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国際特許分類[H01L23/34]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体または他の固体装置の細部 (40,832) | 冷却,加熱,換気または温度補償用装置 (8,151)

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【課題】信頼性の高い半導体パッケージおよび半導体装置を提供すること。
【解決手段】半導体パッケージ1は、基板21と、基板21の一方の面側に設けられた第1導体パターン221と、基板21の他方の面側に設けられ、第1導体パターン221と電気的に接続された第2導体パターン224とを備える配線基板2と、基板21の一方の面に接合され、第1導体パターン221に電気的に接続される半導体素子3と、配線基板2に接合され、配線基板2よりも熱膨張係数の小さい金属製の補強部材4、5と、補強部材4の表面の少なくとも一部を覆うように設けられた絶縁性樹脂層61と、補強部材5の表面の少なくとも一部を覆うように設けられた絶縁性樹脂層62と、を有する。 (もっと読む)


【課題】不要にリフレッシュ周期が変更されることによる無駄な消費電流を削減する。
【解決手段】複数の半導体チップを備え、複数の半導体チップのうちの第1の半導体チップは第1の温度センサを有し、第1の半導体チップとは異なる第2の半導体チップはリフレッシュ動作を必要とする半導体チップであって、第1の半導体チップの第1の温度センサの出力結果に応じて第2の半導体チップのリフレッシュ周期が変更される。 (もっと読む)


【課題】製造時におけるはんだ付け工程を簡略化でき、外部端子の接合精度に優れた半導体装置を提供する。
【解決手段】この半導体装置は、絶縁基板4上に形成された回路パターンを構成する金属層5に穴5aを形成し、この穴5aに外部端子20を圧入することによって、外部端子20が金属層5に接続されており、外部端子20と穴5aとの接触部5bにおける、外部端子20と直交する方向の断面において、外部端子20が、穴5aの内周に対し40%以上接触している。 (もっと読む)


【課題】半導体チップの両面冷却により効率的な放熱が可能な積層構造を有する半導体装置とその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置1は第1半導体チップ10aと、前記第1半導体チップ10aの一方の面に設けられた放熱作用を有する第1エミッタ電極14aと、第2半導体チップ10と、前記第2半導体チップ10bの一方の面に設けられた放熱作用を有する第2エミッタ電極14bとを有する。また、放熱作用を有する取り出しエミッタ電極14を介して、前記第1エミッタ電極14aと前記第2エミッタ電極14bが接するように設けられる。半導体装置1の製造方法は、第1半導体チップ10aの一方の面に放熱作用を有する第1エミッタ電極14aを接合する工程と、第2半導体チップ10bの一方の面に放熱作用を有する第2エミッタ電極14bを接合する工程と、前記第1エミッタ電極14aと前記第2エミッタ電極14bを接合する工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】良好な放熱性を有し、かつ反りを抑制することが可能な半導体装置を提供すること。
【解決手段】本発明は、ガリウム砒素からなる半導体基板10と、半導体基板10上に設けられた能動層15と、能動層15と対向する半導体基板10の下面に設けられた第1Ni層12と、第1Ni層の下面に設けられたCu層14と、Cu層14の下面に設けられた第2Ni層16と、を具備する半導体装置である。本発明によれば、良好な放熱性を確保し、かつ反りを抑制することが可能な半導体装置を提供することできる。 (もっと読む)


【課題】零入力漏れ電流を利用することによって高電力デバイスの温度を制御するための方法およびシステムを提供する。
【解決手段】熱制御&温度監視システム(HCTMS)は、コンポーネントの接合温度を感知するために温度センサを利用し、コンポーネントは、電力印加時に固有の零入力漏れ電流のために自己加熱状態になる。電力源の電圧レベルを増加させることによって、この零入力自己加熱特性は増強され、温度がコンポーネントの最低規定動作温度よりも高く上昇するまで、デバイスの予熱を加速する。システムは、その後、全システム電力を印加し、定義された初期化シーケンス/手順をトリガすることによって初期化される。コンポーネントが動作状態になった後も温度は、継続的な自己加熱、継続的な印加DC電圧の増加、または必要ならばその両方によって、最低動作閾値より高く維持される。 (もっと読む)


【課題】 絶縁性能を損なうことなく、冷却性能が向上したパワーモジュールを提供する。
【解決手段】 第1のヒートスプレッダ4と半導体チップ1,2と第2のヒートスプレッダ8とをこの順に重ね合わせ、第1のヒートスプレッダ4の一方の主面に第1の固定板11と一体化された未硬化の熱硬化性樹脂からなる第1の絶縁シート9を接着し、第2のヒートスプレッダ8の一方の主面に第2の固定板12と一体化された未硬化の熱硬化性樹脂からなる第2の絶縁シート10を接着することにより構成される構造体を形成する工程と、上記構造体をモールドプレスの金型のキャビティに収納する工程と、上金型14と下金型15を型締めする工程と、金型の温度を上げると共にキャビティに熱硬化性樹脂からなる未硬化のモールド樹脂を注入することにより、第1の絶縁シート9、第2の絶縁シート10及びモールド樹脂を硬化させる工程とを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】電子モジュール内に収納する電子部品の垂直方向伝導面と鉛直面とが一致する場合に、部品接触面にサーマルグリスを塗布してもグリスの流出を抑えることのできる電子部品の放熱構造及びこれを有する電子モジュールを提供する。
【解決手段】底面部、この底面部と交差する側面部を有するモジュールケース1と、モジュールケース1に収納された電子部品5と、モジュールケース1の底面部2及び側面部3上に固定され、底面部2と側面部3とが交差する隅部分に接触するL字状の屈曲部7を有する板で構成され、電子部品5とモジュールケース1との間に介在し、電子部品5が発する熱をモジュールケース1へ伝導させる取り付け補助板6とを備え、取り付け補助板6と底面部2との間に第1のサーマルグリス層8を有し、取り付け補助板6と側面部3との間に、屈曲部7によって第1のサーマルグリス層8と隔絶された第2のサーマルグリス層9を有する。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、型締め処理時における金属異物発生の抑制、かつ、モールド金型の長寿命化を図ることが可能な、ヒートシンク付き半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体素子が集積された半導体チップが設置される上面を上向きにした状態で、ヒートシンク10を下側金型110のステージ111に載置する。ヒートシンク10の上面を上側金型120で押さえ付ける。その後、モールド樹脂止め用のスライド金型130をスライド移動させて、ステージ111上のヒートシンク10の側面に押し当てる。これにより、ヒートシンク10が樹脂モールドされる箇所と、ヒートシンク10が樹脂モールドされずに外部に露出する箇所との境界部分を、モールド金型100において確実に樹脂止めできる。 (もっと読む)


【課題】半導体素子と実装基板との間の接合材層に生じた応力を緩和できる半導体装置及びその制御方法を提供する。
【解決手段】実装基板4と、前記実装基板上に、電気伝導性を有する熱可塑性接合材層5を介して実装された半導体素子2,3と、前記半導体素子を通電制御する制御手段6と、を備えた半導体装置において、前記制御手段は、所定条件で前記熱可塑性接合材層を少なくとも軟化させる応力緩和制御を実行する。 (もっと読む)


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