ホールを埋めるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】1つの貫通配線のみの抵抗を測定できる貫通配線の検査方法、及び該貫通配線の検査方法を行う工程を含む貫通配線基板の製造方法の提供。
【解決手段】基板1の一方の面1aに配された導電部2と、基板1を貫通し、導電部2と接続される第一貫通配線3、第二貫通配線4および第三貫通配線5とを少なくとも備えた貫通配線基板10を用い、基板1の他方の面1b側から第一貫通配線3及び第二貫通配線4に、定電流源6の一組の端子6a,6bを電気的に接続して、第一貫通配線3、導電部2、第二貫通配線4の経路に電流を流すと同時に、基板1の他方の面1b側から第一貫通配線3及び第三貫通配線5に、電圧計7の一組の端子7a,7bを電気的に接続して、第一貫通配線3における電圧降下を測定することを特徴とする貫通配線の検査方法。 (もっと読む)


【課題】下地層との密着性に優れた銅膜を製造する方法の提供。
【解決手段】成膜対象物上に下地層としてチタン膜を形成した後、この下地層を水素ガス雰囲気中で100℃以上200℃未満の温度で熱処理し、次いでその上に銅膜を作製する。このように銅膜を作製した後、さらに水素ガス雰囲気中で100℃以上200℃未満の温度で熱処理を行う。 (もっと読む)


【課題】裏面コンタクト構造体及びその構造体を製造する方法を提供する。
【解決手段】表面及び対向する裏面を有する基板100の表面上に第1誘電体層105を形成することと、第1誘電体層を貫通して前記基板の表面にまで延びる導電性の第1スタッド・コンタクト140Bを第1誘電体層内に形成することと、基板の裏面から基板を薄くして基板の新しい裏面を形成することと、基板の新しい裏面から前記第1誘電体層まで延びるトレンチ165を基板内に形成して第1スタッド・コンタクトの底面をトレンチ内に露出させることと、基板の新しい裏面、トレンチの側壁、第1誘電体層の露出面、及び第1スタッド・コンタクトの露出面の上に、トレンチを完全に充填するのに十分には厚くない共形導電層170、175を形成することと、を含む前記方法。 (もっと読む)


【課題】ビアホール、コンタクトホール、スルーホール等の穴部の内面のみを改質して、穴部に導体を形成する。
【解決手段】基板100には、上面100aの開口から下面100bの開口に向かうにつれて直径が増加しているビアホール110が設けられている。基板100の下面には、表面に微小な凹凸形状が形成された光反射用基板46が配置される。照射部40からビアホール110にレーザ光Lが照射されると、ビアホール110の開口部から入射したレーザ光は、基板100の下面に配置された光反射用基板46の表面によって散乱反射される。このレーザ光Lの反射光は、ビアホール110の内面110aに照射され、内面110aが表面改質される。 (もっと読む)


【課題】薄膜回路の下方に外部と接続するための電極を容易に形成できる薄膜回路部品の
構造及び薄膜回路部品の作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】第1の絶縁膜と、第1の絶縁膜の一方の面上に形成された薄膜回路と、薄膜
回路上に形成された第2の絶縁膜と、第2の絶縁膜上に形成された電極と、電極上に形成
された樹脂膜とを有する積層物を形成し、積層物の第1の絶縁膜の他方の面側に、電極と
重なるように導電膜を形成し、導電膜にレーザーを照射する。 (もっと読む)


【課題】 相互接続ラインを形成するための新規な方法を提供する。
【解決手段】 細線相互接続部(60)は基体(10)の表面内又はその上に形成された半導体回路(42)の上に位置する第1の誘電体層(12)内に設けられる。パシベーション層(18)は誘電体層の上に付着され、第2の厚い誘電体層(20)はパシベーション層の表面上に形成される。厚くて幅広い相互接続ラインは第2の厚い誘電体層内に形成される。第1の誘電体層はまた、基体の表面上に付着されたパシベーション層の表面上に幅広くて厚い相互接続ネットワークを形成するように、省略することができる。 (もっと読む)


【課題】貫通孔内に配した樹脂が熱膨張することによって電極を破損することを防止した貫通配線付き接合基板の提供。
【解決手段】
一面1aに電極層2が形成された第一基板1、及び電極層2と接合樹脂層3を介して、第一基板1と接合された第二基板4とを備えた貫通配線付き接合基板10Aであって、第一基板1の他面1b側から電極層2が露出するまで第一基板1を貫通する貫通孔5と、貫通孔5の内部において、貫通孔5の内側面5c及び電極層2を覆う貫通配線層6と、貫通配線層6を覆い貫通孔5の内部に充填された充填樹脂部7とを有し、充填樹脂部7を構成する樹脂のヤング率は、接合樹脂層3を構成する樹脂のヤング率よりも小さいことを特徴とする貫通配線付き接合基板10A。 (もっと読む)


【課題】半導体層を用いた素子を配線層間に形成し、かつ、ゲート電極の材料を、配線の材料以外の導電体にする。
【解決手段】第1配線層150の表層には、第1配線210が埋め込まれている。第1配線210上には、ゲート電極218が形成されている。ゲート電極218は、第1配線210に接続している。ゲート電極218は、第1配線210とは別工程で形成されている。このため、ゲート電極218を第1配線210とは別の材料で形成することができる。そしてゲート電極218上には、ゲート絶縁膜219及び半導体層220が形成されている。 (もっと読む)


【課題】基板を貼り合わせて電極接合を行う半導体素子において、電極の腐食を防ぐ半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】第1接合部40と第2接合部60とが電極形成面を対向させて接合された半導体装置において、第1接合部40の絶縁層51と、絶縁層51の表面に形成された接合電極41と、絶縁層51表面に形成され、絶縁層51を介して接合電極41の周囲を囲む保護層44とを備える。さらに第2接合部60の絶縁層71と、絶縁層71の表面に形成された接合電極61と、絶縁層71表面に形成され、絶縁層71を介して接合電極61の周囲を囲む保護層64とを備える。 (もっと読む)


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