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Fターム[5F157AB02]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の取扱い (8,692) | 被洗浄物の支持 (5,429) | 単数の被洗浄物を支持 (1,559)

Fターム[5F157AB02]に分類される特許

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【課題】IPAを利用した基板乾燥装置及びその方法を提供する。
【解決手段】本発明の一実施形態によるIPAを利用した基板乾燥方法は、回転する基板の上面に有機溶剤と前記有機溶剤の気化力の向上のための乾燥ガスを噴射すると同時に基板の温度の上昇のために基板の底面に加熱された流体を噴射するプレpre-段階と、前記加熱された流体の噴射を中断し、基板の上面に前記有機溶剤と前記乾燥ガスを噴射する最終段階と、を含む。 (もっと読む)


【課題】水平に配置した状態で、湿式処理した後の基材の少なくとも1つの表面から液体を効率よく除去する。
【解決手段】基材に供給する液体と相溶性を有しており、該液体と混合した場合に、該液体の表面張力よりも低い表面張力を有する混合物を生じる気体物質を基材の表面に供給することを、回転する基材の表面の少なくとも一部に、液体を供給することと組み合わせて行う。 (もっと読む)


【課題】プラズマを利用し、基板を処理する装置に関する。
【解決手段】プラズマの特性を向上させるため磁気場を形成する磁石のユニットを提供する。ハウジングの側部の内、上部の領域には、第1磁石ユニットが、又、下部の領域には、第2磁石ユニットが提供される。各々の磁石ユニットは、複数の電磁石を有する。電磁石は、磁石ユニットが上部から見る際、正多角型の形状を有するように配置される。下部に配置される磁石ユニットは、上部に配置される磁石ユニットとの整列位置から、その中心軸を基準として一定角度回転された状態に配置される。上述した構造によって、ハウジング内のプラズマ密度の均一度が向上され、特に隣接する電磁石の間の領域でプラズマ均一度が低下することを防止できる。 (もっと読む)


プレート状物品の超音波湿式処理のための方法およびそれぞれの装置が開示され、この方法は、プレート状物品の表面に近接するトランスデューサに接続された固体要素を移送するステップであって、固体要素とプレート状物品との間に隙間が形成され、隙間は0.1mmと5mmとの間の距離d2を有するような、ステップと、固体要素とプレート状物品との間の隙間を満たすための液体を分配するステップと、超音波を検出するおよび/または距離d2を測定することによって距離d2を制御するステップと、測定された距離を所望の距離d0と比較し、それに応じて距離を調節するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】半導体基板の裏面外周部に噴出されるガスを均一にして、ウェーハのエッジ面の形状を安定化させる。
【解決手段】枚葉式エッチング装置10は、半導体インゴットをスライスして得られた薄円板状のウェーハ11を回転させながら、前記ウェーハ11の上面にエッチング液15を供給して少なくともウェーハ11の上面をエッチングする装置である。そして、ウエーハ11を回転させる回転機構13と、回転機構13の半径方向外方に設けられその回転機構により回転されるウェーハ11の下面に対向しかつ平行にウェーハ11の下面11cとエッジ部11bとの境界位置よりも外方にまで延びたステージ17jと、ステージ17jの上面にウェーハ11に向かうように形成された噴射口17aと、噴射口17aに流体を供給してウェーハ11のエッジ部を介して流下するエッチング液をウェーハの外方に吹き飛ばすブロー機構とを備える。 (もっと読む)


【課題】ウェットエッチングを要する半導体装置の製造工程において、その安定性を向上させる。
【解決手段】半導体装置の製造方法において、処理カップWC内で半導体ウェハ1の被処理面Sに対し、所望の液体7,9を用いた処理を施す工程であって、はじめに、処理カップWC内に載置した半導体ウェハ1を回転させた状態で、処理カップWCの開口部5から、液体供給ノズル6によって半導体ウェハ1に液体7,9を供給し、所望の処理を施す。続いて、半導体ウェハ1に回転を施すことで乾燥させるという、一連の工程からなる。そして、上記の工程中、処理カップWCの開口部5を塞ぐようなカバー8を設置することにより、そのカバー8を通じて、処理カップWCの外へ飛散しようとする液体7,9を処理容器WCに備えられた液体回収部4に導くことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】レジスト、エッチング残渣、平坦化残渣、及び金属酸化物の一種以上をアルミニウム又はアルミニウム銅合金を含む基板から除去するための組成物及び方法を提供すること。
【解決手段】レジスト、エッチング残渣、平坦化残渣、及び金属酸化物の一種以上をアルミニウム又はアルミニウム銅合金を含む基板から除去するための組成物であって、約0.005重量%から約5重量%までのフッ化物を与える成分、約1重量%から約50重量%までのグリコール溶媒、リン含有酸、及び水を含む組成物;該組成物と基板を接触させることを特徴とする方法。 (もっと読む)


【課題】処理部中の塵埃を除去でき、装置の小型化、処理のスループットの向上及び歩留まりの向上を図れるようにすること。
【解決手段】搬送手段によって搬送されるウエハを処理部に搬送して処理を施す基板搬送処理において、ウエハWの処理前に、搬送手段であるメインアームA2によって搬送される、塵埃を捕集可能な状態の捕集プレートPLを塗布処理ユニット32に搬入して、塗布処理ユニット内に発生する塵埃を捕集プレートに付着して捕集する。塵埃を捕集した捕集プレートを洗浄ユニット80内に搬入し、この洗浄ユニット内において捕集した塵埃を洗浄により除去し、塵埃が除去された捕集プレートを、塵埃を捕集可能な状態例えばイオナイザ200によって帯電して再生する。塵埃を捕集可能な状態に再生された捕集プレートを、メインアームによって処理前の処理部に搬入して、この処理部内に発生する塵埃を捕集プレートに付着して捕集する。 (もっと読む)


【課題】基板端部に付着した付着物を除去する際に,その付着物を化学分解反応させる活性種が基板の処理面に回り込むことを防止して,処理面にダメージを与えないようにする。
【解決手段】ウエハWの端部に紫外線を当てて洗浄処理を行う際に,ウエハWの端部の裏側表面に裏側気体236の流れを形成するとともに,その表側表面にも裏側気体と同一方向の表側気体246の流れを形成し,裏側気体の流速を表側気体の流速よりも速くする。これにより,たとえウエハの端部と仕切板220の間に隙間Gが生じていても,ウエハの表側から裏側に向う下降気流238が形成されるので,ウエハの端部の裏側で生じた活性種のウエハの表側への回り込みを確実に防止できる。 (もっと読む)


【課題】クリーニング時に基板回転をモニタリングするシステム、方法及び装置を開示する。
【解決手段】本発明は基板の支持、クリーニングに用いられる基板クリーニング装置と、基板クリーニング装置内で光路を有する光ビームの提供に用いられる光源と、光源からの光ビームを受光するため光路に沿って配置され、基板の配向フィーチャが光路を横切る場合、配向フィーチャ検出に用いられる光センサを含むことができる。光センサは光検出器のアレイを含む。多くの追加の様態が開示されている。 (もっと読む)


【課題】 欠陥の発生が抑えられた高い信頼性を有する半導体装置を製造する方法を提供する。
【解決手段】 半導体基板(6)の被処理面を樹脂部材(5)に当接させて、前記半導体基板と前記樹脂部材を摺動させる工程を具備する方法である。前記摺動は、前記樹脂部材に80℃以上140℃以下の温水を噴射しつつ行なわれる。 (もっと読む)


【課題】処理流体による基板処理の際に、基板表面上で顕著な変化を生じさせ、これにより、処理効率の向上を図ることができる基板処理方法および基板処理装置を提供する。
【解決手段】ミキシングバルブ4の混合部40には、薬液供給源71〜74からの薬液原液ならびに純水供源からの常温純水および温純水を供給できる。ミキシングバルブ40から、処理液供給路3を介して、処理液ノズル2に処理液が供給され、この処理液が基板Wに供給される。処理液による基板Wの処理中に、薬液導入バルブ41〜44、流量調整バルブ101〜104、純水供給源バルブ51、温純水供給源バルブ52、純水バルブ5などの制御によって、プロセスパラメータに揺らぎが付与される。 (もっと読む)


【課題】搬送物通過用開口部が形成された境界部を介して直列に隣接配置された複数のクリーンルーム内を連続搬送される平面状の搬送物の除塵方法及び装置において、平面状の搬送物への異物付着による欠陥を抑制して高得率で製造することができる搬送物の除塵方法及び装置を提供する。
【解決手段】搬送物通過用開口部40が形成された境界部を介して直列に隣接配置された複数のクリーンルーム1、2内を連続搬送される平面状の搬送物15の除塵方法において、搬送物通過用開口部40の位置に、搬送物15の表裏面のうち一方面をローラ50で支持しながら、該ローラ50に対向配置された加圧風噴出装置48により搬送物15の他方面に気体を吹き付けて搬送物15に付着した異物を風圧により除去する除塵工程を設ける。 (もっと読む)


【課題】簡素な構造で、ウエハ又は基板の表裏両面を容易に洗浄することができるスピン洗浄装置及びスピン洗浄方法を提供する。
【解決手段】回転テーブル11上に立設された支持ピン10上に基板5が載置される。基板を中心とする位置に、固定側クランプピン9と、回転テーブル11に水平の揺動軸13あを中心として揺動可能に設置されたリンクブロック12aと、リンクブロック12aの上部に設けられた可動側クランプピン8aとが設置されている。そして、固定側クランプピン9及び可動側クランプピン8aには、テーパ部15が形成されており、可動側クランプピン8aを固定側クランプピン9に向けて移動することにより、テーパ部15に沿って基板5が持ち上げられ、支持ピン10から離隔した状態で、基板5の表裏両面が洗浄される。 (もっと読む)


【課題】処理液を基板上に供給する際に、基板上に吐出される処理液を汚染することなく、処理液と基板との間の放電により生じる基板へのダメージを抑制する。
【解決手段】基板処理装置1は、導電性の処理液を基板9に向けて連続的に流れる状態で吐出する吐出部32、および、吐出部32に接続される供給管31に分岐して設けられる補助管35を備える。補助管35には、接地部41に接続される接液部352が設けられ、基板9とは異なる排出位置へと補助管35に沿って導かれる処理液の一部に接地電位が付与される。これにより、帯電していない基板9上に処理液を供給する際に、絶縁性の供給管31内を流れる処理液が帯電した状態で吐出されることが防止され、基板9上に吐出される処理液を汚染することなく、処理液と基板9との間の放電により生じる基板9へのダメージを抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】ウエハー表面に付着した粒子状汚染物質を洗浄するためのシステム並びに方法を提供する。
【解決手段】その内部に分散結合体を懸濁させた洗浄媒体をウエハー表面上に供給する。外部エネルギーを洗浄媒体に印加して、洗浄媒体内部に周期的せん断応力を発生させる。発生した周期的せん断応力により、結合体上で運動量および/あるいは抗力が作用する。この結果、結合体と粒子状汚染物質との間に相互作用が生じて、ウエハー表面から粒子状汚染物質が除去される。 (もっと読む)


【課題】精度良く濃度調整された希釈薬液を用いて基板を処理することができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】第1混合部14は、ふっ酸タンク30から供給されるふっ酸原液(濃度がたとえば49wt%)と、DIW供給源から供給されるDIWとを混合して、希ふっ酸(濃度がたとえば2.3wt%)を生成する。第2混合部15は、第1混合部14で生成された希ふっ酸と、DIW供給源から供給されるDIWとを混合して希ふっ酸(たとえば0.11wt%)を生成する。第3混合部16は、第2混合部15で生成された希ふっ酸と、DIW供給源から供給されるDIWとを混合して希ふっ酸(たとえば0.005wt%)を生成する。 (もっと読む)


【課題】高い周波数の超音波を用いて大型の被洗浄物を効率よく洗浄できる超音波洗浄装置を提供する。
【解決手段】洗浄槽12を三分割し、各ブロック12L、12C、12Rの間にシート状に形成された隔壁16L、16Rを挟んで一体化することにより、洗浄槽12の内部に隔壁16L、16Rで仕切られた超音波伝播液貯留空間20L、20Rと洗浄液貯留空間18を形成する。これにより、隔壁16L、16Rを薄くしても、十分に強度を確保できるようになり、洗浄槽の大型化に対応することができるようになる。 (もっと読む)


【課題】基板保持手段に基板が保持されているか否かに応じて、処理液供給手段の供給動作を適切に禁止することができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】 薬液表面側バルブ23の開成タイミングに至ったとき(ステップS1でYES)、CPU60は、ウエハ保持センサ9からの出力をチェックする(ステップS2)。スピンチャック3にウエハWが保持されていない場合には(ステップS3でNO)、薬液ノズル4が退避位置以外に位置していれは(ステップS4でNO)、CPU60は、薬液表面側バルブ23の開成を禁止する(ステップS5)、薬液ノズル4が退避位置に位置していれは(ステップS4でYES)、CPU60は、薬液表面側バルブ23の開成を許可する(ステップS7)。この場合、表面側プリディスペンス処理を実行することができる。 (もっと読む)


【課題】混触に危険を伴う組合せとなる薬液の混触を防止することができ、かつ、そのための設定作業に手間を要しない、供給禁止組合せ設定方法、コンピュータプログラムおよび基板処理装置を提供する。
【解決手段】CPU60により、使用薬液メモリ68,69,70から、第1薬液、第2薬液および第3薬液の各薬液名が読み出され、第1薬液、第2薬液および第3薬液の薬液名とバルブ18,19,20,23,25,31との対応関係を表す薬液−バルブ対応テーブルが作成される。そして、薬液−バルブ対応テーブル、および混触に危険を伴う薬液の組合せに関する情報を登録した混触禁止薬液データベースに基づいて、バルブ18,19,20,21,23,25,31,37間での同時開成および相前後する開成を禁止/可能とするバルブの組合せが設定される。 (もっと読む)


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