【課題】半導体ウェーハにおいて高い利用効率を維持しつつも、スクライブ線領域で生じたチッピングが素子形成領域の内部まで伸展することを防止する。
【解決手段】複数の素子形成領域２０と、互いに交差する帯状に設けられて素子形成領域２０を個別に囲む、層間絶縁膜２２が積層されたスクライブ線領域３０とからなるとともに、スクライブ線領域３０同士の交差部に部分的に設けられた、複数の層間絶縁膜２２の少なくとも一部を積層方向の上下より挟む複数の補強パッド３４および補強パッド３４同士を接続するビア３６からなるチッピング防止構造３８を備える半導体ウェーハ１２。 （もっと読む）

【課題】 サイズが異なる必要半導体装置形成領域２２ａおよび不必要半導体装置形成領域２２ｂ、２２ｃを有する半導体ウエハを、必要半導体装置形成領域２２ａの４辺に沿うダイシングストリート２３に沿ってダイシングブレードで切断することにより、必要半導体装置形成領域２２ａを有する半導体装置を得る半導体装置の製造方法において、ダイシングブレードに銅の目詰まりが生じないようにする。
【解決手段】 不必要半導体装置形成領域２２ｂ、２２ｃにおいては、ダイシングストリート２３およびその両側に対応する領域を除く領域にのみ銅からなる柱状電極１４を形成し、当該ダイシングストリート２３およびその両側に対応する領域には柱状電極１４は形成しない。これにより、ダイシングブレードに銅の目詰まりが生じないようにすることができる。この場合、半導体ウエハ上に複数層の低誘電率膜と同数層の配線とを交互に積層して形成し、その上に絶縁膜を介して形成された上層配線の接続パッド部上に柱状電極１４を形成する。 （もっと読む）

基板上の低誘電率(low-k)誘電膜を硬化させるシステムが開示されている。前記のlow-k誘電膜の誘電率は約4未満の値である。当該システムは、前記low-k誘電膜を電磁(EM)放射線−たとえば赤外(IR)放射線又は紫外(UV)放射線−へ曝露させるように備えられた1つ以上の処理モジュールを有する。
（もっと読む）

【課題】エッチング工程で生成される反応生成物による配線信頼性の低下を防ぐ半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】電極の側壁にスペーサを有する半導体装置の製造方法であって、電極を覆う絶縁膜を形成する工程と、電極の側壁にスペーサを形成するために絶縁膜にドライエッチングを行う工程と、水素単体ガスまたは窒素を含むガスによるプラズマ放電により、ドライエッチングにより生じた反応生成物を除去する工程と、反応生成物を除去した後、少なくとも絶縁膜にオーバーエッチングを行う工程とを有するものである。 （もっと読む）

【課題】ＭＦＩ型以外のゼオライト結晶を主成分とする場合であっても、ゼオライト薄膜の十分な強度を確保でき、誘電率低減、表面の平坦性向上、また疎水性向上をも実現し、さらに作成工程の簡略化による低コスト化も可能となるようにする。
【解決手段】ＳｉＯ結合を構造主成分とするＭＥＬ型のゼオライト薄膜は、前記ゼオライト薄膜は、ゼオライト骨格中の二重５員環構造に起因する波数５５０ｃｍ^−１の赤外吸収ピークを有し、表面平坦性を有し、可視光域における１．０７から１．１４の範囲内の屈折率と、周波数１００ｋＨｚにおける２．０５以下の比誘電率を有する。 （もっと読む）

【課題】高集積化および多層化が望まれている半導体素子などにおいて好適に用いることができ、貯蔵安定性に優れ、低比誘電率であり、かつ、機械的強度に優れた絶縁膜の形成に用いることができる絶縁膜形成用組成物、シリカ系膜およびその形成方法を提供する。
【解決手段】絶縁膜形成用組成物は、下記一般式（１）で表される化合物および下記一般式（２）で表される化合物の群から選ばれた少なくとも１種のシラン化合物を加水分解縮合して得られたポリマーと、有機溶媒と、を含み、前記ポリマーはシラノール基を含み、前記シラノール基に含まれる水酸基の数が、前記ポリマー中のケイ素原子の数に対して７０〜１３０％である。
Ｓｉ（ＯＲ^１）_４ ・・・・・（１）
（式中、Ｒ^１は１価の有機基を示す。）
Ｒ^２_ａ（Ｒ^３Ｏ）_３−ａＳｉ−（Ｒ^６）_ｃ−Ｓｉ（ＯＲ^４）_３−ｂＲ^５_ｂ ・・・（２）
（式中、Ｒ^２〜Ｒ^５は同一または異なり、それぞれ１価の有機基を示し、ａおよびｂは同一または異なり、０〜１の数を示し、Ｒ^６は酸素原子、フェニレン基または−（ＣＨ_２）_ｍ−で表される基（ここで、ｍは１〜６の整数である。）を表し、ｃは０または１を示す。） （もっと読む）

【課題】 金属相互接続のための共形接着促進材ライナを提供すること
【解決手段】 誘電体層を少なくとも１つのライン・トラフ及び／又は少なくとも１つのビア・キャビティを有するようにパターン化する。金属窒化物ライナをパターン化誘電体層の表面上に形成する。金属ライナを金属窒化物ライナの表面上に形成する。共形銅窒化物層を、原子層堆積（ＡＬＤ）又は化学気相堆積（ＣＶＤ）によって、金属ライナの直接上に形成する。Ｃｕシード層を共形銅窒化物層の直接上に形成する。少なくとも１つのライン・トラフ及び／又は少なくとも１つのビア・キャビティは、電気めっき材料で充填される。共形銅窒化物層とＣｕシード層との間の直接接触は、強化された接着強度を与える。共形銅窒化物層をアニールして、露出した外側部分を連続的なＣｕ層に変換することができ、このことはＣｕシード層の厚さを減すのに用いることができる。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、パターニング特性を備え、しかも比較的高い塗膜強度と比較的低い比誘電率を有し、さらには表面平坦性や耐クラック性などに優れたシリカ系塗膜を形成するための液状組成物からなるシリカ系塗膜形成用塗布液およびその調製方法に関する。
【解決手段】 パターニング特性を備えたシリカ系塗膜を形成するための液状組成物からなるシリカ系塗膜形成用塗布液であって、塩基性触媒成分を含有するシリカ系微粒子、特定の有機珪素化合物を加水分解して得られる珪素化合物および紫外線照射により酸を発生する酸発生剤を少なくとも含むシリカ系塗膜形成用塗布液および該シリカ系塗膜形成用塗布液の調製方法。 （もっと読む）

【課題】例えばＣｕ膜に対するバリヤ性及び密着性を高く維持することができる層構造を形成する成膜方法を提供する。
【解決手段】真空引き可能になされた処理容器１３２内で、表面に凹部２を有する被処理体Ｗの表面に成膜処理を施す成膜方法において、遷移金属含有原料ガスを用いて熱処理により遷移金属含有膜２１０を形成する遷移金属含有膜形成工程と、元素周期表のVIII族の元素を含む金属膜２１２を形成する金属膜形成工程とを有するようにする。これにより、例えばＣｕ膜に対するバリヤ性及び密着性を高く維持する。 （もっと読む）

【課題】絶縁膜とＣｕを含む配線との間に介在する下地膜であって、特に酸素のバリア性が高い下地膜を含む電子装置を提供する。
【解決手段】電子装置は、凹部の形成された絶縁膜と、凹部内に形成され、Ｃｕを含む配線層と、絶縁膜と前記配線層との間に形成され、Ｔａ及びＭｎを含む下地膜とを有する。 （もっと読む）

【課題】レジストポイゾニングの発生を抑制する信頼性の高い半導体装置を実現する。
【解決手段】ビアホール１１１を形成した後に溝１１４を形成する工程において、ビアホール１１１の形成領域に露光を行う工程と、配線溝の形成領域に露光を行う工程が含まれる。すなわち、ビアホール１１１を形成した後にビアホール１１１内に化学増幅型レジスト１０８が埋設されても、その後再びビアホール１１１の形成領域に露光が行われるため、ビアホール１１１の内部に十分な露光がされるようになる。これにより、ビアホール１１１内の感光領域、すなわち領域１１２および領域１１３が現像液で除去され、ビアホール１１１の内壁面の少なくとも一部が露出し、所望の構造の溝１１４が得られる。 （もっと読む）

【目的】膜切れの無い均一なシード膜を形成する半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
【構成】本発明の一態様の半導体装置の製造方法は、基体上に絶縁膜を形成する工程（Ｓ１０２）と、絶縁膜に開口部を形成する工程（Ｓ１０４）と、開口部内に光触媒膜を形成する工程（Ｓ１１０）と、Ｃｕを含有する溶液に光触媒膜を浸漬させた状態で光触媒膜に紫外線を照射する工程（Ｓ１１２）と、開口部内に電解めっき法によりＣｕを埋め込む工程（Ｓ１１４）と、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】誘電率を維持しつつ、密着性を向上することができる層間絶縁膜の表面改質方法及び表面改質装置を提供する。
【解決手段】熱処理装置１の反応管２内を昇温用ヒータ１２により所定の温度に加熱する。次に、層間絶縁膜が形成された半導体ウエハ１０を収容したウエハボート９を蓋体７上に載置し、ボートエレベータ８により蓋体７を上昇させ、半導体ウエハ１０を反応室内に収容する。続いて、反応管２を所定の圧力に維持し、半導体ウエハ１０に紫外線を照射する。 （もっと読む）

【課題】比較的低温の焼成温度でＴＦＴ素子上に低誘電率の平坦化膜を形成することが可能なＴＦＴ平坦化膜形成用組成物、及びそのような平坦化膜を有する表示装置を提供する。
【解決手段】本発明に係るＴＦＴ平坦化膜形成用組成物は、（Ａ）シロキサン樹脂、（Ｂ）重合促進剤、及び（Ｃ）有機溶剤を含有する。（Ｂ）重合促進剤としてはオニウム塩が好ましく、その含有量は、（Ａ）シロキサン樹脂のＳｉＯ_２換算質量に対して１２０〜１０００質量ｐｐｍであることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】 ビア開口の下部分を多層ライナで内側を覆うことにより強化したエレクトロマイグレーション耐性を有する相互接続構造体を提供する。
【解決手段】 多層ライナは、誘電体材料のパターン付けされた表面から外側に、拡散障壁、マルチ材料層、及び金属含有ハード・マスクを含む。マルチ材料層は、下層の誘電体キャッピング層からの残留物からなる第１材料層と、下層の金属キャッピング層からの残留物からなる第２材料層とを含む。本発明はまた、誘電体材料内に形成されたビア開口の下部分内に多層ライナを含む相互接続構造体を形成する方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】簡単な工程で絶縁膜、半導体膜、導電膜等の膜パターンを有する基板を作製する方法を提供する。また、層間絶縁膜、平坦化膜、ゲート絶縁膜等の絶縁膜、配線、電極、端子等の導電膜、半導体膜等の半導体素子の各部位の膜を形成する方法を提供する。また、低コストで、スループットや歩留まりの高い半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】ガリウムと亜鉛を含む液滴を吐出して、基板上に膜パターンを形成する。または、印刷法により、基板上にガリウムと亜鉛を含む材料を用いて膜パターンを形成する。 （もっと読む）

【課題】積層された第１インダクタと第２インダクタの間の絶縁耐圧を高くする。
【解決手段】基板１０上には、多層配線層４００、第１インダクタ３１０、及び第２インダクタ３２０が形成されている。多層配線層４００は、絶縁層及び配線層をこの順にそれぞれｔ回（ｔ≧３）以上交互に積層したものである。第１インダクタ３１０は、多層配線層４００の第ｎ配線層に設けられている。第２インダクタ３２０は、多層配線層４００の第ｍ配線層（ｔ≧ｍ≧ｎ＋２）に設けられ、第１インダクタ３１０の上方に位置している。第ｎ配線層と第ｍ配線層の間に位置するいずれの配線層にも、第１インダクタ３１０の上方に位置するインダクタが設けられていない。第１インダクタ３１０及び第２インダクタ３２０は、電気信号を相互に伝達する信号伝達素子３００を構成している。 （もっと読む）

【課題】 比誘電率が約１の層間絶縁層を備える半導体装置において、配線を良好な形状で形成すること、及びエアギャップ形成後においても配線の変質を抑制することの少なくともいずれか一方を実現できる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】 比誘電率が約１の層間絶縁層を備える半導体装置の製造方法であって、配線６間を絶縁する層間絶縁膜２にエアギャップ７を形成する前に、層間絶縁膜２を疎水改質処理する工程、及び配線６間を絶縁する層間絶縁膜２にエアギャップ７を形成した後に、配線６を疎水改質処理する工程の少なくともいずれか一方を具備する。 （もっと読む）

【課題】Ｌｏｗ−ｋ膜の機械的強度を向上させることができる半導体装置の製造方法、およびそれにより得られる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板ＳＢ上に、ＳｉＯＣを含有する骨格構造部と、炭化水素化合物を含有する空孔形成材料部とを有するＳｉＯＣ膜である層間絶縁膜３が形成される。層間絶縁膜３に２００ｎｍ以上２６０ｎｍ以下の波長を有する光が照射される。 （もっと読む）

【課題】 容量低減とビア加工マージンの確保を効率的に達成する。
【解決手段】 複数の配線層を有する半導体装置であって、所定領域を有する第１配線層２６と、第１配線層の上層に位置する第２配線層４７と、第１配線層と第２配線層との間に設けられる層間絶縁膜３６と、層間絶縁膜と第１配線層の配線との間に設けられるバリア絶縁膜（２９，３１）とを有し、所定領域における配線上部のバリア絶縁膜の厚さは、所定領域以外の領域における配線上部のバリア絶縁膜の厚さよりも厚く、所定領域においては隣接する配線間にエアギャップ３５が形成され、所定領域以外においては隣接する配線間にエアギャップが形成されない。 （もっと読む）